判断触控物接触触控操作区的方法及其光学式触控系统的制作方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种光学式触控系统及其方法，特别是有关于一种判断触控物接触触 控操作区的方法及其光学式触控系统。
【背景技术】
[0002] 就现今反光式光学式触控系统而言，发光元件发射光源后，通过影像采集装置捕 捉当前环境的光源信号（亦称为影像信号），系统根据触控物的反射光路径来判断与触控 操作区是否存在触控点。然而，在判断触控点是否存在的过程中，通常会设定一影像信号强 度的门槛值（亦称为Tss)。当在影像信号中具有某个区段的影像信号强度高于Tss时，系 统便会判断触控点存在，如图1所示。
[0003] 当触控物接触触控操作区时，由于光学的反射原理，触控物会反射所有经过其触 控物前端的光路径，因而在影像信号中形成一段向上凸起的突波信号（即触控物反射光源 所形成的现象）。通过比较该突波信号与Tss可判断触控点的存在与否。但在实际的应用 中，突波信号的强弱（即突波信号凸起的高度）会受到触控物接触该触控操作区角度的影 响，如图2A~2B所示。
[0004] 当触控物210在触控操作区220的同一触控点A上被发光元件230照射时，光路 径会因触控物210的倾斜角度不同而造成光路径反射回到影像采集装置240的数量也不相 同，形成不同的突波信号强度。在实际操作及测量后发现，触控物210与触控操作区220的 夹角为90度时，会有强度较强的突波信号，如图2A所示。反之，当触碰物210与触控操作 区220的夹角越小时，突波信号的强度则越弱，如图2B所示。在图2B中，因突波信号的强度 无法达到Tss的门槛值，系统将判断触控物210在触控操作区220上的触控点不存在。若 将Tss值设定为一个较低门槛值，太低的Tss值容易将杂讯或环境的轻微干扰误判为触控 信号。因此，在实际运用上，若使用单一固定的Tss值，则会造成上述情形使用上的不便。
[0005] 因此，需要一判断一触控物接触一触控操作区的方法及其光学式触控系统，以解 决单一 Tss值所造成不便的问题。
【发明内容】
[0006] 本发明提出一种判断一触控物接触一触控操作区的方法，上述方法包括：在一触 控操作区设置复数个发光元件用以发射光源；在上述触控操作区设置一影像采集装置，用 以采集一触控物所形成的影像；在上述触控操作区设置至少一光学反射体，用以将上述发 光元件所发出的光反射至上述影像采集装置；以及通过一影像处理装置由上述影像采集装 置取得上述影像后，依据上述影像取得一第一取像路径及一第二取像路径，并根据上述触 控物在上述第一取像路径及上述第二取像路径的一第一突波信号及一第二突波信号，取得 上述触控物在上述触控操作区的一倾斜角度，并由一储存模块中取得一对应上述倾斜角度 的门槛值，比较上述第一突波信号及上述门槛值以决定上述触控物的一触控点是否存在。
[0007] 在一些实施例中，上述方法在取出上述第一取像路径及上述第二取像路径之前， 还包括以下步骤：通过上述影像处理装置将上述影像转换为一由复数个取像路径所组成的 影像信号，并挑选一影像信号最强的取像路径作为上述第一取像路径。在一些实施例中，第 二取像路径与上述第一取像路径相距一预设距离。在一些实施例中，上述影像采集装置取 得上述影像后，还包括以下步骤：通过上述影像处理装置根据一杂讯门槛值判断上述触控 物是否接近上述触控操作区。在一些实施例中，上述方法还包括：通过一储存模块储存一门 槛值对照表；其中上述门槛值对照表用以纪录不同倾斜角度与门槛值的对应关系。在一些 实施例中，上述影像为一二维影像，上述影像信号为一一维影像信号。在一些实施例中，上 述倾斜角度为上述触控物与上述触控操作区的一夹角。
[0008] 本发明提出一种光学式触控系统，包括：一触控操作区、复数个发光元件、一影像 采集装置、至少一光学反射体及一影像处理装置。上述复数个发光元件是设置于上述触控 操作区的周边，用以发射光源。上述影像采集装置是设置于上述触控操作区的周边，用以采 集一触控物所形成的影像。上述至少一光学反射体是设置于上述触控操作区的周边，用以 将上述发光元件所发出的光反射至上述影像采集装置。上述影像处理装置耦接至上述影像 采集装置，由上述影像采集装置取得上述影像后，依据上述影像取得一第一取像路径及一 第二取像路径，并根据上述触控物于上述第一取像路径及上述第二取像路径所形成的一第 一突波信号及一第二突波信号，取得上述触控物于上述触控操作区的一倾斜角度，并由一 储存模块中取得一对应上述倾斜角度的门槛值，比较上述第一突波信号及上述门槛值以决 定上述触控物的一触控点是否存在。
[0009] 在一些实施例中，上述影像处理装置在取出上述第一取像路径及上述第二取像路 径之前，将上述影像转换为一由复数个取像路径所组成的影像信号，并挑选一影像信号最 强的取像路径作为上述第一取像路径。在一些实施例中，上述第二取像路径与上述第一取 像路径相距一预设距离。在一些实施例中，上述影像采集装置取得上述影像后，上述影像处 理装置还根据一杂讯门槛值判断上述触控物是否接近上述触控操作区。在一些实施例中， 上述影像处理装置还包括：上述储存模块，储存一门槛值对照表；其中上述门槛值对照表 用以纪录不同倾斜角度与门槛值的对应关系。在一些实施例中，上述影像为一二维影像，上 述影像信号为一一维影像信号。在一些实施例中，上述倾斜角度为上述触控物与上述触控 操作区的一夹角。
[0010] 为使本发明的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举出较佳实施 例，并配合所附图式，作详细说明如下。
【附图说明】
[0011] 图1是显示一触控点判断原理示意图。
[0012] 图2A~2B是显示一触控物于一触控操作区不同倾斜角度的示意图。
[0013] 图3是根据本发明一实施例所述的一光学式触控系统的示意图。
[0014] 图4是显示根据本发明一实施例所述的影像处理装置的功能方块示意图。
[0015] 图5A是显示根据本发明一实施例所述的二维影像示意图。
[0016] 图5B是显示根据本发明一实施例所述的一维影像信号示意图。
[0017] 图6是显示根据本发明一实施例所述的判断一触控物接触一触控操作区的方法 流程图。
[0018] 其中，附图标记说明如下：
[0019] Tss~影响信号强度门檻值；
[0020] A~触控点；
[0021] 210~触控物；
[0022] 220~触控操作区；
[0023] 230~发光元件；
[0024] 240~影像采集装置；
[0025] 300~光学式触控系统；
[0026] 310~触控操作区；
[0027] 322、324~发光元件；
[0028] 332、334~影像采集装置；
[0029] 340~光学反射体；
[0030] 350~影像处理装置；
[0031] 352~储存模块；
[0032] 354~处理模块；
[0033] 500~二维影像；
[0034] 510~第一取像路径；
[0035] 520~第二取像路径；
[0036] A~第一突波信号；
[0037] B~第二突波信号；
[0038] Θ ab ~夹角；
[0039] 600~方法流程图；
[0040] S605、S610、S615、S620、S625 ~步骤。
【具体实施方式】
[0041] 为了