专利名称：：检验盘缺陷管理区信息的方法及执行该方法的测试设备的制作方法
技术领域：
：本发明涉及一种能够在一记录和再现盘上记录信息并从该盘再现信息的设备，尤其涉及一种检验盘记录和再现设备是否正常地产生或更新盘的缺陷管理区(DMA)信息的方法以及用于执行该方法的测试设备。记录和再现盘是采用诸如激光束的光来记录和再现信息的光盘，例如是数字通用盘随机存取存储器(DVD-RAM)。DVD-RAM是可重写盘。根据“可重写盘DVD规范，部分1，物理规范版本2.0(DVDSpecificationsforRewritableDiscPart1PhysicalSpecificationsVersion2.0)”,DVD-RAM在其每侧包括4个DMA，即DMAl、DMA2、DMA3和DMA4，用于管理其上的缺陷。如图1所示，DMAl和DMA2位于靠近盘内径的导入区，DMA3和DMA4位于靠近盘外经的导出区。每个DMA后跟随保留扇区。DMA中存储有盘定义结构(DDS)、主缺陷列表(PDL)和次缺陷列表(SDL)。DDS包括有关盘格式结构的信息，例如盘认证标记、DDS/PDL更新计数器和每个区的开始逻辑扇区号。PDL包括有关在盘初始化期间在盘上检测到的所有缺陷扇区的信息。SDL包括有关在使用盘时出现的缺陷块(纠错码(ECC)块)中每个第一扇区的扇区号的信息、有关被用来替代缺陷块的备用块中每个第一扇区的扇区号的信息、以及有关备用区的信息。可以立即读取和使用DMA中所包含的一些信息。另一方面，DMA包括随盘上缺陷位置和数目变化的信息。此外，可通过基于DMA中所登记的缺陷信息来执行一算法来获得一些信息，例如，每个区域的开始扇区号或逻辑扇区号0的位置信息。为了防止由于DMA信息中的差错引起的错误的缺陷管理，因此在盘的每侧存在4个DMA。由于这种DMA信息与物理数据扇区紧密相关，因此，当不正确地写入或读出DMA信息时，诸如可移动光盘的记录介质可能与两种不同的盘记录和再现设备不兼容。这是因为，当将盘记录和再现设备(例如DVD-RAM记录和再现设备)的记录和再现体系结构分成文件系统层、用于将主计算机与记录和再现设备相接口的主接口层、用于记录和再现物理信号的物理盘记录和再现设备(或盘驱动器)层、和记录介质层时，在物理盘记录和再现设备层及其下面的层执行DMA信息的写入和读取。在实际的文件系统中，仅基于逻辑扇区号将要被记录或再现的用户信息发送到盘记录和再现设备，并且盘记录和再现设备将逻辑扇区号变换成物理扇区号，以记录或再现用户信息。在这种情况下，使用DMA信息。因此，当在盘记录和再现设备中错误地读取或写入DMA信息时，在其他记录和再现设备上不能正确地读取或写入数据。因此，需要一种用于检验盘记录和再现设备是否正确地读取记录在盘上的信息并且将DMA信息正确地记录到盘上以产生或更新DMA信息的方法。为了解决上述问题，本发明的第一目的是提供一种用于检验在盘记录和再现设备中当在进行认证情况下进行再初始化时是否正常地产生或更新缺陷管理区(DMA)信息的方法。本发明的第二目的是提供一种用于检验在盘记录和再现设备中当在进行认证情况下进行再初始化时，采用具有物理缺陷的盘和被配置为每种缺陷信息均包含在主缺陷列表中的测试基准DMA镜像文件产生的盘的DMA信息是否被正常地产生或更新的方法。本发明的第三目的是提供一种用于检验在盘记录和再现设备中当在进行认证情况下进行再初始化时是否正常地产生或更新缺陷管理区(DMA)信息的设备。本发明的其他目的和优点部分可从后面的描述中得出，部分可从描述中清楚地看出，或可从本发明实践中学习到。为了实现本发明的上述和其他目的，提供了一种用于检验在具有DMA信息的盘上记录信息或从这种盘再现信息的记录和再现设备的DMA信息产生或更新功能的方法。该方法包括下列步骤采用测试基准信息和具有物理缺陷的测试盘，在记录和再现设备中在进行认证的情况下进行再初始化，并在再初始化之后，从所产生的缺陷管理信息中产生测试信息；和，将从测试基准信息中得到的基准信息与测试信息相比较，并提供对测试信息的检验结果。为了实现本发明的上述和其他目的，还提供了一种用于测试在具有DMA信息的盘上记录信息或从这种盘再现信息的记录和再现设备的DMA信息产生或更新功能的设备。该设备包括测试盘，其具有测试基准信息和物理缺陷；基准驱动器，用于当记录和再现设备在进行认证情况下进行再初始化之后，从测试盘的DMA产生测试信息；和检验器，用于将从测试基准信息和物理缺陷中得到的基准信息与测试信息相比较，并检验测试信息。通过下面结合附图对优选实施例的描述，本发明的上述和其他目的和优点将会变得更加清楚，其中图1表示可重写盘的示意性配置；图2的框图表示本发明测试设备的功能；图3表示C-2盘的缺陷结构；图4A至4D是由图2的检验器所执行的用于检验的详细检查表的示例；图5表示在通过认证进行再初始化之前C-2盘的缺陷管理区(DMA)中的镜像文件与通过认证进行再初始化之后C-2盘的DMA中的镜像文件之间的关系；图6表示本发明检验方法的流程图；和图7的框图表示图2所示的待测试驱动器。下面将通过下面结合示例性地示出示例的附图对本发明优选实施例进行详细描述，其中，相同部件采用相同标号。下面将参照附图描述实施例，以解释本发明。参照图2，测试设备包括C-1盘201、缺陷管理区(DMA)镜像文件提供器203、基准驱动器205、C-2盘207、待测试盘209、C-2’盘211、C-2’盘DMA镜像文件213、和检验器215。C-1盘201是测试盘，其具有故意的物理缺陷，目的是测试能够在诸如数字通用盘随机存取存储器(DVD-RAM)的可重写盘上记录信息或由其再现信息的盘驱动器。因此，当测试盘驱动器时，将C-1盘201上的物理缺陷用作已知信息。另外，设计C-1盘201使之满足在“可重写盘DVD规范2.O版(DVDSpecificationforRewritableDiscVersion2.0)”中所规定的容量为4.7千兆字节的相位变化记录DVD-RAM的条件。DMA镜像文件提供器203提供作为测试基准信息的测试基准DMA镜像文件，该测试基准信息包括如图1所示的盘定义结构(DDS)信息、主缺陷列表(PDL)信息和次缺陷列表(SDL)信息，并满足辅助备用区(SSA)为不满的条件。具体地讲，DMA镜像文件提供器203提供测试基准DMA镜像文件，该镜像文件被配置成各种缺陷均包含在PDL中。换言之，测试基准DMA镜像文件具有PDL，该PDL包含具有有关由盘制造商定义的缺陷扇区信息的P列表、有关在盘认证期间检测到的有缺陷扇区的信息的G1列表、和有关不认证地偏移到SDL的有缺陷扇区的信息的G2列表。为了提高测试效果，当待测试驱动器209进行再初始化时，提供测试基准DMA镜像文件，该镜像文件包括有关在差错出现概率最高的特定位置上的缺陷的信息。换言之，为了满足由“可重写盘DVD规范，部分1，物理规范版本2.O(DVDSpecificationsforRewritableDiscPart1PhysicalSpecificationsVersion2.0)”提出的算法的所有情况，将测试基准DMA镜像文件配置成包括有关集中在位于应定位第一逻辑扇区处的物理扇区周围的缺陷的信息。另外，测试基准DMA镜像文件的特征在于每个区域的第一和最后扇区被认作是错误的，并且设置有缺陷扇区使得每个区域中的可用扇区总数是16的倍数。镜像文件具有相同内容作为实际文件，但是却位于与实际文件的物理位置不同的位置上。基准驱动器205是改进的测试驱动器，用于测试能够在盘上记录信息或从该盘再现信息的设备。当将C-1盘201加载到基准驱动器205并且从DMA镜像文件提供器203提供测试基准DMA镜像文件时，基准驱动器205在C-1盘201上记录测试基准DMA镜像文件，以产生C-2盘207。测试基准DMA镜像文件被记录到C-1盘201上，而不管C-1盘201上的物理缺陷如何。因此，C-2盘207包括C-1盘201的物理缺陷和与物理缺陷无关的测试基准DMA镜像文件信息。与C-1盘201类似，C-2盘207满足容量为4.7千兆字节的相位变化记录DVD-RAM的条件。当将在进行认证情况下被再初始化的C-2’盘211加载到基准驱动器205中时，基淮驱动器205立即读取记录在C-2’盘211上的DMA信息，并根据DMA信息输出C-2，盘DMA镜像文件213，作为测试信息。该测试信息可以是C-2’盘DMA镜像文件213的一部分。待测试驱动器209是能够在可重新盘上记录信息和从该盘再现信息的记录和再现设备。当将C-2盘207加载到待测试驱动器209中时，待测试驱动器209在进行认证情况下执行再初始化，从而产生或更新C-2盘207中所包含的DMA信息。换言之，考虑到C-1盘201上的物理缺陷，当待测试驱动器209通过认证对C-2盘207进行再初始化时，包含在C-2盘207中的测试基准DMA信息采用DMA更新，或者产生新的DMA信息。因此，当将C-2盘207加载到待测试驱动器209中时，待测试驱动器209产生包含所产生或更新的DMA信息的C-2’盘211。C-2’盘211被加载到基准驱动器205中，因此，基于记录在C-2’盘211上的DMA信息的C-2’盘DMA镜像文件213可作为测试信息输出。来自基准驱动器205的测试信息被提供给检验器215。在提供测试信息时，基准驱动器205可立即将测试信息提供给检验器215。检验器215使用当待测试驱动器209在进行认证情况下进行再初始化期间正常地读取和更新C-2盘207的DMA时所期望获得的基准信息，来检验C-2’盘DMA镜像文件213。基准信息可由检验器215根据从DMA镜像文件提供器203提供的测试基准DMA镜像文件和先前提供的C-1盘201中所包含的物理缺陷信息来设置。另外，如图4A至4D所示，DMA信息表可以是先前准备和使用的。图4A表示检验器215所能包括的用于DMA检验的检查表。该列表的检查项目包括DMA1至DMA4的差错条件、DDS1至DDS4中及SDL1至SDL4中的DDS/PDL更新计数器、SDL1至SDL4中的SDL更新计数器、以及DMA1至DMA4中的内容。DMA项目中的差错条件用于检查DMA中是否存在差错，其中的两个位于导入区，另两个位于导出区。在DMA1、DMA2、DMA3和DMA这4个DMA中不能存在不能纠正的差错。如果在任意一个DMA中存在任何不能纠正的差错，则输出测试结果，以通知用户待测试驱动器209未能产生或更新C-2盘207的DMA。当DMA的产生或更新以失败告终时，用户需要采用另一测试盘从头重新测试。为了在进行认证的情况下进行再初始化时检验DDS/PDL和SDL更新计数器项目，检查表示4个DDS，即DDS1、DDS2、DDS3和DDS4，及4个SDL，即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中DDS/PDL更新计数器值的“M+k”值，以查看值“M”是否为先前值和值“k”是否为“1”，因为当更新或重写DDS/PDL时每个DDS/PDL更新计数器值递增1。“先前值”是指待测试驱动器209在进行认证的情况下进行再初始化之前的“M”值。还检查4个DMA，即，DMA1、DMA2、DMA3和DMA中的8个DDS/PDL更新计数器的值是否相同。检查表示4个SDL，即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中SDL更新计数器值的“N+k”值，以查看值“N”是否为先前值以及值“k”是否为“2”，因为当更新或重写SDL时每个SDL更新计数器值递增1。“先前值”是指待测试驱动器209在进行认证情况下执行再初始化之前的“N”值。还检查4个SDL更新计数器的值是否相同。另外，还检查4个DMA，即，DMA1、DMA2、DMA3和DMA的内容是否相同。图4B表示检验器215所能包括的用于DDS的检验的检查表。该列表的检查项目包括DDS标识符、盘认证标记、DDS/PDL更新计数器、组数、区域数、主备用区位置、第一逻辑扇区号(LSN0)位置、每个区域的开始LSN等。验证DDS标识符为“0A0Ah”。检查盘认证标记的一个字节中表示是否在进程中的比特位置b7的值是否为“0b”。如果比特位置b7的值为“0b”，则表明正在进行格式化。因此，当比特位置b7的值为“1b”时，检验器215确定格式化失败。此外，检查盘认证标记中保留的比特位置b6至b2是否全部为“0b”，并检查表示用户认证标记的比特位置b1的值是否为“1b”。还检查表示盘制造商认证标记的比特位置b0的值是否为“1b”。为了检验相应的DDS/PDL更新计数器，检查表示DDS/PDL更新计数器值的值M是否为先前值，并且表示DDS/PDL更新计数器增量的值k是否为“2”，该增量表示DDS/PDL更新计数器“M”在测试前和测试后的差值。还检查组数的值是否为表示组数为1的“0001h”，并且区域数的值是否为表示区域数为35的“0023h”。另外，检查主备用区中第一扇区号是否为“031000h”和主备用区中最后的扇区号是否为“0341FFh”。检查是否根据在PDL中登记的缺陷数来确定每个区域的开始LSN(LSN0)，即第二区域(区域1)至第35区域(区域34)的开始LSN的位置。在PDL中登记的缺陷覆盖C-1盘201上的物理缺陷和从DMA镜像文件提供器203提供的测试基准DMA镜像文件的PDL中登记的缺陷。检查DDS结构中剩余的保留区域(字节位置396至2047)是否全部为“00h”。如图4C所示，用于检验PDL结构的检查项目包括PDL标识符、PDL中项目数、PDL项目的完整性(integrity)、和未使用区域。检查PDL标识符是否为“0001h”。PDL中的项目数是C-1盘201上物理缺陷数与从DMA镜像文件提供器203提供的测试基准DMA镜像文件的PDL中登记的缺陷数之和。为了检验每个PDL项目的完整性，检查项目的类型和有缺陷的扇区号。检查PDL项目类型是否被设置成表示C-2盘207上存在的已知的P列表的“00b”、和设置成表示在用户认证期间出现的有缺陷扇区的G1列表的“10b”。另外，还检查PDL中有缺陷的扇区号是否以递增顺序写入。当检查PDL中的项目类型时，不栓查G2列表，因为，如果待测试驱动器209在进行认证情况下执行再初始化，如图5所示，则保持C-2盘207的DMA中老PDL510中的P列表511而去除G1列表513和G2列表515，并且产生具有新PDL530的C-2’盘211，新PDL530具有其中登记了通过认证从C-2盘207检测到的缺陷的G1列表533。G1列表533应包含有关C-1盘201上所有有缺陷扇区的信息，以确定待测试驱动器209是否正常地认证在C-1盘201上人为地制作的有缺陷扇区。另外，检查未使用区域是否被设置成“FFh”。如图4D所示，用于验证SDL结构的检查项目包括SDL标识符、SDL更新计数器、次备用区(SSA)的开始扇区号、逻辑扇区总数、DDS/PDL更新计数器、备用区满标记、SDL中的项目数、SDL项目的完整性、未使用区域、保留区域等。检查SDL标识符是否为“0002h”。为了检验相应的SDL更新计数器的项目，检查表示SDL更新计数器值的值N是否为先前值，并且表示SDL更新计数器增量的值k是否为“2”，该增量表示SDL更新计数器“N”在测试前和测试后的差值。为了检验相应的DDS/PDL更新计数器的项目，检查表示DDS/PDL更新计数器值的值M是否为先前值，并且表示DDS/PDL更新计数器增量的值k是否为“2”。检查备用区满标记是否表示次备用区为不满，并且检查SDL中的项目数是否被设置成“00h”，该值是通常表示什么都没有的值。此外，由于SDL的总使用区域是已知的，因此，如果检查SDL中的项目数，则可确定SDL未使用区域的尺寸。因此，检查C-2’盘DMA镜像文件213的未使用区域的尺寸是否等于SDL未使用区域的尺寸，后者是根据SDL中的项目数得知的，还检查未使用区域是否被设置成“FFh”。另外，还检查所有保留区域的期望值是否为“00h”。这是因为，当待测试驱动器209在进行认证的情况下执行再初始化时，去除C-2盘207中存在的老的SDL520，如图5所示。当通过认证从C-2盘207上检测到的缺陷溢出指定给G1列表533的区域时，在C-2’盘211的新SDL540中登记超出的缺陷。因此，当检测到的缺陷溢出G1列表533时，需要检查SDL项目的完整性是否包括G1列表的项目类型的缺陷信息。通过将如图4A至4D所示设置的基准信息与包含在C-2’盘DMA镜像文件213中的信息相比较，检验器215检验在进行认证情况下执行再初始化期间待测试驱动器209是否正常地产生或更新了C-2盘207的DMA。在通过认证执行再初始化的模式下，将检验结果作为测试待测试驱动器209的结果输出。可显示结果以供用户观看。为此，本发明可包括显示单元。因此，在通过认证执行再初始化的模式下，可通知用户待测试驱动器209是否正常地从盘读出了DMA信息并且产生或更新了DMA。图6是本发明1的检验方法的流程图。在步骤601，通过在满足图2所示条件的C-1盘201上记录满足图2所示条件的测试基准DMA镜像文件，产生C-2盘207。接下来，在步骤602，将C-2盘207加载到待测试驱动器209，并对C-2盘207在进行认证的情况下执行再初始化。在步骤S603，从再初始化的C-2’盘211中读出DMA信息，并根据该DMA信息来产生C-2’盘DMA镜像文件213。C-2’盘DMA镜像文件213用作测试信息。此时，可提取C-2’盘DMA镜像文件213的一部分作为测试信息，如图2所示。在步骤S604，检验C-2’盘DMA镜像文件213。该检验是以由图2所示检验器215执行的相同的方式采用所期望的基准信息(或期望值)来执行的。在完成检验之后，在步骤605输出检验结果，从而用户能够评估待测试驱动器209的DMA产生或更新功能。图7表示的待测试驱动器110具有用于发出光的光源22、用于将来自光源的光聚焦到盘D时的聚焦部件24、和用于控制光源22的控制器26。上述检验处理试图检验控制器26的适当操作。如上所述，本发明在待测试驱动器中对C-2盘在进行认证的情况下执行再初始化，其中C-2盘采用具有已知的物理缺陷的C-1盘和测试基准DMA镜像文件产生的，其中，PDL包括P列表、G1列表和G2列表等所有类型的缺陷。检验在进行认证情况下执行再初始化后所得到的基于C-2’盘DMA镜像文件的测试信息，以得到对待测试驱动器的DMA读取和记录功能的测试结果。因此，能够方便地测试能够在盘上记录信息和从该盘再现信息的驱动器的DMA产生或更新功能。当执行再初始化时，本发明采用满足具有最高差错出现概率的条件的测试基准DMA镜像文件，从而执行满足由“可重写盘DVD规范，部分1，物理规范版本2.0(DVDSpecificationsforRewritableDiscPart1PhysicalSpecificationsVersion2.0)”提出的算法的所有情况的检验和测试。另外，用户自己就可采用测试基准DMA镜像文件生成其中PDL包括P列表、G1列表和G2列表的C-2盘，从而由于不需制造商生产和提供测试盘作为C-2盘而降低成本。用户可采用基准驱动器205、DMA镜像文件提供器203和C-1盘201来生成C-2盘。尽管已图示和描述了本发明的几个优选实施例，但是，本领域内的普通技术人员可在不背离本发明原理和宗旨的前提下对实施例进行修改，本发明的范围由其权利要求书和其等同物限定。权利要求1.一种用于检验在具有缺陷管理区域(DMA)信息的盘上记录信息或从该盘再现信息的记录和再现设备的产生或更新DMA信息功能的方法，该方法包括下列步骤采用测试基准信息和具有物理缺陷的测试盘，在记录和再现设备中在进行认证的情况下进行再初始化，并在再初始化之后从所产生的DMA信息中产生测试信息；和将从测试基准信息和物理缺陷中得到的基准信息与测试信息相比较，并提供对测试信息的检验结果。2.如权利要求1所述的方法，其中，所述测试盘包括有关满足在进行认证的情况下进行再初始化期间容易出现差错的条件的位置的信息。3.如权利要求1所述的方法，其中测试盘包括被认为是错误的每个区域的第一和最后扇区，并且每个区域中可用扇区的总数是16的倍数。4.如权利要求1所述的方法，其中，在进行认证的情况下进行再初始化时的测试基准信息是镜像文件。5.如权利要求1所述的方法，其中，在进行认证的情况下进行再初始化时的测试基准信息是DMA镜像文件。6.如权利要求1所述的方法，其中，在进行认证的情况下进行再初始化时的测试基准信息是DMA镜像文件，它被配置成在主缺陷列表(PDL)中包含有多种缺陷。7.如权利要求6所述的方法，其中，当在记录和再现设备中对测试盘正常地在进行认证的情况下进行再初始化时，根据DMA镜像文件和物理缺陷信息设置在进行比较时期望的基准信息。8.如权利要求6所述的方法，其中，所述PDL包括P1列表、G1列表和G2列表，所述P列表包括有关有盘制造商定义的缺陷扇区的信息，G1列表包括有关在认证期间检测到的缺陷扇区的信息，所述G2列表包括有关在不进行认证的情况下从DMA镜像文件中的次缺陷列表(SDL)去除的缺陷扇区的信息。9.如权利要求8所述的方法，其中，所述比较步骤包括检查是否从测试信息中删除了包含在DMA镜像文件中的G1列表、G2列表和SDL。10.如权利要求8所述的方法，其中，所述比较步骤包括检查是否保持P列表，是否在G1列表中包括由在测试盘中存在的人为的缺陷扇区，是否不存在SDL项目。11.如权利要求6所述的方法，其中，在进行认证的情况下进行再初始化时产生的测试信息是镜像文件。12.如权利要求11所述的方法，其中所述比较步骤包括检验所述测试信息的DMA的结构；检验所述测试信息的盘定义结构(DDS)；检验所述测试信息的主缺陷列表(PDL)结构；和检验所述测试信息的次缺陷列表(SDL)结构。13.如权利要求12所述的方法，其中所述检验DMA结构的步骤包括检查DMA差错条件、DDS/PDL和SDL更新计数器、和DMA的内容。14.如权利要求13所述的方法，其中，检验DMA差错条件的步骤包括检查4个DMA，即写入测试盘4个位置的DMA中的任意一个中是否存在差错，其中的两个位于测试盘导入区，而另两个位于导出区；检查DDS/PDL更新计数器的步骤包括检查4个DDS中和4个SDL中的DDS/PDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示DDS/PDL更新计数器在进行认证情况下执行再初始化之前和之后的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否为“2”，并且DDS/PDL更新计数器的值是否相同；检查SDL更新计数器的步骤包括检查4个SDL中SDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示SDL更新计数器在进行认证情况下执行再初始化之前和之后的差值的SDL更新计数器增量是否为“2”，并且SDL更新计数器的值是否相同；和检查DMA的内容的步骤包括检查4个DMA的内容是否相同。15.如权利要求12所述的方法，其中所述检验DDS的步骤包括检查DDS标识符、盘认证标记、DDS/PDL更新计数器、组数、区域数、主备用区位置、第一逻辑扇区号的位置、和每个区域的开始逻辑扇区号。16.如权利要求15所述的方法，其中检查DDS的步骤包括检查DDS标识符是否为预定值；检查盘认证标记的步骤包括检查盘认证标记中表示在进程中的比特的值是否为“0b”，并且表示盘制造商认证的比特的值和表示用户认证的比特的值是否为“1b”检查DDS/PDL更新计数器的步骤包括检查DDS/PDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示DDS/PDL更新计数器在进行认证的情况下执行再初始化之前和之后的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否为“2”；检查组数的步骤包括检查组数是否为预定值；检查区域数的步骤包括检查区域数是否为预定值；检查主备用区位置的步骤包括分别检查主备用区的第一和最后扇区号是否为预定的扇区号；检查第一逻辑扇区号的步骤包括检查是否根据PDL中登记的缺陷数来确定第一逻辑扇区号的位置；和检查开始逻辑扇区号的步骤包括检查是否根据PDL中登记的缺陷数来确定每个区域的开始逻辑扇区号。17.如权利要求12所述的方法，其中检验PDL结构的步骤包括检查PDL标识符、PDL中的项目数、和PDL项目的完整性。18.如权利要求17所述的方法，其中检查PDL标识符的步骤包括检查PDL标识符是否为预定值；检查项目数的步骤包括检查PDL中的项目数是否与PDL中登记的缺陷数相同；和检查PDL项目的完整性的步骤包括检查PDL项目的完整性是否包括测试盘上DMA中的P1列表、在用户认证期间检测到的缺陷的G1列表。19.如权利要求12所述的方法，其中所述检验SDL结构的步骤包括检查SDL标识符、SDL更新计数器、次备用区(SSA)的开始扇区号、逻辑扇区总数、DDS/PDL更新计数器、备用区满标记、SDL中的项目数、SDL项目的完整性、未使用区域、和保留区域。20.如权利要求19所述的方法，其中，检查SDL标识符的步骤包括检查SDL标识符是否为预定值；检查SDL更新计数器的步骤包括检查SDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示SDL更新计数器在进行认证情况下执行再初始化之前和之后的差值的SDL更新计数器增量是否为“2”；检查DDS/PDL更新计数器的步骤包括检查DDS/PDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示DDS/PDL更新计数器在进行认证情况下执行再初始化之前和之后的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否为“2”；检查SSA的开始扇区号和逻辑扇区的总数的步骤包括检查是否根据由用户指定的SSA的尺寸适当地设置了SSA的开始扇区号和逻辑扇区的总数；检查备用区满标记、SDL的项目数和SDL项目的完整性的步骤包括检查备用区满标记是否表示SSA为不满，SDL中的项目数是否被设置成表示不存在项目的“00h”，以及是否不存在有关SDL的信息；和检查未使用区域和保留区域的步骤包括检查SDL的未使用区域的尺寸，并检查未使用区域是否为预定值，以及保留区域是否为预定值。21.如权利要求19所述的方法，其中，检查SDL标识符的步骤包括检查SDL标识符是否为预定值；检查SDL更新计数器的步骤包括检查SDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示SDL更新计数器在进行认证情况下执行再初始化之前和之后的差值的SDL更新计数器增量是否为“2”；检查DDS/PDL更新计数器的步骤包括检查DDS/PDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示DDS/PDL更新计数器在进行认证情况下执行再初始化之前和之后的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否为“2”；检查SSA的开始扇区号和逻辑扇区的总数的步骤包括检查是否根据由用户指定的次备用区(SSA)的尺寸适当地设置了SSA的开始扇区号和逻辑扇区的总数；检查备用区满标记、SDL的项目数和SDL项目的完整性的步骤包括检查备用区满标记是否表示SSA为不满，并且是否当在认证期间检测到的缺陷溢出指定到PDL的G1列表的区域时在SDL中登记了G1列表；和检查未使用区域和保留区域的步骤包括检查SDL的未使用区域的尺寸，并检查未使用区域是否为预定值，以及保留区域是否为预定值。22.如权利要求1所述的方法，还包括将测试基准信息记录到具有物理缺陷的盘，而不管物理缺陷如何，以产生测试盘。23.如权利要求1所述的方法，其中，所述产生测试信息的步骤包括从在进行认证的情况下再初始化的测试盘上的DMA中直接读取测试信息。24.如权利要求1所述的方法，还包括显示检验结果作为测试记录和再现设备的DMA产生或更新功能的结果。25.一种用于测试在具有缺陷管理信息(DMA)信息的盘上记录信息或从这种盘再现信息的记录和再现设备的DMA信息产生或更新功能的设备。该设备包括基准驱动器，用于在记录和再现设备对测试盘在进行认证情况下执行再初始化之后，从具有测试基准信息和物理缺陷的测试盘的DMA产生测试信息和检验器，用于将从测试基准信息和物理缺陷中得到的基准信息与测试信息相比较，并提供检验测试信息。26.如权利要求25所述的设备，其中所述测试基准信息是DMA镜像文件。27.如权利要求25所述的设备，其中，所述基准驱动器将测试基准信息记录到具有物理缺陷的盘，而不管物理缺陷如何，以产生测试盘。28.如权利要求25所述的设备，其中，所述测试盘包括有关满足当记录和再现设备进行再初始化期间容易出现差错的条件的位置的缺陷信息。29.如权利要求28所述的设备，其中，所述测试盘包括被认为是错误的每个区域的第一和最后扇区，并且每个区域中可用扇区的总数不是16的倍数。30.如权利要求25所述的设备，其中，所述测试基准信息是DMA镜像文件，其中在主缺陷列表(PDL)中包含有多种缺陷。31.如权利要求30所述的设备，其中，所述PDL包括P1列表、G1列表和G2列表，所述P列表包括有关有盘制造商定义的缺陷扇区的信息，G1列表包括有关在认证期间检测到的缺陷扇区的信息，所述G2列表包括有关在不进行认证的情况下从DMA镜像文件中的次缺陷列表(SDL)去除的缺陷扇区的信息。32.如权利要求31所述的设备，其中，所述检验器检查是否从测试信息中去除了包含在测试基准信息中的G1列表、G2列表和SDL。33.如权利要求31所述的设备，其中，所述检验器检查在已被再初始化的测试盘上的DMA的G2列表中是否包括存在于测试盘上的物理缺陷和人为缺陷。34.如权利要求30所述的设备，其中，由所述基准驱动器产生的测试信息是镜像文件。35.如权利要求34所述的设备，其中，所述检验器检验测试信息中的DMA的结构、盘定义结构(DDS)、主缺陷列表(PDL)结构、和次缺陷列表(SDL)结构。36.如权利要求35所述的设备，其中，所述检验器通过检查DMA差错条件、DDS/PDL和SDL更新计数器、和DMA的内容，来检验DMA结构。37.如权利要求36所述的设备，其中，所述检验器检查4个DMA，即写入测试盘4个位置的DMA中的任意一个中是否存在差错，其中的两个位于测试盘导入区，而另两个位于导出区，4个DDS中和4个SDL中的DDS/PDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示DDS/PDL更新计数器在进行认证情况下执行再初始化之前和之后的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否为“2”，DDS/PDL更新计数器的值是否相同，4个SDL中SDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示SDL更新计数器在进行认证情况下执行再初始化之前和之后的差值的SDL更新计数器增量是否为“2”,SDL更新计数器的值是否相同，以及4个DMA的内容是否相同。38.如权利要求35所述的设备，其中，通过检查DDS标识符、盘认证标记、DDS/PDL更新计数器、组数、区域数、主备用区位置、第一逻辑扇区号的位置、和每个区域的开始逻辑扇区号，所述检验器具有DDS。39.如权利要求38所述的设备，其中，所述检验器检查DDS标识符是否为预定值，检查盘认证标记中表示在进程中的比特的值是否为“0b”，表示盘制造商认证的比特的值和表示用户认证的比特的值是否为“1b”，DDS/PDL更新计数器的值是否为“先前值”，DDS/PDL更新计数器增量是否为“2”，检查组数、区域数、及主备用区的第一和最后扇区号，检查是否根据PDL中登记的缺陷数来确定第一逻辑扇区号的位置，和是否根据PDL中登记的缺陷数来确定每个区域的开始逻辑扇区号。40.如权利要求35所述的设备，其中，所述检验器通过检查PDL标识符、PDL中的项目数、和PDL项目的完整性，来检验PDL结构。41.如权利要求40所述的设备，其中，所述检验器通过检查PDL标识符来检验PDL结构，并且检查PDL中的项目数是否与PDL中登记的缺陷数相同，和PDL项目的完整性是否包括测试盘上DMA中的P列表和在用户认证期间检测到的缺陷的G1列表。42.如权利要求35所述的设备，其中，所述检验器通过检查SDL标识符、SDL更新计数器、次备用区(SSA)的开始扇区号、逻辑扇区总数、DDS/PDL更新计数器、备用区满标记、SDL中的项目数、SDL项目的完整性、未使用区域、和保留区域，来检验SDL结构。43.如权利要求42所述的设备，其中，所述检验器检查SDL标识符是否为预定值，并检查SDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示SDL更新计数器在进行认证情况下执行再初始化之前和之后的差值的SDL更新计数器增量是否为“2”,DDS/PDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示DDS/PDL更新计数器在进行认证情况下执行再初始化之前和之后的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否为“2”，是否根据由用户指定的SSA的尺寸适当地设置了SSA的开始扇区号和逻辑扇区的总数，备用区满标记是否表示次器备用区为不满，SDL中的项目数是否被设置成表示不存在项目的“00h”，是否不存在有关SDL项目的信息，检查SDL的未使用区域的尺寸，未使用区域是否为预定值，以及保留区域是否为预定值。44.如权利要求42所述的设备，其中，通过检查SDL标识符，并检查SDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示SDL更新计数器在进行认证情况下执行再初始化之前和之后的差值的SDL更新计数器增量是否为“2”，DDS/PDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示DDS/PDL更新计数器在进行认证情况下执行再初始化之前和之后的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否为“2”，是否根据由用户指定的SSA的尺寸适当地设置了SSA的开始扇区号和逻辑扇区的总数，备用区满标记设备是否表示SSA为不满，是否当在认证期间检测到的缺陷溢出指定到PDL的G1列表的区域时在SDL中登记了G1列表，检查SDL的未使用区域的尺寸，未使用区域是否为预定值，以及保留区域是否为预定值，所述检验器检验SDL结构。45.如权利要求25所述的设备，其中，所述基准驱动器从在进行认证的情况下再初始化的测试盘上的DMA中直接读取测试信息。46.如权利要求25所述的设备，其中，还包括显示器，用于显示检验结果作为测试记录和再现设备的DMA产生或更新功能的结果。47.一种用于检验在具有缺陷管理区域(DMA)信息的光盘上记录信息或从该盘再现信息的记录和再现设备中是否适当地产生或更新DMA信息的方法，该方法包括下列步骤根据在进行认证情况下执行再初始化的测试模式，来设置测试基准；根据在进行认证情况下执行再初始化的测试模式，来从DMA信息中产生测试信息，所述DMA信息是由所述记录和再现设备产生或更新的；和在再初始化的测试模式下，采用测试基准来执行用于检验测试信息的测试。48.如权利要求47所述的方法，其中所述测试信息是DMA镜像文件。49.如权利要求47所述的方法，其中所述测试信息是直接从被用于测试的盘上的DMA区域读取的。50.如权利要求47所述的方法，其中产生测试信息的步骤包括记录DMA的预先确定的内容，并选择其中辅助备用区不满的DMA镜像文件。51.如权利要求50所述的方法，还包括通过在空白盘上形成已知的物理缺陷，来得到第一测试盘；和通过在第一测试盘上记录DMA的预先确定的内容，和在第一测试盘中记录表示辅助备用区不满的镜像文件，来得到第二测试盘，并且在产生测试信息时采用第二测试盘。52.如权利要求51所述的方法，其中，执行测试的步骤包括通过在进行认证的情况下执行再初始化，检查第二测试盘的DMA信息是否与预定DMA结构相一致，检查是否保持P列表，检查与第一测试盘的已知缺陷相同的缺陷列表，并检查第二测试盘每个区域的开始逻辑扇区号53.一种用于检验在具有缺陷管理区域(DMA)信息信息的光盘上记录信息或从该盘再现信息的记录和再现设备中是否适当地产生或更新DMA的方法，该方法包括下列步骤根据在进行认证情况下执行再初始化的测试模式，来从DMA信息中产生测试信息，所述DMA信息是由所述记录和再现设备产生或更新的；和采用用于检验DMA信息的测试基准来检验测试信息。54.如权利要求53所述的方法，其中所述测试信息是DMA镜像文件。55.一种用于测试在具有缺陷管理区域(DMA)信息的可记录和可再现光盘上记录信息或从该盘再现信息的记录和再现设备以检查DMA信息是否被适当地产生或更新的设备，包括改进的驱动器单元，用于从测试盘的产生或更新的DMA信息中产生测试信息，它是在记录和再现设备相应于在进行认证情况下执行的再初始化对具有DMA镜像文件的测试盘在进行认证情况下执行再初始化后得到的；和检验器，用于相应于在进行认证情况下执行的再初始化将测试信息与预定的测试信息相比较，以检验测试结果。56.如权利要求55所述的设备，其中所述测试信息是DMA镜像文件。57.如权利要求55所述的设备，其中所述改进的驱动单元从测试盘上的DMA区域读取测试信息，并将该测试信息提供给检验器。58.如权利要求57所述的设备，其中测试盘是在第一测试盘上记录有DMA的预先确定的内容的第二测试盘，第一测试盘是通过在空白盘上形成已知的物理缺陷而得到的，在第一测试盘中记录有其辅助备用区不满的镜像文件。59.如权利要求58所述的设备，其中所述检验器检查第二测试盘的DMA信息是否与预定的DMA结构相一致，并且是否保持P列表，并检查与已知缺陷相同的缺陷列表和第二测试盘的每个区域的开始逻辑扇区号。60.一种检验记录和再现设备是否适当地读取和处理缺陷管理区(DMA)信息的方法，包括下列步骤采用再现和记录设备，对包含预定缺陷信息的测试盘在进行认证情况下执行再初始化，以产生测试信息；和将测试信息与基准测试信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。61.如权利要求60所述的方法，还包括得知空白盘中预定位置上的物理缺陷，以产生第一测试盘；通过在第一测试盘中记录DMA的预先确定的内容，和在第一测试盘中记录表示辅助备用区为不满的镜像文件，得到第二测试盘；使记录和再现设备对第二测试盘在进行认证地的情况下执行再初始化，以产生具有DMA信息的第二测试盘；和采用基准驱动器从具有DMA信息的第二测试盘仅读取DMA信息，以产生测试DMA镜像文件作为测试信息，其中，基准测试信息是基准DMA镜像文件。62.如权利要求61所述的方法，其中所述比较步骤包括检查第二测试盘的DMA信息是否与预定的DMA结构相一致，检查是否保持P列表，并检查与第一测试盘的已知缺陷相同的缺陷列表和第二测试盘的每个区域的开始逻辑扇区号。63.一种检验记录和再现设备是否适当地翻译和处理缺陷信息的方法，包括下列步骤准备具有已知的物理缺陷和测试基准DMA镜像文件的测试盘；通过使记录和再现设备对测试盘在进行认证的情况下执行再初始化，来产生测试信息和对测试信息进行检验测试。64.如权利要求63所述的方法，其中所述测试基准DMA镜像文件包括有关集中在位于第一逻辑扇区应所在的地方的物理扇区周围的缺陷的信息。65.如权利要求64所述的方法，其中所述测试基准DMA镜像文件包括被认为是错误的每个区域的第一和最后扇区，有缺陷扇区如下设置，即，使得每个区域的可用扇区总数不是16的倍数。66.一种检验记录和再现设备是否适当地读取和处理缺陷管理区(DMA)信息的方法，包括下列步骤采用记录和再现设备对具有已知的物理缺陷和测试基准DMA镜像文件的测试盘采用在进行认证的情况下执行再初始化，以产生DMA信息；根据所测试的DMA信息产生测试信息；和将测试信息与基准测试信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。67.如权利要求66所述的方法，其中所述测试基准DMA镜像文件包括有关集中在位于第一逻辑扇区应所在的地方的物理扇区周围的缺陷的信息。68.如权利要求67所述的方法，其中所述测试基准DMA镜像文件包括被认为是错误的每个区域的第一和最后扇区，有缺陷扇区如下设置，即，使得每个区域的可用扇区总数不是16的倍数。69.如权利要求64所述的方法，其中所述比较步骤包括检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构、和DMA的次列表(SDL)结构。70.一种由记录和再现设备采用下列处理步骤适当地产生的DMA信息，该处理步骤包括采用记录和再现设备对具有已知的物理缺陷和测试基准DMA镜像文件的测试盘在进行认证的情况下执行再初始化，以产生DMA信息根据所产生的DMA信息产生测试信息；和将测试信息与基准测试信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。71.如权利要求70所述的DMA信息，其中所述测试基准DMA镜像文件包括有关集中在位于第一逻辑扇区应所在的地方的物理扇区周围的缺陷的信息。72.如权利要求71所述的DMA信息，其中所述测试基准DMA镜像文件包括被认为是错误的每个区域的第一和最后扇区，有缺陷扇区如下设置，即，使得每个区域的可用扇区总数不是16的倍数。73.如权利要求72所述的DMA信息，其中所述比较步骤包括检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构、和DMA的次列表(SDL)结构。74.一种按照下列处理步骤检验的记录和再现设备，该处理步骤包括采用记录和再现设备对具有已知的物理缺陷和测试基准DMA镜像文件的测试盘在进行认证的情况下执行再初始化，以产生DMA信息；根据所产生的DMA信息产生测试信息；和将测试信息与基准测试信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。75.如权利要求74所述的记录和再现设备，其中所述测试基准DMA镜像文件包括有关集中在位于第一逻辑扇区应所在的地方的物理扇区周围的缺陷的信息。76.如权利要求75所述的记录和再现设备，其中所述测试基准DMA镜像文件包括被认为是错误的每个区域的第一和最后扇区，有缺陷扇区如下设置，即，使得每个区域的可用扇区总数不是16的倍数。77.如权利要求74所述的记录和再现设备，其中所述比较步骤包括检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构、和DMA的次列表(SDL)结构。78.一种采用下列处理步骤检验的记录和再现设备，该处理步骤包括采用记录和再现设备对具有已知的物理缺陷和测试基准DMA镜像文件的测试盘在进行认证的情况下执行再初始化，以产生DMA信息；将测试信息与基准测试信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。79.如权利要求78所述的记录和再现设备，其中所述测试基准DMA镜像文件包括有关集中在位于第一逻辑扇区应所在的地方的物理扇区周围的缺陷的信息。80.如权利要求79所述的记录和再现设备，其中所述测试基准DMA镜像文件包括被认为是错误的每个区域的第一和最后扇区，有缺陷扇区如下设置，即，使得每个区域的可用扇区总数不是16的倍数。81.如权利要求78所述的记录和再现设备，其中所述比较步骤包括检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构、和DMA的次列表(SDL)结构。82.一种用于测试在具有缺陷管理区域信息的可记录和可再现光盘上记录信息或从该盘再现信息的记录和再现设备以检查DMA信息是否被适当地产生的设备，包括改进的驱动器，用于采用记录和再现设备，根据再现装置通过对包含已知的物理缺陷和测试基准DMA镜像文件的测试盘在进行认证的情况下执行再初始化而产生的测试盘的DMA信息，来产生测试信息，以产生DMA信息；和检验器，用于将测试信息与基准测试信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。83.如权利要求82所述的设备，其中改进的驱动器仅从具有DMA信息的测试盘读取DMA信息，以产生DMA镜像文件作为测试信息，其中，基准测试信息是基准DMA镜像文件。84.如权利要求82所述的设备，其中，通过在具有已知的物理缺陷的第一测试盘上记录DMA的预先确定的内容，并且在第一测试盘上记录表示辅助备用区为不满的测试基准DMA镜像文件，改进的驱动器产生第二测试盘；所述记录和再现设备对第二测试盘在进行认证的情况下执行再初始化，以产生具有DMA信息的第二测试盘；和所述改进的驱动器仅从具有DMA信息的测试盘读取DMA信息，以产生DMA镜像文件作为测试信息，其中，基准测试信息是基准DMA镜像文件。85.如权利要求84所述的设备，其中所述检验器检查第二测试盘的DMA信息是否与预定的DMA结构相一致，检查是否保持P列表，并检查与第一测试盘的已知缺陷相同的缺陷列表和第二测试盘的每个区域的开始逻辑扇区号。86.如权利要求82所述的设备，其中通过检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构和次列表(SDL)结构，所述检验器比较测试信息和基淮测试信息。87.如权利要求82所述的设备，其中所述测试基准DMA镜像文件包括有关集中在位于第一逻辑扇区应所在的地方的物理扇区周围的缺陷的信息。88.如权利要求87所述的记录和再现设备，其中所述测试基准DMA镜像文件包括被认为是错误的每个区域的第一和最后扇区，有缺陷扇区如下设置，即，使得每个区域的可用扇区总数不是16的倍数。89.如权利要求55所述的设备，还包括DMA镜像文件提供器，其向检验器提供基准测试信息，以比较测试信息和基准测试信息。90.如权利要求74所述的设备，还包括DMA镜像文件提供器，其向检验器提供基准测试信息，以比较DMA镜像文件和基准DMA镜像文件。91.一种制造相一致的记录和再现设备的方法，包括下列步骤制造更新和产生缺陷管理区(DMA)信息的未认证的记录和再现设备；和检验所述未认证的记录和再现设备是否与标准相一致，所述检验步骤包括采用记录和再现设备，对包含预定缺陷信息和测试基准DMA镜像文件的测试盘在进行认证的情况下执行再初始化，以产生测试信息；和将测试信息与基准测试信息相比较，以确定记录和再现设备的检验，所述检验表示所述未认证的记录和再现设备是否与标准相一致。92.如权利要求91所述的方法，其中所述比较步骤包括检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构和次列表(SDL)结构。93.一种用于记录和再现光盘上的信息的盘记录和再现设备，包括光源，用于发出光；聚焦部件，用于将光聚焦到光盘上，以记录和再现信息；和控制器，用于控制所述光源，通过如下处理来检验所述控制器以更新和产生缺陷管理区(DMA)信息，即，采用记录和再现设备，对包含预定的缺陷信息和测试基准DMA信息的测试盘在进行认证的情况下执行再初始化，以产生测试信息，和，将测试信息与基准测试信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。94.如权利要求93所述的盘记录和再现设备，其中所述比较包括检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构和次列表(SDL)结构。95.一种用于记录和再现光盘上的信息的盘记录和再现设备，包括光源，用于发出光；聚焦部件，用于将光聚焦到光盘上，以记录和再现信息；和控制器，用于控制所述光源，和在对光盘在进行认证的情况下执行再初始化之后更新和产生缺陷管理区信息，从而缺陷管理区信息与标淮相一致。96.如权利要求95所述的盘记录和再现设备，其中所述控制器检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构和次列表(SDL)结构。97.如权利要求16所述的方法，其中所述检验DDS的步骤还包括检查剩余的保留区域是否具有预定值。98.如权利要求18所述的方法，其中所述检验PDL的步骤还包括检查未使用的区域是否是预定值。全文摘要一种用于检验盘记录和再现设备在进行认证情况下执行再初始化时是否正常地产生或更新缺陷管理区(DMA)信息的方法及采用该方法的测试设备。该方法包括步骤:采用测试基准信息和具有物理缺陷的测试盘,在记录和再现设备中在进行认证的情况下进行再初始化,之后从DMA信息产生测试信息;和将从测试基准信息和物理缺陷中得到的基准信息与测试信息相比较,并提供对测试信息的检验结果。因此,能够容易地判定盘记录和再现设备是否正常地执行了DMA产生或更新功能。文档编号G11B27/00GK1323033SQ0111239公开日2001年11月21日申请日期2001年4月6日优先权日2000年4月8日发明者高祯完,郑铉权申请人:三星电子株式会社