一种双控存储系统的可靠性测试方法及系统与流程

本发明涉及计算机存储技术领域,具体地说是一种双控存储系统的可靠性测试方法及系统。

背景技术：

随着it(informationtechnology，信息技术)行业的高速发展，信息化、大数据及云计算的发展对存储系统的稳定性及可靠性要求越来越高。

双控存储系统是保障数据可靠性的有效方式，当一个存储控制器出现故障时，另外一个控制器仍然可以提供服务。是当前中小企业数据存储的首选方案。基于此，需要对双控存储系统在一个控制器工作时进行可靠性测试。传统的测试方法有插拔控制器、断开链路等方式。但均是手动操作，不能一直保持某种测试强度，且效率低下。手动操作的测试仅仅会在测试过程中了解到双控存储系统是否可靠，后续想再次获知时需重复测试，十分不便。

技术实现要素：

为克服上述现有技术存在的不足，本发明的目的在于提供一种自动测试、测试结果可查且可靠的双控存储系统的可靠性测试方法及系统。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种双控存储系统的可靠性测试方法，包括以下步骤：

设定执行测试的次数；

在存储系统状态正常的情况下，检测单个存储控制器工作时的状态；

生成测试记录文件。

进一步地，所述存储系统包括两个存储控制器，所述存储系统状态正常的情况为两个存储控制器的当前状态均为active。

进一步地，所述在存储系统状态正常的情况下，检测单个存储控制器工作时的状态的具体步骤为：

检测存储系统的状态是否正常；

如果存储系统的状态不正常，则退出测试；

如果存储系统的状态正常，则重启两个存储控制器中的其中一个存储控制器，并检测另一个存储控制器的工作状态，判断存储系统的可靠性。

进一步地，所述重启两个存储控制器中的其中一个存储控制器，并检测另一个存储控制器的工作状态，判断存储系统的可靠性的具体步骤为：

s231，调用存储控制器重启命令，重启任一存储控制器，重启次数变量加1；

s232，在等待重启的存储控制器恢复至active状态的过程中，检测另一存储控制器的状态是否为active；

s233，如果另一存储控制器的状态不是active，则退出测试；

s234，如果另一存储控制器的状态是active，重新检测存储系统的状态是否正常，重复进行步骤s231至步骤s234的操作，直至重启次数变量大于所述设定执行测试的次数，退出测试。

进一步地，所述测试记录文件中包括测试的结果信息和过程信息。

一种双控存储系统的可靠性测试系统，包括

计数单元，用于设定测试次数并判断测试次数变量是否达到设定的测试次数；

状态检测单元，用于检测存储控制器的状态；

重启单元，用于重启存储控制器；

存储单元，用于记录并保存测试信息。

进一步地，所述状态检测单元包括第一状态检测模块和第一状态检测模块；所述第一状态检测模块用于在无存储控制器重启情况下，检测两个存储控制器状态；所述第二状态检测模块用于在两个存储控制器中的其中一个存储控制器重启情况下，检测另一个存储控制器的状态。

本发明的有益效果是：

1、设定执行测试的次数，使对单个存储控制器进行多次重启测试，获得的测试结果更加可靠。

2、测试记录文件中包括测试的相关信息，便于后续对结果的分析和查看，如有故障信息，通过测试记录文件可以快速获知故障点，进行相应的操作，提高工作效率且节省再次测试的成本。

附图说明

图1是本发明的方法流程示意图；

图2是本发明的方法一个实施例的流程示意图；

图3是本发明的系统结构示意图。

具体实施方式

为能清楚说明本方案的技术特点，下面通过具体实施方式，并结合其附图，对本发明进行详细阐述。下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。此外，本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。应当注意，在附图中所图示的部件不一定按比例绘制。本发明省略了对公知组件和处理技术及工艺的描述以避免不必要地限制本发明。

如图1所示，本发明的一种双控存储系统的可靠性测试方法，包括以下步骤：

s1，设定执行测试的次数；

s2，在存储系统状态正常的情况下，检测单个存储控制器工作时的状态；

s3，生成测试记录文件。

其中存储系统包括两个存储控制器，所述存储系统状态正常的情况为两个存储控制器的当前状态均为active。存储控制器还会存在service状态。active状态即活动状态，service状态即等待服务的状态。

如图2所示，测试方法的一个实施例，步骤s2的具体实现过程为：

判断测试次数变量是否大于设定的测试次数，如果大于设定的测试次数，则退出测试，否则继续进行测试；

判断存储系统的状态是否正常，如果存储系统的状态不正常，则退出测试，否则继续进行测试；

调用存储控制器重启命令，重启任一存储控制器，并且使重启次数变量加1；

在重启的存储控制器恢复至active的过程中，检测另一存储控制器的状态是否为active，如果另一存储控制器的状态不是active，则退出测试，否则重复判断测试次数变量与设定的测试次数的大小关系，重复进行上述测试，直至测试次数变量大于设定的测试次数，结束测试。

其中检测存储系统状态的命令为mtinqlsservicenodes，重启存储控制器的命令为mtopstopnode–rebootnode1、mtopstopnode–rebootnode2，分别进行另给存储控制器的重启。

步骤s3中的测试记录文件中包括测试的结果信息和过程信息，记录文件以txt格式保存。方便后续对测试结果和过程的分析及查看，当测试异常退出或出现故障时，通过查看测试记录文件，快速获知故障异常点，进行相应的应对操作，提高工作效率。

如图3所示，本发明提供的一种双控存储系统的可靠性测试系统，包括计数单元1、状态检测单元2、重启单元3和存储单元4。其中计数单元1用于设定测试次数并判断测试次数变量是否达到设定的测试次数，状态检测单元2用于检测存储控制器的状态，重启单元3用于重启存储控制器，存储单元4用于记录并保存测试信息。

状态检测单元2包括第一状态检测模块和第一状态检测模块；所述第一状态检测模块用于检测无存储控制器重启情况下，两个存储控制器状态；所述第二状态检测模块用于检测一个存储控制器重启情况下，另一个存储控制器的状态。

向计数单元1的输入端输入测试次数变量，计数单元1的输出端连接状态检测单元2的第一状态检测模块，第一状态检测模块的输出端连接重启单元3的输入端，重启单元3的输出端连接第二状态检测模块的输出端。计数单元1、第一状态检测模块、第二状态检测模块和重启单元3的输出端均连接存储单元4。

以上所述只是本发明的优选实施方式，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也被视为本发明的保护范围。