一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法及测试治具系统与流程

技术总结
本发明提出一种支持OCP接口的PCIE信号测试方法及测试治具系统，测试治具上包含OCP PCIE接口，方便测试治具与被测设备的连接，在测试治具上将PCIE及Clock信号以SMP接口的方式引出，方便测试治具通过SMA‑SMP线缆与示波器的连接，操作简便；测试治具与示波器连接紧密、牢固，测试精度高。

技术研发人员：贾永涛
受保护的技术使用者：郑州云海信息技术有限公司
文档号码：201710317475
技术研发日：2017.05.05
技术公布日：2017.09.08