专利名称：电脑主板测试装置及测试方法
技术领域：
本发明涉及一种电脑主板测试装置及测试方法。
背景技术：
由于电脑主板包括多个内存通道，每个内存通道内均包括多个用于插设存储器的插槽，那么不同内存通道的插槽之间，及同一内存通道内的插槽之间的组合方式就有很多种。存储器有很多种工作模式，每一工作模式与相应的组合方式 对应，且存储器插设在不同组合方式的插槽内时的工作模式不同。在电脑主板的生产过程中，需要针对存储器插在每一种组合方式下的插槽中时，测试CPU能否控制插在该种组合方式下的插槽中对应的存储器在与该种组合方式对应的工作模式下工作。目前的做法是操作员手工地在将存储器插在每种组合方式下的插槽中并开机测试，完成一种测试后，再手工地将存储器从插槽中拔出来，再进行下一种组合方式的测试。依次类推，直至插槽的所有组合方式都被测试完成。由于存储器需要经过多次插拔，比较耗费时间，导致生产效率比较低。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种可有效提高生产效率的电脑主板测试装置及测试方法。一种电脑主板测试装置，用于测试一个电脑主板是否能正常工作。所述电脑主板包括多个内存通道及一个CPU。每个内存通道包括多个插槽。所述电脑主板测试装置包括多个存储器、至少一个开关芯片、一个微控制器及一个测试模块。每个存储器插设在对应的插槽内。所述至少一个开关芯片包括多个输入引脚、多个与所述输入引脚 对应的输出引脚及一个控制引脚。每个输入引脚用于与对应的插槽电连接，所述多个输出引脚用于与所述CPU电连接。所述微控制器用于存储所述多个插槽的多种组合方式，并对每种组合方式编序列号。所述微控制器根据所述序列号的顺序，用于依次通过所述控制引脚向所述至少一个开关芯片输入控制指令，以依次控制当前序列号对应的插槽组合方式中的插槽与所述CPU连通，其他的插槽与所述CPU断开。所述测试模块用于判断每种插槽组合方式中，所述CPU能否控制与所述CPU电连接的存储器在正确的工作模式下工作，并输出测试结果。一种使用如上述电脑主板测试装置的电脑主板测试方法，其包括如下步骤提供一个电脑主板，所述电脑主板包括多个内存通道及一个CPU，每个内存通道包括多个用于插设存储器的插槽，所述CPU用于控制所述多个插槽内的存储器在正确的工作模式下工作；所述微控制器将所述多个插槽进行组合，以获得多种插槽的组合方式，并给每种组合方式编序列号；在每个插槽内均插入一个存储器；所述微控制器按照该序列号的顺序输出信号给所述至少一个开关芯片，以依照该序列号对应的插槽的组合方式，控制所述多个插槽与所述CPU的通断，所述测试模块判断插槽的每种组合方式时，所述CPU能否控制与所述CPU电连接的存储器在正确的工作模式下工作；若是，则判断所述电脑主板为良品；若其中有一种插槽的组合方式中，所述CPU不能控制与所述CPU电连接的存储器在正确的工作模式下工作，则判断所述电脑主板为不良品。本发明的电脑主板测试装置及测试方法，不需要将存储器进行多次插拔，节省了工作时间，从而有效提高工作效率。
图1是本发明较佳实施方式的电脑主板测试装置及电脑主板的示意图。图2是本发明较佳实施方式的电脑主板测试方法的流程图。图3是图2的电脑主板测试方法中步骤S4的子流程图。主要元件符号说明
权利要求
1.一种电脑主板测试装置，用于测试一个电脑主板是否能正常工作；所述电脑主板包括多个内存通道及一个CPU ;每个内存通道包括多个插槽；其特征在于，所述电脑主板测试装置包括多个存储器、至少一个开关芯片、一个微控制器及一个测试模块；每个存储器插设在对应的插槽内；所述至少一个开关芯片包括多个输入引脚、多个与所述输入引脚对 应的输出引脚及一个控制引脚；每个输入引脚用于与对应的插槽电连接，所述多个输出引脚用于与所述CPU电连接；所述微控制器用于存储所述多个插槽的多种组合方式，并对每种组合方式编序列号，所述微控制器根据所述序列号的顺序，用于依次通过所述控制引脚向所述至少一个开关芯片输入控制指令，以依次控制当前序列号对应的插槽组合方式中的插槽与所述CPU连通，其他的插槽与所述CPU断开；所述测试模块用于判断每种插槽组合方式中，所述CPU能否控制与所述CPU电连接的存储器在正确的工作模式下工作，并输出测试结果。
2.如权利要求1所述的电脑主板测试装置，其特征在于，所述电脑主板测试装置还包括一个报警模块，所述报警模块用于接收所述测试模块的测试结果，并在所述测试模块判断所述CPU不能正常工作时，进行报警。
3.如权利要求1所述的电脑主板测试装置，其特征在于，所述存储器的数量等于所述插槽的数量。
4.如权利要求1所述的电脑主板测试装置，其特征在于，所述微控制器还用于在当前序列号对应的插槽组合方式中的该插槽与所述CPU连通，该其他的插槽与所述CPU断开之后，控制所述电脑主板关机，然后重新启动。
5.如权利要求1所述的电脑主板测试装置，其特征在于，所述开关芯片为BMC芯片。
6.如权利要求1所述的电脑主板测试方法，其特征在于，所述插槽的多种组合方式包括将每个内存通道内的插槽与其他内存通道内的插槽分别进行组合，并将每个内存通道的多个插槽进行分别组合。
7.一种使用如权利要求1所述的电脑主板测试装置的电脑主板测试方法，其包括如下步骤提供一个电脑主板，所述电脑主板包括多个内存通道及一个CPU，每个内存通道包括多个用于插设存储器的插槽，所述CPU用于控制所述多个插槽内的存储器在正确的工作模式下工作；所述微控制器将所述多个插槽进行组合，以获得多种插槽的组合方式，并给每种组合方式编序列号；在每个插槽内均插入一个存储器；所述微控制器按照该序列号的顺序输出信号给所述至少一个开关芯片，以依照该序列号对应的插槽的组合方式，控制所述多个插槽与所述CPU的通断，所述测试模块判断插槽的每种组合方式时，所述CPU能否控制与所述CPU电连接的存储器在正确的工作模式下工作；若是，则判断所述电脑主板为良品；若其中有一种插槽的组合方式中，所述CPU不能控制与所述CPU电连接的存储器在正确的工作模式下工作，则判断所述电脑主板为不良品。
8.如权利要求7所述的电脑主板测试方法，其特征在于，在测试每种插槽的组合方式时，所述CPU能否正常工作的步骤还包括如下子步骤在对某一种插槽的组合方式进行测试时，所述微控制器根据预先编排好的插槽的组合方式控制所述至少一个开关芯片将该组合方式中包括的插槽与所述CPU连接，并将该组合方式中不包括的插槽与所述CPU断开；将电脑主板关机，然后重新启动；所述测试模块测试所述CPU传递给所述至少一个开关芯片的信号，以判断所述CPU是否能正常工作；若是，则进行下一个插槽的组合方式的测试，直至对所有插槽的组合方式都完成测试，若否，则判断所述电脑主板为不良品，测试终止。
9.如权利要求7所述的电脑主板测试方法，其特征在于，所述将所述多个插槽进行组合包括将每个内存通道内的插槽与其他内存通道内的插槽分别进行组合，并将每个内存通道的多个插槽进行分别组合。
10.如权利要求7所述的电脑主板测试方法，其特征在于，所述电脑主板测试装置还包括一个报警模块，最后一个步骤中还包括如下子步骤当测试出所述电脑主板为不良品时， 所述测试模块发出一个不良品的信号给所述报警模块，所述报警模块进行报警。
全文摘要
一种电脑主板测试装置，用于测试电脑主板。电脑主板包括CPU及多个内存通道。每内存通道包括多个插槽。电脑主板测试装置包括多个插在插槽内的存储器、至少一开关芯片、微控制器及测试模块。至少一开关芯片包括多个与插槽电连接的输入引脚、多个与输入引脚相对应且与CPU电连接的输出引脚及一控制引脚。微控制器存储插槽的多种组合方式，并给每种组合方式编序列号，还根据序列号顺序，通过控制引脚向开关芯片输控制指令，控制当前序列号对应的插槽组合方式中的插槽与CPU连通，其他插槽与CPU断开。测试模块判断每种插槽组合方式中，CPU能否控制对应存储器在正确工作模式下工作。本发明还涉及一种电脑主板测试方法。
文档编号G06F11/22GK102999405SQ201110275049
公开日2013年3月27日 申请日期2011年9月16日 优先权日2011年9月16日
发明者谢佾苍, 张泳铂 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司