一种控制芯片进入不同模式的方法及装置与流程

本发明涉及芯片模式控制技术领域，尤其涉及一种控制芯片进入不同模式的方法及装置。

背景技术：

一般，集成芯片(IC)都有多种工作模式，如测试模式、烧录模式等。因此，集成芯片上一般都设有多个特定的引脚，如测试脚、烧录脚等，通过这些特定的引脚可以控制集成芯片进入相应的工作模式。

但这种传统的芯片工作模式控制方法需要在芯片上设置多个特定的引脚，一个特定的引脚可以控制芯片进入一种工作模式，这种控制方法既浪费时间又浪费资源。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种控制芯片进入不同模式的方法，旨在解决传统的芯片工作模式控制方法既浪费时间又浪费资源的问题。

本发明是这样实现的，一种控制芯片进入不同模式的方法，所述控制芯片进入不同模式的方法包括：

判断所述芯片第一输入输出脚和第二输入输出脚的状态；

根据所述第一输入输出脚和所述第二输入输出脚的状态控制所述芯片进入相应的模式。

进一步的，根据所述第一输入输出脚和所述第二输入输出脚的状态进入相应的模式具体为：

若所述第一输入输出脚和所述第二输入输出脚均为高电平，控制所述芯片进入正常启动模式；

若所述第一输入输出脚为高电平，所述第二输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入烧录模式；

若所述第一输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入初始测试模式。

进一步的，在若所述第一输入输出脚为低电平，所述芯片进入初始测试模式之后，所述方法还包括：

判断所述芯片是否是第一次上电，若判断为否，则控制所述芯片进入正常启动模式；

若判断为是，则判断所述第二输入输出脚的状态；

根据所述第二输入输出脚的状态控制所述芯片进入相应的模式。

进一步的，所述判断所述第二输入输出脚的状态，根据所述第二输入输出脚的状态控制所述芯片进入相应的模式具体为：

若所述第二输入输出脚持续为高电平，控制所述第二输入输出脚一直处于等待状态；

若所述第二输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入测试选择模式。

进一步的，在控制所述芯片进入测试选择模式之后，所述方法还包括：

判断所述第一输入输出脚的状态；

根据所述第一输入输出脚的状态，控制所述芯片进入相应的模块，具体为：

若所述第一输入输出脚为高电平，控制所述芯片进入板上测试模式；

若所述第一输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入量产测试模式。

本发明的另一目的还在于提供一种控制芯片进入不同模式的装置，所述控制芯片进入不同模式的装置包括：

第一判断模块，用于判断所述芯片第一输入输出脚和第二输入输出脚的状态；

第一模式控制模块，用于根据所述第一输入输出脚和所述第二输入输出脚的状态控制所述芯片进入相应的模式。

进一步的，所述模式控制模块包括：

第一模式选择单元，用于若所述第一输入输出脚和所述第二输入输出脚均为高电平，控制所述芯片进入正常启动模式；

第二模式选择单元，用于若所述第一输入输出脚为高电平，所述第二输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入烧录模式；

第三模式选择单元，用于若所述第一输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入初始测试模式。

进一步的，所述控制芯片进入不同模式的装置还包括：

第二判断模块，用于判断所述芯片是否是第一次上电，若判断为否，则所述芯片进入正常启动模式；

第三判断模块，用于当所述第二判断模块判断为是时，判断所述第二输入输出脚的状态；

第二模式控制模块，用于根据所述第二输入输出脚的状态控制所述芯片进 入相应的模式。

进一步的，所述第二模式控制模块包括：

第四模式选择单元，用于若所述第二输入输出脚持续为高电平，控制所述第二输入输出脚一直处于等待状态；

第五模式选择单元，用于若所述第二输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入测试选择模式。

进一步的，所述控制芯片进入不同模式的装置还包括：

第四判断模块，用于判断所述第一输入输出脚的状态；

第三模式控制模块，用于根据所述第一输入输出脚的状态，控制所述芯片进入相应的模块；

所述第三模式控制模块包括：

第六模式选择单元，用于若所述第一输入输出脚为高电平，控制所述芯片进入板上测试模式；

第七模式选择单元，用于若所述第一输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入量产测试模式。

在本发明中，所述控制芯片进入不同模式的方法包括：芯片完成模拟复位后进入判定程序状态；判断所述芯片第一输入输出脚和第二输入输出脚的状态；根据所述第一输入输出脚和所述第二输入输出脚的状态进入相应的模式。在本发明中，通过判断芯片上任意两个普通的输入输出脚的状态，则可控制所述芯片进入不同的工作模式，而不需要另外设置特定的引脚，既节约资源又节约时间。

附图说明

图1是本发明实施例提供的控制芯片进入不同模式的方法的流程图；

图2是本发明实施例提供的控制芯片进入不同模式的装置的模块图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

第一实施例

本发明第一实施例提供了一种控制芯片进入不同模式的方法。

图1示出了本发明实施例提供的控制芯片进入不同模式的方法的流程图。为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分。

在步骤S2中，判断所述芯片第一输入输出脚和第二输入输出脚的状态；

即判断所述芯片第一输入输出脚和第二输入输出脚电平的高低。

作为本发明的一实施例，在步骤S2之前，所述方法还包括：

步骤S1：芯片完成模拟复位后进入判定程序状态；

作为本发明的一实施例，在运用所述控制芯片进入不同模式的方法时用到两个输入输出脚，即任选芯片的两个输入输出引脚定义为第一输入输出脚和第二输入输出脚，开始时，所述第一输入输出脚和所述第二输入输出脚默认上拉，当芯片完成模拟复位以后，所述第一输入输出脚和所述第二输入输出脚进入判定程序状态。

在步骤S3中，根据所述第一输入输出脚和所述第二输入输出脚的状态控制所述芯片进入相应的模式。具体如下：

步骤S31：若所述第一输入输出脚和所述第二输入输出脚均为高电平，控制所述芯片进入正常启动模式，即所述芯片正常工作。

步骤S33：若所述第一输入输出脚为高电平，所述第二输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入烧录模式。

在烧录模式下，可以将软件程序烧写到所述芯片的内部程序存储单元，如烧写到FLASH(闪存)、OPT(One Time Programmable，一次性可编程)等。

步骤S32：若所述第一输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入初始测试模式。

在步骤S32(即所述芯片进入初始测试模式)之后，所述方法还包括：

步骤S4：判断所述芯片是否是第一次上电，若判断为否，则控制所述芯片进入正常启动模式，若判断为是，则执行步骤S5：判断所述第二输入输出脚的状态。

在进入初始测试模式时，判断所述芯片是否是第一次上电的目的是：防止芯片在正常复位而不是掉电复位时，误进入其他模式。

步骤S62：若所述第二输入输出脚持续为高电平，控制所述所述第二输入输出脚一直处于等待状态；目的是为了在之后量产测试的时候，可以做到可控的测试时间。

步骤S61：若所述第二输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入测试选择模式。

在控制所述芯片进入测试选择模式之后，执行步骤S7：判断所述第一输入 输出脚的状态；

步骤S81：若所述第一输入输出脚为高电平，控制所述芯片进入板上测试模式；

步骤S82：若所述第一输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入量产测试模式。

第二实施例

本发明的第二实施例提供了一种控制芯片进入不同模式的装置。

图2示出了本发明实施例提供的芯片的模块图。为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分。

如图2所示，一种控制芯片进入不同模式的装置，包括：

第一判断模块1，用于判断所述芯片第一输入输出脚和第二输入输出脚的状态。即判断所述芯片第一输入输出脚和第二输入输出脚电平的高低。

作为本发明的一实施例，在运用所述控制芯片进入不同模式的方法时用到两个输入输出脚，即任选芯片的两个输入输出引脚定义为第一输入输出脚和第二输入输出脚，开始时，所述第一输入输出脚和所述第二输入输出脚默认上拉，当芯片完成模拟复位以后，所述第一输入输出脚和所述第二输入输出脚进入判定程序状态。

第一模式控制模块2，用于根据所述第一输入输出脚和所述第二输入输出脚的状态控制所述芯片进入相应的模式。

作为本发明的一实施例，模式控制模块2包括：

第一模式选择单元21，用于若所述第一输入输出脚和所述第二输入输出脚 均为高电平，控制所述芯片进入正常启动模式。

第二模式选择单元22，用于若所述第一输入输出脚为高电平，所述第二输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入烧录模式。在烧录模式下，可以将软件程序烧写到所述芯片的内部程序存储单元，如烧写到FLASH(闪存)、OPT(One Time Programmable，一次性可编程)等。

第三模式选择单元23，用于若所述第一输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入初始测试模式。

作为本发明的一实施例，所述控制芯片进入不同模式的装置还包括：

第二判断模块3，用于判断所述芯片是否是第一次上电，若判断为否，则所述芯片进入正常启动模式。

第三判断模块4，用于当所述第二判断模块判断为是时，判断所述第二输入输出脚的状态。

第二模式控制模块5，用于根据所述第二输入输出脚的状态控制所述芯片进入相应的模式。

在进入初始测试模式时，判断所述芯片是否是第一次上电的目的是：防止芯片在正常复位而不是掉电复位时，误进入其他模式。

作为本发明的一实施例，第二模式控制模块5包括：

第四模式选择单元51，用于若所述第二输入输出脚持续为高电平，控制所述第二输入输出脚一直处于等待状态。

第五模式选择单元52，用于若所述第二输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入测试选择模式。

作为本发明的一实施例，所述控制芯片进入不同模式的装置还包括：

第四判断模块6，用于判断所述第一输入输出脚的状态。

第三模式控制模块7，用于根据所述第一输入输出脚的状态，控制所述芯片进入相应的模块。

第三模式控制模块7包括：

第六模式选择单元71，用于若所述第一输入输出脚为高电平，控制所述芯片进入板上测试模式。

第七模式选择单元72，用于若所述第一输入输出脚为低电平，控制所述芯片进入量产测试模式。

在本发明中，所述控制芯片进入不同模式的方法包括：芯片完成模拟复位后进入判定程序状态；判断所述芯片第一输入输出脚和第二输入输出脚的状态；根据所述第一输入输出脚和所述第二输入输出脚的状态进入相应的模式。在本发明中，通过判断芯片上任意两个普通的输入输出脚的状态，则可控制所述芯片进入不同的工作模式，而不需要另外设置特定的引脚，既节约资源又节约时间。

本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的步骤或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储于计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤，而前述的存储介质包括：ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。