传感器数据处理方法、装置及终端设备的制造方法

文档序号:9864883阅读:465来源:国知局
传感器数据处理方法、装置及终端设备的制造方法
【技术领域】
[0001]本申请涉及数据处理技术领域,尤其涉及一种传感器数据处理方法、装置及终端设备。
【背景技术】
[0002]现在行业中传感器的精度已经得到较大提升,但是在移动终端上面实现传感器功能时,还是会存在较大误差。以手机为例说明如下:
[0003]有的手机生产时因为各种结构、器件等等不可避免的差异性导致每个机子对普通环境下的传感器的初始值的判断有误,影响后续处理结果的精确性。

【发明内容】

[0004]本申请旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。
[0005]为此,本申请的第一个目的在于提出一种传感器数据处理方法,该方法实现了对传感器的处理数据进行校准,避免了误差,提高了传感器数据处理的准确性和相关操作的稳定性。
[0006]本申请的第二个目的在于提出一种传感器数据处理装置。
[0007]本申请的第三个目的在于提出一种终端设备。
[0008]本申请的第四个目的在于提出一种终端设备。
[0009]为达上述目的,本申请第一方面实施例提出了一种传感器数据处理方法,包括:获取终端设备中待测试的各传感器与预设的测试时间序列对应的测试数据序列;根据各传感器对应的测试数据序列,确定各传感器的校准数据,以便根据校准数据对从传感器中采集的待处理数据进行修正。
[0010]本申请实施例的传感器数据处理方法,通过获取终端设备中待测试的各传感器与预设的测试时间序列对应的测试数据序列;根据各传感器对应的测试数据序列,确定各传感器的校准数据,以便根据校准数据对从传感器中采集的待处理数据进行修正。由此,实现了对传感器的处理数据进行校准,避免了误差,提高了传感器数据处理的准确性和相关操作的稳定性。
[0011 ]为达上述目的,本申请第二方面实施例提出了一种传感器数据处理装置,包括:获取模块,用于获取终端设备中待测试的各传感器与预设的测试时间序列对应的测试数据序列;确定模块,用于根据各传感器对应的测试数据序列,确定各传感器的校准数据,以便根据校准数据对从传感器中采集的待处理数据进行修正。
[0012]本申请实施例的传感器数据处理装置,通过获取终端设备中待测试的各传感器与预设的测试时间序列对应的测试数据序列;根据各传感器对应的测试数据序列,确定各传感器的校准数据,以便根据校准数据对从传感器中采集的待处理数据进行修正。由此,实现了对传感器的处理数据进行校准,避免了误差,提高了传感器数据处理的准确性和相关操作的稳定性。
[0013]为达上述目的,本申请第三方面实施例提出了一种终端设备,包括:至少一个传感器,以及如上所述的传感器数据处理装置。
[0014]本申请实施例的终端设备,通过获取终端设备中待测试的各传感器与预设的测试时间序列对应的测试数据序列;根据各传感器对应的测试数据序列,确定各传感器的校准数据,以便根据校准数据对从传感器中采集的待处理数据进行修正。由此,实现了对传感器的处理数据进行校准,避免了误差,提高了传感器数据处理的准确性和相关操作的稳定性。
[0015]为达上述目的,本申请第四方面实施例提出了一种终端设备,包括:壳体、处理器、存储器、电路板和电源电路,其中,所述电路板安置在所述壳体围成的空间内部,所述处理器和所述存储器设置在所述电路板上;所述电源电路,用于为所述移动终端的各个电路或器件供电;所述存储器用于存储可执行程序代码;所述处理器通过读取所述存储器中存储的可执行程序代码来运行与所述可执行程序代码对应的程序,以用于执行以下步骤:
[0016]获取终端设备中待测试的各传感器与预设的测试时间序列对应的测试数据序列;根据各传感器对应的测试数据序列,确定各传感器的校准数据,以便根据校准数据对从传感器中采集的待处理数据进行修正。
[0017]本申请实施例的终端设备,通过获取终端设备中待测试的各传感器与预设的测试时间序列对应的测试数据序列;根据各传感器对应的测试数据序列,确定各传感器的校准数据,以便根据校准数据对从传感器中采集的待处理数据进行修正。由此,实现了对传感器的处理数据进行校准,避免了误差,提高了传感器数据处理的准确性和相关操作的稳定性。
【附图说明】
[0018]本发明上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:
[0019]图1是本申请一个实施例的传感器数据处理方法的流程图;
[0020]图2是本申请另一个实施例的传感器数据处理方法的流程图;
[0021]图3是本申请另一个实施例的传感器数据处理方法的流程图;
[0022]图4为设置在手机上的电容传感器的示意图;
[0023]图5是本申请一个实施例的传感器数据处理装置的结构示意图;
[0024]图6是本申请另一个实施例的传感器数据处理装置的结构示意图;
[0025]图7是本申请另一个实施例的传感器数据处理装置的结构示意图;
[0026]图8是本申请一个实施例的终端设备的结构示意图。
【具体实施方式】
[0027]下面详细描述本申请的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本申请,而不能理解为对本申请的限制。
[0028]下面参考附图描述本申请实施例的传感器数据处理方法、装置及终端设备。
[0029]图1是本申请一个实施例的传感器数据处理方法的流程图。
[0030]如图1所示,该传感器数据处理方法包括:
[0031]步骤101,获取终端设备中待测试的各传感器与预设的测试时间序列对应的测试数据序列。
[0032]具体地,本实施例提供的传感器数据处理方法被配置在具有传感器的终端设备中进行具体说明。需要注意的是,终端设备的类型很多,具有传感器及使用传感器数据的终端设备都适用于本实施例提供的传感器数据处理方法,例如:手机、IPAD、智能手表等。
[0033]根据具体应用场景设置测试时间序列,对待调试的终端设备中的一个或者多个传感器进行测试。需要注意的是,测试时间序列中包含多个时间点,其具体的表示方式有很多,例如:
[0034]测试时间序列可以依次具体设置多个时间点;或者,
[0035]测试时间序列可以设置初始时间,时间间隔和结束时间,从而以初始测试时间为参考点到结束时间之间,根据时间间隔获取对应的多个时间点。
[0036]根据预先设置的测试时间序列,监测终端设备中待测试的各传感器实时变化的数据,当测试时间序列中的时间点到达时,记录与此时间点对应的测试数据,从而获取终端设备中待测试的各传感器与预设的测试时间序列对应的测试数据序列。
[0037]需要说明的是,测试时间序列中的具体的时间点和时间数量可以根据需要进行设置和调整,例如:
[0038]预先设置的测试时间序列中包含十个时间点,因此,根据该十个时间点依次获取对应的十个测试数据。
[0039]步骤102,根据各传感器对应的测试数据序列,确定各传感器的校准数据,以便根据校准数据对从传感器中采集的待处理数据进行修正。
[0040]具体地,针对不同的传感器,对应的测试数据序列不同。因此,需要根据获取的各传感器对应的测试数据序列,确定与各传感器对应的校准数据。
[0041]进而,终端设备根据校准数据可以在后续使用过程中,对从传感器中采集的待处理数据进行修正,避免由于器件差异和环境差异带来的数据误差,影响后续的处理精度。
[0042]需要强调的是,可以通过多种方式根据各传感器对应的测试数据序列确定各传感器的校准数据,本实施例对此不做限制,例如:
[0043]第一种示例:可以获取各传感器对应的测试数据序列的平均值,确定
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