一种简易的8639 pcie测试治具的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及计算机硬件设备测试技术领域，具体的说是一种结构简单、简易的8639 PCIE测试治具。
【背景技术】
[0002]硬盘作为传统存储设备，近年来发展并不是十分迅速，但随着固态硬盘的出现，开始了让人欣喜的发展，随之而来的是带动了硬盘接口发展的速度，事物的发展规律就是旧事物在创新中孕育新事物，在优胜劣汰中选择最好的取代旧事物。
[0003]硬盘的接口发展也同样如是，需要加速的发展来适应其它产品的进步。当前固态硬盘所应用的接口主要以SAS为主，SAS总线使用嵌入式时钟信号，具备了更强的纠错能力，与以往相比其最大的区别在于能对传输指令(不仅仅是数据)进行检查，如果发现错误会自动矫正，这在很大程度上提高了数据传输的可靠性。
[0004]串行接口还具有结构简单、支持热插拔的优点。但是SAS将硬盘的传输速度都限制在300MB/S (写)、500MB/s (读)这个级别难以再次提升，已经无法满足消费者对硬盘速度的期待。
[0005]而PCIE接口可以把数据传输率提高到一个很高的频率，达到SAS所不能提供的高带宽，所以SSD走PCIE接口有一个最直接的好处，突破目前SAS 6.0Gbps单颗600MB/s的传输速度。
[0006]如今，采用PCIE SSD的产品推出了不少，在性能上，拥有着超越想像的极致读写效能。芯片厂商也在极力推动PCIE SSD，未来采用PCIE SSD已经是大势所趋，但是目前业界还没有给出标准的PCIE SSD测试治具。
[0007]基于此，现提供一种简易的8639 PCIE测试治具。
【发明内容】
[0008]本实用新型的技术任务是解决现有技术的不足，提供一种结构简单、使用效果理想的简易的8639 PCIE测试治具。
[0009]本实用新型的技术方案是按以下方式实现的，一种简易的8639 PCIE测试治具，包括上下分层的双层PCB板，其中上层PCB板为信号层，下层PCB板为GND层，在信号层上开设有固定孔和信号口，且该固定孔和信号口分别安装PCIE SSD接口和SMA接口，该PCIE SSD接口布线连接SMA接口。
[0010]所述PCIE SSD 接口上设置有 PCIE TX、PCIE RX 信号引脚，且该 PCIE TX、PCIE RX信号引脚通过差分信号线连接到SMA接口。
[0011]所述SMA接口连接的每组差分信号线均包括正极和负极两条，且两条差分信号线之间的长度差为O?ImiI。
[0012]综上所述，本实用新型与现有技术相比所产生的有益效果是:
[0013]本实用新型的一种简易的8639 PCIE测试治具具有结构简单、使用方便、构思新颖等特点，可以实现8639 PCIE SSD接口与测试设备的连接，从而实现PCIE信号的量测，进而确保PCIE硬盘连接的可靠性，为PCIE SSD的研发及调试提供了有力的技术保障；实用性强，适用范围广泛，易于推广。
【附图说明】
[0014]附图1是本实用新型的结构示意图。
[0015]附图中的标记分别表示:
[0016]1、PCB 板，L 1、信号层，1.2、GND 层，2、PCIE SSD 接口，3、SMA 接口，4、差分信号线。
【具体实施方式】
[0017]下面结合附图对本实用新型的一种简易的8639 PCIE测试治具作以下详细说明。
[0018]如附图1所示，现提供一种简易的8639 PCIE测试治具，包括上下分层的双层PCB板I，其中上层PCB板I为信号层1.1，下层PCB板I为GND层1.2，在信号层1.1上开设有固定孔和信号口，该两个开孔在图中未标注出来，其位置即为PCIE SSD接口 2和SMA接口3的放置处，且该固定孔和信号口分别安装PCIE SSD接口 2和SMA接口 3，该PCIE SSD接口 2布线连接SMA接口 3。
[0019]所述PCIE SSD 接口 2 上设置有 PCIE TX、PCIE RX 信号引脚，且该 PCIE TX、PCIERX信号引脚通过差分信号线4连接到SMA接口 3。
[0020]所述SMA接口 3连接的每组差分信号线4均包括正极和负极两条，且两条差分信号线4之间的长度差为O?ImiI。
[0021]在实际使用时，可以直接通过SMA线缆连接到该测试治具上，实现8639 PCIE SSD信号与示波器的连接，从而实现对PCIE信号质量的量测、调试。
[0022]在实际制作时，按照以下顺序完成:
[0023]首先准备一个双层的面包板，即PCB板1，一层作为信号层1.1，另一层为GND层1.2，作为信号层1.1的参考面。在面包板上，预留出PCIE SSD接口 2以及SMA接口 3所需要的固定孔和信号口；
[0024]将PCIE SSD接口 2焊接在面包板的固定孔上；
[0025]布线设计，按照PCIE SSD接口 2的pin序，将PCIE TX+、TX-、RX+、RX-信号用阻抗匹配的100hm的差分信号线4连出，并连接到对应的SMA接口 3的P、N端。每对差分信号线P、N的不等长控制在Imil以内；
[0026]在信号线终端焊接上标准的SMA接口 3即可；
[0027]为方便测量时分辨，在板卡SMA接口 3处分别标示出信号线的名称，如ΤΧ0+、TXO-、RXO+、RXO-。
[0028]以上实施方式仅用于说明本实用新型，而并非对本实用新型的限制，有关技术领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，还可以做出各种变化和变型，因此所有等同的技术方案也属于本实用新型的范畴。
【主权项】
1.一种简易的8639 PCIE测试治具，包括PCB印制电路板，其特征在于:包括上下分层的双层PCB板，其中上层PCB板为信号层，下层PCB板为GND层，在信号层上开设有固定孔和信号口，且该固定孔和信号口分别安装PCIE SSD接口和SMA接口，该PCIE SSD接口布线连接SMA接口。2.根据权利要求1所述的一种简易的8639PCIE测试治具，其特征在于:所述PCIE SSD接口上设置有PCIE TX, PCIE RX信号引脚，且该PCIE TX, PCIE RX信号引脚通过差分信号线连接到SMA接口。3.根据权利要求2所述的一种简易的8639PCIE测试治具，其特征在于:所述SMA接口连接的每组差分信号线均包括正极和负极两条，且两条差分信号线之间的长度差为O?Imil ο
【专利摘要】本实用新型提供一种简易的8639？PCIE测试治具，包括上下分层的双层PCB板，其中上层PCB板为信号层，下层PCB板为GND层，在信号层上开设有固定孔和信号口，且该固定孔和信号口分别安装PCIE？SSD接口和SMA接口，该PCIE？SSD接口布线连接SMA接口。该一种简易的8639？PCIE测试治具和现有技术相比，可以实现8639？PCIE？SSD？接口与测试设备的连接，从而实现PCIE信号的量测，进而确保PCIE？硬盘连接的可靠性，为PCIE？SSD的研发及调试提供了有力的技术保障；实用性强，适用范围广泛，易于推广。
【IPC分类】G06F11/267
【公开号】CN204856471
【申请号】CN201520578207
【发明人】朱黎
【申请人】浪潮电子信息产业股份有限公司
【公开日】2015年12月9日
【申请日】2015年8月4日