电子设备及连接检测方法
【专利摘要】本发明实施例提供一种电子设备及连接检测方法，所述电子设备包括：主板；至少一个连接器，所述至少一个连接器固定设置在所述主板上；所述至少一个连接器用于与所述至少一个连接器一一对应的功能模块组件插入式连接；每个所述至少一个连接器包括两个以上的管脚；所述至少一个连接器中包括第一连接器；所述第一连接器包括第一管脚和第二管脚；所述第一管脚位于所述第一连接器的第一位置，所述第二管脚位于所述第一连接器的第二位置，所述第一位置与所述第二位置相对于所述第一连接器对称；所述第一管脚和第二管脚用于当与所述第一连接器对应的第一功能模块组件插入到所述第一连接器中时检测所述第一连接器与所述第一功能模块组件是否连接成功。
【专利说明】
电子设备及连接检测方法
技术领域
[0001]本发明涉及设备检测技术领域，尤其涉及一种电子设备及连接检测方法。
【背景技术】
[0002]在大屏幕A10(A11 in one，一体机)中，为了进行信号传输，需要将I/O板、视频信号切换板等功能模块组件与主板进行连接。通常，主板上设置有连接器，各功能模块组件与主板上的连接器插入式连接。由于各功能模块组件与主板之间传输的都是高速信号，因此，主板上的连接器、各功能模块组件的管脚都比较多，而且管脚之间的距离比较小，组装起来十分不容易。实际应用中，可能会因为功能模块组件与主板上的连接器之间没有连接好，导致组装后机器无法启动。甚至有可能会因为功能模块组件与主板上的连接器之间没有连接好，导致主板上的连接器上的电源管脚和接地管脚短路，用户按下电源键后会烧坏主板。
[0003]为了检测功能模块组件与主板上的连接器之间连接是否成功，现有的解决方案为:维修人员打开机器，对主板上的连接器的每个管脚进行逐个检测，检测各管脚与各功能模块组件的对应管脚之间连接是否成功。
[0004]在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下技术问题:
现有的检测主板上的连接器与功能模块组件之间连接是否成功的方法比较复杂，不容易发现问题，效率低下，及时性差。
【发明内容】
[0005]本发明提供的电子设备及连接检测方法，能够方便、快捷地检测主板上的连接器与功能模块组件之间连接是否成功。
[0006]—方面，本发明提供一种电子设备，所述电子设备包括:
主板；
至少一个连接器，所述至少一个连接器固定设置在所述主板上；所述至少一个连接器用于与所述至少一个连接器一一对应的功能模块组件插入式连接；其中，每个所述至少一个连接器包括两个以上的管脚；
所述至少一个连接器中包括第一连接器；所述第一连接器所包括的两个以上的管脚中包括第一管脚和第二管脚；所述第一管脚位于所述第一连接器的第一位置，所述第二管脚位于所述第一连接器的第二位置，所述第一位置与所述第二位置相对于所述第一连接器对称；
所述第一管脚和第二管脚用于当与所述第一连接器对应的第一功能模块组件插入到所述第一连接器中时检测所述第一连接器与所述第一功能模块组件是否连接成功。
[0007]另一方面，本发明提供一种连接检测方法，所述方法应用于电子设备中；所述方法包括:
获得所述电子设备的主板上的第一连接器的第一管脚所产生的第一电平信号；
获得所述电子设备的主板上的第一连接器的第二管脚所产生的第二电平信号；所述第一管脚位于所述第一连接器的第一位置，所述第二管脚位于所述第一连接器的第二位置，所述第一位置与所述第二位置相对于所述第一连接器对称；
通过所述第一电平信号以及所述第二电平信号确定插入到所述第一连接器中的第一功能模块组件与所述第一连接器是否连接成功。
[0008]本发明提供的电子设备及连接检测方法，所述电子设备包括主板和固定设置在所述主板上的至少一个连接器，所述至少一个连接器用于与所述至少一个连接器一一对应的功能模块组件插入式连接，各连接器包括位于相对于所述第一连接器对称位置的第一管脚和第二管脚；分别获得所述第一管脚所产生的第一电平信号以及第二管脚所产生的第二电平信号，通过所述第一电平信号以及所述第二电平信号确定插入到连接器中的功能模块组件与所述连接器是否连接成功。与现有技术相比，本发明不需要对主板上的连接器的每个管脚进行逐个检测，即可检测主板上的连接器与功能模块组件之间连接是否成功，十分方便、快捷。
【附图说明】
[0009]为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0010]图1为本发明一实施例提供的电子设备的结构示意图；
图2为本发明另一实施例提供的电子设备的结构示意图；
图3为本发明又一实施例提供的电子设备的结构示意图；
图4为本发明再一实施例提供的电子设备的结构示意图；
图5为本发明一实施例提供的连接检测方法的流程图；
图6为本发明另一实施例提供的连接检测方法的流程图。
【具体实施方式】
[0011]下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
[0012]本发明实施例提供一种电子设备，如图1所示，所述电子设备包括:
主板10 ；
至少一个连接器，所述至少一个连接器固定设置在所述主板10上；所述至少一个连接器用于与所述至少一个连接器一一对应的功能模块组件插入式连接；其中，每个所述至少一个连接器包括两个以上的管脚；
所述至少一个连接器中包括第一连接器11 ;所述第一连接器11所包括的两个以上的管脚中包括第一管脚111和第二管脚112 ;所述第一管脚111位于所述第一连接器11的第一位置，所述第二管脚112位于所述第一连接器11的第二位置，所述第一位置与所述第二位置相对于所述第一连接器11对称； 所述第一管脚111和第二管脚112用于当与所述第一连接器11对应的第一功能模块组件插入到所述第一连接器11中时检测所述第一连接器11与所述第一功能模块组件是否连接成功。
[0013]本发明提供的电子设备，所述电子设备包括主板和固定设置在所述主板上的至少一个连接器，所述至少一个连接器用于与所述至少一个连接器一一对应的功能模块组件插入式连接，各连接器包括位于相对于所述第一连接器对称位置的第一管脚和第二管脚，通过检测所述第一管脚和第二管脚所产生的电平信号即可检测所述第一连接器与插入到所述第一连接器中的第一功能模块组件是否连接成功。与现有技术相比，本发明不需要对主板上的连接器的每个管脚进行逐个检测，即可检测主板上的连接器与功能模块组件之间连接是否成功，十分方便、快捷。
[0014]在本实施例中，若所述连接器包括的两个以上的管脚位于同一排，则优选地，所述第一管脚和第二管脚分别在连接器的两个端点；
若所述连接器包括的两个以上的管脚为阵列设置，则优选地，所述第一管脚和第二管脚分别在不同列或不同排的两个端点，具体地，所述第一管脚位于左侧一列的上方端点或下方端点，所述第二管脚位于右侧一列的上方端点或下方端点；或者，所述第一管脚位于上面一排的左侧端点或右侧端点，所述第二管脚位于下面一排的左侧端点或右侧端点；
或者，所述第一管脚和第二管脚分别在不同列或不同排的四个端点，具体地，所述第一管脚位于左侧一列的上方端点和下方端点，所述第二管脚位于右侧一列的上方端点和下方端点；或者，所述第一管脚位于上面一排的左侧端点和右侧端点，所述第二管脚位于下面一排的左侧端点和右侧端点。
[0015]进一步的，如图2所示，所述电子设备还可以包括:
连接状态提示器12，用于当所述第一管脚111所产生的第一电平信号和所述第二管脚112所产生的第二电平信号中的至少一个为高电平时，提示所述第一连接器11与所述第一功能模块组件连接不成功。
[0016]可选地，所述连接状态提示器12，用于通过显示屏或语音提示所述第一连接器11与所述第一功能模块组件连接不成功。
[0017]从而，检测人员可以根据所述连接状态提示器12在显示屏上的提示或者通过语音发出的提示，得知所述第一连接器11与所述第一功能模块组件连接不成功，进而进行维修。
[0018]可选地，如图3所示，所述电子设备还可以包括:
或门电路13，所述或门电路13的输入端与所述第一管脚111和第二管脚112连接；第一逻辑电平检测器14，所述第一逻辑电平检测器14与所述或门电路13的输出端连接，用于检测所述或门电路13输出的逻辑电平；
所述第一管脚111和第二管脚112分别通过一电阻连接至待机电压；在所述第一功能模块组件上、与所述第一管脚111连接的管脚以及与所述第二管脚112连接的管脚均接地；
所述连接状态提示器12与所述第一逻辑电平检测器14连接，用于当所述逻辑电平检测器14检测到所述或门电路13输出的逻辑电平为高电平时，提示所述第一连接器11与所述第一功能模块组件连接不成功。
[0019]具体地，图3中所述的电子设备进行连接检测的工作原理为:
当所述第一管脚111所产生的第一电平信号和所述第二管脚112所产生的第二电平信号中的至少一个为高电平时，所述或门电路13输出的逻辑电平为高电平，所述第一逻辑电平检测器14检测到高电平，从而，所述连接状态提示器12提示所述第一连接器11与所述第一功能模块组件20连接不成功；
当所述第一管脚111所产生的第一电平信号和所述第二管脚112所产生的第二电平信号均为低电平时，所述或门电路13输出的逻辑电平低高电平，所述第一逻辑电平检测器14检测到低电平，此时表明所述第一连接器11与所述第一功能模块组件20连接成功。
[0020]可选地，如图4所示，所述电子设备还可以包括:
第一反相器15，所述第一反相器15的输入端与所述第一管脚111连接；
第二反相器16，所述第二反相器16的输入端与所述第二管脚112连接；
与门电路17，所述与门电路17的输入端与所述第一反相器15的输出端和第二反相器16的输出端连接；
第二逻辑电平检测器18，所述第二逻辑电平检测器18与所述与门电路17的输出端连接，用于检测所述与门电路17输出的逻辑电平；
所述第一管脚111和第二管脚112分别通过一电阻连接至待机电压；在所述第一功能模块组件20上、与所述第一管脚111连接的管脚以及与所述第二管脚112连接的管脚均接地；
所述连接状态提示器12与所述第二逻辑电平检测器18连接，用于当所述第二逻辑电平检测器18检测到所述与门电路17输出的逻辑电平为低电平时，提示所述第一连接器11与所述第一功能模块组件20连接不成功。
[0021]具体地，图4中所述的电子设备进行连接检测的工作原理为:
当所述第一管脚111所产生的第一电平信号和所述第二管脚112所产生的第二电平信号中的至少一个为高电平时，所述第一反相器15和第二反相器16的输出端至少有一个为低电平，所述与门电路17输出的逻辑电平为低电平，所述第二逻辑电平检测器18检测到低电平，从而，所述连接状态提示器12提示所述第一连接器11与所述第一功能模块组件20连接不成功；
当所述第一管脚111所产生的第一电平信号和所述第二管脚112所产生的第二电平信号均为低电平时，所述第一反相器15和第二反相器16的输出端均为高电平，所述与门电路17输出的逻辑电平为高电平，所述第二逻辑电平检测器18检测到高电平，此时表明所述第一连接器11与所述第一功能模块组件20连接成功。
[0022]其中，所述第一反相器15包括第一电阻和第一三极管，所述第一电阻的一端与所述第一管脚111连接，所述第一电阻的另一端与所述第一三极管的基极连接，所述第一三极管的集电极与所述与门电路17连接，所述第一三极管的发射极接地；
所述第二反相器16包括第二电阻和第二三极管，所述第二电阻的一端与所述第二管脚连接，所述第二电阻的另一端与所述第二三极管的基极连接，所述第二三极管的集电极与所述与门电路17连接，所述第二三极管的发射极接地。
[0023]本发明实施例还提供一种连接检测方法，所述方法应用于电子设备中；如图5所示，所述方法包括: 511、获得所述电子设备的主板上的第一连接器的第一管脚所产生的第一电平信号；
512、获得所述电子设备的主板上的第一连接器的第二管脚所产生的第二电平信号；所述第一管脚位于所述第一连接器的第一位置，所述第二管脚位于所述第一连接器的第二位置，所述第一位置与所述第二位置相对于所述第一连接器对称；
513、通过所述第一电平信号以及所述第二电平信号确定插入到所述第一连接器中的第一功能模块组件与所述第一连接器是否连接成功。
[0024]本发明提供的连接检测方法，分别获得电子设备的主板上的第一连接器的第一管脚所产生的第一电平信号以及第二管脚所产生的第二电平信号，所述第一管脚的位置与所述第二管脚的位置相对于所述第一连接器对称，通过所述第一电平信号以及所述第二电平信号确定插入到所述第一连接器中的第一功能模块组件与所述第一连接器是否连接成功。与现有技术相比，本发明不需要对主板上的连接器的每个管脚进行逐个检测，即可检测主板上的连接器与功能模块组件之间连接是否成功，十分方便、快捷。
[0025]在本实施例中，若所述连接器包括的两个以上的管脚位于同一排，则优选地，所述第一管脚和第二管脚分别在连接器的两个端点；
若所述连接器包括的两个以上的管脚为阵列设置，则优选地，所述第一管脚和第二管脚分别在不同列或不同排的两个端点，具体地，所述第一管脚位于左侧一列的上方端点或下方端点，所述第二管脚位于右侧一列的上方端点或下方端点；或者，所述第一管脚位于上面一排的左侧端点或右侧端点，所述第二管脚位于下面一排的左侧端点或右侧端点；
或者，所述第一管脚和第二管脚分别在不同列或不同排的四个端点，具体地，所述第一管脚位于左侧一列的上方端点和下方端点，所述第二管脚位于右侧一列的上方端点和下方端点；或者，所述第一管脚位于上面一排的左侧端点和右侧端点，所述第二管脚位于下面一排的左侧端点和右侧端点。
[0026]进一步的，所述通过所述第一电平信号以及所述第二电平信号确定插入到所述第一连接器中的第一功能模块组件与所述第一连接器是否连接成功包括:
当所述第一电平信号和所述第二电平信号均为低电平时，确定插入到所述第一连接器中的第一功能模块组件与所述第一连接器连接成功；
当所述第一电平信号和所述第二电平信号中的至少一个为高电平时，确定插入到所述第一连接器中的第一功能模块组件与所述第一连接器连接不成功。
[0027]可选地，所述通过所述第一电平信号以及所述第二电平信号确定插入到所述第一连接器中的第一功能模块组件与所述第一连接器是否连接成功包括:
通过第一逻辑电平检测器检测到的或门电路输出的逻辑电平，确定插入到所述第一连接器中的第一功能模块组件与所述第一连接器是否连接成功；其中，所述第一逻辑电平检测器和或门电路位于所述电子设备中，所述或门电路的输入端与所述第一管脚和第二管脚连接，所述第一逻辑电平检测器与所述或门电路的输出端连接，所述第一管脚和第二管脚分别通过一电阻连接至待机电压，在所述第一功能模块组件上、与所述第一管脚连接的管脚以及与所述第二管脚连接的管脚均接地；
具体地，当所述第一逻辑电平检测器检测到的或门电路输出的逻辑电平为高电平时，确定插入到所述第一连接器中的第一功能模块组件与所述第一连接器连接不成功；当所述第一逻辑电平检测器检测到的或门电路输出的逻辑电平为低电平时，确定插入到所述第一连接器中的第一功能模块组件与所述第一连接器连接成功。
[0028]可选地，所述通过所述第一电平信号以及所述第二电平信号确定插入到所述第一连接器中的第一功能模块组件与所述第一连接器是否连接成功包括:
通过第二逻辑电平检测器检测到的与门电路输出的逻辑电平，确定插入到所述第一连接器中的第一功能模块组件与所述第一连接器是否连接成功；其中，所述第二逻辑电平检测器和与门电路位于所述电子设备中，第一反相器的输入端与所述第一管脚连接，第二反相器的输入端与所述第二管脚连接，所述第一反相器和第二反相器位于所述电子设备中，所述与门电路的输入端与所述第一反相器的输出端和第二反相器的输出端连接，所述第二逻辑电平检测器与所述与门电路的输出端连接，所述第一管脚和第二管脚分别通过一电阻连接至待机电压；在所述第一功能模块组件上、与所述第一管脚连接的管脚以及与所述第二管脚连接的管脚均接地；
具体地，当所述第二逻辑电平检测器检测到的与门电路输出的逻辑电平为低电平时，确定插入到所述第一连接器中的第一功能模块组件与所述第一连接器连接不成功；当所述第二逻辑电平检测器检测到的与门电路输出的逻辑电平为高电平时，确定插入到所述第一连接器中的第一功能模块组件与所述第一连接器连接成功。
[0029]进一步的，如图6所示，所述方法还包括:
S14、当所述第一电平信号和所述第二电平信号中的至少一个为高电平时，提示插入到所述第一连接器中的第一功能模块组件与所述第一连接器连接不成功。
[0030]可选地，所述提示插入到所述第一连接器中的第一功能模块组件与所述第一连接器连接不成功包括:通过显示屏或语音提示插入到所述第一连接器中的第一功能模块组件与所述第一连接器连接不成功。
[0031]从而，检测人员可以根据所述连接状态提示器12在显示屏上的提示或者通过语音发出的提示，得知所述第一连接器11与所述第一功能模块组件20连接不成功，进而进行维修。
[0032]本发明实施例中的功能模块组件包括I/O板、视频信号切换板，但不仅限于此。
[0033]本发明实施例电子设备及连接检测方法，可以适用于对电子设备的主板上的连接器与功能模块组件之间连接是否成功进行检测，但不仅限于此。
[0034]以上所述，仅为本发明的【具体实施方式】，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。
【主权项】
1.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括: 主板； 至少一个连接器，所述至少一个连接器固定设置在所述主板上；所述至少一个连接器用于与所述至少一个连接器一一对应的功能模块组件插入式连接；其中，每个所述至少一个连接器包括两个以上的管脚； 所述至少一个连接器中包括第一连接器；所述第一连接器所包括的两个以上的管脚中包括第一管脚和第二管脚；所述第一管脚位于所述第一连接器的第一位置，所述第二管脚位于所述第一连接器的第二位置，所述第一位置与所述第二位置相对于所述第一连接器对称； 所述第一管脚和第二管脚用于当与所述第一连接器对应的第一功能模块组件插入到所述第一连接器中时检测所述第一连接器与所述第一功能模块组件是否连接成功。2.根据权利要求1所述的电子设备，其特征在于，所述电子设备还包括: 连接状态提示器，用于当所述第一管脚所产生的第一电平信号和所述第二管脚所产生的第二电平信号中的至少一个为高电平时，提示所述第一连接器与所述第一功能模块组件连接不成功。3.根据权利要求2所述的电子设备，其特征在于，所述连接状态提示器，用于通过显示屏或语音提示所述第一连接器与所述第一功能模块组件连接不成功。4.根据权利要求2所述的电子设备，其特征在于，所述电子设备还包括: 或门电路，所述或门电路的输入端与所述第一管脚和第二管脚连接； 第一逻辑电平检测器，所述第一逻辑电平检测器与所述或门电路的输出端连接，用于检测所述或门电路输出的逻辑电平； 所述第一管脚和第二管脚分别通过一电阻连接至待机电压；在所述第一功能模块组件上、与所述第一管脚连接的管脚以及与所述第二管脚连接的管脚均接地； 所述连接状态提示器与所述第一逻辑电平检测器连接，用于当所述逻辑电平检测器检测到所述或门电路输出的逻辑电平为高电平时，提示所述第一连接器与所述第一功能模块组件连接不成功。5.根据权利要求2所述的电子设备，其特征在于，所述电子设备还包括: 第一反相器，所述第一反相器的输入端与所述第一管脚连接； 第二反相器，所述第二反相器的输入端与所述第二管脚连接； 与门电路，所述与门电路的输入端与所述第一反相器的输出端和第二反相器的输出端连接； 第二逻辑电平检测器，所述第二逻辑电平检测器与所述与门电路的输出端连接，用于检测所述与门电路输出的逻辑电平； 所述第一管脚和第二管脚分别通过一电阻连接至待机电压；在所述第一功能模块组件上、与所述第一管脚连接的管脚以及与所述第二管脚连接的管脚均接地； 所述连接状态提示器与所述第二逻辑电平检测器连接，用于当所述第二逻辑电平检测器检测到所述与门电路输出的逻辑电平为低电平时，提示所述第一连接器与所述第一功能模块组件连接不成功。6.根据权利要求5所述的电子设备，其特征在于，所述第一反相器包括第一电阻和第一三极管，所述第一电阻的一端与所述第一管脚连接，所述第一电阻的另一端与所述第一三极管的基极连接，所述第一三极管的集电极与所述与门电路连接，所述第一三极管的发射极接地； 所述第二反相器包括第二电阻和第二三极管，所述第二电阻的一端与所述第二管脚连接，所述第二电阻的另一端与所述第二三极管的基极连接，所述第二三极管的集电极与所述与门电路连接，所述第二三极管的发射极接地。7.一种连接检测方法，其特征在于，所述方法应用于电子设备中；所述方法包括: 获得所述电子设备的主板上的第一连接器的第一管脚所产生的第一电平信号； 获得所述电子设备的主板上的第一连接器的第二管脚所产生的第二电平信号；所述第一管脚位于所述第一连接器的第一位置，所述第二管脚位于所述第一连接器的第二位置，所述第一位置与所述第二位置相对于所述第一连接器对称； 通过所述第一电平信号以及所述第二电平信号确定插入到所述第一连接器中的第一功能模块组件与所述第一连接器是否连接成功。8.根据权利要求7所述的连接检测方法，其特征在于，所述通过所述第一电平信号以及所述第二电平信号确定插入到所述第一连接器中的第一功能模块组件与所述第一连接器是否连接成功包括: 当所述第一电平信号和所述第二电平信号均为低电平时，确定插入到所述第一连接器中的第一功能模块组件与所述第一连接器连接成功； 当所述第一电平信号和所述第二电平信号中的至少一个为高电平时，确定插入到所述第一连接器中的第一功能模块组件与所述第一连接器连接不成功。9.根据权利要求8所述的连接检测方法，其特征在于，所述方法还包括: 当所述第一电平信号和所述第二电平信号中的至少一个为高电平时，提示插入到所述第一连接器中的第一功能模块组件与所述第一连接器连接不成功。10.根据权利要求9所述的连接检测方法，其特征在于，所述提示插入到所述第一连接器中的第一功能模块组件与所述第一连接器连接不成功包括:通过显示屏或语音提示插入到所述第一连接器中的第一功能模块组件与所述第一连接器连接不成功。
【文档编号】G06F11/22GK105988902SQ201510052680
【公开日】2016年10月5日
【申请日】2015年2月2日
【发明人】尹殿永, 戚宇
【申请人】联想（上海）信息技术有限公司