触控电极的电学性能检测装置和检测方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种触控电极的电学性能检测装置和检测方法。
【背景技术】
[0002]近来，电容式触摸屏以其透光率高、耐磨损、耐环境温度变化、耐环境湿度变化、寿命长、可实现如多点触摸的高级复杂功能而受到大众的欢迎。
[0003]目前，电容式触摸屏分为互电容式触摸屏和自电容式触摸屏。其中，互电容式触摸屏中设置有相对设置的两个互电容电极层，当人体未触碰屏幕时，两个互电容电极层中对应的互电容电极之间产生固定大小的互电容，当人体触碰屏幕时，会改变对应的互电容电极之间的互电容的值，触控侦测芯片通过检测手指触屏前后该互电容的改变量，从而可检测出手指触摸点的位置。自电容式触摸屏中仅设置有一个自电容电极层，当人体未触碰屏幕时，自电容电极层中各自电容电极所承受的电容为一固定值，当人体触碰屏幕时，对应的自电容电极所承受的电容为固定值叠加人体电容，触控侦测芯片通过检测各自电容电极的电容值变化可以判断出触控位置。
[0004]为保证触摸屏的触控性能，则需要对触摸屏上用于实现触控功能的互电容电极层上的各互电容电极或自电容电极层上的各自电容电极的电学特性进行检测，以对触摸屏的触控性能进彳丁评估。
[0005]其中，在对互电容式触摸屏中的互电容电极的电学特性进行检测时，可直接选定用于形成互电容的一对互电容电极，通过电容检测装置(例如万用表)来检测这一对互电容电极之间的电容大小，并根据检测出的电容值来评估这两个互电容电极的电学性能；在对自电容式触摸屏中的自电容电极的电学特性进行检测时，由于所有的自电容电极同层设置，所以各自电容电极无法与其他自电容电极之间构成电容结构，因此无法采用测量电容的方式来评估自电容电极的电学性能。所以，现有技术中一般是采用测量各自电容电极的电阻的方式来评估其对应的电学性能。
[0006]然而，由于各自电容电极的电阻大小容易受到外界环境的影响而发生变化，从而导致测量结果不准确，因此基于各自电容电极的电阻大小来评估各自电容电极对应的电学性能的手段并不可靠。
[0007]因此，如何更准确、更有效地对自电容电极的电学性能进行检测是本领域技术人员亟需解决的技术问题。
【发明内容】
[0008]本发明提供一种触控电极的电学性能检测装置和检测方法，可有效的对自电容触控电极的电学性能进行准确的检测。
[0009]为实现上述目的，本发明提供了一种触控电极的电学性能检测装置，包括:
[0010]电容形成单元，用于与所述触控电极形成电容结构；[0011 ] 电容检测单元，用于获取所述电容结构的电容值。
[0012]可选地，所述电容形成单元包括:
[0013]导电电极和形成于金属电极下方的绝缘电介质层，所述电容检测单元与所述导电电极连接。
[0014]可选地，所述绝缘电介质层的材料为低介电常数材料。
[0015]可选地，所述导电电极的材料为金属材料。
[0016]可选地，所述电容形成单元还包括:设置于所述绝缘层下方的保护层。
[0017]可选地，所述保护层的材料为柔性材料。
[0018]可选地，所述导电电极与所述触控电极的形状和尺寸均相同。
[0019]可选地，所述触控电极上设置有金属引线，所述电容检测单元与所述金属引线连接。
[0020]可选地，还包括:
[0021]驱动单元，与所述电容形成单元连接，用于带动所述电容形成单元进行运动。
[0022]为实现上述目的，本发明还提供了一种触控电极的电学性能检测方法，所述触控电极的电学性能检测方法基于上述的触控电极的电学性能检测装置；
[0023]所述触控电极的电学性能检测方法包括:
[0024]将所述电容形成单元移动至与所述触控电极正对的位置，以使得所述电容形成单元与所述触控电极之间形成电容结构；
[0025]利用电容检测单元获取所述电容结构的电容值。
[0026]本发明具有以下有益效果:
[0027]本发明提供了一种触控电极的电学性能检测装置和检测方法，其中该电学性能检测装置包括:电容形成单元和电容检测单元，其中该电容形成单元用于与触控电极形成电容结构，电容检测单元用于获取电容结构的电容值。本发明的技术方案通过电容形成单元来与待检测的触控电极之间形成电容结构，然后利用电容检测单元获取电容结构的电容值，此时检测人员基于获取到的电容结构的电容值可对触控电极的电学性能进行有效且准确的评估。
【附图说明】
[0028]图1为本发明实施例一提供的一种触控电极的电学性能检测装置的结构示意图；
[0029]图2为利用图1所示电学性能检测装置对触控电极进行检测时的示意图；
[0030]图3为本发明实施例二提供的一种触控电极的电学性能检测方法的流程图。
【具体实施方式】
[0031]为使本领域的技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图对本发明提供的一种触控电极的电学性能检测装置和检测方法进行详细描述。
[0032]需要说明的是，在本申请中的触控电极具体是指自电容式触摸屏中的自电容式触控电极。
[0033]实施例一
[0034]图1为本发明实施例一提供的一种触控电极的电学性能检测装置的结构示意图，图2为利用图1所示电学性能检测装置对触控电极进行检测时的示意图，如图1和图2所示，该电学性能检测装置包括:电容形成单元I和电容检测单元2，其中，电容形成单元I用于与触控电极形4成电容结构，电容检测单元2具有两探测端21、22，其一探测端21与触控电极4电连接，另一探测端22与电容形成单元I电连接，电容检测单元用2于获取电容结构的电容值。
[0035]需要说明的是，本实施例中电容检测单元可以为一个万用表。
[0036]在本实施例中，通过电容形成单元I来与待检测的触控电极4之间形成电容结构，然后利用电容检测单元2获取电容结构的电容值，此时，检测人员基于获取到的电容结构的电容值来对的待检测的触控电极4的电学性能进行评估(电容形成单元I中各部件的电学性能可以预先获取)。
[0037]可选地，电容形成单元I包括:导电电极11和形成于金属电极下方的绝缘电介质层12，电容检测单元2的一端与导电电极11电连接。在对待检测的触控电极4的电学性能进行检测时，仅需将绝缘电介质层12与待检测的触控电极4接触，此时导电电极11与待检测的触控电极4形成之间可形成电容。
[0038]在利用电容形成单元I与触控电极4形成电容结构的过程中发现，由于待检测的触控电极4往往是由ITO等软质导电材料构成，当绝缘电介质层12与触控电极4接触时，会划伤触控电极4的表面，从而导致触控电极4的不良。为解决上述技术问题，本实施例中在绝缘电介质层12的下方设置保护层13，该保护层13用于防止绝缘电介质层12对触控电极4的表面造成损伤。可选地，保护层13的材料为柔性材料。
[0039]需要说明的是，当电容形成单元I中包括保护层13时，则在对触控电极4的电学性能进行检测时，仅需将该保护层13与待检测的触控电极4接触即可。
[0040]本实施例中，为了实现对整个触控电极4的电学性能进行检测，可将导电电极11的形状和尺寸设置的与触控电极4完全相同，此时导电电极11可以与触控电极4完全正对。当然，上述绝缘电介质层12、保护层