电容式触控装置制造方法

文档序号:6500811阅读:116来源:国知局
电容式触控装置制造方法
【专利摘要】一种电容式触控装置,包含控制处理电路和触控面板。所述触控面板具有矩阵排列的多个检测单元。所述控制处理电路用以输入驱动信号至所述触控面板的所述检测单元并依次从所述检测单元读取测量数据以进行后处理;其中,所述控制处理电路在正常模式下以第一采样数目读取所述检测单元的所述测量数据且所述控制处理电路在休眠模式下以第二采样数目读取所述检测单元的所述测量数据,所述第二采样数目低于所述第一采样数目。
【专利说明】电容式触控装置

【技术领域】
[0001] 本发明是有关一种输入装置,更特别有关一种可降低耗能和提升报告率的电容式 触控装置。

【背景技术】
[0002] 触控面板因操作简单且于操作时不需搭配例如滑鼠或键盘等额外周边装置,因此 普遍地被应用于可携式电子装置和家电产品上。在电容式触控面板中,使用者所操作的触 控区域通常仅占据触控面板的部分面积,因此在节能省电的考量上,除了能够于休眠模式 下降低耗能,较佳也能够于正常模式下节省整体耗能。
[0003] 已知技术中,于休眠模式下,可通过降低扫描频率来降低耗能。例如,台湾专利第 200943156号中揭示一种于正常模式下以4毫秒的频率进行扫描而于休眠模式下以40毫秒 的频率进行扫描的省电方法,其根据判断长时间是否发生触碰事件(touch event)来确认 是否从正常模式切换至休眠模式。然而在休眠模式下,降低扫描频率则会同时降低报告率 (report rate)而可能延迟第一次触碰发生的检测时间,同时会降低触控面板的反应时间。
[0004] 有鉴于此,本发明还提出一种电容式触控装置,其于休眠模式下以及正常模式下 均可降低触控面板的整体耗能,而且不会降低检测第一次触碰发生的即时性。


【发明内容】

[0005] 本发明提供一种电容式触控装置,其可于休眠模式下仅扫描触控面板的部份区域 和/或降低触控面板的测量数据的采样数目,借此降低整体耗能。
[0006] 本发明提供一种电容式触控装置,其可于正常模式下仅扫描触控面板的部份区域 和/或降低触控的部份区域的测量数据的采样数目,借此降低整体耗能。
[0007] 本发明提供一种电容式触控装置,其可降低触控面板的测量数据的采样数目,借 此增加报告率和检测即时性。
[0008] 本发明提供一种电容式触控装置,包含触控面板以及控制处理电路。所述触控面 板包含矩阵排列的多个检测单元。所述控制处理电路用以输入驱动信号至所述触控面板的 所述检测单元并依次从所述检测单元读取测量数据;其中,正常模式下所述控制处理电路 以第一采样数目读取所述检测单元的所述测量数据且休眠模式下所述控制处理电路以第 二采样数目读取所述检测单元的所述测量数据。所述第二采样数目低于所述第一采样数 目。
[0009] 本发明还提供电容式触控装置,包含触控面板以和控制处理电路。所述触控面板 包含矩阵排列的多个检测单元。控制处理电路用以输入驱动信号至所述触控面板的所述检 测单元并从所述检测单元依次读取测量数据;其中,正常模式下所述控制处理电路于第一 帧期间以第一采样数目读取所述检测单元的所述测量数据且休眠模式下所述控制处理电 路于第二帧期间以第二采样数目读取所述检测单元的所述测量数据。所述第二采样数目低 于所述第一采样数目且所述第二帧期间短于所述第一帧期间。
[0010] 本发明还提供一种电容式触控装置,包含触控面板以及控制处理电路。所述触控 面板包含矩阵排列的多个检测单元。控制处理电路用以输入驱动信号至所述触控面板的所 述检测单元并依次从所述检测单元读取测量数据;其中,休眠模式下所述控制处理电路仅 读取部份所述检测单元的所述测量数据。
[0011] 一实施例中,所述控制处理电路以相同的采样频率读取每一个检测单元的多个笔 测量数据。例如,读取所述第一采样数目和所述第二采样数目的采样频率均相同。
[0012] 一实施例中,所述正常模式下,所述控制处理单元可选择以较高的采样数目(例如 第一采样数目)读取全部或部分所述检测单元的测量数据;其中,当所述控制处理单元以 所述第一采样数目仅读取部分所述检测单元的测量数据时,所述控制处理单元以较低的采 样数目(例如所述第二采样数目)读取其他部分所述检测单元的测量数据,以进一步节省耗 能。
[0013] 一实施例中,所述控制处理电路扫描所述触控面板的帧期间可包含或不包含闲置 时间。当所述帧期间包含闲置时间时可节省耗能;当所述帧期间不包含闲置时间可进一步 提升扫瞄频率和报告率。
[0014] 一实施例中,当所述控制处理电路于正常模式和休眠模式仅读取部分检测单元的 测量数据时,于相邻帧期间所述控制处理电路较佳读取不同部份的检测单元的测量数据, 以在至少两帧期间能够检测所有检测单元至少一次。
[0015] 本发明实施例的电容式触控装置中,在休眠模式下可以较低的采样数目读取部份 或全部检测单元的测量数据,借此降低耗能并提升检测即时性;于正常模式下可于触碰点 周围区域以正常采样数目读取所述周围区域内全部检测单元的测量数据并于所述周围区 域以外的区域以较低的采样数目读取部份或全部检测单元的测量数据,借此降低耗能并提 升检测即时性。
[0016] 为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能更明显,下文将配合所附图示,详 细说明如下。此外,在本发明的说明中,相同的构件是以相同的符号表示,于此先述明。

【专利附图】

【附图说明】
[0017] 图1显示本发明实施例的电容式触控装置的方块示意图;
[0018] 图2显示本发明实施例的电容式触控装置的示意图;
[0019] 图3A显示本发明实施例的电容式触控装置于休眠模式下读取部分检测单元的测 量数据的示意图;
[0020] 图3B显示本发明实施例的电容式触控装置于休眠模式下读取部分检测单元的测 量数据的另一示意图;
[0021] 图4显示本发明实施例的电容式触控装置于正常模式下读取部分检测单元的测 量数据的示意图;
[0022] 图5显示本发明第一实施例的电容式触控装置的运作示意图;
[0023] 图6显示本发明第二实施例的电容式触控装置的运作示意图;
[0024] 图7显示本发明实施例的电容式触控装置读取检测单元的测量数据的示意图。
[0025] 附图标记说明
[0026] 1电容式触控装置
[0027] 11触控面板
[0028] 111检测单元
[0029] lllfllln 检测单元
[0030] 111a 检测单元的第一部份
[0031] 111b 检测单元的第二部份
[0032] 111c 检测单元的第三部份
[0033] 13 控制处理电路
[0034] Tc 触碰点
[0035] SNi 第一采样数目
[0036] SN2 第二采样数目
[0037] SN3 第三采样数目
[0038] Sd 驱动信号
[0039] Sm 测量数据。

【具体实施方式】
[0040] 参照图1和图2所示,图1显示本发明实施例的电容式触控装置的方块示意图而 图2显示本发明实施例的电容式触控装置的示意图。本发明的电容式触控装置1包含触控 面板11和控制处理单元13。本实施例中,所述触控面板11例如为电容式触控面板,并包含 矩阵排列的多个检测单元111 (例如包含llli-llU,如图2所示,用以供使用者于其上进 行触控操作。所述控制处理电路13耦接所述触控面板11,用以输出驱动信号Sd至所述触 控面板11的所述检测单元111并依次从所述检测单元111读取测量数据Sm,并根据所读取 的测量数据Sm判断至少一个触碰点并输出相对应的控制信号至使用者图形介面(⑶I);其 中,所述控制处理电路13与所述触控面板11的连接方式已为已知,例如可通过多个开关元 件输入所述驱动信号Sd并依次读取所述测量数据Sm,故在此不再赘述。所述驱动信号Sd 例如可为连续电压信号,例如可为弦波、方波或其他具有对称或不对称波形的电压信号;所 述控制处理电路13在读取每一个检测单元111时均读取预设采样数目(sampling number) 的测量数据来计算触控信息,例如以采样频率读取每一个检测单元111的128笔、64笔或 32笔数据来判断触控事件以和触控位置等触控信息。可以了解的是,所述控制处理电路13 计算所述触控信息所需的采样数目可根据所需的精确度决定,并不限于本发明说明中所揭 示的采样数目。所述触控信息是用以相对控制电子装置执行特定程式,因其已为已知故在 此不再赘述。
[0041] 本发明中,所述电容式触控装置1可运作于正常模式和休眠模式(举例说明于下); 其中,所述正常模式可包含两种实施态样。所述控制处理单元13于不同模式下较佳输入相 同的驱动信号至每一个检测单元111。所述正常模式是指所述控制处理电路13判断出至少 一个指示物,例如手指正操作于所述触控面板11上的运作模式;所述休眠模式是指所述控 制处理电路13判断预设时间内无任何指示物操作在所述触控面板11上的运作模式。
[0042] 一部分休眠模式是为所述正常模式的另一种实施态样;例如,当所述控制处理电 路13判断出至少一个指示物正操作于所述触控面板11上时,将触控面板11的所述检测单 元liii-iilg分为第一部份和第二部份;其中,所述第一部份为至少一个触碰点周围的预 设范围(包含所述触碰点的检测单元)而所述第二部份为其他检测单元111。所述电容式触 控装置1于所述第一部份的所述检测单元111执行如同所述正常模式的运作并于所述第二 部份的所述检测单元111执行如同所述休眠模式的运作,此处为方便说明而将此运作模式 称为部份休眠模式。必须说明是,本发明中所述部份休眠模式可选择不实施;也即,所述正 常模式下所述检测单元111可不被另外区分为不同区域。
[0043] 请参照图3A和图3B所示,其显示本发明实施例的电容式触控装置1在休眠模式 下读取部分检测单元的测量数据的示意图。如前所述,当所述控制处理电路13判定预设时 间内无任何手指触碰所述触控面板11时则进入所述休眠模式以节省耗能。所述休眠模式 下,所述控制处理电路13输入驱动信号Sd至所述触控面板11的全部或部份检测单元111 并仅读取部份所述检测单元111的测量数据,当所述控制处理电路13判断至少一个检测单 元111检测到触碰事件时,则控制所述电容式触控装置1回到正常模式。
[0044] 图3A和图3B显示所述制处理电路13于相邻帧期间读取不同部份的所述检测单 元111的测量数据,例如于第m帧期间和第(m± 1)帧期间分别读取不同的检测单元111。借 此,当触碰事件仅发生于单一的检测单元111时,可避免无法结束休眠模式的情形。例如, 图3A显示所述控制处理电路13所读取的部份所述检测单元111呈西洋棋盘图案;图3B显 示所述控制处理电路13所读取的部份为不相邻列的所述检测单元111。必须说明的是,只 要是能够在至少两相邻帧期间获取完所有检测单元111即可,所述控制处理电路13在每一 帧期间所读取的部份所述检测单元111的分布并不限于图3A和图3B所示,例如所述控制 处理电路13所读取的部份也可为不相邻行的所述检测单元111。本发明中,所述帧期间指 所述控制处理电路13扫描完所有或部分所述检测单元111并进行一次报告(report)的期 间。
[0045] 本发明中,所述控制处理电路13可进一步在所述正常模式或所述休眠模式以相 同或不同的采样数目读取所述检测单元111的测量数据。
[0046] 一实施例中,在正常模式下所述控制处理电路13可读取所有所述检测单元111的 测量数据,并相对每一帧期间报告一次触碰事件或触碰坐标。请参照图4所示,其显示本发 明实施例的电容式触控装置1在正常模式的示意图;另一实施例中,在正常模式下所述控 制处理电路13可读取第一部份111a的所述检测单元111的所有检测单元111的测量数据 并读取第二部份111b的所述检测单元111的部份检测单元111的测量数据;其中,所述第 一部分111a例如为触碰点Tc周围预设范围而所述第二部份111b例如为所述触控面板11 中,所述第一部分111a以外的全部或部分检测单元111 ;借此,由于所述控制处理电路13 可仅读取所述第一部份111a以外的部份检测单元111的测量数据,因此可在正常模式下进 行省电,即部份休眠模式。
[0047] 综上所述,本发明中,可通过于休眠模式或部分休眠模式使所述控制处理电路13 仅读取部份检测单元111的测量数据,以节省耗能。
[0048] 请参照图5所示,其显示本发明第一实施例的电容式触控装置的运作示意图。 本实施例中,正常模式下,所述控制处理电路13以第一采样数目S&读取所述检测单元 llli-lll的测量数据;休眠模式下,所述控制处理电路13以第二采样数目SN 2读取所述 检测单元llli-111。的测量数据,以于所述休眠模式下节省耗能;其中,所述第二采样数目 SNdS于所述第一采样数目SR。本实施例中,所述控制处理电路13始终以相同的采样频率 (sampling frequency)读取每一个检测单元111的多个笔测量数据。
[0049] 图5A显示正常模式下的操作示意图。当所述控制处理电路13判断存在至少一个 手指碰触所述触控面板11时(如第7图的正常模式),所述控制处理电路13以所述采样频 率读取每一检测单元llli-lll第一采样数目SR的测量数据;其中,所述第一采样数目SR 例如可为128,但并不以此为限。帧期间中,所述控制处理电路13扫描完所有检测单元111 并报告触控信息。
[0050] 图5B和图5C显示休眠模式下的操作示意图。当所述控制处理电路13判断预设 时间没有任何手指碰触所述触控面板11时(如第7图的休眠模式),所述控制处理电路13以 所述采样频率读取每一检测单元llli-111。第二采样数目SN 2的测量数据;其中,所述第二 采样数目SN2例如可为64或32,但并不以此为限。本实施例中,由于所述正常模式和所述 休眠模式均具有相同的帧期间,所述休眠模式下所述控制处理电路13读取完所述第二采 样数目的测量数据后即进入闲置状态;例如,图5B显示所述控制处理电路13可读取完所有 检测单元llli-lll的测量数据后才进入闲置状态;图5C显示所述控制处理电路13可读取 每个检测单元111的测量数据后即进入闲置状态。由于所述控制处理电路13以相同采样 频率读取较少采样数目的测量数据,故输入所述驱动信号Sd和读取所述测量数据Sm的时 间缩短了,而可于每一个帧期间节省耗能(例如在图5B和图5C中的闲置期间进行省电)。
[0051] 另一实施例中,所述休眠模式下所述控制处理电路13可以以所述第二采样数目 SN2仅读取部份所述检测单元111的测量数据,如图3A和图3B所示的斜线区域,以进一步 提高省电效果。同理,所述休眠模式下,所述控制处理电路13于相邻帧期间以所述第二采 样数目SN 2读取不同部份的所述检测单元111的测量数据。
[0052] 详而言之,第一实施例中,在休眠模式下所述控制处理电路13可以较低的采样数 目读取所有或部分检测单元111的测量数据以确定触控信息,借此达到节省耗能的目的。
[0053] 图?和图5E显示正常模式下的另一操作示意图(即部分休眠模式)。当所述控制 处理电路13判断存在至少一个手指碰触所述触控面板11时则进入正常模式,然而此时所 述控制处理电路13以所述采样频率读取第一部份111a的所述检测单元111所述第一采样 数目SR的测量数据(例如检测单元111 3和1114)并以所述采样频率读取第二部份111b的 所述检测单元111第二采样数目SN 2的测量数据(例如检测单元1113和1114以外的检测单 元),以于正常模式下也能达到节省耗能的目的。本实施例中,所述第一部份111a为触碰点 Tc周围预设范围而所述第二部份111b为所述第一部份111a以外的检测单元111(例如第7 图的部分休眠模式)。本实施例中,由于所述正常模式和所述部分休眠模式均具有相同的帧 期间,于读取所述检测单元111的所述第二部份111b的所述检测单元111的测量数据时, 所述控制处理电路13读取完所述第二采样数目SN 2的所述测量数据后即进入闲置状态;例 如,图ro显示所述控制处理电路13可读取完所有检测单元111的测量数据后才进入闲置 状态;图5E显示所述控制处理电路13可读取所述第二部份111b中的每个检测单元111的 测量数据(例如检测单元111 3和1114以外的检测单元)后即进入闲置状态而读取所述第一 部份ilia中的检测单元111的测量数据后(例如检测单元111 3和1114)没有闲置状态。
[0054] 另一实施例中,所述控制处理电路13可将所述触控面板11分成三个部份分别以 不同的采样数目读取所述检测单元的多个笔测量数据,例如图7的另一部分休眠模式中, 所述控制处理电路13以所述第一采样数目SNi读取第一部份111a的所述检测单元111的 测量数据、以所述第二采样数目SN2读取第二部份111b的所述检测单元111的测量数据并 以第三采样数目SN3读取第三部份111c的所述检测单元111的测量数据;其中,所述第三采 样数目SN 3可介于所述第一采样数目SNi和所述第二采样数目SN2间,且所述第三部份111c 较佳介于所述第一部分111a和所述第二部份111b间。借此,当手指于下一张帧期间移出 所述第一部分111a外时,所述控制处理电路13可较即时地检测触碰事件;其中,所述第三 部份111c可根据不同实施例适当选择。
[0055] 请参照图6所示,其显示本发明第二实施例的电容式触控装置的运作示意图。本 实施例中,正常模式下所述控制处理电路13于第一帧期间以第一采样数目SR读取所述检 测单元111的测量数据且休眠模式下所述控制处理电路13于第二帧期间以第二采样数目 SN 2读取所述检测单元111的测量数据;其中,所述第二采样数目SN2低于所述第一采样数 目SR且所述第二帧期间短于所述第一帧期间。本实施例中,所述控制处理电路13同样始 终以相同的采样频率读取每个等检测单元111的多个笔测量数据且每一帧期间不包含闲 置状态。
[0056] 图6A显示正常模式下的操作示意图,本实施例的正常模式与图5A相同,故于此不 再赘述。
[0057] 图6B显示休眠模式下的操作示意图。当所述控制处理电路13判断预设时间没有 任何手指碰触所述触控面板11时,所述控制处理电路13以所述采样频率读取每一检测单 元llli-lll第二采样数目SN 2的测量数据。与第一实施例的差异在于,休眠模式下由于所 述控制处理电路13改以较低的采样数目读取所述检测单元111的测量数据,因此可缩短帧 时间以增加检测即时性;例如图6B的第二帧结束后就直接进入另一个第二帧而所述第二 帧不包含闲置时间;借此,可在相同的耗电下增加检测第一次触碰的即时性以结束休眠模 式。
[0058] 另一实施例中,所述休眠模式下所述控制处理电路13也可以以所述第二采样数 目SN2仅读取部份所述检测单元111的测量数据,如图3A和3B所示的斜线区域,以进一步 提高省电效果。同理,所述休眠模式下,所述控制处理电路13在相邻的第二帧期间可以以 所述第二采样数目SN 2读取不同部份的所述检测单元111的测量数据。
[0059] 详而言之,第二实施例中,在休眠模式下所述控制处理电路13可以以较低的采样 数目读取所有或部分检测单元111的测量数据以确定触控信息,借此缩短结束休眠模式的 反应时间。
[0060] 图6C显示正常模式的另一操作示意图(即部分休眠模式下)。当所述控制处理电 路13判断存在至少一个手指碰触所述触控面板11时则进入正常模式,然而此时所述控制 处理电路13于第三帧期间以所述第一采样数目SR读取第一部份111a的所述检测单元111 的测量数据(例如检测单元111 3和1114)并以所述第二采样数目SN2读取第二部份111b的 所述检测单元111的测量数据(例如检测单元111 3和1114以外的检测单元),以于正常模式 下也能达到节省耗能的目的;其中,由于所述控制处理电路13于所述触控面板11的部分区 域以较低的采样数目读取测量数据,所述第三帧期间短于所述第一帧期间而长于所述第二 帧期间。同理,本实施例中,所述第一部份111a可为触碰点Tc周围的预设范围而所述第二 部份111b可为所述第一部份111a以外的全部或部份检测单元111。同理,本实施例中所述 检测单元llli-lll也可被区分为三个以上的部份并分别以不同的采样数目读取不同部部 分的测量数据。此外,本发明说明中,所述触碰点Tc例如可为前一次帧期间的扫描所获得 的指示物坐标;其中,所述前一次帧期间可操作于本发明所述的正常模式、休眠模式或部分 休眠模式。所述电容式触控装置1较佳包含储存单元用以储存所述指示物坐标。
[0061] 必须说明的是,虽然本发明各实施例是以互容式电容感测装置作为举例来说明, 然而本发明也可用于其他触控感测装置,例如自容式电容感测装置、电阻式感测装置、光学 式感测装置等可涵盖触控系统主要操作区域的感测装置上。例如,在内嵌式光学感测装置 中,也可根据减少每一个感光单元(cell)所对应的光二极体(photodiode)的曝光时间或 者交替切换触控面板的部分感光单元的光二极体进行感光,来达成近似于本发明实施例的 省电目的。
[0062] 综上所述,已知电容式触控面板是通过改变扫描频率进行省电,但却有降低反应 灵敏度的问题。因此,本发明还提供一种电容式触控装置(图1和图2),其在休眠模式下以 及正常模式下均可降低触控面板的整体耗能,而且不会延迟检测第一次触碰发生的检测时 间。
[〇〇63] 虽然本发明已通过前述实例披露,但是其并非用以限定本发明,任何本发明所属 【技术领域】中具有通常知识的技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,当可作各种的更 动与修改。因此本发明的保护范围当视后附的权利要求所界定的范围为准。
【权利要求】
1. 一种电容式触控装置,该电容式触控装置包含: 触控面板,包含矩阵排列的多个检测单元;以及 控制处理电路,用以输入驱动信号至所述触控面板的所述检测单元并依次从所述检测 单元读取测量数据;其中,所述控制处理电路在正常模式下以第一采样数目读取所述检测 单元的所述测量数据且所述控制处理电路在休眠模式下以第二采样数目读取所述检测单 元的所述测量数据,所述第二采样数目低于所述第一采样数目。
2. 根据权利要求1所述的电容式触控装置,其中所述控制处理电路在所述正常模式和 所述休眠模式下均以相同的采样频率读取所述测量数据;所述控制处理电路在所述休眠模 式下读取完所述第二采样数目的所述测量数据后即进入闲置状态。
3. 根据权利要求1或2所述的电容式触控装置,其中所述控制处理电路在所述正常模 式下以所述第一采样数目读取第一部份检测单元的测量数据并以所述第二采样数目读取 第二部份检测单元的测量数据。
4. 根据权利要求3所述的电容式触控装置,其中所述第一部份为触碰点周围的预设范 围。
5. 根据权利要求4所述的电容式触控装置,其中所述第二部份为所述第一部份以外的 全部或部份检测单元。
6. 根据权利要求3所述的电容式触控装置,其中在读取所述检测单元的所述第二部份 检测单元的测量数据时,所述控制处理电路读取完所述第二采样数目的所述测量数据后即 进入闲置状态。
7. 根据权利要求1或2所述的电容式触控装置,其中所述控制处理电路在所述休眠模 式下以所述第二采样数目仅读取部份所述检测单元的测量数据。
8. 根据权利要求6所述的电容式触控装置,其中所述控制处理电路在相邻帧期间以所 述第二采样数目读取不同部份的检测单元的测量数据。
9. 根据权利要求1或2所述的电容式触控装置,其中所述正常模式和所述休眠模式具 有相同的帧期间。
10. -种电容式触控装置,该电容式触控装置包含: 触控面板,包含矩阵排列的多个检测单元;以及 控制处理电路,用以输入驱动信号至所述触控面板的所述检测单元并从所述检测单元 依次读取测量数据;其中所述控制处理电路在正常模式下在第一帧期间以第一采样数目读 取所述检测单元的所述测量数据且所述控制处理电路在休眠模式下在第二帧期间以第二 采样数目读取所述检测单元的所述测量数据,所述第二采样数目低于所述第一采样数目且 所述第二帧期间短于所述第一帧期间。
11. 根据权利要求10所述的电容式触控装置,其中所述控制处理电路在所述正常模式 下在第三帧期间以所述第一采样数目读取第一部份检测单元的测量数据并以所述第二采 样数目读取第二部份检测单元的测量数据,所述第三帧期间短于所述第一帧期间。
12. 根据权利要求11所述的电容式触控装置,其中所述第一部份为触碰点周围的预设 范围。
13. 根据权利要求12所述的电容式触控装置,其中所述第二部份为所述第一部份以外 的全部或部份检测单元。
14. 根据权利要求10所述的电容式触控装置,其中所述控制处理电路在所述休眠模式 下以所述第二采样数目仅读取部份检测单元的测量数据。
15. 根据权利要求14所述的电容式触控装置,其中所述控制处理电路在相邻的第二帧 期间以所述第二采样数目读取不同部份的检测单元的测量数据。
16. -种电容式触控装置,该电容式触控装置包含: 触控面板,包含矩阵排列的多个检测单元;以及 控制处理电路,用以输入驱动信号至所述触控面板的所述检测单元并依次从所述检测 单元读取测量数据;其中,所述控制处理电路在休眠模式下仅读取部份检测单元的测量数 据。
17. 根据权利要求16所述的电容式触控装置,其中所述控制处理电路在相邻帧期间读 取不同部份的检测单元的测量数据。
18. 根据权利要求16或17所述的电容式触控装置,其中所述控制处理电路所读取的部 份检测单元呈西洋棋盘图案或者为不相邻行或不相邻列的检测单元。
19. 根据权利要求16所述的电容式触控装置,其中所述控制处理电路在正常模式下读 取所有检测单元的测量数据,或者读取第一部份检测单元中所有检测单元的测量数据并读 取第二部份检测单元中部份检测单元的测量数据。
20. 根据权利要求19所述的电容式触控装置,其中所述第一部份为触碰点周围的预设 范围。
【文档编号】G06F3/044GK104063096SQ201310085351
【公开日】2014年9月24日 申请日期:2013年3月18日 优先权日:2013年3月18日
【发明者】陈复祯, 高铭璨, 陈昱翰 申请人:原相科技股份有限公司
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