光场成像设备轴向分辨率测定装置与方法
【专利摘要】本发明提供了一种光场成像设备轴向分辨率测定装置与方法，在光场成像设备的光轴方向上，以相互遮挡率低于50％的方式放置两个以上的标记靶板，确保标记靶板在光场成像设备视野范围内，并采用光场成像设备获取标记靶板经过凸透镜组件放大后的虚像。本发明适合具有较大轴向成像范围的光场成像装置使用，对光场成像设备轴向分辨率的理论可测定范围从零至无穷远，具有体积小结构紧凑的优点，有利于对不同光场成像系统的性能进行分析和比对，且便于在其他特定的光场成像应用系统中进行集成。
【专利说明】
光场成像设备轴向分辨率测定装置与方法
技术领域
[0001] 本发明涉及数字成像、计算摄影、图像处理、计算机视觉领域，具体涉及到光场采 集装置的性能评价及参数标定。本发明的装置和方法可用于对光场成像设备(特别是双平 面模型光场成像设备)的轴向分辨率进行测定。
【背景技术】
[0002] 近年来，结合现代光学成像理论与视觉图像计算理论的计算摄影学被认为是数字 成像领域的又一次革命性创新。光场成像理论作为计算摄影学的代表性理论之一，实现了 创新性的可交互式图像生成。
[0003] 1996年，美国研究人员提出采用一组平行双平面来记录空间中光线的位置和角度 信息，并将一台相机安装在移动机械臂上首次实现了对四维光场的采集，参见Levoy等的研 究论文 Levoy M，Hanrahan P. Light field rendering .Proceedings of conference on Computer graphics and interactive techniques ·ρρ· 31-42,1996.光场成像系统能够实 现传统成像系统难以获得的效果，如数字重聚焦、视点变换、可控景深、场景深度可计算等。 2005年，斯坦福大学博士Ren Ng采用傅立叶变换理论在频域中实现了光场重聚焦的快速计 算，并设计了基于微透镜阵列的集成式光场相机，即Plenoptic 1.0。由于采用Plenoptic 1.0存在图像分辨率较低的问题，Adobe公司研究人员对PI enopt i c 1.0的设计进行了改进， 将光场相机中的微透镜阵列改为Plenoptic 2.0的聚焦式设计，其优势在于其能够灵活调 整角度与图像分辨率。在Plenoptic 2.0的基础上，德国Raytrix公司研究人员采用更高质 量的成像器件设计出满足工业与科研用途的专业光场相机，该产品具有较高的图像分辨 率。
[0004] 以光场成像理论为基础，国内外多家公司及科研机构设计了如相机阵列、微透镜 阵列光场相机、光场显微镜等不同种类光场成像系统，其最重要优势之一在于具有"先拍 摄，后聚焦"的数字重聚焦能力。2010年以来，Adobe、Lytro、Raytrix、Nokia、Toshiba、 Pelican等公司分别推出了各自面向消费电子市场的便携式光场成像系统。
[0005] 现有光场成像系统仍存在图像分辨率较低、数字重聚焦能力不足的问题。如美国 Lytro公司采用Plenopticl .0设计的第一代光场相机，以1100万像素的传感器捕捉光场，却 仅获得了 70万像素分辨率的光场图像。2014年该公司又发布了传感器升级为4000万像素的 Ilium光场相机，但是其可输出图像分辨率也仅为400万像素。为了获取更高的图像分辨率， 德国Raytrix公司设计了聚焦式光场相机Plenoptic2.0。但是，聚焦式光场相机提升图像分 辨率的代价是降低了光场成像轴向分辨率(后文简称:轴向分辨率，Axial resolution)。光 场轴向分辨率可定义为沿主光轴方向相邻重聚焦图像的聚焦区域成像差异不可分辨的最 大间隔。轴向分辨率被认为是衡量光场重聚焦精度与成像系统特性的重要指标，反映光场 成像系统的重聚焦能力。光场轴向分辨率对于需要高轴向观测精度的应用领域尤为重要， 如2014年，Prevedel等提出一种采用高倍率的显微成像硬件系统结合提升轴向分辨率的光 场成像3D去卷积方法，实现了对生物神经活动的显微观测，其研究成果发表在当年的 Nature 杂志上，参见 Prevedel R,Yoon Y.G, Hoffmann M,et.al. Simultaneous whole-animal 3D imaging of neuronal activity using light-field microscopy.Nature-Methods·Voll1，pp:727-730，2014。
[0006] 针对光场成像设备的轴向分辨率，国外研究人员从信号处理角度分析了信号先 验、采样噪声及光学复用对光场成像系统分辨率及成像特性的影响，并采用波动光学模型 分析了光场采样模式对图像分辨率与轴向分辨率的影响。虽然光场成像的聚焦面可以数字 化设定，但光场设备的离散采样模式与硬件规格限制，使得光场的轴向分辨率存在理论上 限。与图像分辨率随轴向位置变化而成线性变化不同，光场成像设备轴向分辨率随轴向位 置变化并非符合线性关系。不同种类的光场成像设备由于设计和成像部件参数存在差异， 其轴向分辨率自然存在不同。对于同一种光场成像设备，由于其成像部件生产、加工和安装 存在误差，设备轴向分辨率特性曲线与理论又有一定差异，因此需要对不同光场成像设备 的轴向分辨率进行测定。
[0007] 为了测量成像系统轴向分辨率，现有方法大多选取了已知几何结构的三维样本， 通过对样本进行直接测量而评定系统整体轴向分辨率。例如，对医用CT扫描成像系统轴向 分辨率进行样本螺旋切片测定的方法，参见Flohr TG，Stierstorfer K，Ulzheimer S，et al. Image reconstruction and image quality evaluation for a 64 slice CT scanner with z flying focal spot.Med Phys，Vol32,pp:2536_2547,2005.又如，利用三 维分辨率板对光学相干层析(OCT)成像设备进行轴向分辨率测量的方法，参见一种用于OCT 性能评价的三维分辨率板及其使用方法，中国专利，CN103932682A，2014。然而，上述对成像 系统轴向分辨率进行测量的方法所采用装置大小固定，对测量成像系统轴向分辨率的范围 有一定限制，因此均不适合对光场成像系统轴向分辨率进行测定。
【发明内容】
[0008] 为了克服现有技术的不足，本发明提供一种对光场成像设备进行轴向分辨率测定 的装置和方法，采用基于图像的差异对比方法，能够解决对不同光场成像设备轴向分辨率 曲线的快速计算问题。
[0009] 本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种光场成像设备轴向分辨率测定 装置，包括凸透镜组件、标记靶板和光场成像设备，在光场成像设备的光轴方向上，以相互 遮挡率低于50%的方式放置两个以上的标记靶板，确保标记靶板在光场成像设备视野范围 内，并采用光场成像设备获取标记靶板经过凸透镜组件放大后的虚像。
[0010] 所述的凸透镜组件由一个光学凸透镜或多个互相配合的光学透镜组成，能够沿光 场成像设备主透镜光轴方向移动，凸透镜组件的大小覆盖光场成像设备的视场范围。
[0011] 所述的标记靶板采用各自颜色和图案不同的靶板，各个标记靶板之间的距离以及 标记靶板与凸透镜组件间的距离均能够连续调节。
[0012] 所述的标记靶板在其表面的水平方向与垂直方向上印刻有图案，所述的图案经凸 透镜组件放大后被光场成像设备捕捉，且图案中除线条交汇点外，不同线条的间隔不小于1 个像素。
[0013] 所述的标记靶板位于凸透镜组件的一倍焦距以内。
[0014] 所述的凸透镜组件在成像过程中物距、相距和焦距的关系满足高斯成像公式。
[0015] 本发明还提供一种光场成像设备轴向分辨率测定方法，包括以下步骤：
[0016] 步骤1，光场成像设备通过一次拍摄获取各个标记靶板虚像;在标记靶板之间的轴 向间隔范围内选择不同的轴向位置进行数字重聚焦成像;若不同轴向位置的数字重聚焦结 果存在差异，则认为不同标记靶板相距的轴向间隔内具有成像可分辨性质;若不同轴向位 置的数字重聚焦成像结果不存在差异，则不同标记靶板相距的轴向最大间隔范围内，成像 结果不具有可分辨性质；
[0017] 步骤2,对于不同的虚像所在位置，不断扩大不同标记靶板间的轴向最大间隔距 离，并重复步骤1的成像差异判别过程，直至不同标记靶板间所有轴向位置的数字重聚焦结 果均不存在差异，此时认为在不同标记靶板虚像位置的平均值处，光场成像系统的轴向分 辨率为标记靶板间的轴向最大间隔距离。
[0018] 所述不同轴向位置数字重聚焦结果差异的判别方法包括但不限于像素差异绝对 值比较法、像素差异统计比较法、图像统计量差异比较法、图像特征点比较法和图像梯度差 异比较差异法。
[0019] 所述数字重聚焦成像的方法包括光场空域和频域重聚焦算法，以及采用快速傅里 叶变换的光场数字重聚焦加速算法。
[0020] 本发明的有益效果是:不同于现有直接采用二维标定板和三维标定板进行轴向分 辨率测定的方法，本发明由于采用了采集一组标记靶板虚像的方法，使得标记靶板大小、与 成像装置的距离可以较为方便的调节，因此适合具有较大轴向成像范围的光场成像装置使 用，本发明对光场成像设备轴向分辨率的理论可测定范围从零至无穷远。
[0021] 由于本发明标记靶板在凸透镜组件一倍焦距范围内调节，因此该方案能够有效缩 小装置中物理轴向调节机构的尺寸大小，从而使该发明装置具有体积小结构紧凑的优点。
[0022] 本发明采用获取光场重聚焦图像进行差异对比的轴向分辨率测定计算方法，该方 法的数值计算化过程有利于对不同光场成像系统的性能进行分析和比对，且便于在其他特 定的光场成像应用系统中进行集成。
【附图说明】
[0023] 图1是标记靶板在凸透镜所成虚像的光路示意图；
[0024]图2是调整标记靶板间隔距离与成像间隔距离示意图；
[0025]图3是光场成像设备轴向分辨率测定装置示意图；
[0026] 图4是本发明采用的单凸透镜示意图，其中（a)是单透镜的正视图，（b)是(a)的侧 视图，（c)是单透镜的夹装侧视图，（d)是单透镜的夹装示意图；
[0027] 图5是轴向分辨率测定标记靶板示意图，其中图（&)、（〇)、（6)、&)、（1)是图案样式 不同的5组标记靶板，图（b)、（d)、（f)、（h)、（ j)分别是5组标记靶板的侧45度视角图。
【具体实施方式】
[0028] 本发明提供了一种光场成像设备轴向分辨率测定装置，该装置包括：
[0029] -个具有凸透镜光学特性的光学组件（以下简称凸透镜组件），可以沿光场成像设 备主透镜光轴方向前后移动。
[0030] -组轴向分辨率测定标记靶板（以下简称标记靶板），该组标记靶板与光场成像设 备分别位于凸透镜组件两侧。
[0031] 所述的凸透镜组件由一个光学凸透镜或多个互相配合的光学透镜组成。
[0032] 所述的凸透镜组件处于光场成像设备与标记靶板之间，且该组件大小覆盖光场成 像设备的视场范围。
[0033] 所述的一组标记靶板采用两个及其以上颜色和图案不同的薄板组成，并且分布在 光场成像设备光轴方向上，标记靶板之间的距离可以连续调节。
[0034] 所述的一组标记靶板，其表面在水平方向与垂直方向上可印刻有图案，该图案经 凸透镜组件放大后，可被光场成像设备捕捉，且除线条交汇点外，不同线条的间隔需不小于 1个像素。
[0035]所述的凸透镜组件，成像过程中物距、相距和焦距的关系满足高斯成像公式。
[0036]所述的凸透镜组件与标记靶板间的距离可以连续调节，使得标记靶板在凸透镜组 件的一倍焦距以内，此时凸透镜组件对标记靶板成正立放大的虚像。
[0037] 所述的标记靶板经凸透镜组件放大后的虚像可由光场成像设备所捕捉。
[0038] 光场成像设备对标记靶板在凸透镜组件所成虚像位置进行拍摄和重聚焦。
[0039]标记靶板虚像位置的调节可以通过调节标记靶板与凸透镜组件的间隔距离来实 现。从距离凸透镜组件为零位置到无穷远位置能够灵活设置。
[0040] 两个及以上的标记靶板之间的距离可以连续调节，标记靶板所成虚像的间隔距离 也随之改变。
[0041] 光场成像设备拍摄到两个及以上标记靶板的图像数据后，可采用光场空域或频域 数据处理技术在不同的焦面进行重聚焦成像。
[0042] 光场成像设备的一次拍摄，可以获取两个及以上的标记靶板数据。在标记靶板之 间的轴向间隔范围内，可选择不同的轴向位置进行数字重聚焦成像。若不同轴向位置的数 字重聚焦结果存在差异，则认为不同标记靶板相距的轴向间隔内，具有成像可分辨性质;反 之，不同轴向位置的数字重聚焦成像结果不存在差异，则不同标记靶板相距的轴向最大间 隔范围内，成像结果不具有可分辨性质。
[0043]对于不同的虚像所在位置，不断扩大不同标记靶板间的轴向最大间隔距离，并重 复成像差异判别过程，直至不同标记靶板间所有轴向位置的数字重聚焦结果均不存在差 异，此时可认为在不同标记靶板虚像位置的平均值处，光场成像系统的轴向分辨率为标记 靶板间的轴向最大间隔距离。
[0044] 判断不同轴向位置数字重聚焦结果差异的方法包括但不限于:像素差异绝对值比 较法、像素差异统计比较法、图像统计量差异比较法、图像特征点比较法、图像梯度差异比 较差异法等方法。
[0045] 光场数字重聚焦成像算法包括光场空域和频域重聚焦算法，以及采用快速傅里叶 变换的光场数字重聚焦加速算法。
[0046] 下面结合附图和实施例对本发明进一步说明，本发明包括但不仅限于下述实施 例。
[0047]在光场成像设备的光轴方向上，以相互遮挡率低于50%的方式放置两个以上的标 记靶板。确保标记靶板在光场成像设备视野范围内，并采用光场成像设备获取标记靶板经 过凸透镜组件放大后的虚像。
[0048]对于根据本发明实施例的轴向分辨率测定装置，其凸透镜组件对标记靶板成放大 的虚像，如图1所示。其成像关系符合高斯成像规律，令u代表物距，v代表像距，f代表焦距。 标记靶板物距满足ue[0，f]。物距U和虚像所在位置 ￥满足公式(2)，虚像位置满足ve[0，+ -Ο。不同标记靶板a和b的间隔距离△ z与其所成虚像的间隔距离△ ζ'计算如公式(3)所示
[0051] 本发明采用调整标记靶板距离间隔的方式测定光场成像设备的轴向分辨率，如图 2。将标记靶板PjPPb放置于凸透镜组件一倍焦距之内且远离光场成像设备的一侧，此时凸 透镜组件对标记靶板成正立放大的虚像PZ和Pb人调整不同标记靶板的间隔Az=| Ua-Ub|， 按照公式(3)此时存在可确定的不同标记靶板虚像位置的间隔变化量Δζ'。由于虚像成像 位置可调节范围从〇到无穷远处，因此两个不同标记靶板间虚像位置间隔Α ζ'的可调节范 围也为从0到无穷远。
[0052] 本发明的实施例需要调整标记靶板最大间隔两次及以上。欲测定某一轴向位置的 轴向分辨率时，需在凸透镜组件1倍焦距范围内，以待测位置的物距为中心，依据由小到大 的方式调整标记靶板的距离间隔A z，从而由小到大的改变标记靶板所成虚像的距离间隔 Λ?。在每次调整标记靶板间隔后，需要在虚像位置最大间隔内切换聚焦平面，从而得 到不少于两组不同聚焦平面的光场数字重聚焦成像结果。进而，本发明依据预先设定的图 像差异对比阈值T，对重聚焦成像的结果进行轴向可分辨性判断，该差异阈值T为存在图像 差异的像素比例，应视具体情况设定不大于10%的特定值，即（〇,〇.1]之间。差异像素比例 大于该阈值则重聚焦成像结果的差异为可分辨，反之认为重聚焦成像结果的差异不可分 辨。反复上述过程得到成像结果差异不可分辨的最大间隔，则测定在此虚像位置的轴向分 辨率为当前标记靶板最大间隔距离△ z'。上述轴向分辨率测定方法能够解决轴向分辨率的 量化测定问题，其具体步骤概括如下：
[0053] Stepl.依据公式（2)计算需要测定轴向分辨率的位置v的对应物距u。将标记靶板 置于凸透镜组件1倍焦距，距离凸透镜为U的位置，并使之标记靶板轴向距离最小。
[0054] Step2.用光场成像设备进行图像采集。在标记靶板的虚像位置最大间隔内切 换聚焦平面，获得不少于两组的不同聚焦平面的光场数字重聚焦成像结果。
[0055] Step3.采用上述图像差异对比方法进行成像结果的可分辨性判断。如成像结果可 分辨，则依据公式(3)计算当前最大间隔△?，作为轴向分辨率测定结果的输出；否则，转至 step4〇
[0056] Step4.以u为中心，以当前所需测定轴向分辨率的精度单位(如毫米、厘米)为步 进，依据公式(2)重新计算标记靶板的成像位置，从而扩大△"，转step2。
[0057]本发明提供的光场成像设备轴向分辨率测定装置包括4个部分，如图3所示：
[0058] 一个光学凸透镜301;
[0059] 一组标记靶板302;
[0060] 一个精密轴向位移调节部件303;
[0061 ] 一组配套辅助光源系统304。
[0062] 本发明的光场轴向分辨率测定装置采用一组辅助支架固定光学凸透镜301，并将 该固定支架安装在如图3中303所示的一组导轨上，该导轨具有刻度，可以对夹装在导轨上 的部件进行光场成像设备光轴方向上的精确定位。光学凸透镜四周布置如304所示的辅助 照明led灯，用以对标记靶板的表面进行照亮。标记靶板302同样安装在303的导轨上，不同 标记靶板的间隔距离可以灵活地调节。
[0063] 本发明采用一组水平放置的导轨，导轨需放置于在被测定光场成像设备的光轴方 向上，导轨纵轴方向应与光场成像设备的光轴平行，这样可以保证导轨上的凸透镜和标记 靶板在光场成像设备的拍摄视角范围内。导轨上不同部件的轴向可调节精度需小于〇. 1_， 本发明实施选用的导轨可调节范围为〇mm-750mm，其轴向长度应大于凸透镜的1倍焦距长 度。
[0064]本发明采用一个直径为200mm，焦距为350mm的大型单凸透镜，其表面曲率半径约 为285mm。为保证凸透镜在光学上具有大焦距、低色散性，该凸透镜材质为厚度3mm的K9光学 玻璃，其折射率约为1.52,阿贝数为63.5,如图4所示。对凸透镜采用一个四边形支架系统进 行固定，以方便在光场成像设备的光轴方向上进行位置调节，并保证凸透镜光轴与光场成 像设备的光轴尽量重合。
[0065] 本发明实施过程采用一组标记靶板，该标记靶板主要用于区分光场成像设备的重 聚焦成像差异。标记靶板采用直径为2厘米的白底圆形卡片，卡片刻印有如图5的不同水平、 垂直、圆形或放射状条纹，相邻条纹选用黑色、红色、绿色、蓝色相间的样式。标记靶板需采 用支架固定，可调节标记靶板的间隔距离和轴向位置，并使得标记靶板在光场成像设备的 视角范围内。采用光场成像设备采集标记靶板图像时，且除线条交汇点外，不同线条的间隔 应不小于1个像素。
[0066] 拍摄用于测定光场成像设备轴向分辨率的数据时，对需测定轴向分辨率的位置V， 依照公式3计算出其物距u，u应小于凸透镜1倍焦距。在物距u的前后两侧各放置1个的标记 靶板，其相对于凸透镜的物距分别m和u 2，此时各标记靶板所成的虚像位置^和^仍将满足 公式2，其虚像位置的轴向间隔为| V1-V21。进行拍摄时，光场成像设备从凸透镜的另一侧进 行数据采集。
[0067] 对标记靶板虚像位置VjPV2之间，依照光场数字重聚焦方法进行光场图像生成。上 述光场重聚焦方法可采用如公式(4)的空域算法或者频域方法，可参见Levoy等的研究论文 Levoy Μ，Hanrahan P. Light field rendering.Proceedings of conference on Computer graphics and interactive techniques.pp.31-42,1996〇
[0069] 其中，I(s，t)代表二维光场重聚焦图像，L代表四维光场数据，（m，n，s，t)分别代表 光场的角度与位置信号维度，α代表重光场聚焦参数的设定因子。依照上述光场重聚焦成像 方法，获得之间的η幅光场图像(^仏…以^幅光场图像可将含有标记靶板的测试 场景在光轴方向上分为η层。
[0070] 获得光轴方向不同聚焦面的成像数据后，需要对不同轴向位置的光场图像进行差 异对比，从而确定轴向^和^位置之间成像结果的可分辨特性。本发明实施过程采用图像差 分方法来计算图像差异，如公式(5)所示。
[0071] argmaxlkz-Lh71，其中任意 i，je[vl，V2] (5) |vl-v：2j
[0072] 图像UPL的差分结果采用2范数距离进行度量，另外1范数距离和无穷范数距离 也可作为图像差异的有效度量。T是一个差异显著性阈值，小于阈值T的两幅光场图像idPIj 可认为是图像差异不可分辨。
[0073] 上述轴向分辨率的测定过程，在轴向^和^间隔中，采用上述方法对光场重聚焦图 像进行差异对比，如果差异不可分辨则逐步扩大轴向^和^的距离，直到其差异可分辨为 止。此时vdPv 2的间隔距离，即为当前轴向位置的轴向分辨率测定结果。
【主权项】
1. 一种光场成像设备轴向分辨率测定装置，包括凸透镜组件、标记靶板和光场成像设 备，其特征在于:在光场成像设备的光轴方向上，以相互遮挡率低于50 %的方式放置两个以 上的标记靶板，确保标记靶板在光场成像设备视野范围内，并采用光场成像设备获取标记 靶板经过凸透镜组件放大后的虚像。2. 根据权利要求1所述的光场成像设备轴向分辨率测定装置，其特征在于:所述的凸透 镜组件由一个光学凸透镜或多个互相配合的光学透镜组成，能够沿光场成像设备主透镜光 轴方向移动，凸透镜组件的大小覆盖光场成像设备的视场范围。3. 根据权利要求1所述的光场成像设备轴向分辨率测定装置，其特征在于:所述的标记 靶板采用各自颜色和图案不同的靶板，各个标记靶板之间的距离以及标记靶板与凸透镜组 件间的距离均能够连续调节。4. 根据权利要求1所述的光场成像设备轴向分辨率测定装置，其特征在于:所述的标记 靶板在其表面的水平方向与垂直方向上印刻有图案，所述的图案经凸透镜组件放大后被光 场成像设备捕捉，且图案中除线条交汇点外，不同线条的间隔不小于1个像素。5. 根据权利要求1所述的光场成像设备轴向分辨率测定装置，其特征在于:所述的标记 靶板位于凸透镜组件的一倍焦距以内。6. 根据权利要求1所述的光场成像设备轴向分辨率测定装置，其特征在于:所述的凸透 镜组件在成像过程中物距、相距和焦距的关系满足高斯成像公式。7. -种利用权利要求1所述装置的光场成像设备轴向分辨率测定方法，其特征在于包 括下述步骤： 步骤1，光场成像设备通过一次拍摄获取各个标记靶板虚像;在标记靶板之间的轴向间 隔范围内选择不同的轴向位置进行数字重聚焦成像;若不同轴向位置的数字重聚焦结果存 在差异，则认为不同标记靶板相距的轴向间隔内具有成像可分辨性质;若不同轴向位置的 数字重聚焦成像结果不存在差异，则不同标记靶板相距的轴向最大间隔范围内，成像结果 不具有可分辨性质； 步骤2,对于不同的虚像所在位置，不断扩大不同标记靶板间的轴向最大间隔距离，并 重复步骤1的成像差异判别过程，直至不同标记靶板间所有轴向位置的数字重聚焦结果均 不存在差异，此时认为在不同标记靶板虚像位置的平均值处，光场成像系统的轴向分辨率 为标记靶板间的轴向最大间隔距离。8. 根据权利要求7所述的光场成像设备轴向分辨率测定方法，其特征在于:所述不同轴 向位置数字重聚焦结果差异的判别方法包括但不限于像素差异绝对值比较法、像素差异统 计比较法、图像统计量差异比较法、图像特征点比较法和图像梯度差异比较差异法。9. 根据权利要求7所述的光场成像设备轴向分辨率测定方法，其特征在于:所述数字重 聚焦成像的方法包括光场空域和频域重聚焦算法，以及采用快速傅里叶变换的光场数字重 聚焦加速算法。
【文档编号】H04N17/00GK106097343SQ201610416223
【公开日】2016年11月9日
【申请日】2016年6月14日 公开号201610416223.5, CN 106097343 A, CN 106097343A, CN 201610416223, CN-A-106097343, CN106097343 A, CN106097343A, CN201610416223, CN201610416223.5
【发明人】肖照林, 王庆, 周果清, 李秀秀
【申请人】西安理工大学