面板修补方法及装置的制造方法
【专利摘要】本发明涉及一种面板修补方法及装置，所述方法包括：获取面板的图像信息；将所述面板的图像信息转化为几何模拟图；将所述转化的几何模拟图与预存的几何模拟图进行拟合，从所述转化的几何模拟图中检测出缺陷区域；获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心的偏移值；根据所述偏移值对所述缺陷区域进行位置校正。本发明将图像转化为几何模拟图，并进行几何模拟图的拟合检测出缺陷，有效地提高了缺陷检测的效率；在检测出缺陷后，计算出偏移值并通过偏移值对缺陷进行修补，提高了修补的准确性。
【专利说明】
面板修补方法及装置
技术领域
[0001 ]本发明涉及面板领域，特别是涉及一种面板修补方法及装置。
【背景技术】
[0002] 通常在面板的生产过程中，通常会采用构图工艺在面板上形成不同的图形，如果 这些图形存在缺陷，会导致面板漏光或者其它问题，从而影响面板的显示品质。为此，需要 对缺陷图形进行修补。
[0003] 在面板行业中，采用修补设备对存在缺陷的面板产品进行修补是挽救产品良率的 有效途径。在实际使用修补设备的过程中，上游设备传递过来的缺陷坐标信息与修补设备 的坐标系通常存在一定偏差，常规的修补方案通常是通过作业人员人工检验后才能找到需 要实施修补的缺陷，效率较低，而且修补时还需要人工参与修补，修补的准确性低。因此，在 面板行业中，修补设备的修补成功率及产能是影响修补效率的关键因素。
【发明内容】
[0004] 基于此，有必要提供一种面板修补方法及装置，提高修补效率和修补的准确性。
[0005] -种面板修补方法，所述方法包括：
[0006] 获取面板的图像信息；
[0007] 将所述面板的图像信息转化为几何模拟图；
[0008] 将所述转化的几何模拟图与预存的几何模拟图进行拟合，从所述转化的几何模拟 图中检测出缺陷区域；
[0009] 获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心的偏移值；
[0010] 根据所述偏移值对所述缺陷区域进行位置校正。
[0011]以上所述面板修补方法将图像转化为几何模拟图，并进行几何模拟图的拟合检测 出缺陷，有效地提高了缺陷检测的效率;在检测出缺陷后，计算出偏移值并通过偏移值对缺 陷进行修补，提高了修补的准确性。
[0012] 在其中一个实施例中，将所述转化的几何模拟图与预存的几何模拟图进行拟合， 从所述转化的几何模拟图中检测出缺陷区域的步骤包括：
[0013] 从预存的几何模拟图中检测出与所述转化的几何模拟图相匹配的几何模拟图；
[0014] 获取所述预存的相匹配的几何模拟图的特征对比图形；
[0015] 获取所述转化的几何模拟图中与所述特征对比图形相对应的对比图形区域；
[0016] 将获取的所述转化的几何模拟图中的对比图形区域与获取的所述预存的相匹配 的几何模拟图的特征对比图形进行对比，检测出存在缺陷的对比图形区域。
[0017] 在其中一个实施例中，获取的所述预存的相匹配的几何模拟图的特征对比图形包 括拐角、圆。
[0018] 在其中一个实施例中，所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心包括 几何中心点或重力中心点。
[0019] 在其中一个实施例中，获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心 的偏移值的步骤包括：
[0020] 在所述转化的几何模拟图中建立二维坐标系；
[0021] 分别获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心在建立的所述二 维坐标系下的横向和纵向偏移值；
[0022]根据所述横向和纵向偏移值获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图 的中心在建立的所述二维坐标系下的横向偏移差和纵向偏移差；
[0023] 根据所述横向偏移差和纵向偏移差获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何 模拟图的中心的偏移值。
[0024] 在其中一个实施例中，根据所述偏移值对所述缺陷区域进行位置校正包括：
[0025] 根据所述偏移值将所述缺陷区域向所述转化的几何模拟图的中心方向移动。
[0026] 一种面板修补装置，所述装置包括：
[0027]图像获取模块，用于获取面板的图像信息；
[0028]转化模块，用于将所述面板的图像信息转化为几何模拟图；
[0029]拟合模块，用于将所述转化的几何模拟图与预存的几何模拟图进行拟合，从所述 转化的几何模拟图中检测出缺陷区域；
[0030] 偏移获取模块，用于获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心的 偏移值；
[0031] 校正模块，用于根据所述偏移值对所述缺陷区域进行位置校正。
[0032] 以上所述面板修补装置将图像转化为几何模拟图，并进行几何模拟图的拟合检测 出缺陷，有效地提高了缺陷检测的效率;在检测出缺陷后，计算出偏移值并通过偏移值对缺 陷进行修补，提高了修补的准确性。
[0033] 在其中一个实施例中，所述拟合模块包括：
[0034] 检测单元，用于从预存的几何模拟图中检测出与所述转化的几何模拟图相匹配的 几何模拟图；
[0035] 图形一单元，用于获取所述预存的相匹配的几何模拟图的特征对比图形；
[0036] 图形二单元，用于获取所述转化的几何模拟图中与所述特征对比图形相对应的对 比图形区域；
[0037] 对比单元，用于将获取的所述转化的几何模拟图中的对比图形区域与获取的所述 预存的相匹配的几何模拟图的特征对比图形进行对比，检测出存在缺陷的对比图形区域。
[0038] 在其中一个实施例中，所述偏移获取模块包括：
[0039] 坐标单元，用于在所述转化的几何模拟图中建立二维坐标系；
[0040] 获取一单元，用于分别获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心 在建立的所述二维坐标系下的横向和纵向偏移值；
[0041] 获取二单元，用于根据所述横向和纵向偏移值获取所述缺陷区域的中心与所述转 化的几何模拟图的中心在建立的所述二维坐标系下的横向偏移差和纵向偏移差；
[0042]获取三单元，用于根据所述横向偏移差和纵向偏移差获取所述缺陷区域的中心与 所述转化的几何模拟图的中心的偏移值。
[0043]在其中一个实施例中，所述校正模块还用于根据所述偏移值将所述缺陷区域向所 述转化的几何模拟图的中心方向移动。
【附图说明】
[0044]图1为一实施例的面板修补方法的流程示意图；
[0045]图2为图1中步骤S130的流程示意图；
[0046]图3为图1中步骤S140的流程示意图；
[0047] 图4为一实施例的面板修补装置的结构示意图；
[0048] 图5为图4中拟合t旲块130的结构不意图；
[0049] 图6为图4中偏移获取模块140的结构示意图。
【具体实施方式】
[0050] 为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对 本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并 不用于限定本发明。
[0051 ]如图1所示，一实施例的面板修补方法包括步骤S110至步骤S150。
[0052]步骤S110,获取面板的图像信息；
[0053]步骤S120,将面板的图像信息转化为几何模拟图；
[0054]步骤S130,将转化的几何模拟图与预存的几何模拟图进行拟合，从转化的几何模 拟图中检测出缺陷区域；
[0055]步骤S140，获取缺陷区域的中心与转化的几何模拟图的中心的偏移值；
[0056]步骤S150,根据偏移值对缺陷区域进行位置校正。
[0057]以上面板修补方法将图像转化为几何模拟图，并进行几何模拟图的拟合检测出缺 陷，有效地提高了缺陷检测的效率;在检测出缺陷后，计算出偏移值并通过偏移值对缺陷区 域进行位置校正，进而实现对缺陷区域的修补，提高了修补的准确性。
[0058]步骤S110中，通过普通摄像设备可以获取面板的图像信息，如照相机、手机具有照 相功能的设备。本实施例中，由于需要通过步骤S120将图像信息转化为几何模拟图，因此， 图像信息是完整的信息，即摄像设备在获取图像信息时，面板的整个形状必须在摄像设备 成像装置的视野内，包括通过构图工艺在面板上形成的图形，如拐角、圆等特征图形。通过 步骤S120可以将图像信息转化为几何模拟图，本实施例中，为符合具体的实际应用，本实施 例采用特征模拟的方式进行模拟，具体的，通过对面板上的拐角、圆等特征图形的模拟，可 以快速、准确的模拟出对应的几何模拟图。
[0059] 如图2所示，步骤S130包括步骤SI 31至步骤S134。
[0060] 步骤S131，从预存的几何模拟图中检测出与转化的几何模拟图相匹配的几何模拟 图；
[0061] 步骤S132,获取预存的相匹配的几何模拟图的特征对比图形；
[0062] 步骤S133,获取转化的几何模拟图中与特征对比图形相对应的对比图形区域；
[0063] 步骤S134,将获取的转化的几何模拟图中的对比图形区域与获取的预存的相匹配 的几何模拟图的特征对比图形进行对比，检测出存在缺陷的对比图形区域。
[0064] 在实际面板生产中，通常面板的形状均是定型的，因此，本实施例中，可以将生产 中常用的面板的几何模拟图以标准模板进行存储。具体的，在本实施例中，在存储常用面板 的几何模拟图时，其包括一些显著的特征对比图形，如拐角、圆等特征对比图形，将将这些 特征对比图形作为后续拟合的参照图形以检测出缺陷图形。当需要检测几何模拟图的缺陷 时，可以通过步骤S131从预存的几何模拟图中检测出与转化的几何模拟图相匹配的几何模 拟图，表明面板是相匹配的。进一步，通过步骤S132可以获取预存的相匹配的几何模拟图的 特征对比图形，如拐角、圆等，由步骤S133可以获取转化的几何模拟图中与特征对比图形相 对应的对比图形区域，之后，通过步骤S134将获取的转化的几何模拟图中的对比图形区域 与获取的预存的相匹配的几何模拟图的特征对比图形进行对比，如二者是重合的，则对应 的对比图形区域非缺陷图形，否则，对应的对比图形区域即为缺陷图形，由此即可检测出转 化的几何模拟图中所有存在缺陷的对比图形区域。以上对缺陷的检测由于以特征对比图形 作为检测方式，可快速获取特征对比图形并有效提高了检测缺陷的效率。
[0065]由步骤S130检测出缺陷区域后，通过步骤S140可以获取缺陷区域的中心与转化的 几何模拟图的中心的偏移值。其中，缺陷区域的中心与转化的几何模拟图的中心包括几何 中心点或重力中心点，通过几何中心点或策略中心点均可实现本实施例以上所述内容，但 为便于本实施例的实现，本实施例优选采用几何中心点获取对应的偏移值。具体的，如图3 所示，步骤S140包括步骤S141至步骤S144。
[0066]步骤S141，在转化的几何模拟图中建立二维坐标系；
[0067]步骤S142,分别获取缺陷区域的中心与转化的几何模拟图的中心在建立的二维坐 标系下的横向和纵向偏移值；
[0068]步骤S143，根据横向和纵向偏移值获取缺陷区域的中心与转化的几何模拟图的中 心在建立的二维坐标系下的横向偏移差和纵向偏移差；
[0069]步骤S144,根据横向偏移差和纵向偏移差获取缺陷区域的中心与转化的几何模拟 图的中心的偏移值。
[0070] 通过步骤S141可以在转化的几何模拟图中建立二维坐标系，为方便计算，二维坐 标系的基点可以选择以缺陷区域的中心或转化的几何模拟图的中心作为基点建立纵横x、Y 轴。由步骤S142可以获取缺陷区域的中心与转化的几何模拟图的中心在建立的二维坐标系 下的横向和纵向偏移值，即获取缺陷区域的中心与转化的几何模拟图的中心的坐标点，即 缺陷区域的中心的坐标点为(X1，y 1)与转化的几何模拟图的中心的坐标点为(x2，y 2)。由步 骤S143可以根据横向和纵向偏移值获取缺陷区域的中心与转化的几何模拟图的中心在建 立的二维坐标系下的横向偏移差和纵向偏移差，即（xl-x2)和(yl-y2)。由步骤S144可以由 横向偏移差和纵向偏移差获取缺陷区域的中心与转化的几何模拟图的中心的偏移值，具体 的，偏移值_= - x2f + (yl - y2f。其中，若以缺陷区域的中心作为基点，贝1J 偏移值=2尸+ ，若以转化的几何模拟图的中心作为基点，则偏移值=+(r作， 明显的，以缺陷区域的中心或转化的几何模拟图的中心作为基点可进一步方便获取偏移 值。
[0071] 获取偏移值后，通过步骤S150可以对缺陷区域进行位置校正，具体的，可以根据偏 移值将缺陷区域向转化的几何模拟图的中心方向移动。本实施例中，在获取偏移值后，可以 将偏移值发送至面板生产中的具有面板生产控制功能的运动控制系统，运动控制系统会根 据偏移值对缺陷区域进行位置校正，使缺陷区域位于几何模拟图的中央，通常几何模拟图 的中央为设置的九宫格(可准确定位使缺陷区域位于几何模拟图的中央），从而方便修补。
[0072] 如图4所示，一实施例的面板修补装置包括图像获取模块110、转化模块120、拟合 模块130、偏移获取模块140和校正模块150。
[0073] 图像获取模块110用于获取面板的图像信息；
[0074] 转化模块120用于将面板的图像信息转化为几何模拟图；
[0075] 拟合模块130用于将转化的几何模拟图与预存的几何模拟图进行拟合，从转化的 几何模拟图中检测出缺陷区域；
[0076] 偏移获取模块140用于获取缺陷区域的中心与转化的几何模拟图的中心的偏移 值；
[0077]校正模块150用于根据偏移值对缺陷区域进行位置校正。
[0078] 以上面板修补装置将图像转化为几何模拟图，并进行几何模拟图的拟合检测出缺 陷，有效地提高了缺陷检测的效率;在检测出缺陷后，计算出偏移值并通过偏移值对缺陷区 域进行位置校正，进而实现对缺陷区域的修补，提高了修补的准确性。
[0079] 本实施例中，通过普通摄像设备可以获取面板的图像信息，如照相机、手机具有照 相功能的设备。本实施例中，由于需要通过转化模块120将图像信息转化为几何模拟图，因 此，图像信息是完整的信息，即摄像设备在获取图像信息时，面板的整个形状必须在摄像设 备成像装置的视野内，包括通过构图工艺在面板上形成的图形，如拐角、圆等特征图形。通 过转化模块120可以将图像信息转化为几何模拟图，本实施例中，为符合具体的实际应用， 本实施例采用特征模拟的方式进行模拟，具体的，通过对面板上的拐角、圆等特征图形的模 拟，可以快速、准确的模拟出对应的几何模拟图。
[0080] 如图5所示，拟合模块130包括检测单元131、图形一单元132、图形二单元133和对 比单元134。
[0081] 检测单元131用于从预存的几何模拟图中检测出与转化的几何模拟图相匹配的几 何模拟图；
[0082] 图形一单元132用于获取预存的相匹配的几何模拟图的特征对比图形；
[0083] 图形二单元133用于获取转化的几何模拟图中与特征对比图形相对应的对比图形 区域；
[0084] 对比单元134用于将获取的转化的几何模拟图中的对比图形区域与获取的预存的 相匹配的几何模拟图的特征对比图形进行对比，检测出存在缺陷的对比图形区域。
[0085] 在实际面板生产中，通常面板的形状均是定型的，因此，本实施例中，可以将生产 中常用的面板的几何模拟图以标准模板进行存储。具体的，在本实施例中，在存储常用面板 的几何模拟图时，其包括一些显著的特征对比图形，如拐角、圆等特征对比图形，将将这些 特征对比图形作为后续拟合的参照图形以检测出缺陷图形。当需要检测几何模拟图的缺陷 时，可以通过检测单元131从预存的几何模拟图中检测出与转化的几何模拟图相匹配的几 何模拟图，表明面板是相匹配的。进一步，通过图形一单元132可以获取预存的相匹配的几 何模拟图的特征对比图形，如拐角、圆等，由图形二单元133可以获取转化的几何模拟图中 与特征对比图形相对应的对比图形区域，之后，通过对比单元134将获取的转化的几何模拟 图中的对比图形区域与获取的预存的相匹配的几何模拟图的特征对比图形进行对比，如二 者是重合的，则对应的对比图形区域非缺陷图形，否则，对应的对比图形区域即为缺陷图 形，由此即可检测出转化的几何模拟图中所有存在缺陷的对比图形区域。以上对缺陷的检 测由于以特征对比图形作为检测方式，可快速获取特征对比图形并有效提高了检测缺陷的 效率。
[0086] 由拟合模块130检测出缺陷区域后，通过偏移获取模块140可以获取缺陷区域的中 心与转化的几何模拟图的中心的偏移值。其中，缺陷区域的中心与转化的几何模拟图的中 心包括几何中心点或重力中心点，通过几何中心点或重力中心点均可实现本实施例以上所 述内容，但为便于本实施例的实现，本实施例优选采用几何中心点获取对应的偏移值。具体 的，如图6所示，偏移获取模块140包括坐标单元141、获取一单元142、获取二单元143和获取 三单元144。
[0087] 坐标单元141用于在转化的几何模拟图中建立二维坐标系；
[0088] 获取一单元142用于分别获取缺陷区域的中心与转化的几何模拟图的中心在建立 的二维坐标系下的横向和纵向偏移值；
[0089] 获取二单元143用于根据横向和纵向偏移值获取缺陷区域的中心与转化的几何模 拟图的中心在建立的二维坐标系下的横向偏移差和纵向偏移差；
[0090] 获取三单元144用于根据横向偏移差和纵向偏移差获取缺陷区域的中心与转化的 几何模拟图的中心的偏移值。
[0091 ]通过坐标单元141可以在转化的几何模拟图中建立二维坐标系，为方便计算，二维 坐标系的基点可以选择以缺陷区域的中心或转化的几何模拟图的中心作为基点建立纵横 X、Y轴。由获取一单元142可以获取缺陷区域的中心与转化的几何模拟图的中心在建立的二 维坐标系下的横向和纵向偏移值，即获取缺陷区域的中心与转化的几何模拟图的中心的坐 标点，即缺陷区域的中心的坐标点为(X1，y 1)与转化的几何模拟图的中心的坐标点为(χ2， y 2)。由获取二单元143可以根据横向和纵向偏移值获取缺陷区域的中心与转化的几何模拟 图的中心在建立的二维坐标系下的横向偏移差和纵向偏移差，即（xl-x2)和(yl-y2)。由获 取三单元144可以由横向偏移差和纵向偏移差获取缺陷区域的中心与转化的几何模拟图的 中心的偏移值，具体的，偏移值=^/(xl - x2f + (:/1 - /2)2。..其中，若以缺陷区域的中心 作为基点，则偏移值=知)2 + (，2)2，若以转化的几何模拟图的中心作为基点，则 偏移值=^/Ul)2 + (_7丨)2 ,明显的，以缺陷区域的中心或转化的几何模拟图的中心作为基 点可进一步方便获取偏移值。
[0092]获取偏移值后，通过校正模块150可以对缺陷区域进行位置校正，具体的，可以根 据偏移值将缺陷区域向转化的几何模拟图的中心方向移动。本实施例中，在获取偏移值后， 可以将偏移值发送至面板生产中的具有面板生产控制功能的运动控制系统，运动控制系统 会根据偏移值对缺陷区域进行位置校正，使缺陷区域位于几何模拟图的中央，通常几何模 拟图的中央为设置的九宫格(可准确定位使缺陷区域位于几何模拟图的中央），从而方便修 补。
[0093]以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实 施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存 在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
[0094]以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并 不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来 说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护 范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
【主权项】
1. 一种面板修补方法，其特征在于，所述方法包括： 获取面板的图像信息； 将所述面板的图像信息转化为几何模拟图； 将所述转化的几何模拟图与预存的几何模拟图进行拟合，从所述转化的几何模拟图中 检测出缺陷区域； 获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心的偏移值； 根据所述偏移值对所述缺陷区域进行位置校正。2. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述转化的几何模拟图与预存的几何模 拟图进行拟合，从所述转化的几何模拟图中检测出缺陷区域的步骤包括： 从预存的几何模拟图中检测出与所述转化的几何模拟图相匹配的几何模拟图； 获取所述预存的相匹配的几何模拟图的特征对比图形； 获取所述转化的几何模拟图中与所述特征对比图形相对应的对比图形区域； 将获取的所述转化的几何模拟图中的对比图形区域与获取的所述预存的相匹配的几 何模拟图的特征对比图形进行对比，检测出存在缺陷的对比图形区域。3. 根据权利要求2所述的方法，其特征在于，获取的所述预存的相匹配的几何模拟图的 特征对比图形包括拐角、圆。4. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模 拟图的中心包括几何中心点或重力中心点。5. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几 何模拟图的中心的偏移值的步骤包括： 在所述转化的几何模拟图中建立二维坐标系； 分别获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心在建立的所述二维坐 标系下的横向和纵向偏移值； 根据所述横向和纵向偏移值获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中 心在建立的所述二维坐标系下的横向偏移差和纵向偏移差； 根据所述横向偏移差和纵向偏移差获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟 图的中心的偏移值。6. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述偏移值对所述缺陷区域进行位置 校正包括： 根据所述偏移值将所述缺陷区域向所述转化的几何模拟图的中心方向移动。7. -种面板修补装置，其特征在于，所述装置包括： 图像获取模块，用于获取面板的图像信息； 转化模块，用于将所述面板的图像信息转化为几何模拟图； 拟合模块，用于将所述转化的几何模拟图与预存的几何模拟图进行拟合，从所述转化 的几何模拟图中检测出缺陷区域； 偏移获取模块，用于获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心的偏移 值； 校正模块，用于根据所述偏移值对所述缺陷区域进行位置校正。8. 根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述拟合模块包括： 检测单元，用于从预存的几何模拟图中检测出与所述转化的几何模拟图相匹配的几何 模拟图； 图形一单元，用于获取所述预存的相匹配的几何模拟图的特征对比图形； 图形二单元，用于获取所述转化的几何模拟图中与所述特征对比图形相对应的对比图 形区域； 对比单元，用于将获取的所述转化的几何模拟图中的对比图形区域与获取的所述预存 的相匹配的几何模拟图的特征对比图形进行对比，检测出存在缺陷的对比图形区域。9. 根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述偏移获取模块包括： 坐标单元，用于在所述转化的几何模拟图中建立二维坐标系； 获取一单元，用于分别获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心在建 立的所述二维坐标系下的横向和纵向偏移值； 获取二单元，用于根据所述横向和纵向偏移值获取所述缺陷区域的中心与所述转化的 几何模拟图的中心在建立的所述二维坐标系下的横向偏移差和纵向偏移差； 获取三单元，用于根据所述横向偏移差和纵向偏移差获取所述缺陷区域的中心与所述 转化的几何模拟图的中心的偏移值。10. 根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述校正模块还用于根据所述偏移值将 所述缺陷区域向所述转化的几何模拟图的中心方向移动。
【文档编号】G06T5/00GK106097376SQ201610480085
【公开日】2016年11月9日
【申请日】2016年6月27日
【发明人】施文峰
【申请人】昆山国显光电有限公司