一种检测硬盘的方法及装置的制造方法

文档序号:9452968阅读:293来源:国知局
一种检测硬盘的方法及装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及计算机技术领域,特别涉及一种检测硬盘的方法及装置。
【背景技术】
[0002]随着计算机技术和网络技术的快速发展,每时每刻都在产生大量的数据。硬盘作为存储数据的最常用的介质,数据在各个设备之间传输时,需要快速的从硬盘读取数据和向硬盘写入数据,用户对硬盘的性能的要求越来越高。为了保证硬盘的性能能够满足用户的要求,需要对硬盘进行检测。
[0003]现有技术中,常用的硬盘性能检测方法中,一般只是对硬盘本身的一些参数进行检测,例如硬盘的转速等。而硬盘在实际应用中,除了受到硬盘本身的性能的影响,还要受到周围环境的影响,随着周围环境的不同,硬盘在应用中的性能也会不同,举例来说,如果周围环境的温度过高,可能会降低硬盘的读写速度等。在现有技术中,由于没有充分考虑硬盘应用环境对硬盘性能的影响,使得检测结果不够准确。

【发明内容】

[0004]有鉴于此,本发明提供了一种检测硬盘的方法及装置,能够使得检测出的硬盘性能更加准确。
[0005]—方面,本发明提供了一种检测硬盘的方法,包括:
[0006]S1:确定目标硬盘;
[0007]S2:分别检测所述目标硬盘与待测服务器的每个硬盘连接模块连接时的性能参数的第一检测值;
[0008]S3:根据每个硬盘连接模块对应的第一检测值,判断所述待测服务器上的每个硬盘连接模块是否均符合要求,如果是,则执行步骤S4,否则,调整不符合要求的硬盘连接模块,调整完成后,返回步骤S2 ;
[0009]S4:将每个硬盘连接模块与对应的待测硬盘连接;
[0010]S5:检测每个待测硬盘,确定每个待测硬盘的性能参数的第二检测值。
[0011]进一步地,所述SI,包括:
[0012]对部署在所述待测服务器外的每个待测硬盘进行单体检测;
[0013]获取每个待测硬盘的性能参数的第三检测值;
[0014]将与所有第三检测值的平均值最接近的第三检测值对应的待测硬盘作为所述目标硬盘。
[0015]进一步地,在所述S3之前,还包括:将与所有第三检测值的平均值最接近的第三检测值作为基准值;
[0016]在所述S3之前,还包括:根据所述基准值确定阈值;
[0017]所述S3,包括:
[0018]判断每个第一检测值是否均大于等于所述阈值,如果是,则确定每个硬盘连接模块均符合要求,执行步骤S4,否则,确定小于所述阈值的第一检测值对应的硬盘连接模块不符合要求,调整不符合要求的硬盘连接模块,调整完成后,返回步骤S2。
[0019]进一步地,所述S5,包括:
[0020]调节所述待测服务器的风扇的转速,分别在每种风速下检测每个待测硬盘,分别确定每个待测硬盘在每种风速下的性能参数的第二检测值。
[0021]进一步地,该方法还包括:将每个待测硬盘的性能参数的第三检测值作为每个待测硬盘对应的评价基准值,根据每个待测硬盘对应的评价基准值,确定每个待测硬盘对应的评价阈值;
[0022]在S5之后,还包括:根据每个待测硬盘的第二检测值是否大于等于对应的评价阈值,对每个待测硬盘进行性能评价。
[0023]另一方面,本发明提供了一种检测硬盘的装置,包括:
[0024]确定单元,用于确定目标硬盘;
[0025]第一检测单元,用于分别检测所述目标硬盘与待测服务器的每个硬盘连接模块连接时的性能参数的第一检测值;
[0026]判断单元,用于根据每个硬盘连接模块对应的第一检测值,判断所述待测服务器上的每个硬盘连接模块是否均符合要求,当判断结果为是时,通知连接单元,当判断结果为否时,调整不符合要求的硬盘连接模块,调整完成后,通知所述第一检测单元;
[0027]连接单元,用于将每个硬盘连接模块与对应的待测硬盘连接;
[0028]第二检测单元,用于检测每个待测硬盘,确定每个待测硬盘的性能参数的第二检测值。
[0029]进一步地,所述确定单元,用于对部署在所述待测服务器外的每个待测硬盘进行单体检测,获取每个待测硬盘的性能参数的第三检测值,将与所有第三检测值的平均值最接近的第三检测值对应的待测硬盘作为所述目标硬盘。
[0030]进一步地,该装置还包括:基准值确定单元,用于将与所有第三检测值的平均值最接近的第三检测值作为基准值;
[0031]还包括:阈值确定单元,用于根据所述基准值确定阈值;
[0032]所述判断单元,用于判断每个第一检测值是否均大于等于所述阈值,当判断结果为是时,则确定每个硬盘连接模块均符合要求,通知所述连接单元,当判断结果为否时,确定小于所述阈值的第一检测值对应的硬盘连接模块不符合要求,调整不符合要求的硬盘连接模块,调整完成后,通知所述第一检测单元。
[0033]进一步地,所述第二检测单元,用于调节所述待测服务器的风扇的转速,分别在每种风速下检测每个待测硬盘,分别确定每个待测硬盘在每种风速下的性能参数的第二检测值。
[0034]进一步地,该装置还包括:
[0035]第一评价单元,用于将每个待测硬盘的性能参数的第三检测值作为每个待测硬盘对应的评价基准值,根据每个待测硬盘对应的评价基准值,确定每个待测硬盘对应的评价阈值;
[0036]第二评价单元,用于根据每个待测硬盘的第二检测值是否大于等于对应的评价阈值,对每个待测硬盘进行性能评价。
[0037]硬盘通过与硬盘连接模块相连来接入到服务器中,如果硬盘连接模块不符合要求,则会影响对硬盘的检测结果的准确性,本发明实施例提供的一种检测硬盘的方法及装置,通过目标硬盘的性能来确定待测服务器上每个硬盘连接模块是否符合要求,对不符合要求的硬盘连接模块进行调整,指的所有的硬盘连接模块符合要求后,进行对待测服务器上的所有待测硬盘进行检测,消除了硬盘连接模块对待测硬盘的检测结果的影响,能够使得检测出的硬盘性能更加准确。
【附图说明】
[0038]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0039]图1是本发明一实施例提供的一种检测硬盘的方法的流程图;
[0040]图2是本发明一实施例提供的另一种检测硬盘的方法的流程图;
[0041]图3是本发明一实施例提供的一种检测硬盘的装置的示意图;
[0042]图4是本发明一实施例提供的另一种检测硬盘的装置的示意图。
【具体实施方式】
[0043]为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例,基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
[0044]如图1所示,本发明实施例提供了一种检测硬盘的方法,该方法可以包括以下步骤:
[0045]S1:
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