专利名称：小型硬盘的质量检测方法
技术领域：
本发明涉及一种硬盘生产过程中，对小型硬盘的质量检测的方法。
背景技术：
在硬盘的制造过程中，需要测试硬盘的各种性能，如硬盘工作的稳定性、准确性、抗震性等，以保证硬盘的质量，由于技术的复杂性，需要对硬盘性能测试的项目内容非常之多，多达几十项，而且测试的时间也比较长，短的有几个小时，长的达十几个小时，在这些测试中还包括对硬盘的外观的检测。由于测试项目繁多、测试时间冗长，十分容易造成漏检或者是重复检测，这样就可能出现不良产品或者降低了生产效率。因此，有一个完整的质量检测方法是十分必要的
发明内容
本发明的目的在于，提供一种小型硬盘的质量检测方法。该方法可以全面规范小型硬盘的测试过程，不会造成漏检和重复检测，确保小型硬盘的产品质量。
本发明是这样构成的小型硬盘的质量检测方法，该方法包括下述步骤；A、对硬盘进行初测试测试硬盘的集成电路板与基座连接是否良好，并存储一些技术信息(例如产地、生产时间、产品序号、产品型号以及产品的技术指标等信息)；B、对硬盘进行单项指标测试测试磁头是否偏移、伺服系统参数是否符合要求、硬盘的读写是否已达到最优化，以及记录硬盘运行中存在的各种问题；C、对硬盘进行整体测试测试硬盘的读写是否达到标准要求；D、安装标签安装标签前，首先检查标签是否有异常，有划痕；在安装标签时沿着硬盘的机械边缘缓慢贴合，以防止气泡产生；E、外观检测检测硬盘接口有无变形、硬盘整体外观是否达到要求；F、生产系统水平测试在使用状态下，对硬盘再进行读写操作，分别测试硬盘在读、写状态下的功能是否达到要求；G、抽样检测按规定的比例，对经过以上步骤检测的硬盘进行抽样，对抽到的样品重复步骤E和步骤F；H、包装对于通过以上步骤的产品进行外包装、入库。
由于采用了上述方案，本发明全面规范了小型硬盘的测试过程。具有操作步骤清晰、不会漏检或者重复检测等优点，保证了出厂硬盘产品的质量，同时提高了生产效率。
具体实施例方式实施例。小型硬盘的质量检测方法，按以下步骤进行。(A)对硬盘进行初测试，测试硬盘的集成电路板与基座连接是否良好，并存储下重要的信息以及该片硬盘的追踪信息(例如产地、生产时间、产品序号、产品型号以及产品的技术指标等信息)。(B)对硬盘进行单项指标测试，测试磁头是否偏移、伺服系统参数是否符合要求、硬盘的读写是否已达到最优化，以及记录硬盘运行中存在的各种问题。(C)使用硬盘测试系统对硬盘进行整体测试，主要测试硬盘的读写是否达到标准要求。(D)整体测试合格后对硬盘安装标签，首先检查标签是否有异常，有划痕；并且要注意的是，在安装标签时沿着硬盘的机械边缘缓慢贴合，以防止气泡产生。(E)外观检测，主要检测硬盘接口有无变形、硬盘整体外观是否达到要求。(F)再一次对硬盘进行生产系统水平测试，即在使用状态下，对硬盘再进行读、写操作，分别测试硬盘在读、写状态下的功能是否达到要求。(G)进行抽样检测按规定的比例，对经过以上步骤检测的硬盘进行抽样，对抽到的样品重复步骤E和步骤F。(H)最后对于通过以上步骤的产品进行外包装、入库，完成整个测试过程。
权利要求
1.一种小型硬盘的质量检测方法，其特征在于，该方法包括下述步骤；A、对硬盘进行初测试测试硬盘的集成电路板与基座连接是否良好，并存储一些技术信息；B、对硬盘进行单项指标测试测试磁头是否偏移、伺服系统参数是否符合要求、硬盘的读写是否已达到最优化，以及记录硬盘运行中存在的各种问题；C、对硬盘进行整体测试测试硬盘的读写是否达到标准要求；D、安装标签安装标签前，首先检查标签是否有异常，有划痕；在安装标签时沿着硬盘的机械边缘缓慢贴合，以防止气泡产生；E、外观检测检测硬盘接口有无变形、硬盘整体外观是否达到要求；F、生产系统水平测试在使用状态下，对硬盘再进行读写操作，分别测试硬盘在读、写状态下的功能是否达到要求；G、抽样检测按适当的比例，对经过以上步骤检测的硬盘进行抽样，对抽到的样品重复步骤E和步骤F；H、包装对于通过以上步骤的产品进行外包装、入库。
全文摘要
本发明公开了一种小型硬盘的质量检测方法，该方法包括下述步骤；对硬盘进行初测试，对硬盘进行单项指标测试，对硬盘进行整体测试，安装标签，外观检测，生产系统水平测试，抽样检测，包装入库。由于采用了上述方案，本发明全面规范了小型硬盘的测试过程。具有操作步骤清晰、不会漏检或者重复检测等优点，保证了出厂硬盘产品的质量，同时提高了生产效率。
文档编号G11B5/84GK1779791SQ200410155459
公开日2006年5月31日 申请日期2004年11月19日 优先权日2004年11月19日
发明者林奕章, 曾纪光 申请人:贵州南方汇通世华微硬盘有限公司