测试电容式触摸屏响应时间的方法和装置制造方法
【专利摘要】本发明公开了一种测试电容式触摸屏响应时间的方法，包括以下步骤：振动传感器获取与电容式触摸屏触点接触的起点时间T1；触控IC检测电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2；MCU根据触控IC检测的电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2和振动传感器获取的与电容式触摸屏触点接触的起点时间T1，计算出电容式触摸屏响应时间，所述电容式触摸屏响应时间为T2-T1。本发明还公开一种测试电容式触摸屏响应时间的装置。本发明能实现不需要点亮触摸屏即可测试、以及对硬件要求和测试成本低的有益效果。
【专利说明】测试电容式触摸屏响应时间的方法和装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及触摸屏测试领域，尤其涉及测试电容式触摸屏响应时间的方法和装置。
【背景技术】
[0002]随着手机行业的发展，电容式触摸屏的应用也随之越来越广，对电容式触摸屏性能测试的要求也越来越高，而测试电容式触摸屏响应时间是触摸屏性能测试中的一项重要指标。
[0003]目前对电容式触摸屏响应时间的测试几乎都是采用高速摄像机拍摄测试的方法，拍摄记录笔头接触电容式触摸屏屏幕表面的时间以及电容式触摸屏响应的时间这两个时间点，然后通过时间差计算出电容触摸屏的响应时间，采用此方法需要点亮触摸屏才能测试，而且此方法对数据存储空间、通信速度等硬件要求比较高，从而导致成本特别高，因此，对现有的电容式触摸屏响应时间的测试方法亟待改善。
【发明内容】
[0004]本发明的主要目的在于提供一种测试电容式触摸屏响应时间的方法，旨在解决使用高速摄像机方法测试时需要点亮触摸屏、对硬件要求高及高成本的问题。
[0005]为实现上述目的，本发明提供的一种测试电容式触摸屏响应时间的方法，包括以下步骤:
[0006]步骤A、振动传感器获取与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl ；
[0007]步骤B、触控IC检测电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2 ；
[0008]步骤C、MCU根据触控IC检测的电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2和振动传感器获取的与电容式触摸屏触点接触的起点时间TI，计算出电容式触摸屏响应时间，所述电容式触摸屏响应时间为T2-T1。
[0009]优选地，所述步骤C之后还包括:
[0010]步骤D、显示器显示电容式触摸屏响应时间。
[0011 ] 优选地,所述步骤A具体包括:
[0012]步骤Al、振动传感器采集笔头与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl ；
[0013]步骤A2、振动传感器将采集的笔头与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl发送给 MCU。
[0014]优选地,所述步骤B具体包括:
[0015]步骤B1、触控IC检测电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2 ；
[0016]步骤B2、触控IC识别电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2，发出中断信号给MCU。
[0017]优选地,所述步骤C具体包括:
[0018]步骤Cl、当MCU接收到振动传感器发送的笔头与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl后，开始计数；[0019]步骤C2、当MCU接收到触控IC发送的中断信号后，停止计数；
[0020]步骤C3、MCU根据振动传感器发送的笔头与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl和触控IC发送的中断信号之间的计数值，结合CPU时钟频率，计算出电容式触摸屏响应时间，所述电容式触摸屏响应时间为T2-T1。
[0021]本发明进一步提供一种测试电容式触摸屏响应时间的装置，包括振动传感器、触控IC和MCU，其中，
[0022]所述振动传感器，用于获取与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl ；
[0023]所述触控1C，用于检测电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2 ；
[0024]所述MCU，与所述振动传感器和所述触控IC相连，用于根据触控IC检测的电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2和振动传感器获取的与电容式触摸屏触点接触的起点时间TI，计算出电容式触摸屏响应时间，所述电容式触摸屏响应时间为T2-TI。
[0025]优选地，所述的测试电容式触摸屏响应时间的装置，还包括显示器，
[0026]所述显示器，与所述MCU相连，用于显示电容式触摸屏响应时间。
[0027]优选地，所述振动传感器用于采集笔头与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl ；还用于将采集的笔头与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl发送给所述MCU。
[0028]优选地，所述触控IC用于检测电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2 ;还用于识别电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2，发出中断信号给所述MCU。
[0029]优选地，所述MCU用于当接收到所述振动传感器发送的笔头与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl后，开始计数；还用于接收所述触控IC发送的中断信号后，停止计数；还用于根据所述振动传感器发送的笔头与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl和所述触控IC发送的中断信号两者时间的计数值，结合CPU时钟频率，计算出电容式触摸屏响应时间，所述电容式触摸屏响应时间为T2-T1。
[0030]本发明测试电容式触摸屏响应时间的方法，包括以下步骤:振动传感器获取与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl ;触控IC检测电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2 ；MCU根据触控IC检测的电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2和振动传感器获取的与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl，计算出电容式触摸屏响应时间，所述电容式触摸屏响应时间为T2-T1。本发明测试电容式触摸屏响应时间的方法所能实现的有益效果为不需要点亮触摸屏即可测试、对硬件要求和测试成本低。
【专利附图】
【附图说明】
[0031]图1为本发明测试电容式触摸屏响应时间的方法一实施例的流程示意图；
[0032]图2为图1中SlOO的步骤的细化流程示意图；
[0033]图3为图1中S200的步骤的细化流程示意图；
[0034]图4为图1中S300的步骤的细化流程示意图；
[0035]图5为本发明测试电容式触摸屏响应时间的装置一实施例的功能模块示意图。
[0036]本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
【具体实施方式】
[0037]应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。[0038]本发明提供一种测试电容式触摸屏响应时间的方法，参照图1，在一实施例中，该测试电容式触摸屏响应时间的方法，包括以下步骤:
[0039]步骤S100、振动传感器获取与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl。
[0040]当用手按下测试电容式触摸屏响应时间的装置的下压按键时，笔头接触到电容式触摸屏的屏幕表面的接触触点，笔头可以为金属笔头，用于模拟人手的动作，完成电容式触摸屏的点测、线测、轨迹测试，在此处主要是完成点测的功能，振动传感器采集到笔头与电容式触摸屏的触点接触时产生的振动，并转换为感应信号，实现对笔头接触电容式触摸屏的识别，并获取与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl。其中，振动传感器感应信号延时要小于0.1ms，这样才能保证测试出来的触摸屏响应时间精度不受影响，所述振动传感器感应信号为低电平信号。
[0041]步骤S200、触控IC检测电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2。
[0042]触控IC检测到笔头接触到电容式触摸屏触屏触点的动作后，迅速做出响应，并发出中断信号，即将电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2发送给MCU，所述中断信号为低电平?目号。
[0043]步骤S300、MCU根据触控IC检测的电容式触摸屏触屏响应的起点时间Τ2和振动传感器获取的与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl，计算出电容式触摸屏响应时间，所述电容式触摸屏响应时间为Τ2-Τ1。
[0044]MCU通过一个GP10(General Purpose Input Output,通用输入/输出或总线扩展器)来接收触控IC发送过来的电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2、通过另外一个GPIO来接收振动传感器发送过来的与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl，然后通过这两者之间的差值，计算出电容式触摸屏响应时间。
[0045]步骤S400、显示器显示电容式触摸屏响应时间。
[0046]电容式触摸屏响应时间经MCU计算出来后，最终通过显示器的软件显示界面进行输出，以利于测试者直接获出直观的测试结果。
[0047]具体地,参见图2,所述步骤SlOO具体包括:
[0048]步骤S100A、振动传感器采集笔头与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl ；
[0049]所述振动传感器为加速度传感器或三轴陀螺仪，用于将笔头与电容式触摸屏触点接触的振动信号转化为感应信号，此感应信号为低电平信号，所述振动传感器采集到的低电平信号即为笔头与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl。
[0050]步骤S100B、振动传感器将采集的笔头与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl发送给MCU。
[0051]振动传感器将采集到的笔头与电容式触摸屏触点接触的低电平信号即与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl发送给MCU，MCU开始计数。
[0052]具体地,参见图3,所述步骤S200具体包括:
[0053]步骤S200A、触控IC检测电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2 ；
[0054]触控IC检测到笔头接触到电容式触摸屏触屏触点的动作后，迅速做出响应，并发出中断信号，所述中断信号为低电平信号，即将电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2发送给 MCU。
[0055]步骤S200B、触控IC识别电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2，发出中断信号给MCU。
[0056]触控IC识别出电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2后，发出低电平中断信号给MCU, MCU结束计数。
[0057]具体地，参见图3，所述步骤S300具体包括:
[0058]步骤S300A、当MCU接收到振动传感器发送的笔头与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl后，开始计数；
[0059]MCU通过一个GPIO来接收振动传感器发送过来的与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl，即接收到振动传感器产生的低电平的感应信号后，开始计数。
[0060]步骤S300B、当MCU接收到触控IC发送的中断信号后，停止计数；
[0061]MCU通过另一个GPIO来接收触控IC发送过来的电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2，即接收到触控IC发送的低电平中断信号后，结束计数。
[0062]步骤S300C、MCU根据振动传感器发送的笔头与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl和触控IC发送的中断信号之间的计数值，结合CPU时钟频率，计算出电容式触摸屏响应时间，所述电容式触摸屏响应时间为T2-T1。
[0063]MCU根据开始计数和结束计数时的数值，通过CPU时钟频率计算出计数的时间，从而得到电容触摸屏的响应时间。
[0064]本实施例提供的测试电容式触摸屏响应时间的方法，包括以下步骤:步骤S100、振动传感器获取与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl ;步骤S200、触控IC检测电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2 ;步骤S300、MCU根据触控IC检测的电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2和振动传感器获取的与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl，计算出电容式触摸屏响应时间，所述电容式触摸屏响应时间为T2-T1。本实施例提供的测试电容式触摸屏响应时间的方法所能实现的有益效果为不需要点亮触摸屏即可测试、对硬件要求低且测试成本低。
[0065]参见图5，本实施例还进一步提供一种测试电容式触摸屏响应时间的装置，包括振动传感器10、触控IC20和MCU30，其中，
[0066]所述振动传感器10，用于获取与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl。
[0067]当用手按下测试电容式触摸屏响应时间的装置的下压按键时，笔头50接触到电容式触摸屏的屏幕表面的接触触点，笔头50可以为金属笔头，用于模拟人手的动作，完成电容式触摸屏的点测、线测、轨迹测试，在此处主要是完成点测的功能，振动传感器10采集到笔头50与电容式触摸屏的触点接触时产生的振动，并转换为感应信号，实现对笔头50接触电容式触摸屏的识别，并获取与电容式触摸屏触点接触的起点时间TI。其中，振动传感器10感应信号延时要小于0.1ms，这样才能保证测试出来的触摸屏响应时间精度不受影响，所述振动传感器10感应信号为低电平信号。
[0068]所述触控IC20，用于检测电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2。
[0069]触控IC20检测到笔头50接触到电容式触摸屏触屏触点的动作后，迅速做出响应，并发出中断信号，即将电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2发送给MCU30，所述中断信号为低电平信号。
[0070]所述MCU30，与所述振动传感器10和所述触控IC20相连，用于根据触控IC20检测的电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2和振动传感器10获取的与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl，计算出电容式触摸屏响应时间，所述电容式触摸屏响应时间为T2-T1。
[0071]MCU30通过一个GPIO来接收触控IC20发送过来的电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2、通过另外一个GPIO来接收振动传感器10发送过来的与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl，然后通过这两者之间的差值，计算出电容式触摸屏响应时间。
[0072]进一步参见图5，所述测试电容式触摸屏响应时间的装置，还包括显示器40，
[0073]所述显示器40，与所述MCU20相连，用于显示电容式触摸屏响应时间。
[0074]电容式触摸屏响应时间经MCU20计算出来后，最终通过显示器40的软件显示界面进行输出，以利于测试者直接获出直观的测试结果。
[0075]具体地，所述振动传感器10用于采集笔头50与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl ;还用于将采集的笔头50与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl发送给所述MCU20。
[0076]所述振动传感器10为加速度传感器或三轴陀螺仪，用于将笔头50与电容式触摸屏触点接触的振动信号转化为感应信号，此感应信号为低电平信号，所述振动传感器10采集到的低电平信号即为笔头50与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl。振动传感器10将采集到的笔头50与电容式触摸屏触点接触的低电平信号即与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl发送给MCU20，MCU20开始计数。
[0077]具体地，所述触控IC30用于检测电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2 ;还用于识别电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2，发出中断信号给所述MCU20。
[0078]触控IC30检测到笔头50接触到电容式触摸屏触屏触点的动作后，迅速做出响应，并发出中断信号，所述中断信号为低电平信号，即将电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2发送给MCU20。触控IC30识别出电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2后，发出低电平中断信号给MCU20，MCU20结束计数。
[0079]具体地，所述MCU20用于当接收到所述振动传感器10发送的笔头50与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl后，开始计数；还用于接收所述触控IC30发送的中断信号后，停止计数；还用于根据所述振动传感器10发送的笔头50与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl和所述触控IC30发送的中断信号两者时间的计数值，结合CPU时钟频率，计算出电容式触摸屏响应时间，所述电容式触摸屏响应时间为T2-TI。
[0080]MCU20通过一个GPIO来接收振动传感器10发送过来的与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl，即接收到振动传感器产生的低电平的感应信号后，开始计数;MCU20通过另一个GPIO来接收触控IC30发送过来的电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2，即接收到触控IC30发送的低电平中断信号后，结束计数。MCU20根据开始计数和结束计数时的数值，通过CPU时钟频率计算出计数的时间，从而得到电容触摸屏的响应时间。
[0081]以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的【技术领域】，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
【权利要求】
1.一种测试电容式触摸屏响应时间的方法，其特征在于，包括以下步骤: 步骤A、振动传感器获取与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl ； 步骤B、触控IC检测电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2 ； 步骤C、MCU根据触控IC检测的电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2和振动传感器获取的与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl，计算出电容式触摸屏响应时间，所述电容式触摸屏响应时间为T2-T1。
2.如权利要求1所述的测试电容式触摸屏响应时间的方法，其特征在于，所述步骤C之后还包括: 步骤D、显示器显示电容式触摸屏响应时间。
3.如权利要求1所述的测试电容式触摸屏响应时间的方法，其特征在于，所述步骤A具体包括: 步骤Al、振动传感器采集笔头与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl ； 步骤A2、振动传感器将采集的笔头与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl发送给MCU。
4.如权利要求1所 述的测试电容式触摸屏响应时间的方法，其特征在于，所述步骤B具体包括: 步骤B1、触控IC检测电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2 ； 步骤B2、触控IC识别电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2，发出中断信号给MCU。
5.如权利要求4所述的测试电容式触摸屏响应时间的方法，其特征在于，所述步骤C具体包括: 步骤Cl、当MCU接收到振动传感器发送的笔头与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl后，开始计数； 步骤C2、当MCU接收到触控IC发送的中断信号后，停止计数； 步骤C3、MCU根据振动传感器发送的笔头与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl和触控IC发送的中断信号之间的计数值，结合CPU时钟频率，计算出电容式触摸屏响应时间，所述电容式触摸屏响应时间为T2-T1。
6.一种测试电容式触摸屏响应时间的装置，其特征在于，包括振动传感器、触控IC和MCU，其中， 所述振动传感器，用于获取与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl ； 所述触控1C，用于检测电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2 ； 所述MCU，与所述振动传感器和所述触控IC相连，用于根据触控IC检测的电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2和振动传感器获取的与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl，计算出电容式触摸屏响应时间，所述电容式触摸屏响应时间为T2-TI。
7.如权利要求1所述的测试电容式触摸屏响应时间的装置，还包括显示器， 所述显示器，与所述MCU相连，用于显示电容式触摸屏响应时间。
8.如权利要求1所述的测试电容式触摸屏响应时间的装置，其特征在于，所述振动传感器用于采集笔头与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl ;还用于将采集的笔头与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl发送给所述MCU。
9.如权利要求1所述的测试电容式触摸屏响应时间的装置，其特征在于，所述触控IC用于检测电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2 ;还用于识别电容式触摸屏触屏响应的起点时间T2，发出中断信号给所述MCU。
10.如权利要求9所述的测试电容式触摸屏响应时间的装置，其特征在于，所述MCU用于当接收到所述振动 传感器发送的笔头与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl后，开始计数；还用于接收所述触控IC发送的中断信号后，停止计数；还用于根据所述振动传感器发送的笔头与电容式触摸屏触点接触的起点时间Tl和所述触控IC发送的中断信号两者时间的计数值，结合CPU时钟频率，计算出电容式触摸屏响应时间，所述电容式触摸屏响应时间为T2-T1。
【文档编号】G06F11/22GK104008031SQ201410222440
【公开日】2014年8月27日 申请日期:2014年5月23日 优先权日:2014年5月23日
【发明者】张滨 申请人:张滨