读卡器以及读卡器的控制方法
【专利摘要】本发明提供一种读卡器，其能够通过干扰磁场发生机构产生的干扰磁场防止盗卡，且通过金属检测机构恰当地检测IC芯片的外部连接端子。该读卡器具有金属检测机构，其用于检测插入于卡片插入口的卡片的IC芯片的外部连接端子；以及干扰磁场发生机构，其产生用于干扰对记录于磁条的磁数据进行的不正当读取的磁场，金属检测机构具有励磁用线圈以及检测用线圈，干扰磁场发生机构具有干扰磁场发生用线圈。该读卡器切换并交替地向励磁用线圈供给电流和向干扰磁场发生用线圈供给电流，且根据向励磁用线圈供给电流时的检测用线圈的输出，检测外部连接端子。
【专利说明】
读卡器以及读卡器的控制方法
技术领域
[0001]本发明涉及一种对内置有IC芯片且形成有磁条的卡片进行处理的读卡器。并且，本发明还涉及该读卡器的控制方法。
【背景技术】
[0002]以往，对记录于卡片的磁数据进行读取、向卡片记录磁数据的读卡器被较广地利用。在利用读卡器的金融机构等行业，以往，罪犯在读卡器的卡片插入部安装磁头、利用该磁头不正当地获取卡片的磁数据即盗卡成为较大的问题。因此，提出使用产生干扰磁场的读卡器，该干扰磁场用于阻止利用盗卡用的磁头(以下称作“盗卡用磁头”)对磁数据进行读取(例如参照专利文献I)。专利文献I所记载的读卡器具有产生干扰磁场的干扰磁场发生机构。干扰磁场发生机构具有由磁性材料形成的铁芯和卷绕于铁芯的励磁用线圈。并且，干扰磁场发生机构配置于形成有卡片的插入口的卡片插入部。
[0003]并且，以往已知一种对内置有IC芯片且形成有磁条的卡片进行处理的读卡器(例如参照专利文献2)。在专利文献2所记载的读卡器中，具有用于检测形成于卡片的IC芯片的外部连接端子的金属传感器。金属传感器具有由磁性材料形成的铁芯、卷绕于铁芯的励磁用线圈以及检测用线圈。并且，金属传感器配置于形成有卡片的插入口的卡片插入部。
[0004]专利文献I:日本特开2013-12022号公报专利文献2:日本特开2010-160666号公报
[0005]在通过专利文献2所记载的读卡器处理的卡片形成有记录有磁数据的磁条，即使在专利文献2所记载的读卡器中，也可能产生盗卡问题。因此，即使在专利文献2所记载的读卡器中，也优选在卡片插入部配置干扰磁场发生机构。但是，在专利文献2所记载的读卡器中，若在卡片插入部配置干扰磁场发生机构，则存在如下担心:在干扰磁场发生机构产生的干扰磁场的影响下，金属传感器的检测用线圈的输出发生变动，不能通过金属传感器进行外部连接端子的恰当的检测。
【发明内容】
[0006]因此，本发明的课题是提供一种能够通过干扰磁场发生机构产生的干扰磁场防止盗卡，且通过金属检测机构恰当地检测IC芯片的外部连接端子的读卡器。并且，本发明的课题是提供一种能够通过干扰磁场发生机构产生的干扰磁场防止盗卡，且通过金属检测机构恰当地检测IC芯片的外部连接端子的读卡器的控制方法。
[0007]为了解决上述的课题，本发明所涉及的读卡器对内置有IC芯片且形成有IC芯片的外部连接端子以及磁条的卡片进行处理，所述读卡器的特征在于，其具有:卡片插入口，其供卡片插入;金属检测机构，其用于检测插入于卡片插入口的卡片的外部连接端子;干扰磁场发生机构，其产生用于干扰对记录于磁条的磁数据进行的不正当读取的磁场；以及读卡器的控制部，金属检测机构具有励磁用线圈以及检测用线圈，干扰磁场发生机构具有干扰磁场发生用线圈，控制部切换并交替地向励磁用线圈和干扰磁场发生用线圈供给电流，且根据向励磁用线圈供给电流时的检测用线圈的输出，检测外部连接端子。
[0008]并且，为了解决上述的课题，本发明涉及一种读卡器的控制方法，读卡器具有:卡片插入口，其供卡片插入，所述卡片内置有IC芯片且形成有IC芯片的外部连接端子以及磁条;金属检测机构，其用于检测插入于卡片插入口的卡片的外部连接端子；以及干扰磁场发生机构，其产生用于干扰对记录于磁条的磁数据进行的不正当读取的磁场，金属检测机构具有励磁用线圈以及检测用线圈，干扰磁场发生机构具有干扰磁场发生用线圈，读卡器的控制方法的特征在于，切换并交替地向励磁用线圈和干扰磁场发生用线圈供给电流，且根据向励磁用线圈供给电流时的检测用线圈的输出，检测外部连接端子。
[0009]在本发明中，切换并交替地向构成金属检测机构的励磁用线圈和构成干扰磁场发生机构的干扰磁场发生用线圈供给电流，且根据向励磁用线圈供给电流时的检测用线圈的输出，检测外部连接端子。因此，在本发明中，通过在不阻碍通过金属检测机构进行的外部连接端子的检测机能和通过干扰磁场发生机构进行的盗卡的防止机能这两个机能的较短的周期(时间)，切换向励磁用线圈供给电流和向干扰磁场发生用线圈供给电流，能够通过干扰磁场发生机构产生的干扰磁场防止盗卡，且根据未受到干扰磁场影响的检测用线圈的输出，检测外部连接端子。因此，在本发明中，能够通过干扰磁场发生机构产生的干扰磁场防止盗卡，且通过金属检测机构恰当地检测外部连接端子。
[0010]在本发明中，优选向励磁用线圈的电流供给时间根据记录于磁条的磁数据的记录密度和卡片插入于卡片插入口的假想插入速度而设定，向干扰磁场发生用线圈的电流供给时间根据外部连接端子在卡片的插入方向上的宽度和卡片的假想插入速度而设定。若如此构成，则能够以不阻碍通过金属检测机构进行的外部连接端子的检测机能和通过干扰磁场发生机构进行的盗卡的防止机能这两个机能的方式，设定向励磁用线圈的电流供给时间和向干扰磁场发生用线圈的电流供给时间。
[0011]在本发明中，例如金属检测机构具有由磁性材料形成的励磁用线圈以及卷绕有检测用线圈的金属检测用铁芯，干扰磁场发生机构具有由磁性材料形成且卷绕有干扰磁场发生用线圈的干扰磁场发生用铁芯。
[0012]在本发明中，优选控制部根据输出向干扰磁场发生用线圈供给电流的供给指令时的检测用线圈的输出，检测金属检测机构以及干扰磁场发生机构的异常。若如此构成，则能够通过比较简易的结构，检测金属检测机构以及干扰磁场发生机构的异常。
[0013]如上所述，在本发明中，能够通过干扰磁场发生机构产生的干扰磁场防止盗卡，且通过金属检测机构恰当地检测IC芯片的外部连接端子。
【附图说明】
[0014]图1是用于说明本发明的实施方式所涉及的读卡器的示意结构的图。
图2(A)是图1所示的卡片的俯视图，图2(B)是用于说明被国际标准规定的外部连接端子的配置范围的图。
图3是用于说明图1所示的金属检测机构的结构的图。
图4是用于说明图1所示的干扰磁场发生机构的结构的图。
图5是用于说明通过图1所示的金属检测机构进行的外部连接端子的检测方法的图。
图6是用于说明在图1所示的读卡器中，在向励磁用线圈供给电流时，向干扰磁场发生用线圈供给电流时的问题的图。
图7是用于说明图1所示的读卡器中的向励磁用线圈的电流供给时机和向干扰磁场发生用线圈的电流供给时机的图。
图8是用于说明图1所示的读卡器中的金属检测机构以及干扰磁场发生机构的异常检测方法的图。
【具体实施方式】
[0015]以下参照附图对本发明的实施方式进行说明。
[0016](读卡器的结构)
图1是用于说明本发明的实施方式所涉及的读卡器I的示意结构的图。图2(A)是图1所示的卡片2的俯视图，图2(B)是用于说明被国际标准规定的外部连接端子2b?2i的配置范围的图。图3是用于说明图1所示的金属检测机构9的结构的图。图4是用于说明图1所示的干扰磁场发生机构10的结构的图。图5是用于说明通过图1所示的金属检测机构9进行的外部连接端子2b?2i的检测方法的图。
[0017]本实施方式所涉及的读卡器I是用于处理卡片2的装置。具体地说，读卡器I是对记录于卡片2的数据进行读取和向卡片2记录数据的装置，例如装设于ATM等规定的上位装置而使用。在该读卡器I形成有供卡片2插入的卡片插入口 3和供插入于卡片插入口 3的卡片2通过的卡片通过路4。并且，读卡器I具有对记录于卡片2的磁数据进行读取以及向卡片2记录磁数据中的至少一者的磁头5、用于与内置于卡片2的IC芯片进行数据的通信的IC触点块6以及在卡片通过路4中搬运卡片2的卡片搬运机构(省略图示)。以下，为了方便说明，将图1的Z方向作为“上下方向”。上下方向是插入于卡片插入口3的卡片2的厚度方向。并且，以下，将上下方向上的Zl方向侧作为“上”侧，将Z2方向侧作为“下”侧。
[0018]卡片2例如是厚度为0.7mm?0.8mm左右的大致长方形的由氯乙稀制成的卡片。在该卡片2的背面形成有记录有磁数据的磁条2a。磁条2a沿形成为大致长方形的卡片2的长边方向形成。并且，本实施方式中的卡片2是以国际标准“IS0/IEC7816-2”为基准的IC卡，在卡片2内置有省略图示的IC芯片。并且，在卡片2的正面形成有IC芯片的外部连接端子2b?2i。具体地说，在卡片2的正面形成有八个外部连接端子2b?2i。卡片2在其背面朝向下侧的状态，且卡片2的长边方向与读卡器I的前后方向(图1的左右方向)大致一致的状态下被插入于读卡器I，在读卡器I内搬运。
[0019]另外，形成于IC卡的外部连接端子2b?2i的配置范围由国际标准“IS0/IEC7816-2”规定。具体地说，根据国际标准“IS0/IEC7816-2”，外部连接端子2b?2i的配置范围以卡片2的长边方向的一端面2j以及卡片2的短边方向的一端面2k为基准，成为图2(B)所示的尺寸。图2(B)所示的尺寸的单位是mm(毫米)，若以图示的尺寸值形成外部连接端子2b?2i，则外部连接端子2b?2i的尺寸最小。即，若以图2(B)所示的尺寸值形成外部连接端子2b?2i，则外部连接端子2b?2i在卡片2的长边方向(S卩卡片2的插入方向)上的最小宽度是2mm。
[0020]磁头5以从下侧与卡片通过路4相邻的方式配置。具体地说，磁头5以其磁隙部从下侧与卡片通过路4相邻的方式配置。IC触点块6以从上侧与卡片通过路4相邻的方式配置。该IC触点块6具有与外部连接端子2b?2i接触的IC接点弹簧。卡片搬运机构具有与马达连接的驱动辊和与驱动辊相向配置的垫辊。卡片2以夹持于驱动辊与垫辊之间的状态被搬运。[0021 ] 并且，读卡器I具有用于检测插入于卡片插入口 3的卡片2的外部连接端子2b?2i的金属检测机构9和产生用于干扰对记录于磁条2a的磁数据进行的不正当读取的磁场(干扰磁场)的干扰磁场发生机构10。金属检测机构9以及干扰磁场发生机构10配置于形成有卡片插入口 3的卡片插入部的内部。并且，金属检测机构9与干扰磁场发生机构10以在上下方向上夹持卡片通过路4的方式配置。具体地说，金属检测机构9配置于卡片通过路4的上侧，干扰磁场发生机构10配置于卡片通过路4的下侧。
[0022]金属检测机构9以及干扰磁场发生机构10与读卡器I的控制部11连接。控制部11具有控制金属检测机构9的金属检测控制电路13、控制干扰磁场发生机构10的干扰磁场控制电路14以及连接有金属检测控制电路13与干扰磁场控制电路14的运算电路15。运算电路15例如是CPU。
[0023]金属检测机构9如图3所示，具有由磁性材料形成的作为金属检测用铁芯的铁芯
16、卷绕于铁芯16的一对励磁用线圈17以及检测用线圈18。检测用线圈18绕铁芯16的轴心CL卷绕于铁芯16的轴向上的中央。一对励磁用线圈17中的每一个励磁用线圈17分别绕轴心CL卷绕于铁芯16的轴向上的两端侧。励磁用线圈17以及检测用线圈18与控制部11连接。具体地说，励磁用线圈17以及检测用线圈18与金属检测控制电路13连接。
[0024]金属检测控制电路13向励磁用线圈17供给电流而产生磁场，且基于检测用线圈18的输出而生成的检测信号SI，检测励磁用线圈17产生的磁场的变化，从而检测卡片2的外部连接端子2b?2i。具体地说，如图5所示，若向励磁用线圈17供给电流，则在产生于励磁用线圈17的磁场的影响下，检测信号S I的电平上升。并且，在该状态下，若外部连接端子2b?2i通过配置有金属检测机构9的位置，则检测信号SI的电平进一步上升，超过阈值thl。金属检测控制电路13根据检测信号SI的电平是否超过阈值thl来判别外部连接端子2b?2i是否被检测。
[0025]干扰磁场发生机构1具有由磁性材料形成的作为干扰磁场发生用铁芯的铁芯19和卷绕于铁芯19的干扰磁场发生用线圈20。干扰磁场发生用线圈20与控制部11连接。具体地说，干扰磁场发生用线圈20与干扰磁场控制电路14连接。干扰磁场控制电路14向干扰磁场发生用线圈20供给电流并产生干扰磁场。即，若向干扰磁场发生用线圈20供给电流，则干扰磁场发生机构10产生干扰磁场。
[0026]向干扰磁场发生用线圈20供给交流电流，干扰磁场发生机构10产生磁力线方向在规定的时刻交替的交流磁场。如图1所示，由于假想盗卡用磁头50安装于读卡器I的前方，因此干扰磁场发生机构10以向读卡器I的前方产生干扰磁场的方式配置。另外，铁芯19例如如图4所示，既可以形成为直线状的棒状，也可以弯折成大致U形状而形成。
[0027](卡片插入时的读卡器的控制方法)
图6是用于说明在图1所示的读卡器I中，在向励磁用线圈17供给电流时向干扰磁场发生用线圈20供给电流时的问题的图。图7是用于说明图1所示的读卡器I中的向励磁用线圈17的电流供给时机和向干扰磁场发生用线圈20的电流供给时机的图。
[0028]如上所述，金属检测控制电路13通过根据检测信号SI检测产生于励磁用线圈17的磁场的变化，从而检测卡片2的外部连接端子2b?2i。具体地说，根据检测信号SI的电平是否超过阈值thl判别外部连接端子2b?2i是否被检测。另一方面，金属检测机构9以及干扰磁场发生机构10配置在卡片插入部的内部，且配置在较近的位置。因此，在根据向励磁用线圈17供给电流时的检测信号SI进行外部连接端子2b?2i的检测时，如图6所示，若向干扰磁场发生用线圈20供给电流，则在干扰磁场发生机构10产生的干扰磁场的影响下，检测信号SI的电平可能超过阈值thl，从而对外部连接端子2b?2i误检测。
[0029]因此，在本实施方式中，在将卡片2向读卡器I插入时，控制部11如图7所示，切换并交替地向励磁用线圈17供给电流和向干扰磁场发生用线圈20供给电流。具体地说，运算电路15交替地向金属检测控制电路13输出向励磁用线圈17供给电流的供给指令和向干扰磁场控制电路14输出向干扰磁场发生用线圈20供给电流的供给指令，金属检测控制电路13和干扰磁场控制电路14交替地向励磁用线圈17和干扰磁场发生用线圈20供给电流。
[0030]并且，控制部11(具体地说，金属检测控制电路13)在向励磁用线圈17供给电流时的检测信号SI的电平超过阈值thl的情况下判断为检测到外部连接端子2b?2i。另一方面，即使向干扰磁场发生用线圈20供给电流时的检测信号SI的电平超过阈值thl，控制部11也不判断为检测到外部连接端子2b?2i。如此，控制部11根据向励磁用线圈17供给电流时的检测用线圈18的输出，检测外部连接端子2b?2i。另一方面，在向干扰磁场发生用线圈20供给电流时，控制部11停止外部连接端子2b?2i的检测控制。
[0031]在本实施方式中，向励磁用线圈17的电流供给时间Tl以及向干扰磁场发生用线圈20的电流供给时间T2(参照图7)设定为不会阻碍通过金属检测机构9进行的外部连接端子2b?2i的检测机能和通过干扰磁场发生机构10进行的盗卡的防止机能这两个机能的较短的时间。即，在不会阻碍通过金属检测机构9进行的外部连接端子2b?2i的检测机能和通过干扰磁场发生机构10进行的盗卡的防止机能这两个机能的较短的周期内，切换向励磁用线圈17供给电流和向干扰磁场发生用线圈20供给电流。
[0032]具体地说，电流供给时间Tl根据记录于磁条2a的磁数据的记录密度和插入于卡片插入口3的卡片2的假想插入速度而设定。即，插入卡片2时的间歇的干扰磁场的停止时间根据记录于磁条2a的磁数据的记录密度和插入于卡片插入口 3的卡片2的假想插入速度而设定。例如，在记录于磁条2a的磁数据的记录密度是75bpi(比特/英寸:bit per inch)，由五比特构成一个字符，且卡片2的假想插入速度是250mm/sec的情况下，电流供给时间T1(SP，间歇的干扰磁场的停止时间)设定为小于13.55msec( = (25.4/75X5X2)/250)的13msec，从而使盗卡用磁头50无法读取到两个字符的有意义的磁数据。
[0033]并且，电流供给时间T2根据外部连接端子2b?2i在卡片2的插入方向(即卡片2的长边方向)上的宽度和卡片2的假想插入速度而设定。即，插入卡片2时的间歇的外部连接端子2b?2i的检测停止时间根据外部连接端子2b?2i在卡片2的长边方向上的宽度和卡片2的假想插入速度而设定。例如，在卡片2的假想插入速度是250mm/sec的情况下，即使外部连接端子2b?2i在卡片2的长边方向上的宽度是最小的2_，也将电流供给时间T2 (S卩，间歇的外部连接端子2b?2i的检测停止时间)设定为小于8msec( = 2/250)的7msec，从而能够通过金属检测机构9检测外部连接端子2b?2i。
[0034](本实施方式的主要效果)
如以上所做的说明，在本实施方式中，控制部11切换并交替地向励磁用线圈17供给电流和向干扰磁场发生用线圈20供给电流，根据向励磁用线圈17供给电流时的检测用线圈18的输出，检测外部连接端子2b?2i。并且，在本实施方式中，向励磁用线圈17的电流供给时间Tl以及向干扰磁场发生用线圈20的电流供给时间T2设定为不会阻碍通过金属检测机构9进行的外部连接端子2b?2i的检测机能和通过干扰磁场发生机构10进行的盗卡的防止机能这两个机能的较短的时间。因此，能够通过干扰磁场发生机构10产生的干扰磁场防止通过盗卡用磁头10盗卡，且能根据未受到干扰磁场影响的检测用线圈18的输出，检测外部连接端子2b?2i。因此，在本实施方式中，能够通过干扰磁场发生机构10产生的干扰磁场防止通过盗卡用磁头10盗卡，且能通过金属检测机构9恰当地检测外部连接端子2b?2i。
[0035]并且，在本实施方式中，电流供给时间Tl根据记录于磁条2a的磁数据的记录密度和插入卡片插入口3的卡片2的假想插入速度而设定，电流供给时间T2根据外部连接端子2b?2i在卡片2的长边方向上的宽度和卡片2的假想插入速度而设定。因此，在本实施方式中，能够以不会阻碍通过金属检测机构9进行的外部连接端子2b?2i的检测机能和通过干扰磁场发生机构10进行的盗卡的防止机能这两个机能的方式设定电流供给时间T1、T2。
[0036](其他实施方式)
上述的实施方式是本发明的优选实施方式的一例，但不限于此，在不变更本发明的要旨的范围内能够进行各种变形实施。
[0037]在上述的实施方式中，也可以根据输出向干扰磁场发生用线圈20供给电流的供给指令时的检测用线圈18的输出，检测金属检测机构9以及干扰磁场发生机构10的异常。在该情况下，例如通过运算电路15向干扰磁场控制电路14输出向干扰磁场发生用线圈20供给电流的供给指令时的检测信号SI的电平是否超过阈值th2，来判别金属检测机构9以及/或干扰磁场发生机构10是否发生异常。
[0038]具体地说，在金属检测机构9以及干扰磁场发生机构10正常的情况下，若从运算电路15输出电流流向干扰磁场发生用线圈20的供给指令，则电流在干扰磁场发生用线圈20流动，且如图8的实线所示，由于检测信号SI的电平超过阈值th2，因此在从运算电路15输出向干扰磁场发生用线圈20供给电流的供给指令时的检测信号SI的电平超过阈值th2的情况下，检测出金属检测机构9以及干扰磁场发生机构10是正常的。
[0039]另一方面，例如若检测用线圈18由于一些原因断线，则即使从运算电路15输出向干扰磁场发生用线圈20供给电流的供给指令且电流向干扰磁场发生用线圈20流动，检测信号SI的电平也不会如图8的双点划线所示那样发生变动，不会超过阈值th2。或者，若干扰磁场发生用线圈20由于一些原因断线，则即使从运算电路15输出向干扰磁场发生用线圈20供给电流的供给指令，电流也不会向干扰磁场发生用线圈20流动，检测信号SI的电平不会超过阈值th2。因此，在从运算电路15输出向干扰磁场发生用线圈20供给电流的供给指令时的检测信号SI的电平未超过阈值th2的情况下，检测出金属检测机构9以及/或干扰磁场发生机构1发生异常。
[0040]如此，在根据输出向干扰磁场发生用线圈20供给电流的供给指令时的检测用线圈18的输出检测金属检测机构9以及干扰磁场发生机构10的异常的情况下，能够通过比较简易的结构，检测金属检测机构9以及干扰磁场发生机构10的异常。另外，阈值th2比阈值thl小。
[0041]在上述的实施方式中，金属检测机构9与干扰磁场发生机构10以在上下方向上夹持卡片通过路4的方式配置，但金属检测机构9以及干扰磁场发生机构10也可以配置在卡片通过路4的上侧。并且，金属检测机构9以及干扰磁场发生机构10也可以配置在卡片通过路4的下侧。并且，在上述的实施方式中，卡片2是厚度为0.7mm?0.8mm左右的大致长方形的由氯乙稀制成的卡片，但卡片2既可以是厚度为0.18mm?0.36mm左右的PET(聚对苯二甲酸乙二醇酯)卡片，也可以是规定厚度的纸卡等。
[0042]在上述的实施方式中，读卡器I是具有卡片搬运机构的搬运式读卡器，但应用本发明的结构的读卡器也可以是用户通过手动对卡片2进行操作的手动式读卡器。例如，应用本发明的结构的读卡器也可以是通过手动将卡片2插入至读卡器的里端且通过手动拔出卡片2的所谓的卡片式读卡器。
符号说明
[0043]I读卡器；
2卡片；
2a磁条；
2b?2i外部连接端子；
3卡片插入口 ；
9金属检测机构；
10干扰磁场发生机构；
11控制部；
16铁芯(金属检测用铁芯)；
17励磁用线圈；
18检测用线圈；
19铁芯(干扰磁场发生用铁芯)；
20干扰磁场发生用线圈；
Tl向励磁用线圈的电流供给时间；
T2向干扰磁场发生用线圈的电流供给时间
【主权项】
1.一种读卡器，其对内置有IC芯片且形成有所述IC芯片的外部连接端子以及磁条的卡片进行处理，所述读卡器的特征在于，其具有: 卡片插入口，其供所述卡片插入； 金属检测机构，其用于检测插入于所述卡片插入口的所述卡片的所述外部连接端子； 干扰磁场发生机构，其产生用于干扰对记录于所述磁条的磁数据进行的不正当读取的磁场；以及 所述读卡器的控制部， 所述金属检测机构具有励磁用线圈以及检测用线圈， 所述干扰磁场发生机构具有干扰磁场发生用线圈， 所述控制部切换并交替地向所述励磁用线圈和所述干扰磁场发生用线圈供给电流，且根据向所述励磁用线圈供给电流时的所述检测用线圈的输出，检测所述外部连接端子。2.根据权利要求1所述的读卡器，其特征在于， 向所述励磁用线圈的电流供给时间根据记录于所述磁条的磁数据的记录密度和所述卡片插入于所述卡片插入口的假想插入速度而设定， 向所述干扰磁场发生用线圈的电流供给时间根据所述外部连接端子在所述卡片的插入方向上的宽度和所述卡片的所述假想插入速度而设定。3.根据权利要求1或2所述的读卡器，其特征在于， 所述金属检测机构具有由磁性材料形成的所述励磁用线圈以及卷绕有所述检测用线圈的金属检测用铁芯， 所述干扰磁场发生机构具有由磁性材料形成且卷绕有所述干扰磁场发生用线圈的干扰磁场发生用铁芯。4.根据权利要求1至3中任一项所述的读卡器，其特征在于， 所述控制部根据输出向所述干扰磁场发生用线圈供给电流的供给指令时的所述检测用线圈的输出，检测所述金属检测机构以及所述干扰磁场发生机构的异常。5.—种读卡器的控制方法，所述读卡器具有:卡片插入口，其供卡片插入，所述卡片内置有IC芯片且形成有IC芯片的外部连接端子以及磁条;金属检测机构，其用于检测插入于所述卡片插入口的所述卡片的所述外部连接端子；以及干扰磁场发生机构，其产生用于干扰对记录于所述磁条的磁数据进行的不正当读取的磁场，所述金属检测机构具有励磁用线圈以及检测用线圈，所述干扰磁场发生机构具有干扰磁场发生用线圈，所述读卡器的控制方法的特征在于， 切换并交替地向所述励磁用线圈和所述干扰磁场发生用线圈供给电流，且根据向所述励磁用线圈供给电流时的所述检测用线圈的输出，检测所述外部连接端子。6.根据权利要求5所述的读卡器的控制方法，其特征在于， 向所述励磁用线圈的电流供给时间根据记录于所述磁条的磁数据的记录密度和所述卡片插入于所述卡片插入口的假想插入速度而设定， 向所述干扰磁场发生用线圈的电流供给时间根据所述外部连接端子在所述卡片的插入方向上的宽度和所述卡片的所述假想插入速度而设定。
【文档编号】G06K13/067GK106022182SQ201610167922
【公开日】2016年10月12日
【申请日】2016年3月23日
【发明人】保尊启志
【申请人】日本电产三协株式会社