一种硬件调试方法及装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明属于计算机领域，尤其涉及一种硬件调试方法及装置。
【背景技术】
[0002] 在现有技术中，计算机硬件的调试工作繁琐且耗费时间。例如对CPU、MCU的频率 与时序进行调试时，主要是通过串口调试线输入具体的调试值到相对应的控制寄存器中。 这种方法需要另外一台机器当调试机台进行调试值的输入；当输入的数据错误时，还需要 重新启动机器；而且开机的等待时间长，进行大批量的验证时操作困难。
[0003] 目前也有通过用户管理界面来对CPU、MCU进行调试的方法，此方法可以解决上述 问题，但是在用户管理界面输入的是硬件不支持的调试值时，系统就开不了机。
【发明内容】
[0004] 本发明在于提供一种硬件调试方法及装置，以简化硬件调试的操作以及解决用户 通过用户管理界面输入硬件不支持的调试值时系统的开机问题。
[0005] 本发明是这样实现的，一种硬件调试方法，所述方法包括：
[0006] 系统开机时，将非易失性随机访问存储器NVRAM中的硬件性能恢复至预设的默认 值，读取所述默认值以初始化控制寄存器；
[0007] 初始化结束后进入用户管理界面，接收用户通过用户管理界面设置的硬件性能调 试值，将所述调试值存储至NVRAM ;
[0008] 读取NVRAM中的调试值进行调试。
[0009] 本发明的另一方面，提供了一种硬件调试装置，所述装置包括：
[0010] 初始化单元，用于系统开机时，将非易失性随机访问存储器NVRAM中的硬件性能 恢复至预设的默认值，读取所述默认值以初始化控制寄存器；
[0011] 设置单元，用于初始化结束后进入用户管理界面，接收用户通过用户管理界面设 置的硬件性能调试值，将所述调试值存储至NVRAM ;
[0012] 调试单元，用于读取NVRAM中的调试值进行调试。
[0013] 本发明实施例与现有技术对比存在的有益效果是：本发明实施例通过判断硬件性 能对应的总线扩展器引脚输出电平为高电平（即用户输入了硬件不支持的调试值）时，自动 恢复非易失性随机访问存储器NVRAM中的硬件性能为预设的默认值，初始化控制寄存器， 再进入用户管理界面接收用户设置的调试值进行硬件调试，从而简化了硬件调试的过程以 及解决了用户输入硬件不支持的调试值时系统的开机问题。
【附图说明】
[0014] 为了清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中 所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实 施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附 图获得其他的附图。
[0015] 图1是本发明实施例一提供的硬件调试方法的实现流程图；
[0016] 图2是本发明实施例一提供的硬件调试方法步骤SlOl的具体流程图；
[0017] 图3是本发明实施例二提供的硬件调试装置的组成结构图。
【具体实施方式】
[0018] 为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对 本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并 不用于限定本发明。
[0019] 本发明适用于飞腾平台，提供了一种硬件调试方法。所述方法基于SPARC架构，利 用总线扩展器GPIO的引脚10输出电平是否为高电平来判断是否输入了硬件不支持的调试 值。若是，则自动恢复非易失性随机访问存储器NVRAM中的硬件性能为默认值，初始化控制 寄存器，再进入用户管理界面，接收用户选择和/或输入的调试值进行硬件调试，从而简化 了硬件调试的过程以及解决用户输入硬件不支持的调试值时，系统的开机问题。
[0020] 为了说明本发明所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。
[0021] 实施例一
[0022] 图1示出了本发明实施例一提供的硬件调试方法的实现流程，详述如下：
[0023] 在步骤SlOl中，系统开机时，将非易失性随机访问存储器NVRAM中的硬件性能恢 复至预设的默认值，读取所述默认值以初始化控制寄存器。
[0024] 在本实施例中，所述系统包括但不限于平板电脑、笔记本电脑、台式计算机以及服 务器的系统。
[0025] 所述硬件性能包括但不限于CPU频率、输入/输出频率、CPU核数、微控制单元MCU 频率。
[0026] 所述将非易失性随机访问存储器NVRAM中的硬件性能恢复至预设的默认值是指 在判断硬件性能对应的总线扩展器GPIO的引脚输出为高电平时，自动将非易失性随机访 问存储器NVRAM中的硬件性能恢复至预设的默认值。
[0027] 作为本发明的一个实施示例，选用总线扩展器GPIO的第10个引脚。当GPI010输 出的电平为高电平时，自动将将非易失性随机访问存储器NVRAM中的硬件性能恢复至预设 的默认值。
[0028] 所述默认值为硬件性能的默认值。
[0029] 所述非易失性随机访问存储器NVRAM是存储环境变量（即硬件性能调试值）的 位置。作为本发明的一个实施示例，非易失性随机访问存储器NVRAM所分配的地址为 OxfffOIcOOOO。
[0030] 所述读取所述默认值以初始化控制寄存器是指读取所述默认值，将所述默认值写 入控制寄存器，然后进入用户管理界面进行硬件调试。
[0031] 在步骤S102中，初始化结束后进入用户管理界面，接收用户通过用户管理界面设 置的硬件性能调试值，将所述调试值存储至NVRAM。
[0032] 所述接收用户通过用户管理界面设置的硬件性能调试值具体为：
[0033] 接收用户通过选择用户管理界面上提供的预设值设置的硬件性能调试值；
[0034] 和 / 或
[0035] 接收用户通过用户管理界面手动输入的硬件性能调试值。
[0036] 作为本发明的一个实施示例，以控制CPU频率为例，在Setup界面，CPU频率的变 量名称为 cpu_freq_sel，设置 cpu_freq_sel 的三个预设值为：1200/1000/800。
[0037] cpu_freq_Sel在非易失性随机访问存储器NVRAM中的默认值为800。
[0038] 当用户进入用户管理界面进行CPU频率调试时，用户管理界面提供三个预设值 1200/1000/800供用户选择，或者用户可以通过键盘手动输入调试值。所述用户通过管理界 面设置的调试值存储至非易失性随机访问存储器NVRAM中。
[0039] 在步骤S103中，读取NVRAM中的调试值进行调试。
[0040] 进一步地，所述读取NVRAM中的调试值进行调试的步骤具体为：
[0041] 在硬件性能调试时，从非易失性随机访问存储器NVRAM中查找与所述硬件性能相 对应的变量名称；
[0042] 根据所述变量名称获取硬件的调试值，并将所述调试值写入控制寄存器进行硬件 调试。
[0043] 所述硬件性能调试是指机器在Hypervisor阶段进行编译。
[0044] 作为本发明的一个实施示例，对CPU频率进行调试（即在Hypervisor阶段进行编 译)，在非易失性随机访问存储器NVRAM中（地址为OxfffOlcOOOO)查找CPU频率对应的变 量名称cpu_f req_Sel，获得CPU频率的调试值，写入控制寄存器进行调试。
[0045] 在本发明实施例中，系统开机时，通过判断硬件性能对应的总线扩展器GPIO引脚 的输出为高电平时，自动将非易失性随机访问存储器NVRAM中的硬件性能恢复至预设的 默认值，读取所述默认值初始化控制寄存器，进入用户管理界面，接收用户选择或者手动输 入的调试值进行硬件性能调试，从而简化了硬件调试的过程以及解决用户输入硬件不支持 的调试值时系统开机的问题。
[0046] 图2示出了本发明实施例一提供的硬件调试方法中步骤SlOl的具体流程。如图 2所述，图1实施例中的步骤SlOl具体为 ：
[0047] 在步骤S201中，系统开机，判断硬件性能对应的总线扩展