技术特征：
技术总结
本发明公开了一种基于灰度修正与自适应阈值的结构光条纹中心提取方法，首先通过四步相移法得到条纹的包裹相位图，利用包裹相位差分实现多条纹的分割，并结合条纹灰度极值与相位的余弦信息实现条纹灰度分布的修正，从而消除了物体表面反射率对条纹灰度分布的影响，然后采用查找最小非对称度的方式确定最佳灰度阈值并进行灰度重心运算，实现了条纹中心的亚像素级图像坐标提取。本发明的方法由于避免了物体表面反射率和表面曲率对条纹灰度分布的影响，从而提高了条纹中心提取的精度，为复杂物体的高精度结构光三维形貌测量奠定了基础。
技术研发人员：张英杰;陈波;李程辉;张佳瑞;代博超
受保护的技术使用者：西安交通大学
技术研发日：2017.09.25
技术公布日：2018.03.13