专利名称：确定计算机系统的确定性性能提升能力的制作方法
技术领域：
本发明涉及确定计算机系统的确定性性能提升能力。具体地说，本发明涉及在基准测试期间获取器件电压裕度并利用器件电压裕度以便确定系统的保证最小性能提升。
背景技术：
制造商通常根据诸如计算机系统执行基准测试所需的时间量之类的特定准则来保证计算机系统的性能特性。这些制造商还可能披露超出计算机系统的保证特性的非保证的性能增加。
发明内容
在第一方面中，本发明提供了一种计算机实现的方法，包括在基准测试器处检索与系统内包括的器件对应的电压裕度，其中所述电压裕度指示要施加于标称电压上的额外电压量，当增加所述额外电压量时，将导致所述器件在执行最坏情况功率工作负荷时工作在功率极限；将所述器件的输入电压设为等于所述电压裕度与所述标称电压的和的值；响应于设置所述输入电压，使用所述基准测试器对所述系统进行动态基准测试，所述测试包括在确保所述器件不超过所述功率极限的情况下调整提供给所述器件的器件频率和所述输入电压；以及响应于使用等于所述电压裕度与所述标称电压的和的输入电压对所述系统进行基准测试，根据所述基准测试的结果在所述基准测试器处记录所述系统的保证最小性能提升。所述方法还可以包括获取将所述器件频率设为等于标称频率加上频率保护频带的和时所述器件的最小电压；获取所述器件在所述标称频率时的最大电压；通过将所述最小电压加上所述最大电压的和除以2来计算所述标称电压；通过从所述最大电压减去所述标称电压来计算所述电压裕度；以及存储所述电压裕度。所述方法还可以包括将所述器件频率设为标称频率并将所述输入电压设为所述标称电压；递增地增加所述输入电压，直到所述器件在执行所述最坏情况功率工作负荷时工作在所述功率极限；通过确定超出所述标称电压的导致所述器件工作在所述功率极限的增加的电压来计算所述电压裕度；以及存储所述电压裕度。所述方法还可以包括通过在所述基准测试期间将所述器件频率设为所述器件频率所达到的最高值并使所述器件频率保持该最高值来将所述器件设为绝对频率提升模式。优选地，所述保证最小性能提升是从包括基准完成时间值以及每秒事务数值的组中选择的值。优选地，所述系统包括所述器件和其他器件，所述方法还包括在所述基准测试器处检索与所述其他器件对应的其他电压裕度，其中所述其他电压裕度指示要施加于其他标称电压上的其他额外电压量，当增加所述其他额外电压量时，将导致所述其他器件在执行所述最坏情况功率工作负荷时工作在所述功率极限；将所述其他器件的其他输入电压设为等于所述其他电压裕度与所述其他标称电压的和的其他值；响应于设置所述其他输入电压，使用所述基准测试器对包括所述器件和所述其他器件的所述系统进行动态基准测试，所述测试包括调整提供给所述器件和所述其他器件的器件频率，以及调整所述输入电压和所述其他输入电压，直到所述器件或所述其他器件工作在所述功率极限；以及根据对包括所述器件和所述其他器件的所述系统的基准测试记录系统保证最小性能提升。优选地，热功率管理器件在监视所述器件的功率输出的同时执行对所述器件频率和所述输入电压的调整。在第二方面中，提供了一种信息处理系统，包括一个或多个处理器；存储器，其可由所述处理器中的至少一个处理器访问；非易失性存储区，其可由所述处理器中的至少一个处理器访问；一组指令，其存储在所述存储器中并由所述处理器中的至少一个处理器执行以完成以下操作从所述非易失性存储区检索与计算机系统内包括的器件对应的电压裕度，其中所述电压裕度指示要施加于标称电压上的额外电压量，当增加所述额外电压量时，将导致所述器件在执行最坏情况功率工作负荷时工作在功率极限；将所述器件的输入电压设为等于所述电压裕度与所述标称电压的和的值；响应于设置所述输入电压，对所述计算机系统进行动态基准测试，所述测试包括在确保所述器件不超过所述功率极限的情况下调整提供给所述器件的器件频率和所述输入电压；以及响应于使用等于所述电压裕度与所述标称电压的和的输入电压对所述计算机系统进行基准测试，根据所述基准测试的结果记录所述计算机系统的保证最小性能提升。优选地，所述一组指令完成以下操作获取将所述器件频率设为等于标称频率加上频率保护频带的和时所述器件的最小电压；获取所述器件在所述标称频率时的最大电压；通过将所述最小电压加上所述最大电压的和除以2来计算所述标称电压；通过从所述最大电压减去所述标称电压来计算所述电压裕度；以及将所述电压裕度存储在所述非易失性存储区内。优选地，所述一组指令完成以下操作将所述器件频率设为标称频率并将所述输入电压设为所述标称电压；递增地增加所述输入电压，直到所述器件在执行所述最坏情况功率工作负荷时工作在所述功率极限；通过确定超出所述标称电压的导致所述器件工作在所述功率极限的增加的电压来计算所述电压裕度；以及将所述电压裕度存储在所述非易失性存储区内。优选地，所述一组指令完成以下操作通过在所述基准测试期间将所述器件频率设为所述器件频率所达到的最高值并使所述器件频率保持该最高值来将所述器件设为绝对频率提升模式。优选地，所述保证最小性能提升是从包括基准完成时间值以及每秒事务数值的组中选择的值。优选地，所述计算机系统包括所述器件和其他器件，所述一组指令完成以下操作从所述非易失性存储区检索与所述其他器件对应的其他电压裕度，其中所述其他电压裕度指示要施加于其他标称电压上的其他额外电压量，当增加所述其他额外电压量时，将导致所述其他器件在执行所述最坏情况功率工作负荷时工作在所述功率极限；将所述其他器件的其他输入电压设为等于所述其他电压裕度与所述其他标称电压的和的其他值；响应于设置所述其他输入电压，对包括所述器件和所述其他器件的所述计算机系统进行动态基准测试，所述测试包括调整提供给所述器件和所述其他器件的器件频率， 以及调整所述输入电压和所述其他输入电压，直到所述器件或所述其他器件工作在所述功率极限；以及根据对包括所述器件和所述其他器件的所述系统的基准测试记录系统保证最小性能提升。优选地，热功率管理器件在监视所述器件的功率输出的同时执行对所述器件频率和所述输入电压的调整。在第三方面中，提供了一种包括计算机程序代码的计算机程序，当所述计算机程序被加载到计算机系统中并在其上执行时，将导致所述计算机系统执行第一方面的方法的步骤。可以以存储在计算机可读介质中的计算机程序产品的形式提供所述计算机程序， 所述计算机程序包括功能描述物质，当由信息处理系统执行时，将导致所述信息处理系统完成以下操作检索与系统内包括的器件对应的电压裕度，其中所述电压裕度指示要施加于标称电压上的额外电压量，当增加所述额外电压量时，将导致所述器件在执行最坏情况功率工作负荷时工作在功率极限；将所述器件的输入电压设为等于所述电压裕度与所述标称电压的和的值；响应于设置所述输入电压，对所述系统进行动态基准测试，所述测试包括在确保所述器件不超过所述功率极限的情况下调整提供给所述器件的器件频率和所述输入电压；以及响应于使用等于所述电压裕度与所述标称电压的和的输入电压对所述系统进行基准测试，根据所述基准测试的结果记录所述系统的保证最小性能提升。在一个优选实施例中，基准测试器检索与系统所包括的器件对应的电压裕度。所述电压裕度指示要施加于标称电压上的额外电压量，其导致所述器件在执行最坏情况功率工作负荷时工作在功率极限。接下来，所述基准测试器(或热功率管理器件)将所述器件的输入电压设为等于所述电压裕度与所述标称电压的和的值。然后，所述基准测试器对所述系统执行动态基准测试，所述测试包括在确保所述器件不超过所述器件的功率极限的情况下调整所述器件的频率和输入电压。接下来，所述基准测试器根据所述基准测试的结果记录所述系统的保证最小性能提升。上述内容只是概述，因此必然包含对详细内容的简化、概括和省略；因此，本领域的技术人员将理解，所述概述只是示例性的，并非旨在以任何方式进行限制。
通过参考附图，可以更好地理解本发明，并且本发明的众多目的、特性和优点对于本领域的技术人员而言将变得显而易见，所述附图是图1是示出在制造测试期间计算器件的电压裕度的器件测试器的示意图；图2是示出基准测试器对系统进行测试以确定系统的保证最小性能提升能力的示意图；图3是将电压裕度添加到器件的标称电压-频率曲线的图形表示；图4是示出不同器件使用不同电压裕度值以便在特定频率和工作负荷条件下达到功率极限的图形表示；图5是示出在确定系统的保证最小频率增加中采取的步骤的高级流程图；图6是示出在计算器件的电压裕度的实施例中采取的步骤的流程图；图7是示出在对包括一个或多个器件的系统进行基准测试以确定系统的保证最小性能提升能力中采取的步骤的流程图；以及图8是示出在没有制造测试信息的情况下获取器件的电压裕度中采取的步骤的流程图。
具体实施例方式下面的说明和附图列出了某些特定的详细内容以便全面理解本发明的各种实施例。但是在下面的披露中，并未给出经常与计算和软件技术关联的一些公知的详细说明以避免不必要地使本发明的各种实施例模糊不清。进而，本领域的技术人员将理解，可以在没有下文所述的一个或多个细节的情况下实现本发明的其他实施例。最后，尽管参考下文中的步骤和顺序描述了各种方法，但是此描述是为了清晰地提供本发明实施例的实施方式， 所述步骤与步骤序列不应被视为实现本发明的必要条件。相反，下文旨在提供对本发明的实例的详细描述，不应被视为对发明本身的限制。相反，任意数量的变型都可落入由说明书后的权利要求限定的本发明的范围之内。图1是示出在制造测试期间计算器件的电压裕度的器件测试器的示意图。如本文所述，电压裕度是施加于器件的标称电压上的导致器件在以标称频率执行最坏情况功率工作负荷时工作在器件的功率极限的电压(参见图6和相应文字以了解进一步的详细信息)。器件测试器100向器件110提供测试程序120、频率130(例如时钟信号)以及电压140。测试程序120是以各种方式(如测试竞争条件和对器件110的各部分加压)测试器件110的程序。频率130和电压140分别为器件测试器100在制造测试期间调整的系统时钟和电源电压。为了确定器件110的最小工作电压，器件测试器100以等于标称频率加上频率保护频带(例如8% )的速率提供频率130，并且提供执行器件110的最坏情况计时路径的测试程序120。器件测试器100降低电压140，直到器件110在计时路径测试之一处出现故障。 此时，电压140为器件110的最小工作电压，器件测试器100记录该最小工作电压。本领域的技术人员将理解，可以根据技术、可靠性要求、电路故障和/或其他准则来设置最小工作电压。为了确定器件110的最大电压，器件测试器100以等于标称频率的速率提供频率 130，并且提供在器件110上执行最坏情况功率工作负荷的测试程序120。接下来，器件测试器100增大电压140，直到器件测试器100检测到功率150达到器件110的额定功率极限， 此极限是器件110的热设计规范指定的参数。此时，电压140是器件110的最大电压，器件测试器100记录该最大电压。器件测试器100使用最小电压和最大电压来计算器件110的电压裕度(参见图6 和相应文字以了解进一步的详细信息)。本领域的技术人员将理解，用户可以使用其他方法计算器件110的电压裕度，如图8中所示的方法。一旦器件测试器100计算并记录了器件110的电压裕度，基准测试器就测试包括器件110的系统以确定计算机系统的保证最小性能提升。本领域的技术人员将理解，计算机系统可以包括多个器件和/或热功率管理器件(TPMD)(参见图2、5、7和相应文字以了解进一步的详细信息)。图2是示出基准测试器对系统进行测试以确定系统的保证最小性能提升能力的示意图。系统200包括器件A 210、器件B 220以及热功率管理器件(TPMD) 230。TPMD 230 控制提供给器件A 210和器件B 220的电压和频率。此外，TPMD 230通过功率A 290和功率B 295监视每个器件的功耗。电压裕度存储区160包括器件A 210和器件B 220的先前计算的电压裕度(参见图1和相应文字以了解进一步的详细信息)。基准测试器240是一种信息处理系统，它包括一个或多个处理器以及计算机存储器，其能够执行此处所述的计算操作。基准测试器240始于初始化系统200并将基准测试程序沈0、电压裕度A 265以及电压裕度B 270提供给系统200。系统200将基准测试程序260加载到器件A 210和器件B220上，所述程序在各种基准条件下测试器件。TPMD 230分别将电压裕度A 265和电压裕度B 270添加到器件A 210和器件B 220的标称电压之上。 这样。TPMD 230将值等于电压裕度A 265与器件A 210的标称电压之和的输入电压280提供给器件A 210。依次地，TPMD 230将值等于电压裕度B 270与器件B 220的标称电压之和的输入电压285提供给器件B220。本领域技术人员可以理解，电压280和285可以是不同的电压电平。在基准测试期间，TPMD 230动态地调整频率275、输入电压280以及输入电压观5， 同时监视功率A 290和功率B 295以确保每个器件都不会超过其功率极限。一旦基准测试完成，TPMD 230便将基准测试结果299提供给基准测试器M0。例如，基准测试结果299可以以完成基准测试所需的时间量(基准测试完成时间)、每秒事务数或某些其他度量来表示。基准测试器240将该值(其是系统200的保证最小性能提升)存储在性能存储区250 中。因此，制造商可以保证系统200工作在等于测试下基准的保证最小性能提升的最小性能(参见图5和相应文字以了解进一步的详细信息)。图3是将电压裕度添加到器件的标称电压-频率曲线的图形表示。图300包括标称曲线320，该曲线插入了器件制造测试所获取的电压-频率图。由于制造工艺中的异常， 每个器件可能没有相同的标称曲线320。器件可以将标称曲线320的值存储为重要产品数据或BIOS数据，热功率管理器件将使用这些值来提供特定频率处的适当电压。电压裕度340表示要在最坏情况功率工作负荷条件以及特定频率下添加到器件的标称电压上的所计算或测量的电压值，其将使器件达到器件的功率极限。可以看出，将电压裕度340添加到标称曲线320上将生成新的调整后的曲线360。在基准测试期间，热功率管理器件在监视器件功率的同时利用调整后的曲线360上的点来确定系统的保证最小性能提升(参见图2、7和相应文字以了解进一步的详细信息)。图4是示出不同器件使用不同电压裕度值以便在特定频率和工作负荷条件下达到功率极限的图形表示。基于制造工艺中的异常，相似的器件类型可能需要不同的标称电压以达到最佳功能。这又导致不同的器件在特定的频率和工作负荷的情况下产生不同的功率级别。图4示出了器件A 410、B 430和C 450在其各自的标称电压下的功率输出。当器件A 410工作在其标称电压时，它会产生功率An。m 415。当器件B 430工作在其标称电压时，它会产生功率Bn。m 435。当器件C 450工作在其标称电压时，它会产生功率Cn。m 455。在一个实施例中，制造商计算导致每个器件工作在功率极限470的每个器件的电压裕度。可以看出，当器件A 410以等于其标称电压与电压裕度的和的电压电平工作时，器件A 410将产生是功率An。m415加上功率Α·420的和的功率。同样，当器件B 430以等于其标称电压与电压裕度的和的电压电平工作时，器件B 430将产生等于功率Bn。m435加上功率 Β·440的和的功率。以及，当器件C 450以等于其标称电压与电压裕度的和的电压电平工作时，器件C 450将产生等于功率Cn。m455加上功率Cma,460的和的功率。可以看出，由于每个器件在其各自的标称电压下都产生不同的功率级别，因此每个器件都需要产生不同额外功率量的不同电压裕度以便达到功率极限470。图5是示出在确定系统的保证最小性能提升能力中采取的步骤的高级流程图。过程从500开始，随后所述过程在步骤510选择器件(例如处理器)。所述过程继续执行一系列步骤以在制造测试期间计算器件的电压裕度(预定义的过程方块520，参见图6和相应的文字以了解进一步的详细信息)。在一个实施例中，所述过程通过递增地增加器件的电源电压，直到器件工作在功率极限来确定电压裕度(参见图8和相应的文字以了解进一步的详细信息)。一旦所述过程计算出电压裕度，所述过程就判定是否有更多器件要测试(决策 530)。如果有更多器件要测试，则决策530转向“是”分支532，此分支将循环返回以选择和处理另一器件。此循环将一直继续，直到没有更多的器件需要测试，此时决策530转向“否” 分支538。在步骤M0，所述过程使用一个或多个经过测试的器件建立系统。所述系统可以包括多个器件并且还可以包括管理每个器件的电压、频率以及功率极限的热功率管理器件 (参见图2和相应的文字以了解进一步的详细信息)。一旦建立完成，所述过程便继续执行一系列步骤以对系统执行基准测试。在基准测试期间，所述过程动态地更改器件频率和输入电压，同时维持每个器件的功率级别(预定义的过程方块550，参见图7和相应的文字以了解进一步的详细信息)。在步骤560，所述过程将基准测试结果报告为保证最小性能提升。例如，所述保证最小性能提升可以是基准测试完成时间值或每秒的事务数值。所述过程判定是否将系统配置为绝对频率提升模式(决策570)。此配置在基准测试期间将器件频率设为器件频率所达到的最高值并维持该最高值。例如，如果在基准测试期间达到的最高频率为4. 12GHz，则当用户调用绝对频率提升模式时，所述过程将包括每个所述器件的系统配置为恰好工作在4. 12GHz。如果所述过程将系统配置为绝对频率提升模式，则决策570转向“是”分支572，在该分支上，所述过程将系统配置为当用户将系统置于提升模式时，所述系统工作在固定的增加后的频率(步骤580)。另一方面，如果所述过程不将系统配置为绝对频率提升模式，则决策570转向 “否”分支578，绕过配置步骤580，并且所述过程在590结束。图6是示出在计算器件的电压裕度的实施例中采取的步骤的流程图。器件测试过程从600开始，随后所述过程在步骤610启动器件。在步骤620，所述过程获取最小电压， 在所述最小电压时，工作在标称频率加上频率保护频带的器件内的电路计时失败。在步骤 630，所述过程获取最大电压，在所述最大电压时，器件以标称频率执行最坏情况功率工作负荷时产生达到器件的额定功率极限的功率量。一旦所述过程获取了最小电压和最大电压，所述过程就通过将最小电压与最大电压的和除以2来计算标称电压(步骤640)。接下来，所述过程通过从最大电压减去标称电压来计算电压裕度(步骤650)。在步骤660，所述过程将器件的电压裕度存储在电压裕度存储区160内，然后过程在670返回。图7是示出在对包括一个或多个器件的系统进行基准测试以确定系统的保证最小性能提升能力中采取的步骤的流程图。基准测试过程从700开始，随后所述过程检索系统所包括的每个器件的电压裕度。例如，如果系统包括两个器件，则所述过程检索两个不同的电压裕度。在步骤720，所述过程通过将每个器件各自的电压裕度添加到它们各自的标称电压上来将每个器件的电源电压设为它们的最大功率管理电压。例如，器件“A”可具有1. 2伏的标称电压和.3伏的电压裕度以及器件“B”可具有1. 4伏的标称电压和.4伏的电压裕度。在此实例中，所述过程将器件A的输入电压设为1.5伏(1.2+. 以及将器件B的输入电压设为1. 8伏(1. 4+. 4)。过程在步骤730开始基准测试。在基准测试期间，所述过程(例如，使用热功率管理器件(TPMD))在步骤740动态地调节器件电压和频率，同时维持每个器件的功率极限。一旦基准测试完成，所述过程便在性能存储区250内记录测试性能，所述测试性能包括一个或多个器件达到其功率极限时的频率(步骤750)。所述过程在760返回。图8是示出在没有来自制造测试的电压裕度信息的情况下获取器件的电压裕度中采取的步骤的流程图。测试过程从800开始，随后所述过程在步骤810启动器件。在步骤820，所述过程将器件频率设为标称频率以及将器件电压设为标称电压。本领域的技术人员可以理解，用户可以从数据表或总体公共信息中获取这些值。所述过程将电压裕度施加于标称电压上以使器件工作在更高的电压(步骤830)。 所述过程执行此步骤以便确定器件工作在器件的功率极限时的电压(参见下文)。在步骤 840，所述过程对器件执行最坏情况功率工作负荷测试，并且在步骤850，所述过程记录器件的插座功耗。所述过程判定插座功率是否达到器件的功率极限(决策860)。如果插座功率未达到器件的功率极限，则决策860转向“否”分支862，此分支将循环返回以增大电压裕度(步骤870)并再次执行最坏情况功率工作负荷。此循环将一直继续，直到插座功率达到功率极限，此时决策860转向“是”分支868.所述过程将导致器件达到功率极限的电压裕度值存储在电压裕度存储区160内 (步骤880)，然后所述过程在890结束。器件现在可供插入系统内以进行基准测试(参见图7和相应文字以了解进一步的详细信息)。本发明的优选实施方式之一是可以例如驻留在计算机的随机存取存储器中的一组指令(程序代码)或位于代码模块中的其他功能描述性物质。在计算机需要时，所述一组指令可以存储在另一计算机存储器，例如，硬盘驱动器中，或存储在诸如光盘(用于最终在⑶ROM中使用)或软盘(用于最终在软盘驱动器中使用)之类的可移动存储器中。因此，本发明可以实现为在计算机中使用的计算机程序产品。此外，尽管所述的各种方法可以在由软件选择性地激活或重新配置的通用计算机中方便地实现，但是本领域的技术人员还将认识到，这些方法可以以硬件、固件或构建为执行所需方法步骤的更专用的装置来执行。 功能描述性物质是将功能赋予计算机的信息。功能描述性物质包括但不限于计算机程序、 指令、规则、事实、可计算功能的定义、对象以及数据结构。尽管示出并描述了本发明的特定实施例，但是对本领域的技术人员将显而易见的是，基于此处的教导，可以在不偏离本发明及其更广的方面的情况下做出更改和修改。
1权利要求
1.一种计算机实现的方法，包括在基准测试器处检索与系统内包括的器件对应的电压裕度，其中所述电压裕度指示要施加于标称电压上的额外电压量，当增加所述额外电压量时，将导致所述器件在执行最坏情况功率工作负荷时工作在功率极限；将所述器件的输入电压设为等于所述电压裕度与所述标称电压的和的值； 响应于设置所述输入电压，使用所述基准测试器对所述系统进行动态基准测试，所述测试包括在确保所述器件不超过所述功率极限的情况下调整提供给所述器件的器件频率和所述输入电压；以及响应于使用等于所述电压裕度与所述标称电压的和的输入电压对所述系统进行基准测试，根据所述基准测试的结果在所述基准测试器处记录所述系统的保证最小性能提升。
2.如权利要求1中所述的方法，还包括获取将所述器件频率设为等于标称频率加上频率保护频带的和时所述器件的最小电压；获取所述器件在所述标称频率时的最大电压；通过将所述最小电压加上所述最大电压的和除以2来计算所述标称电压； 通过从所述最大电压减去所述标称电压来计算所述电压裕度；以及存储所述电压裕度。
3.如权利要求1或2中所述的方法，还包括将所述器件频率设为标称频率并将所述输入电压设为所述标称电压； 递增地增加所述输入电压，直到所述器件在执行所述最坏情况功率工作负荷时工作在所述功率极限；通过确定超出所述标称电压的导致所述器件工作在所述功率极限的增加的电压来计算所述电压裕度；以及存储所述电压裕度。
4.如权利要求1至3中的任一权利要求中所述的方法，还包括通过在所述基准测试期间将所述器件频率设为所述器件频率所达到的最高值并使所述器件频率保持该最高值来将所述器件设为绝对频率提升模式。
5.如任一先前权利要求中所述的方法，其中所述保证最小性能提升是从包括基准完成时间值以及每秒事务数值的组中选择的值。
6.如任一先前权利要求中所述的方法，其中所述系统包括所述器件和其他器件，所述方法还包括在所述基准测试器处检索与所述其他器件对应的其他电压裕度，其中所述其他电压裕度指示要施加于其他标称电压上的其他额外电压量，当增加所述其他额外电压量时，将导致所述其他器件在执行所述最坏情况功率工作负荷时工作在所述功率极限；将所述其他器件的其他输入电压设为等于所述其他电压裕度与所述其他标称电压的和的其他值；响应于设置所述其他输入电压，使用所述基准测试器对包括所述器件和所述其他器件的所述系统进行动态基准测试，所述测试包括调整提供给所述器件和所述其他器件的器件频率，以及调整所述输入电压和所述其他输入电压，直到所述器件或所述其他器件工作在所述功率极限；以及根据对包括所述器件和所述其他器件的所述系统的基准测试记录系统保证最小性能提升。
7.如任一先前权利要求中所述的方法，其中热功率管理器件在监视所述器件的功率输出的同时执行对所述器件频率和所述输入电压的调整。
8.一种信息处理系统，包括 一个或多个处理器；存储器，其可由所述处理器中的至少一个处理器访问； 非易失性存储区，其可由所述处理器中的至少一个处理器访问； 一组指令，其存储在所述存储器中并由所述处理器中的至少一个处理器执行以完成以下操作从所述非易失性存储区检索与计算机系统内包括的器件对应的电压裕度，其中所述电压裕度指示要施加于标称电压上的额外电压量，当增加所述额外电压量时，将导致所述器件在执行最坏情况功率工作负荷时工作在功率极限；将所述器件的输入电压设为等于所述电压裕度与所述标称电压的和的值； 响应于设置所述输入电压，对所述计算机系统进行动态基准测试，所述测试包括在确保所述器件不超过所述功率极限的情况下调整提供给所述器件的器件频率和所述输入电压；以及响应于使用等于所述电压裕度与所述标称电压的和的输入电压对所述计算机系统进行基准测试，根据所述基准测试的结果记录所述计算机系统的保证最小性能提升。
9.如权利要求8中所述的信息处理系统，其中所述一组指令完成以下操作获取将所述器件频率设为等于标称频率加上频率保护频带的和时所述器件的最小电压；获取所述器件在所述标称频率时的最大电压；通过将所述最小电压加上所述最大电压的和除以2来计算所述标称电压； 通过从所述最大电压减去所述标称电压来计算所述电压裕度；以及将所述电压裕度存储在所述非易失性存储区内。
10.如权利要求8或9中所述的信息处理系统，其中所述一组指令完成以下操作 将所述器件频率设为标称频率并将所述输入电压设为所述标称电压；递增地增加所述输入电压，直到所述器件在执行所述最坏情况功率工作负荷时工作在所述功率极限；通过确定超出所述标称电压的导致所述器件工作在所述功率极限的增加的电压来计算所述电压裕度；以及将所述电压裕度存储在所述非易失性存储区内。
11.如权利要求8至10中的任一权利要求中所述的信息处理系统，其中所述一组指令完成以下操作通过在所述基准测试期间将所述器件频率设为所述器件频率所达到的最高值并使所述器件频率保持该最高值来将所述器件设为绝对频率提升模式。
12.如权利要求8至11中的任一权利要求中所述的信息处理系统，其中所述保证最小性能提升是从包括基准完成时间值以及每秒事务数值的组中选择的值。
13.如权利要求8至12中的任一权利要求中所述的信息处理系统，其中所述计算机系统包括所述器件和其他器件，所述一组指令完成以下操作从所述非易失性存储区检索与所述其他器件对应的其他电压裕度，其中所述其他电压裕度指示要施加于其他标称电压上的其他额外电压量，当增加所述其他额外电压量时，将导致所述其他器件在执行所述最坏情况功率工作负荷时工作在所述功率极限；将所述其他器件的其他输入电压设为等于所述其他电压裕度与所述其他标称电压的和的其他值；响应于设置所述其他输入电压，对包括所述器件和所述其他器件的所述计算机系统进行动态基准测试，所述测试包括调整提供给所述器件和所述其他器件的器件频率，以及调整所述输入电压和所述其他输入电压，直到所述器件或所述其他器件工作在所述功率极限；以及根据对包括所述器件和所述其他器件的所述系统的基准测试记录系统保证最小性能提升。
14.如权利要求8至13中的任一权利要求中所述的信息处理系统，其中热功率管理器件在监视所述器件的功率输出的同时执行对所述器件频率和所述输入电压的调整。
15.一种包括计算机程序代码的计算机程序，当所述计算机程序被加载到计算机系统中并在其上执行时，将导致所述计算机系统执行如权利要求1至7中的任一权利要求中所述的方法的所有步骤。
全文摘要
基准测试器检索与系统所包括的器件对应的电压裕度。所述电压裕度指示要施加于标称电压上的额外电压量，当增加所述额外电压量时，将导致所述器件在执行最坏情况功率工作负荷时工作在功率极限。接下来，所述基准测试器(或热功率管理器件)将所述器件的输入电压设为等于所述电压裕度与所述标称电压的和的值。然后，所述基准测试器对所述系统执行动态基准测试，所述测试包括在确保所述器件不超过所述器件的功率极限的情况下调整所述器件的频率和输入电压。接下来，所述基准测试器根据所述基准测试的结果记录所述系统的保证最小性能提升。
文档编号G06F11/24GK102216907SQ200980145205
公开日2011年10月12日 申请日期2009年11月11日 优先权日2008年11月20日
发明者H·蔡斯, J·D·弗里德里希, M·S·弗洛伊德, M·S·韦尔, N·K·詹姆斯, R·维拉曼, S·P·哈特曼, S·吉亚斯 申请人:国际商业机器公司