一种硬盘状态的检测方法及检测装置与流程

本发明涉及计算机服务器技术领域，具体来说，涉及一种硬盘状态的检测方法及检测装置。

背景技术：

在服务器生产过程中，硬盘是使用量最大的一类部件，如何快速的全面的对硬盘进行检验，是当前面临的最大的问题。在业界，检测硬盘一般都是利用硬盘自检技术，即下达smart(self－monitoringanalysisandreportingtechnology，自动检测分析及报告技术)指令给硬盘，硬盘进行自我检测。

但是现阶段，这个过程是在硬盘内部进行，需要人工不停地去查看smart信息，以确定是否完成，或者有时会出现测试人员忙于其他工作，过了很久才回来查看，此时硬盘检测已完成多时，从而造成时间的浪费、降低了效率。

另外，现有的技术中这种基于人工来检查smart信息的方法，人工操作在面对大量的硬盘检测的情况时，往往显得力不从心。如果测试人员忙于其他工作，而过了很久才来查看，此时硬盘检测已完成多时，从而会影响整体的测试效率。

之所以存在这个问题的一个方面，是因为一般用户面对的只是很少量的硬盘，并且测试时间相对充足，所以对于硬盘检测效率的要求不会太高。但是，当需要对上万块进行硬盘检测以满足生产需求的情况下，这种提高检测效率的要求就变得十分迫切了。

针对相关技术中需要人工来检查硬盘自检结果从而影响效率的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现要素：

针对相关技术中需要人工来检查硬盘自检结果从而影响效率的问题，本发明提出一种硬盘状态的检测方法及检测装置，能够实现硬盘状态的自动化检测。

本发明的技术方案是这样实现的：

根据本发明的一个方面，提供了一种硬盘状态的检测方法，包括：

对硬盘进行短测试；以及

在短测试无异常的情况下，对硬盘进行长测试；

其中短测试包括：对硬盘的部分地址空间进行的检测；以及

长测试包括：对硬盘的全盘地址空间进行的检测。

优选地，对硬盘的部分地址空间进行检测包括：对硬盘的前一部分地址空间进行检测。

优选地，对硬盘的部分地址空间进行检测还包括：对硬盘的后一部分地址空间进行检测。

优选地，短测试还包括：硬盘上线测试、硬盘电路诊断、硬盘smart信息检测、低级格式化检查、硬盘磁头检查、随机位置检测、硬盘smart信息再次检测之中的任意一种或任意多种。

优选地，长测试还包括：硬盘上线测试、硬盘电路诊断、硬盘smart信息检测、低级格式化检查、硬盘磁头检查、随机位置检测、硬盘smart信息再次检测之中的任意一种或任意多种。

优选地，在对硬盘进行短测试之后还包括：显示短测试结果。

优选地，在对硬盘进行长测试之后还包括：显示长测试结果。

根据本发明的另一方面，提供了一种硬盘状态的检测装置，包括：

短测试单元，用于对硬盘进行短测试；以及

长测试单元，连接于短测试单元，用于在短测试无异常的情况下，对硬盘进行长测试；

其中短测试包括：对硬盘的部分地址空间进行的检测；以及

长测试包括：对硬盘的全盘地址空间进行的检测。

优选地，短测试单元还包括：第一短测试子单元，用于对硬盘的前一部分地址空间进行检测。

优选地，短测试单元还包括：第二短测试子单元，用于对硬盘的后一部分地址空间进行检测。

本发明通过硬盘状态检测过程中结合了短测试与长测试，实现了硬盘状态的自动检测，从而实现了不再需要人工检查、检测全程无需人工干预，提高了硬盘检测的效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是根据本发明实施例的硬盘状态的检测方法100的流程图；

图2是根据本发明具体实施例的硬盘状态的检测方法200的流程图；

图3是根据本发明实施例的硬盘状态的检测装置的框图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

如图1所示，根据本发明实施例的硬盘状态的检测方法100包括：

s102，对硬盘进行短测试；以及

s104，在短测试无异常的情况下，对硬盘进行长测试；

其中短测试包括：对硬盘的部分地址空间进行的检测；以及

长测试包括：对硬盘的全盘地址空间进行的检测。

上述技术方案，通过硬盘状态检测过程中结合了短测试与长测试，实现了硬盘状态的自动检测，从而实现了不再需要人工检查、检测全程无需人工干预，提高了硬盘检测的效率。

上述短测试和长测试均可以是针对硬盘的电路、物理盘片进行的检测，短测试和长测试的测试时间与硬盘的容量有关。下面结合表1对短测试和长测试的测试内容进行说明。

表1

在一个实施例中，对硬盘的部分地址空间进行检测包括：对硬盘的前一部分地址空间进行检测。应当理解，表1中示出了短测试对硬盘的前300mb地址空间进行检测的情形，在实际应用中可以对检测的地址空间进行其他配置，本发明对此不作出限定。

在一个实施例中，对硬盘的部分地址空间进行检测还包括：对硬盘的后一部分地址空间进行检测。应当理解，表1中示出了短测试对硬盘的后100mb地址空间进行检测的情形，在实际应用中可以对检测的地址空间进行其他配置，本发明对此不作出限定。

如表1所示，短测试和长测试还均包括硬盘上线测试、硬盘电路诊断、硬盘smart信息检测、低级格式化检查、硬盘磁头检查、随机位置检测、以及硬盘smart信息。

在一些可实施的实施例中，短测试还可以包括：硬盘上线测试、硬盘电路诊断、硬盘smart信息检测、低级格式化检查、硬盘磁头检查、随机位置检测、硬盘smart信息再次检测之中的任意一种或任意多种。

在一些可实施的实施例中，长测试还可以包括：硬盘上线测试、硬盘电路诊断、硬盘smart信息检测、低级格式化检查、硬盘磁头检查、随机位置检测、硬盘smart信息再次检测之中的任意一种或任意多种。

在一个实施例中，在对硬盘进行短测试之后还包括：显示短测试结果。

在一个实施例中，在对硬盘进行长测试之后还包括：显示长测试结果。

如图2所示，示出了本发明具体实施例的硬盘状态的检测方法200。检测方法200在s202处开始；在s204处，进行硬盘smart短测试；在s206处对短测试结果进行展示；在s208处判断硬盘是否出现异常，在判断硬盘没有异常的情况下进入s210，在判断硬盘出现异常的情况下进入s214结束检测方法200；在s210处，进行硬盘smart长测试；并在s212处对长测试结果进行展示。即，在短测试和长测试结合的检测方法200过程中，会不断的扫描硬盘的检测进度，当硬盘完成短测试和长测试的检测时，会对相应的检测结果进行展示。这样就使得在硬盘的检测过程中，不再需要人工检查，从而提高了检测人员的工作效率。

如图3所示，根据本发明的实施例还提供了一种硬盘状态的检测装置，包括：

短测试单元310，用于对硬盘进行短测试；以及

长测试单元320，连接于短测试单元310，用于在短测试无异常的情况下，对硬盘进行长测试；

其中短测试包括：对硬盘的部分地址空间进行的检测；以及

长测试包括：对硬盘的全盘地址空间进行的检测。

上述技术方案，通过硬盘状态检测过程中结合了短测试与长测试，实现了硬盘状态的自动检测，从而实现了不再需要人工检查、检测全程无需人工干预，提高了硬盘检测的效率。

在一个实施例中，短测试单元310还包括第一短测试子单元312，用于对硬盘的前300mb地址空间进行检测。

在一个实施例中，短测试单元310还包括第二短测试子单元314，用于对硬盘的后100mb地址空间进行检测。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。