元件漏检方法和系统的制作方法
【专利摘要】本发明涉及一种元件漏检方法和系统，获取待测元件所在区域的制版图像和待测元件所在区域的待测图像，再获取制版图像的HSV图像待测图像的HSV图像，根据待测元件的主体颜色的色调值和饱和度值以及预设容差值，统计制版图像的HSV图像中与主体颜色相匹配的第一像素点的个数以及待测图像的HSV图像中与主体颜色相匹配的第二像素点的个数，并根据第一像素点的个数和第二像素点的个数的比值与第一预设值的大小来确定待测元件是否漏件。此方案中将图像转换到HSV颜色空间，利用HSV图像中的色调值和饱和度值以及容差值来计算相匹配颜色的像素点数，舍弃了明度值，减少了光照变化对相匹配颜色的像素的影响，提高了元件漏检方法的准确度。
【专利说明】
元件漏检方法和系统
技术领域
[0001] 本发明设及自动光学检测领域，特别是设及元件漏检方法和系统。
【背景技术】
[0002] 当前，对PCB电路板（印制电路板)进行检测，使用较多的是AOI (Automat i C Opt i C Inspect ion，自动光学检测）系统，自动光学检测是工业制作过程的必要环节，利用光学方 式取得成品的表面状态，W影像处理来检测异物或表面瑕疵。电子元件的错、漏、反检测是 电路板缺陷检测领域中的一种常见应用，机器通过摄像头自动扫描电路板获取图像，提取 每个电子元件的局部图像，并通过图像处理技术，判断电子元件是否存在错、漏、反缺陷，最 后将疑似缺陷的元件显示或标记出来，方便查看与检修。
[0003] 在传统的AOI系统中，电子元件的漏件检测主要是通过对比对应位置的像素颜色 值的差别来实现的，但是运种基于颜色对比的方法，比较容易受到光照变化的影响，从而产 生误判。
【发明内容】
[0004] 基于此，有必要针对现有的元件漏检检测方法容易发生误判的问题，提供一种元 件漏检方法和系统。
[0005] -种元件漏检方法，包括W下步骤：
[0006] 获取待测元件所在区域的制版图像和待测元件所在区域的待测图像；
[0007] 获取制版图像的HSV图像，获取待测图像的HSV图像；
[000引根据待测元件的主体颜色的色调值和饱和度值W及预设容差值，统计制版图像的 服V图像中与主体颜色相匹配的第一像素点的个数，其中，主体颜色为待测元件的各颜色中 占比最大的一种颜色；
[0009] 根据主体颜色的色调值和饱和度值W及预设容差值，统计待测图像的HSV图像中 与主体颜色相匹配的第二像素点的个数；
[0010] 获取第一像素点的个数和第二像素点的个数的比值，将比值与第一预设值相比 较，若比值小于第一预设值，则判定待测元件在待测图像中漏件。
[0011] -种元件漏检系统，包括W下单元：
[0012] 第一获取单元，用于获取待测元件所在区域的制版图像和待测元件所在区域的待 测图像；
[0013] 第二获取单元，用于获取制版图像的服V图像，获取待测图像的服V图像；
[0014] 第一统计单元，用于根据待测元件的主体颜色的色调值和饱和度值W及预设容差 值，统计制版图像的HSV图像中与主体颜色相匹配的第一像素点的个数，其中，主体颜色为 待测元件的各颜色中占比最大的一种颜色；
[0015] 第二统计单元，用于根据主体颜色的色调值和饱和度值W及预设容差值，统计待 测图像的HSV图像中与主体颜色相匹配的第二像素点的个数；
[0016] 比较单元，用于获取第一像素点的个数和第二像素点的个数的比值，将比值与第 一预设值相比较，若比值小于第一预设值，则判定待测元件在待测图像中漏件。
[0017] 根据上述本发明的方案，其是先分别获取待测元件所在区域的制版图像和待测元 件所在区域的待测图像，再分别获取制版图像的HSV图像和待测图像的HSV图像，根据待测 元件的主体颜色的色调值和饱和度值W及预设容差值，统计制版图像的HSV图像中的第一 像素点的个数W及待测图像的HSV图像中的第二像素点的个数，并根据第一像素点的个数 和第二像素点的个数的比值与第一预设值的大小来确定待测元件是否在待测图像中漏件。 此方案中将图像转换到HSV颜色空间，利用HSV图像中的色调值和饱和度值W及容差值来计 算与主体颜色相匹配的像素点数，舍弃了明度值，减少了光照变化对相匹配颜色的像素的 影响，提高了元件漏检方法的准确度。
【附图说明】
[0018] 图1是其中一个实施例中元件漏检方法的流程示意图；
[0019] 图2是其中一个实施例中相匹配颜色像素个数-容差的关系曲线图；
[0020] 图3是其中一个实施例中元件漏检系统的结构示意图；
[0021] 图4是其中一个实施例中元件漏检系统的结构示意图；
[0022] 图5是其中一个实施例中元件漏检系统的结构示意图；
[0023] 图6是其中一个实施例中元件漏检系统的结构示意图。
【具体实施方式】
[0024] 为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，W下结合附图及实施例，对本 发明进行进一步的详细说明。应当理解，此处所描述的【具体实施方式】仅仅用W解释本发明， 并不限定本发明的保护范围。
[0025] 参见图1所示，为本发明的元件漏检方法的实施例。该实施例中的元件漏检方法包 括如下步骤：
[0026] 步骤SlOl:获取待测元件所在区域的制版图像和待测元件所在区域的待测图像；
[0027] 待测元件可W为PCB板上的电子元器件，如电阻、电感、电容等；制版图像可W是 PCB板图像中对应未漏件的待测元件所在区域的部分PCB板图像;待测图像可W是对应待测 元件所在区域的部分PCB板图像，是对PCB板进行实际拍摄得到的，但未确定待测元件是否 漏件；
[0028] 步骤S102:获取制版图像的服V图像，获取待测图像的服V图像；
[0029] 制版图像的HSV图像是制版图像在H(色调）、S(饱和度）、W明度)S个通道的图像， 制版图像的HSV图像中的各像素点是与制版图像的各像素点相对应的;待测图像的HSV图像 是待测图像在H(色调）、S(饱和度）、V(明度)S个通道的图像，待测图像的服V图像中的各像 素点是与待测图像的各像素点相对应的；
[0030] 步骤S103:根据待测元件的主体颜色的色调值和饱和度值W及预设容差值，统计 制版图像的HSV图像中与主体颜色相匹配的第一像素点的个数，其中，主体颜色为待测元件 的各颜色中占比最大的一种颜色；
[0031] 步骤S104:根据主体颜色的色调值和饱和度值W及预设容差值，统计待测图像的 HSV图像中与主体颜色相匹配的第二像素点的个数；
[0032] 步骤S105:获取第一像素点的个数和第二像素点的个数的比值，将比值与第一预 设值相比较，若比值小于第一预设值，则判定待测元件在待测图像中漏件。
[0033] 在本实施例中，其是先分别获取待测元件所在区域的制版图像和待测元件所在区 域的待测图像，再分别获取制版图像的HSV图像和待测图像的HSV图像，根据待测元件的主 体颜色的色调值和饱和度值W及预设容差值，统计制版图像的HSV图像中的第一像素点的 个数W及待测图像的HSV图像中的第二像素点的个数，并根据第一像素点的个数和第二像 素点的个数的比值与第一预设值的大小来确定待测元件是否在待测图像中漏件。此方案中 将图像转换到服V颜色空间，利用HSV图像中的色调值和饱和度值W及容差值来计算与主体 颜色相匹配的像素点数，舍弃了明度值，减少了光照变化对相匹配颜色的像素的影响，提高 了元件漏检方法的准确度。
[0034] 另外，在将比值与第一预设值相比较后，若比值大于或等于第一预设值，则判定待 测元件在待测图像中未漏件。
[0035] 应当理解，其中所使用的术语"第一"、"第二"等在本文中仅用于区分对象，但运些 对象不受运些术语限制。例如，在不脱离本发明的范围的情况下，可W将第一像素点称为第 二像素点，将第二像素点称为第一像素点。
[0036] 在其中一个实施例中，获取待测元件的制版图像之后还包括W下步骤：
[0037] 根据主体颜色的颜色像素值，在不同容差值下，统计制版图像中与主体颜色相匹 配的第=像素点的个数，获取第=像素点个数-容差的关系曲线，将关系曲线中第=像素点 的个数变化最缓慢的点对应的容差作为预设的容差值。
[0038] 在本实施例中，预设容差值是根据第=像素点个数-容差的关系曲线来确定的。颜 色的容差值对漏件检测非常重要，如果容差设置过小，在漏件检测时会因为获取的第一像 素点过少而容易发生误判，如果容差设置过大，在漏件检测时会因为获取的第一像素点过 多而容易发生误判，因此需要设置合适的容差值，一般选取第=像素点个数-容差的关系曲 线中斜率最小时对应的容差值，即与主体颜色相匹配的颜色像素个数变化最缓慢时对应的 容差值。此外，此处的颜色像素值主要针对的是图像中各像素点的RGB像素值。
[0039] 在其中一个实施例中，在统计制版图像的HSV图像中与主体颜色相匹配的第一像 素点的个数的步骤之后还包括W下步骤：
[0040] 若第一像素点所覆盖的图像大小与制版图像的HSV图像中待测元件图像大小的比 值超过第二预设值，则将预设容差值减小预设步长，并返回至统计制版图像的HSV图像中的 第一像素点的个数的步骤。
[0041] 在本实施例中，若第一像素点所覆盖的图像大小与制版图像的HSV图像中待测元 件图像大小的比值超过第二预设值，代表预设容差值过大，第一像素点所覆盖的图像区域 也过大，会影响元件漏检的准确性，因此此时需要适当减小预设容差值，并重新统计第一像 素点的个数W及第二像素点的个数，第二预设值和预设步长可W根据实际情况自由调整。
[0042] 在其中一个实施例中，统计制版图像的HSV图像中与主体颜色相匹配的第一像素 点的个数的步骤之前包括W下步骤：
[0043] 在制版图像的HSV图像中剔除饱和度小于预设临界值的像素区域；
[0044] 统计待测图像的服V图像中与主体颜色相匹配的第一像素点的个数的步骤之前包 括W下步骤：
[0045] 在待测图像的HSV图像中剔除饱和度小于预设临界值的像素区域。
[0046] 在本实施例中，剔除了饱和度小于预设临界值的像素区域，运是因为饱和度较低 的颜色本身就比较不稳定，不利于漏检判断，因此将小于预设临界值的像素区域剔除，预设 临界值可W根据实际情况自由调整。
[0047] 在其中一个实施例中，根据待测元件的主体颜色的色调值和饱和度值W及预设容 差值，统计制版图像的HSV图像中与主体颜色相匹配的第一像素点的个数的步骤包括W下 步骤：
[004引通过
统计第一像素点的个数；
[00例式中，Hx,y表示制版图像的HSV图像的（x，y)坐标处的色调值，Sx,y表示制版图像的 服V图像的(X，y )坐标处的饱和度值，C表示预设容差值，Htarget和Starget分别表示主体颜色的 色调值和饱和度值；
[0050] 根据色调值和饱和度值W及预设容差值，统计待测图像的HSV图像中与主体颜色 相匹配的第二像素点的步骤包括W下步骤：
[0051] 通过
统计第二像素点的个数；
[0052] 式中，出,康示待测图像的HSV图像的Q J)坐标处的色调值，Si,康示待测图像的 HSV图像的（i，j)坐标处的饱和度值。
[0053] 在本实施例中，根据由主体颜色的色调值和饱和度值W及预设容差值确定的公式 来统计制版图像的HSV图像中的第一像素点和待测图像的HSV图像中的第二像素点，依据公 式在HSV图像中可W非常方便的选出符合条件的相匹配颜色的像素点并统计相应的个数， 色调值即服V图像在H通道的数值，饱和度值即服V图像在S通道的数值。
[0054] 在一个具体的实施例中，元件漏检方法可W分为两个部分，一个是制版过程，另一 个是漏检过程，制版过程主要是针对制版图像，而漏检过程主要是针对待测图像；
[0055] 在制版过程，获取待测元件的制版图像；
[0056] 计算制版图像中在不同容差值下与待测元件的主体颜色相匹配的颜色的像素个 数，获取相匹配颜色像素个数-容差的关系曲线，将关系曲线中相匹配颜色像素个数变化最 缓慢的点对应的容差作为预设容差值，如图2所示，横坐标为容差值，纵坐标为相匹配颜色 像素个数，容差范围可W是0至50,容差值为20时相匹配颜色像素个数的增长最小，因此可 W选择容差值为20，另外，在获取曲线时，容差范围可W根据需要进行调整；
[0057] 接着获取制版图像的HSV图像，将制版图像从RGB颜色空间转换至化SV颜色空间，其 转换公式如下：
[0化引
'：
[0059] ,
[0060]
[0061]
[0062] 由于元件的像素值容易受到光照的影响，不同光照条件下面的V(明度)通道的差 别较大，因此，为了降低光照的影响，舍弃掉V通道的信息，只取H(色调）通道、S(饱和度)通 道的图像信息进行颜色信息的对比。同时因为饱和度较低的颜色本身就比较不稳定，再将 图像中饱和度小于30的像素区域剔除，不参与颜色信息的比较；
[0063] 然后根据待测元件的主体颜色的色调值和饱和度值W及预设容差值，统计制版图 像的HSV图像中与主体颜色相匹配的第一像素点的个数；
[0064] 统计第一像素点的个数时使用的公式为：
[00 化]
[0066] 式中，Hx,y表示制版图像的HSV图像的H通道中（x，y)坐标处的色调值，Sx,y表示制版 图像的HSV图像的S通道中（X，y)坐标处的饱和度值，C表示预设容差值(20) ,Htarget和Starget 分别表示主体颜色的色调值和饱和度值；
[0067] 在统计第一像素点的个数之后，如果第一像素点所覆盖的图像区域大小与制版图 像的HSV图像中待测元件图像大小的比值超过第二预设值，则代表预设容差值(20)过大，需 要将预设容差值减小预设差值，如预设差值为1，并返回至统计第一像素点的个数的步骤， 重新统计第一像素点的个数。
[0068] 制版过程的步骤在对单种元件进行漏检的过程中只需进行一次，在对不同种类、 不同类型的元件进行漏件时才需要重新进行制版过程的步骤。
[0069] 在漏检过程，获取待测元件所在区域的待测图像，获取待测图像的HSV图像；
[0070] 根据在制版过程已经确定的待测元件的主体颜色的色调值和饱和度值W及预设 容差值，统计待测图像的HSV图像中与主体颜色相匹配的第二像素点的个数；
[0071] 漏检过程的上述步骤的具体过程与制版过程中对制版图像的处理过程相类似，在 此不再寶述；
[0072] 在统计完第一像素点和第二像素点的个数后，获取第一像素点的个数和第二像素 点的个数的比值，将比值与第一预设值相比较，若比值大于或等于第一预设值，则判定待测 元件在待测图像中未漏件;若比值小于第一预设值，则判定待测元件在待测图像中漏件；
[0073] 第一预设值可W为50%，还可W根据漏件检测的严格程度适当调整该第一预设 值。
[0074] 本发明提供了一种元件漏检方法，将图像转换到HSV颜色空间，利用HSV图像中的 色调值和饱和度值W及容差值来计算相匹配颜色的像素点数，W此为依据进行漏件判断， 在计算相匹配颜色的像素点数时舍弃了明度值，减少了光照变化对相匹配颜色的像素的影 响，提高了元件漏检方法的准确度。
[0075] 根据上述元件漏检方法，本发明还提供一种元件漏检系统，W下就本发明的元件 漏检系统的实施例进行详细说明。
[0076] 参见图3所示，为本发明的元件漏检系统的实施例。该实施例中的元件漏检系统包 括W下单元：
[0077] 第一获取单元201，用于获取待测元件所在区域的制版图像和待测元件所在区域 的待测图像；
[0078] 第二获取单元202,用于获取所述制版图像的HSV图像，获取所述待测图像的HSV图 像；
[0079] 第一统计单元203,用于根据待测元件的主体颜色的色调值和饱和度值W及预设 容差值，统计制版图像的HSV图像中与主体颜色相匹配的第一像素点的个数，其中，主体颜 色为待测元件的各颜色中占比最大的一种颜色；
[0080] 第二统计单元204,用于根据主体颜色的色调值和饱和度值W及预设容差值，统计 待测图像的HSV图像中与主体颜色相匹配的第二像素点的个数；
[0081] 比较单元205,用于获取第一像素点的个数和第二像素点的个数的比值，将比值与 第一预设值相比较，若比值小于第一预设值，则判定待测元件在待测图像中漏件。
[0082] 在其中一个实施例中，如图4所示，元件漏检系统还包括容差值获取单元206,容差 值获取单元206用于根据所述主体颜色的颜色像素值，在不同容差值下，统计所述制版图像 中与所述主体颜色相匹配的第=像素点的个数，获取第=像素点个数-容差的关系曲线，将 所述关系曲线中所述第=像素点的个数变化最缓慢的点对应的容差作为所述预设的容差 值。
[0083] 在其中一个实施例中，如图5所示，元件漏检系统还包括容差值调整单元207,容差 值调整单元207用于在所述第一像素点所覆盖的图像区域大小与所述制版图像的HSV图像 中待测元件图像大小的比值超过预设第二比值时，将所述预设容差值减小预设步长；
[0084] 第一统计单元203还用于根据所述主体颜色的色调值和饱和度值W及调整后的预 设容差值统计所述第一像素点的个数；
[0085] 第二统计单元204还用于根据所述主体颜色的色调值和饱和度值W及调整后的预 设容差值统计所述第二像素点的个数。
[0086] 在其中一个实施例中，如图6所示，元件漏检系统还包括预处理单元208，预处理单 元208用于在统计所述第一像素点的个数之前，在所述制版图像的HSV图像中剔除饱和度小 于预设临界值的像素区域；
[0087] 预处理单元208还用于在统计所述第二像素点的个数之前，在所述待测图像的HSV 图像中剔除饱和度小于所述预设临界值的像素区域。
[0088] 在其中一个实施例中，第一统计单元203通过
统计第一像素点的个数；
[0089] 式中，Hx,y表示制版图像的HSV图像的（x，y)坐标处的色调值，Sx,y表示制版图像的 服V图像的(X，y )坐标处的饱和度值，C表示预设容差值，Htarget和Starget分别表示主体颜色的 色调值和饱和度值；
[0090] 第二统计单元204通过 発计第二像素点的 个数；
[0091] 式中，出,康示待测图像的HSV图像的Q，j)坐标处的色调值，Si,康示待测图像的 HSV图像的Q J)坐标处的饱和度值。
[0092] 本发明的元件漏检系统与本发明的元件漏检方法一一对应，在上述元件漏检方法 的实施例阐述的技术特征及其有益效果均适用于元件漏检系统的实施例中。
[0093] W上所述实施例的各技术特征可W进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实 施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要运些技术特征的组合不存 在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
[0094] W上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并 不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来 说，在不脱离本发明构思的前提下，还可W做出若干变形和改进，运些都属于本发明的保护 范围。因此，本发明专利的保护范围应W所附权利要求为准。
【主权项】
1. 一种元件漏检方法，其特征在于，包括以下步骤： 获取待测元件所在区域的制版图像和所述待测元件所在区域的待测图像； 获取所述制版图像的HSV图像，获取所述待测图像的HSV图像； 根据所述待测元件的主体颜色的色调值和饱和度值以及预设容差值，统计所述制版图 像的HSV图像中与所述主体颜色相匹配的第一像素点的个数，其中，所述主体颜色为所述待 测元件的各颜色中占比最大的一种颜色； 根据所述主体颜色的色调值和饱和度值以及预设容差值，统计所述待测图像的HSV图 像中与所述主体颜色相匹配的第二像素点的个数； 获取所述第一像素点的个数和所述第二像素点的个数的比值，将所述比值与第一预设 值相比较，若所述比值小于所述第一预设值，则判定所述待测元件在所述待测图像中漏件。2. 根据权利要求1所述的元件漏检方法，其特征在于，所述获取待测元件的制版图像之 后还包括以下步骤： 根据所述主体颜色的颜色像素值，在不同容差值下，统计所述制版图像中与所述主体 颜色相匹配的第三像素点的个数，获取第三像素点个数-容差的关系曲线，将所述关系曲线 中所述第三像素点的个数变化最缓慢的点对应的容差作为所述预设的容差值。3. 根据权利要求1所述的元件漏检方法，其特征在于，在统计所述制版图像的HSV图像 中与所述主体颜色相匹配的第一像素点的个数的步骤之后还包括以下步骤： 若所述第一像素点所覆盖的图像大小与所述制版图像的HSV图像中待测元件图像大小 的比值超过第二预设值，则将所述预设容差值减小预设步长，并返回至统计所述制版图像 的HSV图像中的第一像素点的个数的步骤。4. 根据权利要求1所述的元件漏检方法，其特征在于： 所述统计所述制版图像的HSV图像中与所述主体颜色相匹配的第一像素点的个数的步 骤之前还包括以下步骤： 在所述制版图像的HSV图像中剔除饱和度小于预设临界值的像素区域； 所述统计所述待测图像的HSV图像中与所述主体颜色相匹配的第二像素点的个数的步 骤之前还包括以下步骤： 在所述待测图像的HSV图像中剔除饱和度小于所述预设临界值的像素区域。5. 根据权利要求1至4中任意一项所述的元件漏检方法，其特征在于： 所述根据所述待测元件的主体颜色的色调值和饱和度值以及预设容差值，统计所述制 版图像的HSV图像中与所述主体颜色相匹配的第一像素点的个数的步骤包括以下步骤： 通过Η 十所述第一像素点的个数； 式中，Hx,y表示所述制版图像的HSV图像的（x，y)坐标处的色调值，Sx,^示所述制版图 像的HSV图像的（X，y)坐标处的饱和度值，C表示预设容差值，Htarget和Starget分别表示所述主 体颜色的色调值和饱和度值； 所述根据所述主体颜色的色调值和饱和度值以及预设容差值，统计所述待测图像的 HSV图像中与所述主体颜色相匹配的第二像素点的个数的步骤包括以下步骤： 通过统计所述第二像素点的个数； 式中，表示所述待测图像的HSV图像的（i，j)坐标处的色调值，表示所述待测图 像的HSV图像的（i，j)坐标处的饱和度值。6. -种元件漏检系统，其特征在于，包括以下单元： 第一获取单元，用于获取待测元件所在区域的制版图像和所述待测元件所在区域的待 测图像； 第二获取单元，用于获取所述制版图像的HSV图像，获取所述待测图像的HSV图像； 第一统计单元，用于根据所述待测元件的主体颜色的色调值和饱和度值以及预设容差 值，统计所述制版图像的HSV图像中与所述主体颜色相匹配的第一像素点的个数，其中，所 述主体颜色为所述待测元件的各颜色中占比最大的一种颜色； 第二统计单元，用于根据所述主体颜色的色调值和饱和度值以及预设容差值，统计所 述待测图像的HSV图像中与所述主体颜色相匹配的第二像素点的个数； 比较单元，用于获取所述第一像素点的个数和所述第二像素点的个数的比值，将所述 比值与第一预设值相比较，若所述比值小于所述第一预设值，则判定所述待测元件在所述 待测图像中漏件。7. 根据权利要求6所述的元件漏检系统，其特征在于，还包括容差值获取单元，所述容 差值获取单元用于根据所述主体颜色的颜色像素值，在不同容差值下，统计所述制版图像 中与所述主体颜色相匹配的第三像素点的个数，获取第三像素点个数-容差的关系曲线，将 所述关系曲线中所述第三像素点的个数变化最缓慢的点对应的容差作为所述预设的容差 值。8. 根据权利要求6所述的元件漏检系统，其特征在于，还包括容差值调整单元，所述容 差值调整单元用于在所述第一像素点所覆盖的图像区域大小与所述制版图像的HSV图像中 待测元件图像大小的比值超过预设第二比值时，将所述预设容差值减小预设步长； 所述第一统计单元还用于根据所述主体颜色的色调值和饱和度值以及调整后的预设 容差值统计所述第一像素点的个数； 所述第二统计单元还用于根据所述主体颜色的色调值和饱和度值以及调整后的预设 容差值统计所述第二像素点的个数。9. 根据权利要求6所述的元件漏检系统，其特征在于，还包括预处理单元； 所述预处理单元用于在统计所述第一像素点的个数之前，在所述制版图像的HSV图像 中剔除饱和度小于预设临界值的像素区域； 所述预处理单元还用于在统计所述第二像素点的个数之前，在所述待测图像的HSV图 像中剔除饱和度小于所述预设临界值的像素区域。10. 根据权利要求6至9中任意一项所述的元件漏检系统，其特征在于： 所述第一统计单元通句充计所述第一像素点的 个数；式中，Hx,y表示所述制版图像的HSV图像的（x，y)坐标处的色调值，Sx,^示所述制版图 像的HSV图像的（x，y)坐标处的饱和度值，C表示预设容差值，Htarget和Starget分别表示所述主 体颜色的色调值和饱和度俾· 所述第二统计单元通iB 十所述第二像素点的 个数；式中，表示所述待测图像的HSV图像的（i，j)坐标处的色调值，表示所述待测图 像的HSV图像的（i，j)坐标处的饱和度值。
【文档编号】G01N21/88GK105957065SQ201610257944
【公开日】2016年9月21日
【申请日】2016年4月21日
【发明人】林建民
【申请人】广州视源电子科技股份有限公司