一种软件测试方法及其设备的制造方法

文档序号:9708206阅读:353来源:国知局
一种软件测试方法及其设备的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及计算机技术领域,尤其涉及一种软件测试方法及其设备。
【背景技术】
[0002]随着计算机技术不断的开发和完善,手机和平板电脑等终端设备已经成为了人们生活中不可或缺的一个部分,人们不仅可以利用这些终端设备中的软件应用进行通讯,还可以进行文件传输、摄像、玩游戏等。
[0003]在针对终端设备的软件应用开发的过程中,测试人员需要针对该软件的各项功能进行测试,然而在现有的测试过程中,测试人员往往缺乏测试的方向感,即不知道应该重点对哪些功能进行测试,且如何测试,导致测试效果不佳,进而影响了软件的使用质量。

【发明内容】

[0004]本发明实施例提供一种软件测试方法及其设备,可以提升测试效果,保证软件的使用质量。
[0005]为了解决上述技术问题,本发明实施例第一方面提供了一种软件测试方法,可包括:
[0006]当对待测软件中的待测功能进行测试时,根据所述待测软件的缺陷数据信息和历史测试信息获取所述待测功能的测试任务信息,所述测试任务信息包括配合所述待测功能进行测试的辅助功能、所述待测功能所采用的待测方法集以及所述待测方法集中各个待测方法的测试场景数;
[0007]获取根据所述辅助功能、所述待测方法集和所述各个待测方法的测试场景数所设计的所述待测功能的待测场景;
[0008]采用所述待测功能的待测场景对所述待测功能进行测试。
[0009]本发明实施例第二方面提供了一种软件测试设备,可包括:
[0010]信息获取模块,用于当对待测软件中的待测功能进行测试时,根据所述待测软件的缺陷数据信息和历史测试信息获取所述待测功能的测试任务信息,所述测试任务信息包括配合所述待测功能进行测试的辅助功能、所述待测功能所采用的待测方法集以及所述待测方法集中各个待测方法的测试场景数;
[0011]场景获取模块,用于获取根据所述辅助功能、所述待测方法集和所述各个待测方法的测试场景数所设计的所述待测功能的待测场景;
[0012]测试模块,用于采用所述待测功能的待测场景对所述待测功能进行测试。
[0013]在本发明实施例中,当对待测软件中的待测功能进行测试时,根据待测软件的缺陷数据信息和历史测试信息获取待测功能的携带有配合所述待测功能进行测试的辅助功能、所采用的待测方法集以及待测方法集中各个待测方法的测试场景数的测试任务信息,采用获取的根据辅助功能、待测方法集和各个待测方法的测试场景数所设计的所述待测功能的待测场景对所述待测功能进行测试。通过依据软件的缺陷数据信息和历史测试信息获取针对待测功能的测试任务信息,提供了针对待测功能的测试范围、测试中所采用的测试方法以及测试的场景数,确定了对待测功能的测试方向,提高了测试效果,进而提升了软件的使用质量。
【附图说明】
[0014]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0015]图1是本发明实施例提供的一种软件测试方法的流程示意图;
[0016]图2是本发明实施例提供的另一种软件测试方法的流程示意图;
[0017]图3是本发明实施例提供的一种软件测试设备的结构示意图;
[0018]图4是本发明实施例提供的另一种软件测试设备的结构示意图;
[0019]图5是本发明实施例提供的信息获取模块的结构示意图;
[0020]图6是本发明实施例提供的功能设定单元的结构示意图;
[0021]图7是本发明实施例提供的方法集确定单元的结构示意图;
[0022]图8是本发明实施例提供的场景数计算单元的结构示意图;
[0023]图9是本发明实施例提供的设计时长获取单元的结构示意图;
[0024]图10是本发明实施例提供的又一种软件测试设备的结构示意图。
【具体实施方式】
[0025]下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
[0026]本发明实施例提供的软件测试方法可以应用于对各种待测软件应用进行测试的场景,例如:当对待测软件中的待测功能进行测试时,软件测试设备根据所述待测软件的缺陷数据信息和历史测试信息获取所述待测功能的测试任务信息,所述测试任务信息包括配合所述待测功能进行测试的辅助功能、所述待测功能所采用的待测方法集以及所述待测方法集中各个待测方法的测试场景数,所述软件测试设备获取根据所述辅助功能、所述待测方法集和所述各个待测方法的测试场景数所设计的所述待测功能的待测场景,并采用所述待测功能的待测场景对所述待测功能进行测试的场景等。通过依据软件的缺陷数据信息和历史测试信息获取针对待测功能的测试任务信息,提供了针对待测功能的测试范围、测试中所采用的测试方法以及测试的场景数,确定了对待测功能的测试方向,提高了测试效果,进而提升了软件的使用质量。
[0027]本发明实施例涉及的软件测试设备可以包括:计算机、平板电脑、智能手机、笔记本电脑、掌上电脑以及移动互联网设备(MID)等终端设备。
[0028]下面将结合附图1和附图2,对本发明实施例提供的软件测试方法进行详细介绍。
[0029]请参见图1,为本发明实施例提供了一种软件测试方法的流程示意图。如图1所示,本发明实施例的所述方法包括以下步骤S101-步骤S103。
[0030]S101,当对待测软件中的待测功能进行测试时,根据所述待测软件的缺陷数据信息和历史测试信息获取所述待测功能的测试任务信息,所述测试任务信息包括配合所述待测功能进行测试的辅助功能、所述待测功能所采用的待测方法集以及所述待测方法集中各个待测方法的测试场景数;
[0031]具体的,当对待测软件进行测试时,用户可以在所述待测软件的至少一个功能中选择需要进行测试的功能,即待测功能,软件测试设备可以根据所述待测软件的缺陷数据信息和历史测试信息获取针对所述待测功能的测试任务信息。所述测试任务信息包括配合所述待测功能进行测试的辅助功能、所述待测功能所采用的待测方法集以及所述待测方法集中各个待测方法的测试场景数。
[0032]进一步的,所述软件测试设备根据缺陷数据信息计算待测软件的至少一个功能中各个功能的测试优先值,并获取根据所述各个功能的测试优先值所选择的功能,将所述所选择的功能设定为配合所述待测功能进行测试的辅助功能,所述软件测试设备分别计算所述待测功能中各个测试方法的测试效果值,并根据所述各个测试方法的测试效果值确定所述待测功能所采用的待测方法集,所述软件测试设备根据所述待测软件的历史测试信息以及所述待测方法集中各个待测方法的测试效果值计算所述各个待测方法的测试场景数。
[0033]S102,获取根据所述辅助功能、所述待测方法集和所述各个待测方法的测试场景数所设计的所述待测功能的待测场景;
[0034]具体的,用户可以根据所述辅助功能、所述待测方法集和所述各个待测方法的测试场景数对所述待测功能进行待测场景的设计,所述软件测试设备获取所述待测功能的待测场景。
[0035]S103,采用所述待测功能的待测场景对所述待测功能进行测试;
[0036]具体的,所述软件测试设备采用所述待测功能的待测场景对所述待测功能进行测试。
[0037]在本发明实施例中,当对待测软件中的待测功能进行测试时,根据待测软件的缺陷数据信息和历史测试信息获取待测功能的携带有配合所述待测功能进行测试的辅助功能、所采用的待测方法集以及待测方法集中各个待测方法的测试场景数的测试任务信息,采用获取的根据辅助功能、待测方法集和各个待测方法的测试场景数所设计的所述待测功能的待测场景对所述待测功能进行测试。通过依据软件的缺陷数据信息和历史测试信息获取针对待测功能的测试任务信息,提供了针对待测功能的测试范围、测试中所采用的测试方法以及测试的场景数,确定了对待测功能的测试方向,提高了测试效果,进而提升了软件的使用质量。
[0038]请参见图2,为本发明实施例提供了另一种软件测试方法的流程示意图。如图2所示,本发明实施例的所述方法包括以下步骤S201-步骤S207。
[0039]S201,当对待测软件中的待测功能进行测试时,根据缺陷数据信息计算待测软件的至少一个功能中各个功能的测试优先值,并获取根据所述各个功能的测试优先值所选择的功能,将所述所选择的功能设定为配合所述待测功能进行测试的辅助功能;
[0040]具体的,当对待测软件进行测试时,用户可以在所述待测软件的至少一个功能中选择需要进行测试的功能,即待测功能,软件测试设备可以根据缺陷数据信息计算所述待测软件的至少一个功能中各个功能的测试优先值,所述缺陷数据信息可以包括所述待测软件中各个功能在预设的历史时间段内至少一个第一级别缺陷中各个第一级别缺陷的发生时间值和至少一个第二级别缺陷中各个第二级别缺陷的发生时间值,所述第一级别和所述第二级别为根据用户所设定所述待测软件的级别规则进行级别的分类,第一级别缺陷表示该缺陷对该待测软件有较大影响,即严重的缺陷,例如:影响主程序运行的缺陷等,第二级别缺陷表示该缺陷对该待测软件的影响不大,即非严重的缺陷,例如:界面重影等,当然,以上对缺陷的定义仅为举例,具体需要根据用户针对待测软件的各个功能自行定义区分。所述软件测试设备获取根据所述各个功能的测试优先值所选择的功能,将所述所选择的功能设定为配合所述待测功能进行测试的辅助功能。
[0041]进一步的,所述软件测试设备可以采用预设的时效性计算公式计算所述历史时间段内任一时间值对应的时效性系数,可以理解的是,所述历史时间段为用户划分的对各个功能所出现的缺陷进行检测的时间段,所述软件测试设备需要获取各个功能所发现的第一个缺陷的时间值、最后一个缺陷的时间值以及在该功能中当前要求取时效性系数的缺陷的时间值,所述时效性计算公式可以为:[1-(结束时间值-当前要求取时效性系数的缺陷的时间值)/(结束时间值-开始时间值)]*100,其中所述开始时间值为在所述历史时间段内针对任一功能中所发现的第一个缺陷的时间值;所述结束时间值为在所述历史时间段内针对任一功能中所发现的最后一个缺陷的时间值;所述当前要求取时效性系数的缺陷的时间值为在所述历史时间段内针对任一功能中的当前发现的缺陷的时间值,在所述预设时间段内对应的时间值的时效性系数。例如:针对待测软件中的A功能,假设A功能中发现的第一个缺陷的时间值为X月1日,则将X月1日作为所述历史时间段内的开始时间值,用户可以自行设定结束时间值,例如将X月5日作为所述历史时间段内的结束时间值,按照一天作为时间值对所述历史时间段进行分段,则在X月1日发现的缺陷的时效性系数为[1-(5-1)/(5-1)]*100 = 0 ;在X月2日发现的缺陷的时效性系数为[1-(5-2)/(5-1)]*100 = 25 ;在X月3日发现的缺陷的时效性系数为[1-(5-3)/(5-1)]*100 = 50 ;在X月4日发现的缺陷的时效性系数为[1-(5-4)/(5-1)]*100 = 75 ;在X月5日发现的缺陷的时效性系数为[1-(5-5)/(5-1)]*100 = 100等,对于超出历史时间段所发现的缺陷则不进行时效性系数的计算。
[0042]所述软件测试设备可以根据所述各个功能的所述各个第一级别缺陷的发生时间值和所述各个第二级别缺陷的发生时间值,获取所述任一时间值的第一级别缺陷的数量和第二级别缺陷的数量,即在计算出所述历史时间段内任一时间值对应的时效性系数后,需要统计针对相同时间值第一级别缺陷的数量和第二级别缺陷的数量,依据上述举例,例如:获取的在X月1日的第一级别缺陷的数量为3个,第二级别缺陷的数量为2个,在X月2日的第一级别缺陷的数量为2个,第二级别缺陷的数量为4个等。
[0043]所述软件测试设备按照第一级别的属性和第二级别的
当前第1页1 2 3 4 5 6 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1