一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法及测试治具系统与流程

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一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法及测试治具系统与流程
本发明涉及计算机测试的技术领域,具体涉及到一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法及测试治具系统。

背景技术:
OCP全称OpenComputeProject,是Facebook主导的开源项目,它重新设计硬件,使其更高效、灵活和可扩展。PCIE作为OCP设计中重要的IO接口,其信号完整性测试必不可少。在OCP设计中,PCIE接口进行了重新定义,封装比传统的标准PCIE更小,对信号完整性测试的挑战更大,用探头直接在接口上点测非常难以实现,且测试精度无法得到保障。因此,在本领域亟需解决上述问题,本发明提出一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法及测试治具系统。

技术实现要素:
基于现有技术的上述问题,本发明提出了一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法及测试治具系统,其主要思想是:测试治具上包含OCPPCIE接口,方便测试治具与被测设备的连接,在测试治具上将PCIE及Clock信号以SMP接口的方式引出,方便测试治具通过SMA-SMP线缆与示波器的连接。本发明提供如下技术方案:一方面,本发明提供一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法,包括:测试治具与被测设备连接,所述测试治具将PCIE信号及Clock信号以SMP接口方式引出,所述测试治具通过SMA-SMP线缆与示波器连接,开始测试。其中,所述测试治具包括PCIETX信号接口。其中,所述测试治具包括OCPPCIE接口,测试治具通过所述OCPPCIE接口与被测设备连接。其中,将PCIE信号及Clock信号以SMP接口方式引出,在信号传输路径上仅包括连接器。其中,所述测试治具与示波器连接紧密牢固。另外,本发明还提供一种支持OCP接口的PCIE信号测试治具系统,所述测试治具系统包括:测试治具,被测设备以及示波器;测试治具与被测设备连接,所述测试治具将PCIE信号及Clock信号以SMP接口方式引出,所述测试治具通过SMA-SMP线缆与示波器连接。其中,所述测试治具包括PCIETX信号接口。其中,所述测试治具包括OCPPCIE接口,测试治具通过所述OCPPCIE接口与被测设备连接。其中,将PCIE信号及Clock信号以SMP接口方式引出,在信号传输路径上仅包括连接器。其中,所述测试治具与示波器连接紧密牢固。本发明提出一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法及测试治具系统,测试治具上包含...
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