一种并排二极管的定位方法及装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及自动光学检查领域，尤其涉及一种并排二极管的定位方法及装置。
【背景技术】
[0002]自动光学检查(AOI, Automated Optical Inspect1n)是工业制作过程的必要环节，利用光学方式取得成品的表面状态，以影像处理来检测异物或表面瑕疵。手工插件二极管的错、漏、反检测是电路板缺陷检测领域中的一种常见应用，其检测方法为:机器通过摄像头自动扫描电路板获取电路板图像，提取每个二极管元件的局部图像，并通过图像处理技术，判断二极管元件是否存在错、漏、反缺陷，最后将疑似缺陷的元件显示或标记出来，方便查看与检修。
[0003]在电路板中有许多二极管并排排列形成并排二极管组，在检测并排二极管组中的各个二极管元件的缺陷之前，需要获取电路板上并排二极管组中的各个二极管元件的位置。现有的技术方案是将并排二极管组中的各个二极管元件当作普通的二极管元件来处理，其定位方法为:根据人工制版过程中标注的二极管位置信息，在待检测的(配准后)电路板的相同位置建立搜索区域，然后，利用模板匹配方法在该搜索区域内定位出二极管的位置。
[0004]但是，上述定位方法极其依赖人工制版过程中标注的二极管位置信息，而并排二极管组(以竖直并排排列的二极管为例)，特别是高引脚的并排二极管组，在竖直方向上的位置变动较大，待检测电路板上的二极管的实际位置与人工制版过程中标注的二极管位置可能相差两个二极管的高度。因此，直接利用人工制版过程中标注的二极管位置信息进行搜索，极其容易发生错位现象，如定位到的二极管位置并不是所要定位的二极管的位置，而是其相邻的二极管的位置，从而导致二极管定位不准确。
【发明内容】
[0005]本发明实施例提出一种并排二极管的定位方法及装置，能够提高并排的各个二极管定位的准确性。
[0006]本发明实施例提供一种并排二极管的定位方法，包括:
[0007]从电路板图像中提取出二极管组的检测区域图像；其中，所述二极管组包含并排排列的N个二极管，N多1 ；
[0008]将所述检测区域图像与所述二极管组中各个二极管的模板图像进行匹配，获取所述检测区域图像中并排的各个二极管的第一定位信息；
[0009]对所述检测区域图像中并排的各个二极管的引脚进行识别，获取所述检测区域图像中并排的各个二极管的第二定位信息；
[0010]根据所述第一定位信息和所述第二定位信息，定位出所述检测区域图像中并排的各个二极管。
[0011]进一步地，所述从电路板图像中提取出二极管组的检测区域图像，具体包括:
[0012]根据预置的所述二极管组的标注信息，从电路板图像中获取所述二极管组的检测区域；
[0013]根据预置的扩展倍数，对所述二极管组的检测区域进行扩展，并提取扩展后的检测区域中的图像，获得所述二极管组的检测区域图像。
[0014]进一步地，所述将所述检测区域图像与所述二极管组中各个二极管的模板图像进行匹配，获取所述检测区域图像中并排的各个二极管的第一定位信息，具体包括:
[0015]分别将所述检测区域图像与所述二极管组中各个二极管的模板图像进行模板匹配，获得所述检测区域图像中与各个模板图像相匹配的区域的位置参数；
[0016]将每个位置参数与其对应的模板图像的标注值进行比较，去除差值大于预设的第一阈值的位置参数；
[0017]计算剩余的位置参数的平均值，并将所述平均值作为所述检测区域图像中并排的各个二极管的第一定位信息。
[0018]进一步地，所述对所述检测区域图像中并排的各个二极管的引脚进行识别，获取所述检测区域图像中并排的各个二极管的第二定位信息，具体包括:
[0019]对所述检测区域图像依次进行灰度化处理、二值化处理和形态学处理，获得二值化图像；
[0020]检测所述二值化图像中的各个连通区域在所述二极管组的径向上的长度；
[0021]去除所述长度超过预设的第二阈值的连通区域，并将剩余的各个连通区域识别为所述并排的各个二极管的引脚区域；
[0022]获取各个引脚区域的中心位置参数，并根据所述中心位置参数和预设的二极管的直径长度，计算获得所述并排的各个二极管的第二定位信息。
[0023]优选地，所述二极管组包含竖直方向并排排列的N个二极管；所述第一定位信息为所述检测区域图像中并排的各个二极管的左上角顶点的横坐标，所述第二定位信息为所述检测区域图像中并排的各个二极管的左上角顶点的纵坐标；
[0024]根据所述第一定位信息和所述第二定位信息，定位出所述检测区域图像中并排的各个二极管，具体包括:
[0025]所述根据预设的二极管的高度、直径长度，以及所述检测区域图像中并排的各个二极管的左上角顶点的横坐标和纵坐标，定位出所述检测区域图像中并排的各个二极管。
[0026]相应的，本发明实施例还提供一种并排二极管的定位装置，包括:
[0027]提取模块，用于从电路板图像中提取出二极管组的检测区域图像；其中，所述二极管组包含并排排列的N个二极管，N ^ 1 ；
[0028]匹配模块，用于将所述检测区域图像与所述二极管组中各个二极管的模板图像进行匹配，获取所述检测区域图像中并排的各个二极管的第一定位信息；
[0029]识别模块，用于对所述检测区域图像中并排的各个二极管的引脚进行识别，获取所述检测区域图像中并排的各个二极管的第二定位信息；以及，
[0030]定位模块，用于根据所述第一定位信息和所述第二定位信息，定位出所述检测区域图像中并排的各个二极管。
[0031]进一步地，所述提取模块具体包括:
[0032]检测区域获取单元，用于根据预置的所述二极管组的标注信息，从电路板图像中获取所述二极管组的检测区域；以及，
[0033]提取单元，用于根据预置的扩展倍数，对所述二极管组的检测区域进行扩展，并提取扩展后的检测区域中的图像，获得所述二极管组的检测区域图像。
[0034]进一步地，所述匹配模块具体包括:
[0035]匹配单元，用于分别将所述检测区域图像与所述二极管组中各个二极管的模板图像进行模板匹配，获得所述检测区域图像中与各个模板图像相匹配的区域的位置参数；
[0036]比较单元，用于将每个位置参数与其对应的模板图像的标注值进行比较，去除差值大于预设的第一阈值的位置参数；以及，
[0037]第一定位信息获取单元，用于计算剩余的位置参数的平均值，并将所述平均值作为所述检测区域图像中并排的各个二极管的第一定位信息。
[0038]进一步地，所述识别模块具体包括:
[0039]处理单元，用于对所述检测区域图像依次进行灰度化处理、二值化处理和形态学处理，获得二值化图像；
[0040]检测单元，用于检测所述二值化图像中的各个连通区域在所述二极管组的径向上的长度；
[0041]识别单元，用于去除所述长度超过预设的第二阈值的连通区域，并将剩余的各个连通区域识别为所述并排的各个二极管的引脚区域；以及，
[0042]第二定位信息获取