一种提高电路仿真精度的方法及装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电路仿真领域，更具体的说是涉及一种提高电路仿真精度的方法及装置。
【背景技术】
[0002]电路仿真，就是将设计好的电路图通过仿真软件进行实时模拟，模拟出实际功能。
[0003]传统的电路仿真对同一类参数化器件单元PCe 11采用同一器件模型，在提取同一类参数化器件单元PCell的器件模型时，需要在所有器件的最大工作电压范围、电流范围、频率范围内进行。如果需要确保模型在全域范围内的最大误差最小，就需要降低器件模型在某些区域内的模型参数提取精度，其结果必然是电路仿真精度的降低，这在极深纳米工艺下的集成电路仿真将会表现得更为明显。
[0004]因此，传统的电路仿真在仿真精度上较低。
【发明内容】
[0005]有鉴于此，本发明的目的是要解决传统的电路仿真精度较低的问题，提供一种提高电路仿真精度的方法及装置，技术方案如下:
[0006]一种提高电路仿真精度的方法，包括:
[0007]获取参数化器件单元，所述参数化器件单元对应至少一个器件模型卡；
[0008]获取电路网表，所述电路网表包括器件的器件名称，所述器件与器件模型卡之间的对应关系；
[0009]选择所述参数化器件单元中的第一器件模型卡；
[0010]根据所述电路网表以及所述第一器件模型卡进行电路仿真，得到电路仿真结果；
[0011]检测所述电路仿真结果是否收敛，如果否，则:
[0012]根据所述电路仿真结果重新选择器件模型卡直至所述电路仿真结果收敛。
[0013]优选的，在上述的提高电路仿真精度方法中，根据所述电路仿真结果重新选择器件模型卡直至所述电路仿真结果收敛，包括:
[0014]根据所述电路仿真结果确定所述器件工作的第一电学范围；
[0015]在所述获取参数化器件单元中的器件模型卡中选择所述第一电学范围内的器件模型卡；
[0016]根据所述电路网表以及选择出的器件模型卡进行电路仿真，得到第一电路仿真结果，如果所述第一电路仿真结果收敛则结束流程，否则:
[0017]继续在所述获取参数化器件单元中的器件模型卡中选择所述第一电学范围内的器件模型卡。
[0018]优选的，在上述的提高电路仿真精度方法中，所述在所述获取参数化器件单元中的器件模型卡中选择所述第一电学范围内的器件模型卡，包括:
[0019]每个所述器件模型卡存储有器件工作的电学范围参数值，根据所述电学范围参数值，在所述获取参数化器件单元中的器件模型卡中选择所述第一电学范围内的器件模型卡。
[0020]优选的，在上述的提高电路仿真精度方法中，所述检测所述电路仿真结果是否收敛，包括:
[0021]比较相邻两次的电路仿真结果，得到结果差值，如果所述差值在预先设置的范围内，则所述电路仿真结果收敛。
[0022]优选的，在上述的提高电路仿真精度方法中，所述根据所述电路仿真结果重新选择器件模型卡直至所述电路仿真结果收敛，之后还包括:
[0023]根据所述电路仿真结果确定所述器件的电学工作范围，对电学工作范围相同的器件进行归并，并将归并后的器件提取电学范围参数值，形成新的器件模型卡。
[0024]本发明实施例还公开一种提高电路仿真精度的装置，包括:
[0025]第一获取单元，用于获取参数化器件单元，所述参数化器件单元对应至少一个器件模型卡；
[0026]第二获取单元，用于获取电路网表，所述电路网表包括器件的器件名称，所述器件与器件模型卡之间的对应关系；
[0027]第一选择单元，用于选择所述参数化器件单元中的第一器件模型卡；
[0028]处理单元，用于根据所述电路网表以及所述第一器件模型卡进行电路仿真，得到电路仿真结果；
[0029]检测单元，用于检测所述电路仿真结果是否收敛，如果否，则触发第二选择单元；
[0030]所述第二触发单元，用于根据所述电路仿真结果重新选择器件模型卡直至所述电路仿真结果收敛。
[0031]优选的，在上述的提高电路仿真精度装置中，所述第二触发单元，包括:
[0032]电学范围确定模块，用于根据所述电路仿真结果确定所述器件工作的第一电学范围；
[0033]器件模型卡选择模块，用于在所述获取参数化器件单元中的器件模型卡中选择所述第一电学范围内的器件模型卡；
[0034]仿真模块，用于根据所述电路网表以及选择出的器件模型卡进行电路仿真，得到第一电路仿真结果，如果所述第一电路仿真结果收敛则结束流程，否则触发所述器件模型卡选择模块，所述器件模型卡选择模块继续在所述获取参数化器件单元中的器件模型卡中选择所述第一电学范围内的器件模型卡。
[0035]优选的，在上述的提高电路仿真精度装置中，器件模型卡选择模块包括选择子模块；
[0036]每个所述器件模型卡存储有器件工作的电学范围参数值，所述选择子模块用于根据所述电学范围参数值，在所述获取参数化器件单元中的器件模型卡中选择所述第一电学范围内的器件模型卡。
[0037]优选的，在上述的提高电路仿真精度装置中，所述检测单元，包括:
[0038]比较模块，用于比较相邻两次的电路仿真结果，得到结果差值，如果所述差值在预先设置的范围内，则所述电路仿真结果收敛。
[0039]优选的，在上述的提高电路仿真精度装置中，还包括:
[0040]器件模型卡生成单元，用于根据所述电路仿真结果确定所述器件的电学工作范围，对电学工作范围相同的器件进行归并，并将归并后的器件提取电学范围参数值，形成新的器件模型卡。
[0041]本发明实施例提供的方法，与传统的方法相比，在选择器件模型卡时，不是选择与参数化器件单元对应的那个固定且唯一的器件模型卡，而是动态的选择与该参数化器件单元对应的多个器件模型卡，只有当电路仿真结果收敛时才结束流程，因此，相较于传统的方法，本发明实施例提供的方法，电路仿真结果具有更高的精度。
【附图说明】
[0042]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0043]图1为本发明实施例提供的提高电路仿真精度方法的一种流程示意图；
[0044]图2为传统的电路仿真方法中，参数化器件单元与器件模型卡的对应关系；
[0045]图3为本发明实施例提供的参数化器件单元与器件模型卡的对应关系；
[0046]图4为本发明实施例提供的提高电路仿真精度方法的另一流程示意图；
[0047]图5为本发明实施例提供的根据电路仿真结果重新选择器件模型卡直至电路仿真结果收敛的一种具体实现方式；
[0048]图6为本发明实施例提供的提高电路仿真精度装置的一种结构示意图；
[0049]图7为本发明实施例提供的第二触发单元的一种结构示意图；
[0050]图8为本发明实施例提供的提高电路仿真精度装置的另一结构示意图。
【具体实施方式】
[0051]下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0052]参见图1，本发明实施例提供一种提高电路仿真精度的方法，方法包括:
[0053]步骤110:获取参数化器件单元，参数化器件单元对应至少一个器件模型卡。
[0054]器件模型卡指一组器件模型参数值，每个器件模型卡存储有器件工作的电学参数范围值。进一步地，可以提取器件模型卡中参数值所用的测试图形，制造出实际器件，利用测试仪器获取器件的1-V