一种面向工业颗粒连片制品的全局定位的方法、装置与流程

文档序号:25525623发布日期:2021-06-18 20:15

技术特征:

1.一种面向工业颗粒连片制品的全局定位的方法,其特征在于,所述方法包括:

获取多张工业颗粒连片制品分割图像;

根据所述工业颗粒连片制品分割图像,计算每个颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息;

对多张所述工业颗粒连片制品分割图像进行拼接,获得工业颗粒连片制品全局图像;所述工业颗粒连片制品全局图像包括所述工业颗粒连片制品分割图像的位置信息;

根据所述颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息,以及所述工业颗粒连片制品分割图像的位置信息,计算所述颗粒在所述工业颗粒连片制品全局图像的定位信息。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述工业颗粒连片制品分割图像,计算每个颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息,包括:

将所述工业颗粒连片制品分割图像进行二值化,获得二值工业颗粒连片制品分割图像;

根据所述二值工业颗粒连片制品分割图像进行边缘检测,获得工业颗粒连片制品目标图像;

计算所述工业颗粒连片制品目标图像的中心的像素坐标,得到所述工业颗粒连片制品目标图像在所述二值工业颗粒连片制品分割图像中的像素坐标;

其中,所述工业颗粒连片制品目标图像在所述二值工业颗粒连片制品分割图像中的像素坐标与颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的像素坐标相同。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述二值工业颗粒连片制品分割图像进行边缘检测,获得工业颗粒连片制品目标图像,包括:

根据所述二值工业颗粒连片制品分割图像进行边缘检测,获得边缘目标图像;

判断所述边缘目标图像的尺寸是否在预设范围内;

如果所述边缘目标图像的尺寸在预设范围内,则所述边缘目标图像为工业颗粒连片制品目标图像。

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在计算所述工业颗粒连片制品目标图像的中心的像素坐标,得到所述工业颗粒连片制品目标图像在所述二值工业颗粒连片制品分割图像中的像素坐标之后,包括:

根据任意相邻的两个所述工业颗粒连片制品目标图像的中心距离计算参考距离;

将已知行列值的任一所述工业颗粒连片制品目标图像确定为参考目标图像;

判断在所述参考目标图像的邻域范围内的未知行列值的所述工业颗粒连片制品目标图像,与所述参考目标图像的中心距离是否小于所述参考距离;

在与所述参考目标图像的中心距离小于所述参考距离时,根据所述参考目标图像的行列值,计算所述未知行列值的所述工业颗粒连片制品目标图像的行列值。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述参考距离包含水平参考距离和垂直参考距离;

所述判断在所述参考目标图像的邻域范围内的未知行列值的所述工业颗粒连片制品目标图像,与所述参考目标图像的距离是否小于所述参考距离,包括:

判断在所述参考目标图像的邻域范围内的未知行列值的所述工业颗粒连片制品目标图像,与所述参考目标图像的水平距离是否小于水平参考距离,以及垂直距离是否小于所述垂直参考距离;

所述在所述距离小于所述参考距离时,根据所述参考目标图像的行列值,计算所述未知行列值的所述工业颗粒连片制品目标图像的行列值,包括:

在所述水平距离小于水平参考距离,以及垂直距离小于所述垂直参考距离时,根据所述参考目标图像的行列值,计算所述未知行列值的所述工业颗粒连片制品目标图像的行列值。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对多张所述工业颗粒连片制品分割图像进行拼接,获得工业颗粒连片制品全局图像,包括:

获取前一相邻工业颗粒连片制品分割图像的像素宽度和像素高度;

根据所述像素宽度和像素高度计和预设重叠区域的重叠宽度和重叠长度,计算当前工业颗粒连片制品分割图像的边缘角在所述工业颗粒连片制品全局图像的像素坐标;

根据所述边缘角在所述工业颗粒连片制品全局图像的像素坐标,确定所述当前工业颗粒连片制品分割图像的拼接位置;

将所述当前工业颗粒连片制品分割图像平移到所述拼接位置;

重复上述步骤,直到所有所述工业颗粒连片制品分割图像平移到拼接位置,获得工业颗粒连片制品全局图像。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,在所述根据所述边缘角在所述工业颗粒连片制品全局图像的像素坐标,确定所述当前工业颗粒连片制品分割图像的拼接位置之后,包括:

计算所述前一相邻工业颗粒连片制品分割图像和所述当前工业颗粒连片制品分割图像在所述预设重叠区域中的所述颗粒的最小偏移量;

根据所述最小偏移量对所述拼接位置进行修正。

8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息,以及所述工业颗粒连片制品分割图像的位置信息,计算所述颗粒在所述工业颗粒连片制品全局图像的定位信息,包括:

根据所述颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息,获取所述颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的像素坐标;

根据所述颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的像素坐标和所述工业颗粒连片制品分割图像的位置信息,计算所述颗粒在所述工业颗粒连片制品全局图像的像素坐标;

根据所述颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息,获取所述颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的行列值;

根据所述颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的行列值和所述工业颗粒连片制品分割图像的位置信息,计算所述颗粒在所述工业颗粒连片制品全局图像的行列值。

9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:

根据所述定位信息,在所述工业颗粒连片制品全局图像对每个所述颗粒进行标注。

10.一种面向工业颗粒连片制品的全局定位的装置,其特征在于,所述装置包括:

工业颗粒连片制品分割图像获取模块,用于获取多张工业颗粒连片制品分割图像;

局部定位模块,用于根据所述工业颗粒连片制品分割图像,计算每个颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息;

拼接模块,用于对多张所述工业颗粒连片制品分割图像进行拼接,获得工业颗粒连片制品全局图像;所述工业颗粒连片制品全局图像包括所述工业颗粒连片制品分割图像的位置信息;

全局定位模块,用于根据所述颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息,以及所述工业颗粒连片制品分割图像的位置信息,计算所述颗粒在所述工业颗粒连片制品全局图像的定位信息。


技术总结
本申请涉及一种面向工业颗粒连片制品的全局定位的方法、装置。所述方法包括:获取多张工业颗粒连片制品分割图像;根据所述工业颗粒连片制品分割图像,计算每个颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息;对多张所述工业颗粒连片制品分割图像进行拼接,获得工业颗粒连片制品全局图像;所述工业颗粒连片制品全局图像包括所述工业颗粒连片制品分割图像的位置信息;根据所述颗粒在所述工业颗粒连片制品分割图像中的定位信息,以及所述工业颗粒连片制品分割图像的位置信息,计算所述颗粒在所述工业颗粒连片制品全局图像的定位信息。采用本方法能够提高颗粒在全局图像的定位效率和准确率。

技术研发人员:别晓辉;徐盼盼;别伟成;单书畅
受保护的技术使用者:视睿(杭州)信息科技有限公司
技术研发日:2021.04.21
技术公布日:2021.06.18
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