一种基于新一代测序数据的Indel检测方法与流程

文档序号:11177594阅读:来源:国知局

技术特征:

技术总结
本发明属于基因工程技术领域,公开了一种基于新一代测序数据的Indel检测方法,包括:利用bwa比对软件对原始的fastq数据做比对,生成sam文件;对二维点根据设定的阈值进行层次聚类;对hang.sam文件中的每一对reads,取出未正常比对的read;将read和截取下来的参考序列做比对即可确定变异类型,变异位置,以及变异大小;利用哈希结构来存储变异;对于某个变异,根据测序的覆盖度设置阈值。本发明通过聚类确定一个变异的范围,提取Split read与变异范围内的参考序列进行比对,使得比对的过程变得简单、范围更加精确;使用层次聚类,突破提前设置聚类个数的限制,操作简单。

技术研发人员:袁细国;许向彦;杨利英;张军英;白俊
受保护的技术使用者:西安电子科技大学
技术研发日:2017.05.25
技术公布日:2017.10.03
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