光记录及再现设备的制作方法

文档序号:6774007阅读:127来源:国知局
专利名称:光记录及再现设备的制作方法
技术领域
本发明涉及一种光记录及再现设备,更具体地说,涉及一种适于在其层方向中布置有多个记录层的光记录介质上记录信息以及从中再现信息时使用的光记录及再现设备。
背景技术
现今,诸如CD(光盘)和DVD(数字多功能盘)之类的各种光记录介质已经商品化并且广泛使用。在这些记录介质中,在诸如CD-R和DVD-R之类的一次写入介质以及诸如CD-RW和DVD-RW之类的可重写介质中,首先执行用于将激光功率设置为最优值的过程(OPC最优写入功率控制),然后执行记录操作。例如,在CD-R或DVD-R中,例如如JP 2002-260230所示,在β方法之后执行功率设置(OPC)。也就是说,在盘上预先设置的功率调整部分以预定功率执行测试写入,以从其再现RF信号(不对称)获得β值。然后,将所获得的β值与盘上所希望的目标β值相互比较,以在记录时设置最优功率。
图13示出了β值的计算方法。如图13所示,通过根据相对于参考电势Iref的不对称幅度值Itop和Ibtm来计算β=(Itop+Ibtm)/(Itop-Ibtm),由此获得β值。
在测试写入时,将激光功率设置为在盘的导入区(lead-in)中预先记录的初始功率或者在驱动侧预先设置为初始值的初始功率。使用该初始功率Pw1来执行测试写入,以获得β值,将所获得的β值与目标值βt相比较,以便获得在下一次测试写入时使用的激光功率Pw2。然后,使用所获得的功率Pw2再次执行测试写入,以再次获得β值。
当执行两次测试写入时,如图14所示,使用功率Pw1和Pw2来执行测试写入。所获得的β1和β2经历线性逼近,并且在逼近线上获得可以给出βt的激光功率。将所获得的激光功率直接设置为最优激光功率,或者验证是否可以将该功率设置为最优激光功率。在验证中,使用该功率再次执行测试写入,并且在再现测试写入的数据时获得误差率。然后,判断该误差率是否小于阈值,并且当该误差率小于阈值时,将该激光功率设置为最优激光功率。此后,以如此设置的最优激光功率来开始记录操作。
然而,在记录操作期间,由于盘或半导体激光器使用环境等的变化,必须调整记录激光功率。例如,在上述CD-R、DVD-R等中使用有机染料作为记录层材料,因此,记录层的反射率根据波长改变而改变。另一方面,在打开之后,半导体激光器的温度随时间增加,因此输出激光束的波长偏移。因此,在诸如CD-R或DVD-R之类具有波长依赖性的记录介质中,基于打开半导体激光器之后波长的变化,来执行动态改变记录功率的过程(R-OPC运行中最优写入功率控制)。
同时,JP 3096239 B公开了一种在记录时根据RF信号来动态改变记录功率的设置值的技术。
图15示出了在记录期间记录信号与检测到的RF信号之间的关系。在图15中,在记录信号间隔部分以再现功率电平的激光束照射记录层,并且在标记部分中激光功率上升到记录功率电平。然而,紧接着记录功率的上升时刻之后,没有标记形成。因此,所获得的反射光数量与利用记录功率电平的激光束照射间隔部分时所获得的数量相同(在该附图中,RF信号根据光的数量确定后文相同)。此后,当随着记录层的温度升高形成标记时,反射光电平(RF信号)相应下降,并且逐渐过渡到标记信息之后的反射电平(RF信号)。
这里,如果得到紧接着记录功率上升时刻之后的反射光电平(在图15中,表示为“间隔电平”)以及标记部分中的反射光电平(在图15中,表示为“标记电平”),则可以计算反射光强度的调制程度,并且可以在记录的同时实时监视记录标记信息的条件。鉴于此,根据JP3096239 B,在记录时从RF信号检测间隔电平和标记电平,并且基于反射光强度的调制程度来调整记录激光功率(R-OPC运行中OPC)。
顺便地,近来已经开发出在一侧布置有多个记录层的盘,并且已经商业化。例如,JP 2003-346348 A公开了一种在一侧布置有两个记录层的DVD-R及其驱动设备。
当一个盘表面上以这种方式布置了多个记录层时,在对每个记录层进行记录操作时必须执行最优激光功率设置过程(OPC)以及功率调整过程(R-OPC)。
然而,在这种情形中,某些信息可能连续记录在第一记录层和第二记录层上。当记录位置从第一记录层移位到第二记录层时,必须调整设置激光功率的方式。在CD-R或DVD-R中,推荐每一层的记录特性应该平衡这样的设计,但是每一层的记录特性不必总是平衡的。当每一层的记录特性不平衡时,如果将第一记录层的最后位置处所应用的激光功率的设置值(由R-OPC确定)在过渡时应用于第二记录层,则记录特性不符合第二记录特性,这可能恶化记录条件。另一方面,在过渡到第二记录层时,可能要采用对第二记录层执行OPC的方法,但是在这种情形中,在从第一记录层向第二记录层过渡时出现时间延迟,这可能导致在过渡时干扰实时数据(例如,视频数据或音频数据)的平稳记录。

发明内容
为了解决上述问题,因此本发明的目的是提供一种即使在记录层之间过渡时也能迅速地及平稳地执行最优功率设置过程的光记录及再现设备。
根据本发明的第一方面,提供了一种光记录及再现设备,用于在沿着层叠方向布置有多个记录层的光记录介质上记录信息,并且从所述光记录介质再现信息,该设备包括激光功率设置装置,用于获得记录层n的激光束最优功率与另一记录层m的激光束最优功率之间的比α,并且当记录位置从所述记录层n过渡到所述记录层m时,将通过基于所述功率比α对过渡之前的激光束功率Pwn执行校正所获得的功率设置为过渡之后的激光束功率Pwm。
根据本发明的第二方面,提供了一种光记录及再现设备,用于在沿着层叠方向布置有多个记录层的光记录介质上记录信息,并且从所述光记录介质再现信息,该设备包括激光功率设置装置,用于获得记录层n的激光束最优功率与另一记录层m的激光束最优功率之间的差异ΔPa,并且当记录位置从所述记录层n过渡到所述记录层m时,将通过基于所述最优功率差异ΔPa对过渡之前的激光束功率Pwn执行校正所获得的功率设置为过渡之后的激光束功率Pwm。
根据本发明的第一和第二方面,在从记录层n向记录层m过渡时,不需要执行OPC,因此可以迅速执行向记录层m的过渡。因此,当记录诸如视频数据或音频数据之类的实时数据时,可以平稳地执行从记录层n到记录层m的连续记录。同样,通过基于最优功率比α或最优功率差异ΔPa来对过渡之前的激光功率Pwn进行校正所获得的功率被设置为过渡之后的激光功率Pwm,因此可以将记录层m的记录激光功率无误差地设置为最优功率。结果,可以使过渡时的记录条件保持满意。
在各个方面中,对于作为目标的预定记录层,激光功率设置装置还可以获得所述记录层的记录区域开始位置处的激光束最优功率与所述记录层的记录区域结束位置处的激光束最优功率之间的激光束最优功率的比值γ。当记录位置从所述记录层n过渡到所述记录层m时,还可以基于所述比值γ来执行校正,以获得过渡之后的激光功率Pwm。另外,不是象上述过程那样,而是针对作为目标的预定记录层,激光功率设置装置还可以获得所述记录层的记录区域开始位置处的激光束最优功率与所述记录层的记录区域结束位置处的激光束最优功率之间的激光束最优功率的差异ΔPb。当记录位置从所述记录层n过渡到所述记录层m时,还可以基于所述差异ΔPb来执行差异校正,以获得过渡之后的激光功率Pwm。
当以这种方式来构建激光功率设置装置时,即使在记录区域开始位置与记录区域结束位置之间的记录特性存在差异,也可以将记录激光功率无误差地设置为记录层m的记录区域开始位置处的最优功率。
注意,可以对作为目标的记录层n或记录层m获得比值γ和差异ΔP。这样,可以更适当地设置过渡之后记录层m处的激光功率。
注意,上述装置的每个功能主要由下述实施方式中的控制器111来实现。


结合附图,阅读下面的详细描述,本发明的上述以及其他目的和新颖特征将变得更加完全清楚,附图中图1示出了根据实施方式的光盘的结构;图2示出了根据实施方式的光盘的区域格式;图3示出了根据实施方式的光盘驱动器的结构;图4是根据实施例1的功率设置过程的流程图;图5是根据实施例1的层1的OPC过程的流程图;图6是根据实施例1的层2的OPC过程的流程图;图7是根据实施例1的记录操作时的过程流程图;图8是根据实施例2的功率设置过程的流程图;图9是根据实施例2的记录操作时的过程流程图;图10示出了根据实施例3的光盘的区域格式;图11是根据实施例3的功率设置过程的流程图;图12是根据实施例3的记录操作时的过程流程图;图13是用于解释β值的计算方法的图;图14是用于解释β值的逼近线以及最优功率Pwp的计算方法的图;以及图15是用于解释R-OPC的执行方法的图。
具体实施例方式
后文中,将基于附图描述本发明的实施方式。注意,这些实施方式是在如下情形中做出的将本发明应用于光盘驱动器,以便在一侧布置有两个记录层的DVD+R上记录及再现信息。
首先,图1示出了根据实施方式的光盘结构。如图1所示,光盘包括衬底11、在衬底11之上形成的第一记录层12、在第一记录层12上之上形成的半透射反射层13、在半透射反射层13之上形成的间隔区14、在间隔区14之上形成的第二记录层15、在第二记录层15之上形成的反射层16、在反射层16之上形成的保护层17、以及在保护层17之上形成的印刷层18。
在第一记录层12和第二记录层15的每一个上从内围向外围形成螺旋形轨道,并且在该轨道上执行数据记录和再现。这里,第一记录层12中的轨道与第二记录层15中的轨道具有相反的旋转方向。当对第一记录层12和第二记录层15记录/再现信息时,盘沿着相同方向旋转。此时,在第一记录层12上从内围向外围执行记录,而在第二记录层上从外围向内围执行记录。
轨道在径向摆动(wobble),并且地址信息由这种摆动保持。也就是说,在单调的摆动间隔中周期性地插入称之为ADIP(地址预制沟槽)的相位调制间隔。当利用光束扫描相位调制间隔时,根据轨道的反射光强度的改变,读取该轨道上的地址信息并且将其再现。在导入区的ADIP中,通过相位调制记录盘的各种控制数据,这些控制数据包括制造盘的盘制造商的标识信息(制造商ID)。
图2示出了光盘1的区域格式。
如图2所示,第一记录层12(层1)从内围向外围被分为内驱动区域1、导入区、数据区、中间区1、以及外驱动区域1。第二记录层15(层2)从内围向外围被分为内驱动区域2、导出(lead-out)区、数据区、中间区2、以及外驱动区域2。另外,内驱动区域1和2以及外驱动区域1和2被分为多个区,其中使用内盘测试区以及外盘测试区来执行激光功率初始设置(OPC)。
图3示出了根据实施方式的光盘驱动器的结构。
如图3所示,光盘驱动器包括ECC编码器101、调制电路102、激光器驱动电路103、激光功率调整电路104、光拾取器105、信号放大电路106、解调电路107、ECC解码器108、伺服电路109、ADIP再现电路110、以及控制器111。
ECC编码器101对输入记录数据执行编码处理(例如,加入纠错码),并且将结果数据输出到调制电路102。调制电路102对输入记录数据执行预定的调制,以进一步生成记录信号,以输出到激光器驱动电路103。激光器驱动电路103在记录时根据来自调制电路102的记录信号,向半导体激光器105a输出驱动信号,并且在再现时向半导体激光器105a输出驱动信号以便以恒定强度输出激光束。这里,激光功率被设置为由激光功率调整电路104所调整及设置的激光功率。
激光功率调整电路104在记录和再现时根据从控制器111提供的设置值来执行激光功率的初始设置(OPC),根据从控制器111提供的调整值来适当地调整(R-OPC)所设置的激光功率,并且将调整后的激光功率提供给激光器驱动电路103。这里,基于感兴趣的盘的目标β值(βt)来执行激光功率初始设置(OPC)。也就是说,控制器111获得盘的目标β值(βt),并且基于所获得的βt,将记录激光功率设置为盘的最优功率。稍后将描述OPC的详情。
激光功率调整(R-OPC)如下执行例如,如图15所示,在记录时从RF信号检测间隔电平以及标记电平,并且获得反射光强度的调制程度,以控制所获得的调制程度,从而沿着最优功率处的调制程度。
注意,在记录时,利用具有多级强度等级的脉冲激光束照射轨道。也就是说,激光功率调整电路104控制激光器驱动电路103,从而自光拾取器105输出具有预先指定脉冲形状(策略)的激光束。层1和层2具有不同策略,因此将层1和层2调整为对激光束具有相同灵敏度。关于层1和层2的策略的信息包括在导入区的ADIP中。激光功率调整电路104基于关于策略的信息设置在记录操作时层1和层2的策略。
光拾取器105包括半导体激光器105a和光检测器105b,并且通过将激光束会聚到轨道上来对盘执行数据写入/读取。注意,光拾取器105还包括用于调整激光束对轨道的照射条件的物镜驱动器、用于将从半导体激光器105输出的激光束引导到物镜并且将来自盘100的反射光引导到光检测器105b的光学系统等。
信号放大电路106通过对从光检测器105b接收到的信号进行放大和计算来生成各种信号,以将这些信号输出到相应电路。解调电路107通过将从信号放大电路106输入的再现RF信号解调来生成再现数据,并将再现数据输出到ECC解码器108。ECC解码器108对从解调电路107输入的数据执行解码过程(例如,纠错),并将结果数据输出到后继的电路。
伺服电路109根据从信号放大电路106输入的聚焦误差信号和跟踪误差信号来生成聚焦伺服信号与跟踪伺服信号,并将所生成的信号输出到光拾取器105的物镜驱动器。同样,伺服电路109还根据从信号放大电路106输入的摆动信号来生成电机伺服信号,并且将所生成的信号输出到盘驱动电机。
ADIP再现电路110根据从信号放大电路106输入的摆动信号来再现地址信息以及各种控制信息,并且将再现的信息输出到控制器111。
控制器111在内置存储器中存储各种数据,同时根据预先设置的程序来控制每个部分。
注意,控制器111保持β值表,在该表中将制造商ID与目标β值(βt)关联起来。控制器111参考β值表来读出与从盘的导入区(ADIP)获得的制造商ID相对应的目标β值(βt),并且将所读取的值输出到激光功率调整电路104。根据该值,激光功率调整电路104执行记录功率初始设置。
实施例1图4至7是示出了记录操作中的OPC及R-OPC的操作流程图。
当输入记录指令时,控制器111首先执行图4所示的功率设置过程(OPC)。这里,首先执行层1的OPC(S11),以设置层1的最优功率Pwp1(S12)。然后,执行层2的OPC(S13),以设置层2的最优功率Pwp2(S14)。此后,通过计算α=Pwp2/Pwp1,获得层1与层2之间的最优功率比(层间功率比)α。
图5和6示出了层1和层2的OPC的详情。
首先,参考图5,当初始功率设置操作开始时,控制器111基于盘的制造商ID从β值表读取目标β值(βt)(S101)。注意,当β值表中不包括相应的制造商ID时,从β值表读取平均β值。为了应对这种情形,β值表为了一般性使用存储平均β值。
另外,控制器111将内置存储器中预先存储的初始功率Pw0设置为层1的OPC操作中的第一测试功率Pw11(S102),并且以该测试功率Pw11将测试数据写入到层1的测试区中(通常,使用内盘测试区)(S103)。然后,再现所写入的测试数据,以计算β值,并且将所计算的β值设置为β11(S104)。
此后,控制器111获得β11与目标β值(βt)之间的差Δβ(S105),并且判断所获得的Δβ是否小于预定阈值βs(S106)。这里,当|Δβ|≥βs时,基于Δβ的符号(正或负)和量级,将测试功率Pw11重置为接近最优功率(S107),并且在重置之后以测试功率Pw11重复S103及随后步骤的过程。
另一方面,当|Δβ|<βs时,基于Δβ的符号(正或负)和量级,设置下一测试功率Pw12(S108),并且在设置之后,与上面相类似,以测试功率Pw12将测试数据写入层1的测试区中(S109)。然后,再现所写入的测试数据,以计算β值,并且将所计算的β值设置为β12(S110)。
此后,控制器111对β11和β12执行如图14所示的线性逼近,并且在该逼近线上,计算给出目标β值(βt)的激光功率作为最优功率Pwp(S111)。接着,以功率Pwp将测试数据写入层1的测试区中(S112),并且从ECC解码器108获得在再现该数据时所获得的误差率E(S113)。然后,判断所获得的误差率E是否小于阈值Es(S114),并且当其不小于阈值Es时,流程返回S103,以重复上述过程。另一方面,当E<Es时,将功率Pwp设置为层1的最优功率Pwp1(S115),此后执行层2的功率设置过程。
参考图6,在层2的功率设置过程中,首先,从先前获得的β1和β2获得图14所示的逼近线的斜率Ia(S201)。接着,将上述层1的最优功率Pwp1设置为OPC操作中层2的测试功率Pw21(S202),并且以测试功率Pw21将测试数据写入层2的测试区(通常,使用内盘区)(S203)。然后,再现所写入的数据,以计算β值,并且将所计算的β值设置为β21(S204)。
此后,控制器111获得β21与目标β值(βt)之间的差Δβ(S205),并且判断所获得的Δβ是否小于预定阈值Δβs(S206)。这里,当|Δβ|≥βs时,基于Δβ的符号(正或负)和量级,将测试功率Pw21重置为接近最优功率(S207),并且以测试功率Pw21重复S203及随后步骤的过程。
另一方面,当|Δβ|<βs时,根据在S201中获得的斜率Ia以及β21获得逼近线,并且在该逼近线上,将给出目标β值(βt)的激光功率设置最优功率Pwp(S208)。接着,以功率Pwp将测试数据写入层2的测试区中(S209),并且从ECC解码器108获得在再现该数据时所获得的误差率E(S210)。然后,判断所获得的误差率E是否小于阈值Es(S211),当所获得的误差率E不小于阈值Es时,流程返回S203,以重复上述过程。另一方面,当E<Es时,将功率Pwp设置为层2的最优功率Pwp2(S212),并且盘的OPC操作结束。
基于图6的流程图,在层2的OPC操作中,仅通过一次测试记录就能执行逼近线的计算,因此可以简化并迅速执行层2的OPC操作。此时,因为层1的最优功率Pwp1被设置为初始功率以获得β值,所以β值可以接近目标β值(βt),并且可以使逼近线类似于预定逼近线。因此,如上所述,当在OPC操作中仅执行一次测试记录时,可以平稳且满意地执行层2的最优功率设置。
以这种方式,设置了层1的最优功率Pwp1以及层2的最优功率Pwp2,并且从Pwp1和Pwp2获得层间功率比α,每一层的记录操作开始。
图7示出了记录操作时的过程流程。
当记录操作开始时,首先,从导入区读取管理信息,以判断记录开始位置在层1还是层2(S21)。这里,当开始位置在层1时,通过OPC获得的层1的最优功率Pwp1被设置为层1的记录功率Pwr1(S22),此后在层1上从记录开始位置起连续执行信息记录(S23)。
当如此开始层1的记录操作时,此后,接着判断层1的记录区域是否用完(S24)。当记录区域没有用完时,还通过R-OPC来执行激光功率Pwr1的调整(S25,S26)。注意,在从S23到S26的记录操作期间,当向控制器111输入指示停止、中断记录操作等的指令命令时,层1的记录操作响应于此而结束。在这种情形中,以由R-OPC调整的激光功率Pwr1将与该记录相对应的管理信息记录在导入区中。
基于S21中的判断,当记录开始位置在层2上时,通过OPC获得的层2的最优功率Pwp2是层2的记录功率Pwr2(S27),此后,接着在层2上从记录开始位置起开始记录信息(S28)。此时,适当地执行层2上的记录是否结束的判断(S29)。同样,在层2的记录开始之后,通过R-OPC适当地调整激光功率Pwr2(S30,S31)。
基于步骤S24中的判断,当层1的记录区域用完时,操作切换到使用层2的记录操作。此时,通过将由R-OPC调整的层1的最终激光功率Pwr1乘以层间功率比α来计算功率,并且将所计算的功率设置为层2的记录功率Pwr2(S32)。然后,以功率Pwr2开始层2上的记录(S28)。注意,如上所述,该记录是从层2的最外围的位置向最内围的位置执行。
此后,当在S29中判断层2上的记录结束时,记录层1的导入区的管理信息。此时,通过将由R-OPC调整的层2的最终功率Pwr2除以层间功率比α来计算功率,并且将所计算的功率设置为层1在导入区上记录时使用的功率Pwr1(S33)。然后,以功率Pwr1将根据该记录的管理信息记录到层1的导入区中(S34),并且记录操作结束。
根据该实施例,在从层1到层2的过渡中,不必执行OPC,因此可以迅速执行向层2的过渡。这样,即使记录诸如视频数据或音频数据之类的实时数据,也可以平稳地执行从层1到层2的连续记录。同样,在向层2过渡时,将通过层1的最终激光功率Pwr1乘以层间功率比α所获得的功率设置为激光功率Pwr2,所以可以没有误差地将层2的记录激光功率设置为最优功率。这样,可以将过渡时的记录条件维持在满意的条件。
实施例2在上述实施例1中,在向层2过渡时,将层1的最终激光功率Pwr1乘以层间功率比α,以获得激光功率Pwr2,但是在该实施例中,获得层1的最优功率Pwp1与层2的最优功率Pwp2之间的功率差异ΔPa。然后,在向层2过渡时,将该功率差异加到层1的最终激光功率Pwr1,以获得激光功率Pwr2。
图8示出了功率设置时的过程流程。根据该过程流程,S41代替了图4的过程流出中的S15。换句话说,在S41中,可以根据ΔPa=Pwp2-Pwp1来获得层1的最优功率Pwp1与层2的最优功率Pwp2之间的功率差异(层间功率差异)ΔPa。其他步骤类似于图4的步骤。
图9示出了记录操作中的过程流程。根据该过程流程,S51和S52代替了图7的过程流程中的S32和S33。换句话说,当在S24中判断层1的记录区域用完时,在S51中将层间功率差异ΔPa加到层1的最终功率Pwr1,并且可以设置向层2过渡时的激光功率Pwr2。然后,以对层2设置的激光功率Pwr2来执行记录(S28)。其他步骤类似于图7的步骤。
根据该实施例,因为与实施例1类似,在从层1向层2过渡时不必执行OPC,所以可以迅速执行向层2的过渡。因此,即使记录诸如视频数据或音频数据之类的实时数据,也可以平稳地执行从层1到层2的连续记录。然而,为了将层2的记录激光功率无误差地设置为最优功率,认为如实施例1中那样乘以层间功率比α优于如本实施例中一样加上层间功率差异ΔPa。
实施例3根据实施例1和2,如图2所示,当记录位置到达层1的数据区(记录区域)中最外围的位置时,该位置跳到层2的数据区中最外围的位置,并且从该位置向内围方向开始数据记录。然而,如图10所示,可以采用这样的光盘在记录位置到达层1的数据区(记录区域)中最外围的位置时,该位置跳到层2的数据区中最内围的位置,并且从该位置向外围方向开始数据记录。在这种光盘中,当记录操作中旋转方向相同时,于是层1的轨道的螺旋方向与层2的相同。
该实施例是将本发明应用于在这种光盘上记录及再现信息的光盘驱动器的示例性方式。
图11示出了功率设置时的过程流程。
根据该过程流程,在图4的过程流程中的S15之后加入了S61至S63的过程。换句话说,使用层1和层2的内盘测试区来执行OPC(S11至S14),基于通过OPC获得的最佳激光功率Pwp1in以及Pwp2in,获得层间功率比α(S15),并且,另外使用层2的外盘测试区执行OPC(S61),获得最优激光功率Pwp2out(S62)。然后,基于层2的最优激光功率Pwp2in以及Pwp2out,计算γ=Pwp2out/Pwp2in,以获得内/外功率比γ(S63)。
图12示出了记录操作时的过程流程。根据该过程流程,图7的过程流程中的S32由S71代替。换句话说,当在S24中判断层1的记录区域用完时,在S72中将层1的最终激光功率Pwr1乘以层间功率比α。将该值除以内/外功率比γ,以在向层2过渡时设置激光功率Pwr2。然后,以所设置的激光功率Pwr2在层2上执行记录(S28)。其他步骤类似于图7的步骤。
根据该实施例,在从层1向层2过渡时,与实施例1和2类似,不必执行OPC,因此可以迅速执行向层2的过渡。这样,即使记录诸如音频数据或视频数据之类的实时数据,也可以平稳地执行从层1到层2的连续记录。
同样,将层1的最终激光功率Pwr1乘以层间功率比α,并且在向层2过渡时还将通过将该值除以内/外功率比γ所获得的功率设置为激光功率Pwr2,因此可以将层2的记录激光功率无误差地设置为最优功率。换句话说,在该实施例中,以内/外功率比γ来进一步调整记录功率。即使在层2的内围和外围之间的记录特性存在差异,也可以在层2的开始位置中将记录激光功率无误差地设置为最优功率。这样,可以将过渡时的记录条件维持在满意的条件。
注意,如图9所示,即使记录位置从层1的外围跳到层2的内围,如果层2中的记录特性没有大的差异,则尽管不使用内/外功率比γ执行调整,也可以在层2的开始位置中将记录激光功率无误差地设置为最优功率。因此,在这种情形中,与实施例1中一样,可以只乘以层间功率比α来在向层2过渡时执行功率设置。
另外,在该实施例中,将层1的最终激光功率Pwr1乘以层间功率比α,并且在向层2过渡时通过将该值再除以内/外功率比γ所获得的功率设置为激光功率Pwr2(S71),但是如实施例2中一样,当使用层间功率差异ΔPa时,S71中的算术表达式可改变为Pwr2=(Pwr1+ΔPa)/γ。
另外,当使用内/外功率差异ΔPb=Pwp2in-Pwp2out而不是使用内/外功率比γ时,S71中的算术表达式可以改变为Pwr2=(Pwr1×α)+ΔPb。
另外,在该实施例中,获得层2中的内/外功率比γ,以用来在向层2过渡时进行功率设置,但是可以获得层1中的内/外功率比γ,并且将其用来在向层2过渡时进行功率设置。
此外,在该实施例中,当记录位置从层2返回层1用于记录管理信息时,不使用内/外功率比γ,并且只是将层2中的最终激光功率Pwr2除以层间功率比α,以获得记录管理信息时的功率。然而,当记录位置接近层2中数据区的结束端时,可以乘以内/外功率比γ,以校正内、外围的记录特性之间的差异。同样,基于Pwp2in和Pwp2out,近似出沿着径向的内/外功率比的转变条件。根据近似的内/外功率比γ(x)(X径向位置),可以获得层2中最后的记录位置Xn中的内/外功率比γ(xn),并且可以使用所获得的内/外功率比γ(xn)来计算Pwr1=(Pwr2/α)×γ(xn),由此设置记录管理信息时的激光功率Pwr1。
注意,在记录管理信息时基于内/外功率比γ来进行校正也可以应用于实施例1和2。然而,在这种情形中,需要这样的过程还要使用外盘驱动区来执行OPC,以获得内/外功率比γ或γ(x)。
已经描述了本发明的实施方式以及实施例,但是本发明不限于上述内容,并且可以具有其他各种修改。
例如,在上面,示例了DVD+R及其光盘驱动器,但是本发明当然可以应用于其他光盘(例如,DVD-RW)及其记录和再现设备。
另外,在上面,使用了图5和6所示的OPC过程流程,但是可以改为使用其他OPC过程流程。
另外,在上面,示例了在一侧布置有两个记录层的光盘,但是记录层的数目并不限于2个。本发明还可以应用于在一侧布置有三个或更多记录层的光盘及其记录和再现设备。在这种情形中,例如,获得沿着层的方向在相邻记录层之间的层间功率比α或层间功率差异ΔPa,并且通过使用它们,在层间过渡时执行功率设置。另外,如果如实施例3一样在层间过渡时光盘中的记录位置从外围跳到内围,则获得每一层的内/外功率比γ或内/外功率差异ΔPb,并且通过使用层间功率比α或层间功率差异ΔPa以及内/外功率比γ或内/外功率差异ΔPb,在层间过渡时执行功率设置。
另外,本发明不仅可以应用于只在一侧布置有多个记录层的光盘,并且还可以应用于在两侧都布置有多个记录层(通过粘结等方式)的光盘及其记录和再现设备。此外,每一层的区域格式、轨道螺旋方向等不限于这些实施方式。
在权利要求的范围所表明的技术思想的范围内,可以适当地对本发明的实施例做出各种修改。
权利要求
1.一种光记录及再现设备,用于在沿着层叠方向布置有多个记录层的光记录介质上记录信息,并且从所述光记录介质再现信息,该设备包括激光功率设置装置,用于获得记录层n的激光束最优功率与另一记录层m的激光束最优功率之间的比值α,并且当记录位置从所述记录层n过渡到所述记录层m时,将通过基于所述功率比α对过渡之前的激光束功率Pwn执行校正所获得的功率设置为过渡之后的激光束功率Pwm。
2.根据权利要求1所述的光记录及再现设备,其中所述激光功率设置装置还针对预定记录层,获得所述记录层的记录区域开始位置处的激光束最优功率与所述记录层的记录区域结束位置处的激光束最优功率之间的比值γ,并且当记录位置从所述记录层n过渡到所述记录层m时,通过基于所述比值γ以及所述功率比α来执行校正,从而获得过渡之后的激光束功率Pwm。
3.根据权利要求2所述的光记录及再现设备,其中对所述记录层n和所述记录层m之一获得所述比值γ。
4.根据权利要求1所述的光记录及再现设备,其中所述激光功率设置装置还针对预定记录层,获得所述记录层的记录区域开始位置处的激光束最优功率与所述记录层的记录区域结束位置处的激光束最优功率之间的差异ΔPb,并且当记录位置从所述记录层n过渡到所述记录层m时,通过基于所述差异ΔPb以及所述功率比α来执行校正,从而获得过渡之后的激光束功率Pwm。
5.根据权利要求4所述的光记录及再现设备,其中对所述记录层n和所述记录层m之一获得所述差异ΔPb。
6.一种光记录及再现设备,用于在沿着层叠方向布置有多个记录层的光记录介质上记录信息,并且从所述光记录介质再现信息,该设备包括激光功率设置装置,用于获得记录层n的激光束最优功率与另一记录层m的激光束最优功率之间的差异ΔPa,并且当记录位置从所述记录层n过渡到所述记录层m时,将通过基于所述最优功率差异ΔPa对过渡之前的激光束功率Pwn执行校正所获得的功率设置为过渡之后的激光束功率Pwm。
7.根据权利要求6所述的光记录及再现设备,其中所述激光功率设置装置还针对预定记录层,获得所述记录层的记录区域开始位置处的激光束最优功率与所述记录层的记录区域结束位置处的激光束最优功率之间的比值γ,并且当记录位置从所述记录层n过渡到所述记录层m时,通过基于所述比值γ以及所述最优功率差异ΔPa来执行校正,从而获得过渡之后的激光束功率Pwm。
8.根据权利要求7所述的光记录及再现设备,其中对所述记录层n和所述记录层m之一获得所述比值γ。
9.根据权利要求6所述的光记录及再现设备,其中所述激光功率设置装置还针对预定记录层,获得所述记录层的记录区域开始位置处的激光束最优功率与所述记录层的记录区域结束位置处的激光束最优功率之间的差异ΔPb,并且当记录位置从所述记录层n过渡到所述记录层m时,通过基于所述差异ΔPb以及所述最优功率差异ΔPa来执行校正,从而获得过渡之后的激光束功率Pwm。
10.根据权利要求9所述的光记录及再现设备,其中对所述记录层n和所述记录层m之一获得所述差异ΔPb。
11.一种光记录及再现设备,用于在沿着层叠方向布置有多个记录层的光记录介质上记录信息,并且从所述光记录介质再现信息,该设备包括控制电路,用于获得记录层n的激光束最优功率与另一记录层m的激光束最优功率,并且当记录位置从所述记录层n过渡到所述记录层m时,基于所述记录层n的最优功率以及所述记录层m的最优功率,根据过渡之前的激光束功率Pwn,设置过渡之后的激光束功率Pwm。
12.根据权利要求11所述的光记录及再现设备,其中所述控制电路获得所述记录层n的最优功率与所述记录层m的最优功率之间的比值α,并且将通过基于所述比值α对过渡之前的激光束功率Pwn执行校正所获得的功率设置为过渡之后的激光束功率Pwm。
13.根据权利要求11所述的光记录及再现设备,其中所述控制电路获得所述记录层n的最优功率与所述记录层m的最优功率之间的差异ΔPa,并且将通过基于所述差异ΔPa对过渡之前的激光束功率Pwn执行校正所获得的功率设置为过渡之后的激光束功率Pwm。
14.根据权利要求12或13所述的光记录及再现设备,其中所述控制电路获还针对预定记录层,获得所述记录层的记录区域开始位置处的激光束最优功率与所述记录层的记录区域结束位置处的激光束最优功率之间的比值γ,并且当记录位置从所述记录层n过渡到所述记录层m时,通过基于所述比值γ以及所述功率比α或所述最优功率差异ΔPa来执行校正,从而获得过渡之后的激光束功率Pwm。
15.根据权利要求14所述的光记录及再现设备,其中对所述记录层n和所述记录层m之一获得所述比值γ。
16.根据权利要求12或13所述的光记录及再现设备,其中所述控制电路获还针对预定记录层,获得所述记录层的记录区域开始位置处的激光束最优功率与所述记录层的记录区域结束位置处的激光束最优功率之间的差异ΔPb,并且当记录位置从所述记录层n过渡到所述记录层m时,还通过基于所述差异ΔPb以及所述功率比α或所述最优功率差异ΔPa来执行校正,从而获得过渡之后的激光束功率Pwm。
17.根据权利要求16所述的光记录及再现设备,其中对所述记录层n和所述记录层m之一获得所述差异ΔPb。
全文摘要
根据分别对层1和层2执行OPC所获得的最优功率设置值Pwp1和Pwp2,获得层间功率比α=Pwp2/Pwp1。在从层1向层2过渡时,将由R-OPC调整的层1的最终激光功率Pwr1乘以层间功率比α,以在向层2过渡时设置激光功率,以该功率开始在层2上记录。在这种情形中,在从层1向层2过渡时不必执行OPC,因此可以迅速执行向层2的过渡。同样,基于层间功率比α执行校正,因此在向层2过渡时可以将功率设置为适当的设置值。
文档编号G11B7/004GK1819037SQ20051013103
公开日2006年8月16日 申请日期2005年12月7日 优先权日2004年12月9日
发明者中尾贤治, 间宫升, 广濑研 申请人:三洋电机株式会社
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