一种利用正态分布随机验证的方法
【专利说明】一种利用正态分布随机验证的方法
[0001]
技术领域
[0002]本发明涉及芯片随机验证领域，具体的说就是一种利用正态分布随机验证的方法。
【背景技术】
[0003]随机测试是根据测试说明书执行用例测试的重要补充手段，是保证测试覆盖完整性的有效方式和过程。随机测试主要是芯片代码的一些重要功能进行复测，也包括测试那些当前的测试用例(Test Case)没有覆盖到的部分。重点对一些特殊点情况点、特殊的使用环境、并发性、进行检查。
[0004]理论上，每一个芯片代码版本都需要执行随机测试，尤其对于最后的将要发布的版本更要重视随机测试。随机测试最好由具有丰富测试经验的熟悉被测软件的测试人员进行测试，对于被测试的软件越熟悉，执行随机测试越容易。只有不断的积累测试经验，包括具体的测试执行和对缺陷跟踪记录的分析，不断总结，才能提高。
[0005]然而，现在对芯片代码随机验证过程过于冗余，导致利用随机验证所需人力物力大大增加，由于随机验证为标准分布，造成验证的精准度很低，不能快速达到所需结果的期望。
【发明内容】
[0006]本发明针对现有技术存在的不足之处，提出了一种利用正态分布随机验证的方法。
[0007]本发明所述一种利用正态分布随机验证的方法，解决上述技术问题采用的技术方案如下:利用正态分布随机验证的方法，通过控制参数的方式来达到随机验证可控性与精准性，实现该方法需要的配置包括:(I)构建一个芯片验证环境；(2)将正态分布部分转化成所需要的代码模块与芯片验证环境相连；(3)构建一个用于接收正态随机验证结果的输出结果模块与之连接。运用正态分布方法可以更科学的利用现有资源达到验证的目的，解决在芯片代码随机验证中利用标准分布，导致验证过程过于冗余所需人力物力大大增加，以及验证的精准度很低，不能快速达到所需结果等缺陷。
[0008]本方明利用正态分布随机验证的方法，首先搭建所需要的芯片验证环境，将芯片验证环境作为输入与正态分布部分连接；输入正态分布后会进行内部处理，对内部处理的数据进行整理后输出到输出结果模块，从而得出经过数学分布后的随即验证结果。
[0009]优选的，将正态分布部分转化成所需要的代码模块与芯片验证环境相连。
[0010]优选的，利用正态分布部分通过更改参数的操作方式根据具体需求添加精确化的配置。
[0011]本发明的一种利用正态分布随机验证的方法与现有技术相比具有的有益效果是:考虑到芯片代码验证过程中，采用的随机验证由于数据冗余精确性低造成的人力物力耗费过多的问题，该方法采用正态分布的方式可以有效解决此类问题，用正态分布的方法达到随机验证的精确性可配置性，使随机验证更有效率的达到所期望的结果，提高了芯片随机验证的效率和精确度，使整个验证过程更为清晰，有利于验证工作取得更好的效果。
【附图说明】
[0012]附图1为所述利用正态分布随机验证的方法的流程图。
【具体实施方式】
[0013]为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参考附图，对本发明所述一种利用正态分布随机验证的方法进一步详细说明。
[0014]本发明所述一种利用正态分布随机验证的方法，主要考虑现在对芯片代码随机验证过程过于冗余，导致利用随机验证所需人力物力大大增加，由于随机验证为标准分布，造成验证的精准度很低，不能快速达到所需结果的期望。通过本方法利用正态分布进行芯片随机验证，通过控制参数的方式来达到随机验证可控性与精准性，同时运用正态分布方法可以更科学的利用现有资源达到验证的目的，从而解决在芯片代码随机验证中利用标准分布，导致验证过程过于冗余所需人力物力大大增加，以及验证的精准度很低，不能快速达到所需结果等缺陷。
[0015]实施例1:
本实施例所述一种利用正态分布随机验证的方法，用对称性概率性程度更高的正态分布为基础，实现了对芯片随机验证中验证条目的精简与精确，满足了大规模大规模芯片随机验证的仿真验证需求，此外，利用正态分布的方法通过更改参数的操作方式为根据具体需求添加更精确化的配置，增加了可更改的扩展性。
[0016]本实施例所述利用正态分布随机验证的方法，实现需要的配置包括:(I)构建一个芯片验证环境；(2)将正态分布部分转化成所需要的代码模块与芯片验证环境相连；(3)构建一个用于接收正态随机验证结果的输出结果模块与之连接。
[0017]上述(2)将正态分布部分转化成所需要的代码模块与芯片验证环境相连，是指将正态分布这一统计方法转换成所需代码模块，能够根据正态分布特性，拥有数据可配置的功能。上述(3)构建一个用于接收正态随机验证结果的输出结果模块与之连接，保证将收集验证结果的输出结果模块与正态分布部分相连，用于结果统计。
[0018]本实施例所述利用正态分布随机验证的方法，如附图1所示，其实施过程如下:搭建所需要的芯片验证环境，首先将芯片验证环境作为输入与正态分布部分连接；输入正态分布后会进行内部处理，对内部处理的数据进行整理后输出到输出结果模块，从而得出经过数学分布后的随即验证结果。
[0019]上述【具体实施方式】仅是本发明的具体个案，本发明的专利保护范围包括但不限于上述【具体实施方式】，任何符合本发明的权利要求书的且任何所属技术领域的普通技术人员对其所做的适当变化或替换，皆应落入本发明的专利保护范围。
【主权项】
1.一种利用正态分布随机验证的方法，其特征在于，通过控制参数的方式来达到随机验证可控性与精准性，首先搭建所需要的芯片验证环境，将芯片验证环境作为输入与正态分布部分连接；输入正态分布后会进行内部处理，对内部处理的数据进行整理后输出到输出结果模块，得出经过数学分布后的随即验证结果。
2.根据权利要求1所述一种利用正态分布随机验证的方法，其特征在于，将正态分布部分转化成所需要的代码模块与芯片验证环境相连。
3.根据权利要求2所述一种利用正态分布随机验证的方法，其特征在于，利用正态分布部分通过更改参数的操作方式根据具体需求添加精确化的配置。
【专利摘要】本发明公开一种利用正态分布随机验证的方法,涉及芯片随机验证领域，通过控制参数的方式来达到随机验证可控性与精准性，首先搭建所需要的芯片验证环境，将芯片验证环境作为输入与正态分布部分连接；输入正态分布后会进行内部处理，对内部处理的数据进行整理后输出到输出结果模块，得出经过数学分布后的随即验证结果。该方法使随机验证更有效率的达到所期望的结果，提高了芯片随机验证的效率和精确度，使整个验证过程更为清晰。
【IPC分类】G06F11-36
【公开号】CN104714887
【申请号】CN201510101980
【发明人】符云越, 童元满, 李仁刚
【申请人】浪潮集团有限公司
【公开日】2015年6月17日
【申请日】2015年3月9日