一种功能验证方法和装置的制造方法

文档序号:9810438阅读:232来源:国知局
一种功能验证方法和装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及芯片功能验证领域,特别是一种功能验证方法和装置。
【背景技术】
[0002]信息技术射频识别800//900MHZ空中接口协议为中国国家标准化管理委员会于2013年发布的短距窄带数据传输协议。使用SystemVeri log对芯片搭建验证并仿真可以对芯片进行完整的功能验证工作,通过功能覆盖率模型及代码覆盖率分析仿真效果。
[0003]芯片验证分为两部分,一部分是芯片组装之前对芯片的各个模块进行独立验证,一部分是集成后对整个芯片进行测试。各个模块的独立测试无法直接套用到集成芯片中,而目前现有的针对芯片集成环境的测试方法无法覆盖芯片的所有功能点,并且测试结果无法确定哪些功能点没有被覆盖,导致芯片的部分功能点没有被测试,会造成芯片的某些功能缺陷没有被发现。

【发明内容】

[0004]本发明的方法是利用SystemVerilog语言在验证环境中实现了对芯片仿真的功能验证工作,该系统包含验证计划制定、功能覆盖率收集、代码覆盖率统计、验证计划数据反标,可以明确的显不未被覆盖的功能点以及功能点的覆盖率,提尚芯片的性能。
[0005]图1为方法操作流程说明图。描述了验证平台数据处理过程中的相关流程。仿真工作在验证计划制定完成后实施。分别通过功能覆盖模型及代码覆盖率数据形成验证报告数据流,验证计划反标完成对验证工作的反馈。通过该数据分析验证工作的正确性与完备性,如结果与验证计划制定目标不符合则增补测试向量或修改验证环境继续验证。
[0006]完成“验证计划制定”操作;
[0007]完成“功能覆盖率收集”操作;
[0008]完成“代码覆盖率统计”操作;
[0009]完成“验证计划反标”操作。
[0010]通过验证计划反标数据分析仿真结果。
[0011]图1为装置操作流程说明图。描述了验证环境模块相关流程。数据流在完成功能覆盖模型及代码覆盖率收集工作后反标会验证计划,判断仿真结果。
[0012]101: “验证计划制定”模块,完成验证计划制定操作。
[0013]102:“功能覆盖率收集”模块,完成基于协议的功能覆盖率模型搭建,该模型描述协议时序及协议功能要求,是对仿真结果分析的重要手段。
[0014]103: “代码覆盖率统计”模块,完成对芯片“LINE”、“⑶ND”、“FSM”、“BRANCH”、“PATH”统计操作。
[0015]104:“验证计划反标”模块,完成对芯片功能覆盖率及代码覆盖率数据反标工作,与芯片验证开始前制定的“验证计划”对照,检查是否满足最初验证目标。
[0016]105:“仿真结束”模块,完成对仿真闭环数据的整体分析,判断是否给出仿真结果。
【附图说明】
[0017]图1是本发明所示的功能验证方法流程图;
[0018]图2是本发明所示的功能验证装置结构示意图。
【具体实施方式】
[0019]本发明使用覆盖率驱动验证方法对芯片进行仿真操作,实现了基于900M国军标协议中规定的功能验证要求,通过最终验证计划反标数据,确定了验证计划实现的一致性。
[0020]下面结合附图和实施例对本发明进行描述。
[0021]图1为操作流程说明图。描述了覆盖率驱动验证仿真方法相关流程。仿真工作在完成功能覆盖率及代码覆盖率分析后进行验证计划反标工作,如反标后的指标与最初制定的验证计划一致则表明验证工作截止。
[0022]具体步骤如下:
[0023]步骤101:进行验证计划制定;
[0024]设定芯片要验证的所有功能点以及每个功能点覆盖率的合格率;设定要验证的代码及代码覆盖率;
[0025]步骤102:进行功能点覆盖率收集;
[0026]对时序功能点及协议中的功能点用机器可以识别的语言进行定义,在关键路径上进行交叉定义;根据定义的功能点统计功能点的覆盖率,所述覆盖率为功能点被测试时的被测次数;
[0027]步骤103:进行代码覆盖率统计;
[0028]根据定义的代码统计代码覆盖率,所述统计的过程与功能点覆盖率的统计过程相同;
[0029]步骤104:验证计划反标。
[0030]比较所统计的功能点覆盖率和设定的功能点覆盖率、统计的代码覆盖率和设定的代码覆盖率,并标不;
[0031]步骤105;确定是否满足设定的目标,若满足,则进行步骤106,若不满足,则执行步骤 102;
[0032]步骤106:验证结束。
[0033 ]本发明还提供了一种功能验证装置,包括:
[0034]验证计划制定模块201,完成芯片要验证的功能点设定及功能点覆盖率设定,进行芯片要验证的代码设定及代码覆盖率设定;并将功能点发送给功能覆盖率收集模块202,将代码发送给代码覆盖率统计模块203;将功能点覆盖率和代码覆盖率发送给验证计划反标模块204;所述功能点包括时序功能点及协议规定的功能点;
[0035]功能覆盖率收集模块202,将功能点定义成机器可识别的语言,并统计功能点覆盖率,发送给验证计划反标模块204 ;所述统计包括:根据功能点统计功能点的被测次数。
[0036]代码覆盖率统计模块203,将代码定义成机器可识别的语言,并统计代码覆盖率,发送给验证计划反标模块204;
[0037]验证计划反标模块204,将接收的统计的代码覆盖率与设定的代码覆盖率进行比较,将接收的统计的功能点覆盖率和设定的功能点覆盖率进行比较,并标示统计结果;若达到了设定目标,则验证结束,若没有达到目标,可再次验证。
[0038]以上所述,仅为本发明的较佳实施例而已,并非用于限定本发明的保护范围。
【主权项】
1.一种功能验证方法,其特征在于,该方法包括: 制定验证计划; 进行功能点覆盖率统计; 进行代码覆盖率统计; 根据统计的功能点覆盖率和代码覆盖率进行验证计划反标,确定达到制定目标,结束验证。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述制定验证计划包括:设定芯片要验证的所有功能点以及每个功能点覆盖率的合格率;设定要验证的代码及代码覆盖率。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述进行功能点覆盖率统计,包括:对时序功能点及协议中的功能点用机器可以识别的语言进行定义,在关键路径上进行交叉定义;根据定义的功能点统计功能点的被测次数。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述进行代码覆盖率统计包括:根据定义的代码统计代码的被测次数。5.根据权利要求1至4任一所述的方法,其特征在于,所述根据统计的功能点覆盖率和代码覆盖率进行验证计划反标包括:比较所统计的功能点覆盖率和设定的功能点覆盖率、统计的代码覆盖率和设定的代码覆盖率,并标示。6.一种功能验证装置,其特征在于,该装置包括: 验证计划制定模块,完成芯片要验证的功能点设定及功能点覆盖率设定,进行芯片要验证的代码设定及代码覆盖率设定;并将功能点发送给功能覆盖率收集模块,将代码发送给代码覆盖率统计模块;将功能点覆盖率和代码覆盖率发送给验证计划反标模块; 功能覆盖率收集模块,将功能点定义成机器可识别的语言,并统计功能点覆盖率,发送给验证计划反标模块; 代码覆盖率统计模块,将代码定义成机器可识别的语言,并统计代码覆盖率,发送给验证计划反标模块; 验证计划反标模块,将接收的统计的代码覆盖率与设定的代码覆盖率进行比较,将接收的统计的功能点覆盖率和设定的功能点覆盖率进行比较,并标示统计结果;若达到了设定目标,则验证结束,若没有达到目标,可再次验证。
【专利摘要】本发明公开了一种功能验证方法,包括:制定验证计划;进行功能点覆盖率统计;进行代码覆盖率统计;根据统计的功能点覆盖率和代码覆盖率进行验证计划反标,确定达到制定目标,结束验证。本发明还公开了一种功能验证装置,包括验证计划制定模块,完成芯片要验证的功能点设定及功能点覆盖率设定,进行芯片要验证的代码设定及代码覆盖率设定;功能覆盖率收集模块,统计功能点覆盖率;代码覆盖率统计模块,统计代码覆盖率;验证计划反标模块,将接收的统计的功能点覆盖率和设定的功能点覆盖率进行比较,并标示。采用本发明所示的方法和装置可以进行功能验证的同时,统计验证的覆盖率,提高芯片性能。
【IPC分类】G06F11/36
【公开号】CN105573908
【申请号】CN201510555353
【发明人】肖海
【申请人】北京中电华大电子设计有限责任公司
【公开日】2016年5月11日
【申请日】2015年9月1日
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