专利名称：一种从版形自动提取图形拓扑关系的方法
技术领域：
本发明涉及集成电路辅助设计软件工具中版图验证领域。
背景技术：
集成电路版图验证过程中，设计工程师为了验证物理规则的正确性，需要开发一组版作为测试向量(Test Pattern) 0测试向量的开发通常有两种方法，一种是完全靠手工绘制版图，开发时间长，工作量大；另一种是先开发出可变参数单元(Pcell)，再通过设置参数来产生不同的版图，这要求设计工程师具有较好的编程能力，因此设计门槛高，开发时间也很长。之所以测试向量和可变参数单元的开发需要完全依靠手工，而不能通过软件程序，是因为版形是通过精确的坐标位置来表示的，这使软件程序无法按统一的规则来 处理。本发明提出了一种从版形自动提取图形拓扑关系的方法，可以将原有的坐标表示转换成图形间的拓扑关系表示，再通过调整关系间的约束值，就可以自动产生各种拓扑结构相同，但约束值不同的测试向量和可变参数单元。避免了人工的重复劳动。本发明提出的自动提取方法，已经通过软件程序的方式实现，经过实践，可以将原来I个人月的测试向量开发任务缩短到3人天，大大提高了效率，降低了人力成本。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种从版形自动提取图形拓扑关系的方法，从而使版图验证测试向量及可变参数单元的生成由原来的手工过程转为自动化过程。版形为二维图形，5种基本的拓扑关系是宽度Width (参见附图I)、间距Spacing(参见附图2)、重叠Overlap (参见附图3)、包含Enclosure (参见附图4)、和对齐Touch(参见附图5)。这些关系可以通过边到边之间的关系来表达。本发明的技术方案是从X方向和Y方向分别对版形的边对(Edge Pair)进行检查，两个一维方向上5种拓扑关系的总和即描述了整个二维版图的拓扑结构。根据集成电路版图的特征，只需要提取正对边的关系。所谓正对边，就是在X方向上两边在Y轴的投影有重叠(或在Y方向上两边在X轴的投影有重叠)。非正对边不用提取拓扑关系。此外，对于多个对齐(Touch)在一起的边(例如A和B)，由于它们之间的位置关系是完全确定的，所以只需要考虑其中一条边(例如A)和其它非Touch组中的边的拓扑关系，Touch组中的剩余边(例如B)就不需要继续检查了。附图6是一个版图示例，附图7是沿X方向提取出的拓扑关系，附图8是沿X方向提取出的拓扑关系。提取出的拓扑关系按如下格式输出(以Enclosure为例) ConstraintBeginKeywordENC XDir
CheckLayerl SHAPE_ACheckLayer2 SHAPE_BMinValueI. 0ConstraintEnd其中ENC表示Enclosure类型的拓扑关系，XDir表示沿X方向，SHAPE_A和SHAPE_B是两个图形的标识。本例的含义是X方向SHAPE_A包含SHAPE_B，包含处的长度是I. O。按本发明提取出版图的拓扑结构后，只需要相应改变关系的约束值(例如上例中的长度I. 0)，既可以重新构建出拓扑结构相同，但约束值不同的版图。该过程已由软件程序 实现，自动化了复杂器件物理规则测试向量的构造过程，以及可变参数单元的生成过程。
图I是宽度width的示意2是间距spacing的示意3是重叠overlap的示意4是包含enclosure的不意5是对齐touch的示意6是版图示例的示意7是X方向拓扑关系示例(W、S、O、E、T分别代表宽度、间距、重叠、包含、和对齐)的不意8是Y方向拓扑关系示例(W、S、O、E、T分别代表宽度、间距、重叠、包含、和对齐)的不意图。
具体实施例方式第一步读入版形数据，将多边形切分成矩形。第二步将所有矩形的垂直边沿X方向从小到大排序。第三步采用扫描线算法沿X轴扫描所有正对边边对，提取5种拓扑关系。第四步将所有矩形的水平边沿Y方向从小到大排序。第五步采用扫描线算法沿Y轴扫描所有正对边边对，提取5种拓扑关系。弟TK步输出结果。上述步骤已由计算机软件程序实现自动化提取过程。
权利要求
1. 一种从版形自动提取图形拓扑关系的方法，基本含义是分别沿X方向和Y方向提取版形的5种基本拓扑关系宽度、间距、重叠、包含、和对齐。根据集成电路版图的特性，这两个ー维方向的关系的总和即表示了整个ニ维版图的拓扑关系。根据拓扑关系，通过改变关系间的约束值就可以自动产生具有相同拓扑结构的不同的版图作为物理规则测试向量及可变參数単元，从而避免了完全依靠手工的测试向量开发过程。
具体步骤如下 第一歩读入版形数据，将多边形切分成矩形。
第二步将所有矩形的垂直边沿X方向从小到大排序。
第三步采用扫描线算法沿X轴扫描所有正对边边对，提取5种拓扑关系。
第四步将所有矩形的水平边沿Y方向从小到大排序。
第五步采用扫描线算法沿Y轴扫描所有正对边边对，提取5种拓扑关系。
弟TK步输出结果。
全文摘要
本发明涉及集成电路辅助设计软件工具中版图验证领域。集成电路版图验证过程中，验证物理规则的测试向量和可变参数单元需要完全依靠手工，开发，开发时间长，工作量大。本发明提出了一种从版形自动提取图形拓扑关系的方法，通过分别沿X方向和Y方向提取版形的5种基本拓扑关系宽度、间距、重叠、包含、和对齐，由软件程序自动构造出整个版图的拓扑关系。有了拓扑关系，通过改变关系间的约束值就可以自动产生具有相同拓扑结构的不同的版图作为物理规则测试向量及可变参数单元，从而避免了完全依靠手工的测试向量开发过程，大大提高了生产效率，降低了人力成本。
文档编号G06F17/50GK102760177SQ20111026967
公开日2012年10月31日 申请日期2011年9月14日 优先权日2011年9月14日
发明者侯劲松, 张萍, 李宁, 王勇 申请人:天津蓝海微科技有限公司