光学拾音装置的制作方法

文档序号:6774190阅读:218来源:国知局
专利名称:光学拾音装置的制作方法
技术领域
本技术方案涉及一种光学拾音装置,对信息记录介质进行信息重放、抹除和记录中的至少一种操作。
背景技术
作为这种类型的光学拾音装置,具有如图11和图12所示的装置。图11是上述光学拾音装置结构的侧视图,图12是上述光学拾音装置结构的俯视图。图11和图12中,101、102是发射不同波长激光束的第一、第二受光/发光一体型元件(例如全息激光元件或激光耦合器),103是分色分束器(以下,称作“DBS”),104是准直透镜,105是引上(立上)反射镜,106是四分之一波长板,107是物镜,108是光盘,109是监控用光检测元件,110和111是处于有效区内的激光束,112和113是光轴。
在图11所示的上述光学拾音装置中,由第一受光/发光一体型元件101发射的在有效区中的激光束110穿过DBS 103后,经准直透镜104变为平行光束,并由引上反射镜105垂直弯曲,然后通过四分之一波长板106,最后由物镜107将光会聚在光盘108的记录表面。此时,如图12所示,由第一受光/发光一体型元件101发射出的处于有效区内的激光束110的一部分,被DBS 103反射而射入监控用光检测元件109。上述监控用光检测元件109输出对应于射入激光束的光量的电信号。由该电信号驱动未图示的自动功率控制(以下称作“APC”)电路。由该APC电路对第一受光/发光一体型元件101的输出进行APC控制,从而,会聚在光盘108记录表面上的激光束具有合适的功率。
上述第二受光/发光一体型元件102发射出的处于有效区内的激光束111,有部分激光束穿过DBS 103,其余部分激光束被DBS 103反射。被上述DBS 103反射的反射束沿着与受光/发光一体型元件101发射出的激光束110一样的光路传播,并会聚在光盘108的记录表面上。另一方面,穿过DBS 103的激光束111入射到监控用光检测元件109。因此,与第一受光/发光一体型元件101的情况相同,第二受光/发光一体型元件102的输出被APC控制,从而会聚到光盘108记录表面的激光束具有合适的功率。
由上述光盘108反射的反射束依次经物镜107、四分之一波长板106、引上反射镜105、准直透镜104和DBS 103返回到第一受光/发光一体型元件101或第二受光/发光一体型元件102。由此,来自上述光盘108的反射束被第一受光/发光一体型元件101或第二受光/发光一体型元件102内的受光元件(未图示)接收,检测光盘108记录的信息。
图13表示另一种背景技术的光学拾音装置的结构的俯视图。图13中与图11和图12所示相同的部件,标以与图11和图12的部件相同的标号,省略其说明。
在上述另一种背景技术的光学拾音装置中,监控用光检测元件116接收第一受光/发光一体型元件101发射的处于有效区外的激光束114,并且监控用光检测元件117接收第二受光/发光一体型元件102发射的处于有效区外的激光束115。从监控用光检测元件116和117输出的电信号,驱动未图示的APC电路,从而控制第一和第二受光/发光一体型元件101和102的输出。
上述DBS 103具有控制反射/透射率特性的薄膜。该薄膜难以制作,并且由于温度的变化,其反射/透射率特性变化很大。此外,不同的产品,上述DBS 103也有很大的不同。因此,当制造多个如图11和图12所示的光学拾音装置时,由第一和第二受光/发光一体型元件101和102发射的激光束110和111的光量与入射到监控用光检测元件109的激光束的光量之间的关系,变化很大。因此,采用背景技术的光学拾音装置存在以下问题,即上述APC电路的控制增益的调整范围必须很宽。
诸如CD-R(可记录光盘)和DVD-R(可记录数字多用光盘)等记录型光盘的记录速度,与会聚在光盘记录表面上的激光束的功率成正比,因此,激光束的利用效率越高,记录速度越快。
图11和图12所示的光学拾音装置存在以下问题,即会聚在光盘108记录表面的激光束的功率,因通过DBS 103入射到监控用光检测元件9的激光束的光量而降低,可记录速度也就减慢。该问题与光学拾音装置的性能、质量、可靠性和设计密切相关。
在图13表示的光学拾音装置中,处于有效区外的激光束114和115的方向对着监控用光检测元件116和117。因此,会聚到光盘记录表面的激光束的功率不会降低。
但是,虽然图13所示的光学拾音装置不会受到DBS 103反射/透射率特性变化的不利影响,但需要两个监控用光检测元件116和117,因此,部件数量增加,设置监控用光检测元件116和117的操作增大,制造成本高。
上述监控用光检测元件116和117的位置靠近处于有效区内的激光束110和111,因此,如果监控用光检测元件116和117的位置稍有移动,处于有效区内的激光束110和111有可能出现渐晕现象。即处于有效区内的激光束110和111会减少。这一情况与光学拾音装置的性能、质量和可靠性具有很大的关系。

发明内容
本技术方案的目的是提供一种光学拾音装置,该装置可缩小APC电路的控制增益的调整范围,并能够提高记录速度,降低制造成本。
为实现上述目的,本技术方案的光学拾音装置,对信息记录介质进行信息的重放、抹除和记录中的至少一种操作,其特征在于,包括第一光源,向上述信息记录介质发射激光束;第二光源,向上述信息记录介质发射激光束,该激光束的波长不同于上述第一光源的激光束的波长,并且该激光束的光轴不平行于上述第一光源的激光束的光轴;光学元件,设置得使上述第一和第二光源发射出的激光束经由该光学元件传播,该光学元件使上述第一光源的激光束的光轴和上述第二光源的激光束的光轴在输出侧基本一致;以及监控用光检测元件,接收上述第一和第二光源发射出的上述激光束的一部分,上述监控用光检测元件的受光面与上述第一和第二光源的激光束的光轴基本平行,在上述光学元件的附近设置第一反射镜,该第一反射镜用于增加入射到上述监控用光检测元件的上述受光面的激光束。
根据上述结构的光学拾音装置,从上述第一和第二光源发射的激光束经光学元件传播后,照射信息记录介质。这时,上述监控用光检测元件的受光面基本上与第一和第二光源发射出的激光束的光轴平行,并且,第一反射镜设置于光学元件的附近,这样,第一和第二光源发射出的处于有效区外的激光束入射在监控用光检测元件的受光面。由于上述监控用光检测元件接收第一和第二光源发射出的处于有效区外的激光束,对于不同的光学拾音装置,监控用光检测元件的受光量不会有很大的不同。因此,在例如由APC电路控制上述第一和第二光源的输出的情况下,能够减小该APC电路的控制增益的调整范围。此外,由于入射至监控用光检测元件的激光束的光量多,所以能够稳定地监控激光束的输出。
由于上述监控用光检测元件接收第一和第二光源的处于有效区外的激光束,所以照射到信息记录介质的激光束的光量不会减少,信息记录介质的记录速度能够高速。
此外,上述第一光源和第二光源发射出的处于有效区外的激光束,入射在监控用光检测元件的受光面,所以用于APC控制第一和第二光源的输出的监控用光检测元件只需一个。因此,部件数量可减少,光学拾音装置的制造成本降低。
本说明书所述的“信息记录介质”应理解为包括光盘、磁盘、相变光盘等。
在一个实施例中,上述第一反射镜采用框体的一部分而形成,该框体内放置有上述第一光源、第二光源、上述光学元件和上述监控用光检测元件。
在一个实施例中,上述第一光源和上述第二光源中至少有一个是受光/发光一体型元件,该受光/发光一体型元件所具有的发光元件,与接收由上述信息记录介质反射的反射光束的受光元件一体化。
在上述实施例的光学拾音装置中,上述第一和第二光源至少一个是受光/发光一体型元件。因此,部件的数量进一步减少。
在一个实施例中,上述第一光源和上述第二光源中至少有一个是发光元件,该发光元件与接收由上述信息记录介质反射的反射光束的受光元件分离。
这种配置可提高光学系统的设计自由度。
在一个实施例中,上述第一光源的激光束的光轴与上述第二光源的激光束的光轴非正交;并且,上述光学元件是多面体,接收上述第一光源的激光束的表面与接收上述第二光源的激光束的表面非正交而倾斜。
这种配置可使两根非正交的光轴在光学元件输出侧大体一致。即,上述光学元件使第一光源发射出的激光束的光轴与第二光源发射出激光束的光轴在其输出侧基本一致。
在一个实施例中,光学拾音装置还包括具备第三光源,该第三光源向上述信息记录介质发射与上述第一和第二光源的激光束的波长不同波长的激光束,上述光学元件使上述第一光源的激光束的光轴、上述第二光源的激光束的光轴、上述第三光源的激光束的光轴在其输出侧基本一致。
在上述光学拾音装置中,上述第三光源发射出的激光束的波长不同于第一和第二光源发射出的激光束的波长,所以,对于第一和第二激光束不能对应的信息记录介质,能够利用第三光源进行信息的重放、抹除和记录操作中的至少一种操作。
在一个实施例中,上述监控用光检测元件一侧的上述光学元件的表面倾斜于包括上述第一和第二光源的激光束的光轴的平面。
因此,能够减少光学元件的厚度,使之不影响处于有效区内的激光束。
在一个实施例中,在上述光学元件的端面设置第二反射镜,该第二反射镜用于增加入射到上述监控用光检测元件的上述受光面的激光束。
根据上述实施例的光学拾音装置,由于将上述第二反射镜设置在光学元件的端面,所以入射在监控用光检测元件上的激光束增加,能够可靠地监控入射在监控用光检测元件上的激光束。
在一个实施例中,在上述光学元件的内部嵌入第二反射镜,该第二反射镜用于增加入射到上述监控用光检测元件的上述受光面的激光束,上述第二反射镜不暴露在外面。
在此情况下,能够可靠地监控入射在监控用光检测元件上的激光束。
此外,由于上述第二反射镜不暴露在外面,该第二反射镜可不受腐蚀、性能退化等坏影响。
在一个实施例中,上述第二反射镜的反射面弯曲,以便将来自互不相同的两个方向的激光束引导到上述监控用光检测元件的上述受光面。因而,第一和第二光源发射出的处于有效区外的激光束能够被引导到监控用光检测元件的受光面。


通过以下详细说明以及说明性附图,将会对本技术方案有较好的了解图1是说明本技术方案第一实施例的光学拾音装置的结构的侧视图;图2是说明上述第一实施例的光学拾音装置的结构的俯视图;图3是说明上述第一实施例的变形例的结构的侧视图;图4是说明本技术方案第二实施例的光学拾音装置的结构的俯视图;图5是说明上述第二实施例的变形例的结构的俯视图;图6是说明本技术方案第三实施例的光学拾音装置的结构的俯视图;图7是说明本技术方案第四实施例的光学拾音装置的结构的俯视图;
图8是说明本技术方案第五实施例的光学拾音装置的结构的侧视图;图9是说明本技术方案第六实施例的光学拾音装置的结构的侧视图;图10是说明上述第六实施例的变形例的结构的侧视图;图11是说明背景技术的光学拾音装置的结构的侧视图;图12是说明图11所示光学拾音装置的结构的俯视图;图13是说明另一种背景技术的光学拾音装置的结构的俯视图。
具体实施方式
根据图示的第一至第六实施例详细说明本技术方案的光学拾音装置。
(第一实施例)图1表示本技术方案第一实施例的光学拾音装置的结构的侧视图。图2表示上述光学拾音装置的结构的俯视图。
如图1和2所示,上述光学拾音装置包括第一受光/发光一体型元件1,作为第一光源的一例,向作为信息记录介质的一例的光盘8发射出激光束10;第二受光/发光一体型元件2,作为第二光源的一例,向光盘8发射出波长与激光束10的波长不相同的激光束11;立方形DBS 3,作为光学元件的一例,设置为激光束10和11经过它传播;以及设置于DBS 3附近和上方的监控用光检测元件9。上述DBS 3与光盘8之间的光路中设置准直透镜4、引上反射镜5、四分之一波长板6和物镜7。
上述第一受光/发光一体型元件1的激光束10的光轴12不平行于第二受光/发光一体型元件2的激光束11的光轴13。上述光轴12和光轴13在DBS 3处基本直交。上述DBS 3使光轴12和13在DBS 3的输出端基本一致。
上述监控用光检测元件9的受光面9a与光轴12和13基本上平行。上述监控用光检测元件9被设置得使第一受光/发光一体型元件1发射的处于有效区外的激光束14入射到受光面9a,并使得第二受光/发光一体型元件2发射的处于有效区外的激光束入射到受光面9a。
虽然图中未示出,但发光元件和接收光盘8反射的反射光束的受光元件,分别被安装在第一和第二受光/发光一体型元件1和2内。上述第一和第二受光/发光一体型元件1和2中,发光元件和受光元件一体化。
在上述光学拾音装置中,作为第一反射镜的反射镜74设置于DBS3附近和下方。上述反射镜74反射第一受光/发光一体型元件1发射出的处于有效区外的激光束16,从而引导激光束16进入监控用光检测元件9的受光面9a。
在具有上述结构的光学拾音装置内,由上述第一受光/发光一体型元件1发射出的处于有效区内的激光束10,通过DBS 3后,经准直透镜4变为平行光束,经引上反射镜5垂直弯曲,通过四分之一波长板6,并通过物镜7会聚在光盘8的记录表面。由上述光盘8反射的反射光束沿着与光束传播到光盘同样的光路返回到第一受光/发光一体型元件1。由此,由上述光盘8反射的反射光束被第一受光/发光一体型元件1内的受光元件接收。根据该受光元件输出的电信号,检测记录在光盘8上的信息。
由上述第二受光/发光一体型元件2发射的处于有效区内的激光束11,经DBS 3反射后,依次经由准直透镜4、引上反射镜5和四分之一波长板6,然后由物镜7将其会聚在光盘8的记录表面。由上述光盘8反射的反射光束沿着与光束传播到光盘相同的光路返回到第二受光/发光一体型元件2。由此,由上述光盘8反射的反射光束被第二受光/发光一体型元件2内的受光元件接收。根据该受光元件输出的电信号,检测光盘8上记录的信息。
上述第一和第二受光/发光一体型元件1和2发射的激光束具有椭圆形状的强度分布,垂直方向的辐射角比水平方向的大。另一方面,会聚在上述光盘8的记录表面上的处于有效区内的激光束10和11,呈圆形。因此,可以说,处于有效区外的激光束在垂直方向扩展更多。
上述第一受光/发光一体型元件1发射出的、向上方传播并处于有效区外的激光束14,不由反射镜74反射,直接射入监控用光检测元件9的受光面9a。另一方面,向下方传播并处于有效区外的激光束16经反射镜74反射,射入监控用光检测元件9的受光面9a。上述监控用光检测元件9输出与接收到的处于有效区外的激光束14、16的光量对应的电信号。该电信号被提供给未图示的APC电路,APC电路进行驱动。由此,上述第一受光/发光一体型元件1的输出被控制,从而会聚在光盘8的记录表面上的激光束成为合适的功率。
上述第二受光/发光一体型元件2发射出的处于有效区外的激光束14、16,入射在监控用光检测元件9的受光面9a。上述监控用光检测元件9输出与接收到的处于有效区外的激光束的光量对应的电信号。该电信号被提供给APC电路,APC电路进行驱动。由此,上述第二受光/发光一体型元件2的输出被控制,从而会聚在光盘8的记录表面上的激光束成为合适的功率。
由于上述监控用光检测元件9的受光面9a与光轴12和13基本平行,更准确的是,与含有光轴12和13的水平平面基本平行,第一和第二受光/发光一体型元件1和2发射出的、向上方传播并处于有效区外的激光束14入射在监控用光检测元件的受光面9a。进而,由于具备反射镜74,向下方传播的处于有效区外的激光束16也入射到监控用光检测元件的受光面9a。因此,上述监控用光检测元件9的受光量不会因装置而出现很大的变化,能够减小APC电路的控制增益的调整范围。入射到监控用光检测元件9的受光面9a的激光束的光量增加,能够稳定地APC控制第一受光/发光一体型元件1的输出。
由于上述监控用光检测元件9接收第一和第二受光/发光一体型元件1和2发射出的处于有效区外的激光束14、16,所以照射到光盘8的激光束的光量不会减少,并且可提高光盘8的可记录速度。
由于只由一个监控用光检测元件9接收上述第一和第二受光/发光一体型元件1和2的有效区外的激光束14、16,所以第一和第二受光/发光一体型元件1和2输出控制用所必需的部件数量就可减少,制造成本也能够降低。
上述监控用光检测元件9置于DBS 3附近和上方,其受光面9a基本上平行于光轴12和13,因此,即使监控用光检测元件9的位置从预定位置出现某种程度的移动,监控用光检测元件9也不会影响处于有效区内的激光束10和11。因此,能够不降低上述光学拾音装置的性能、质量和可靠性。
由于上述第一和第二受光/发光一体型元件1和2的发光元件与接收光盘8反射的激光束的受光元件一体化,所以部件的数量可以减少。
在上述第一实施例中,监控用光检测元件9置于DBS 3的附近和上方。然而,监控用光检测元件9也可置于DBS 3的附近和下方。在这种情况下,上述监控用光检测元件9的受光面9a也与光轴12和13基本上平行。此外,这种情况下,反射镜74设置于DBS 3的附近和上方。
上述光学拾音装置至少应能实现光盘8的信息的重放、抹除和记录操作中的至少一种操作。
很明显,照射上述第一受光/发光一体型元件1的激光束10的光盘8的种类,不同与照射上述第二受光/发光一体型元件2的激光束11的光盘8的种类。例如,CD可以经上述第一受光/发光一体型元件1的激光束10照射,而DVD可以经第二受光/发光一体型元件2的激光束11照射。
此外,除上述光盘8以外,还可使用相变光盘或磁光盘。
可采用例如全息激光元件和激光耦合器,作为上述第一和第二受光/发光一体型元件1和2。此外,还可使用例如半导体激光器件,作为上述第一和第二受光/发光一体型元件1和2内的发光元件。
如图3所示,代替上述反射镜74,可以在框体70的一部分设置作为第二反射镜的反射镜75。反射镜75与框体70构成一个整体。该反射镜75具有如图1所示反射镜74一样的功能,反射第一受光/发光一体型元件1发射出的处于有效区外向下传播的激光束16,并引导到监控用光检测元件9的受光面9a。此外,上述框体70内安放有DBS 3和准直透镜4,根据情况,还可安放第一和第二受光/发光一体型元件1和2,以及监控用光检测元件9。
如图1和图3分别所示的反射镜74和75是凹面镜,但是可以是平面镜。换言之,反射镜74和75可以呈任何形状,只要能反射第一受光/发光一体型元件1发射出的处于有效区外向下传播的激光束16,并引导至监控用光检测元件9的受光面9a即可。
(第二实施例)图4以俯视图形式,表示本技术方案第二实施例的光学拾音装置的结构。图4所示的与图1、图2和图3所示的相同部件,采用相同标号,省略说明。
图1和图2所示的光学拾音装置具有第一和第二受光/发光一体型元件1和2。与之相比,如图4所示,第二实施例的光学拾音装置包括第一发光元件21和第二发光元件22。前者作为第一光源的一例,向光盘(未图示)发射激光束23;后者作为第二光源的一例,向光盘发射与该激光束23的波长不同波长的激光束24。上述第一和第二发光元件21和22与接收光盘反射的反射光束用的受光元件31和32分离。在该受光元件31、32和DBS 3之间的光路中设置分束器27和28、圆柱形透镜29和30。
上述第一发光元件21的激光束23的光轴25,不平行于第二发光元件22的激光束24的光轴26。在DBS 3处,上述光轴25和26基本上互相正交。上述DBS 3使得光轴25和26在DBS 3的输出侧互相一致。
上述监控用光检测元件9的受光面9a(参照图1),基本上与光轴25和26平行。该监控用光检测元件9设置得使第一和第二发光元件21和22发射出的处于有效区外的激光束入射在受光面9a上。此外,在DBS 3的附近和下方设置反射镜74或75。
在具有上述结构的光学拾音装置中,上述第一发光元件21发射出的处于有效区内激光束23,通过DBS 3,然后,经准直透镜4变成平行光束,经引上反射镜5垂直弯曲,通过四分之一波长板6(参照图1),并经物镜7会聚在光盘的记录表面上。由上述光盘反射的反射光束沿着与波束传播到光盘相同的路径通过DBS 3后,经分束器27反射,通过圆柱形透镜29射入受光元件31。根据该受光元件31输出的电信号,检测光盘记录的信息。
上述第二受光/发光一体型元件22发射出的处于有效区内的激光束24,经DBS 3反射后,依次经由准直透镜4、引上反射镜5和四分之一波长板6,由物镜7会聚在光盘的记录表面。光束返回传播的路径与光束传播到光盘的路径是相同的。由上述光盘反射的反射光束沿着与波束传播到光盘相同的路径由DBS 3反射后,进一步经分束器28反射,通过圆柱形透镜30射入受光元件32。根据该受光元件32输出的电信号,检测光盘记录的信息。
由于上述监控用光检测元件9的受光面9a基本上平行于光轴25和26,并且具备反射镜74或75,第一和第二发光元件21和22发射出的处于有效区外的激光束入射在监控用光检测元件9的受光面9a,所以监控用光检测元件9的受光量不因装置而有很大变化,能够减少APC电路的控制增益的调整范围。并且,由于具备反射镜74或75,监控用光检测元件9的受光面9a的入射光量增加,能够稳定地APC控制第一和第二受光/发光一体型元件21和22的输出。
由于上述监控用光检测元件9接收第一和第二发光元件21和22发射出的处于有效区外的激光束,所以照射到光盘的激光束的光量不会减少,光盘的记录速度可提高。
由于只采用一个监控用光检测元件9接收第一和第二发光元件21和22发射出的处于有效区外的激光束,所以用于APC控制第一和第二发光元件21和22的输出所必需的部件数量减少,能够降低制造成本。
上述监控用光检测元件9置于DBS 3附近和上方,受光面9a基本上平行于光轴25和26,因而,即使监控用光检测元件9的位置稍偏离预定位置,也不会影响处于有效区内的激光束23和24。因此,能够避免降低光学拾音装置的性能、质量和可靠性。
由于上述第一和第二发光元件21和22与接收光盘反射光束的受光元件31和32是分离的,能够提高光学系统的设计自由度。
上述光学拾音装置的许多个部件置于第一和第二发光元件21和22的周围。这种情况下,图11-图13所示的背景技术中,监控用光检测元件的设置比较困难,而在第二实施例中,由于监控用光检测元件9置于DBS 3附近和上方,所以监控用光检测元件9的设置就比较容易。
在上述第二实施例中,监控用光检测元件9置于DBS 3附近和上方,然而,监控用光检测元件9也可以置于DBS 3附近和下方。在此情况下,上述监控用光检测元件9的受光面9a也与光轴25和26基本上平行。此外,反射镜74或75设置于DBS的附近和上方。
上述第二实施例采用分束器27和28,而除此之外,还可采用偏振分束器。
可采用例如半导体激光器,作为上述第一和第二发光元件21和22。
如图5所示,可不采用上述第一发光元件21,而采用如图1和图2所示的第一受光/发光一体型元件1。在此情况下,便无需图4所示的分束器27、圆柱形透镜29和受光元件31,因此,与图4所示的光学拾音装置相比能够减少部件数量。
在图5所示的情况下,监控用光检测元件9可置于DBS 3附近和下方,使得受光面9a基本上平行于光轴12和26。
虽未图示,但可不采用上述第二发光元件22,而采用图1和2所示的第二受光/发光一体型元件2。在此情况下,与图4所示的光学拾音装置相比能够减少部件数量。
在采用第二受光/发光一体型元件2而不采用第二发光元件22的情况下,很明显,可将监控用光检测元件9置于DBS 3附近和下方。
(第三实施例)图6以俯视图形式,表示本技术方案第三实施例的光学拾音装置的结构。图6所示的与图1、图2和图3所示的相同部件,采用如图1、图2和图3所示的相同标号,省略说明。
该光学拾音装置有非立方形的DBS 33作为光学元件的一例,设置得使第一和第二受光/发光一体型元件1和2发射出的激光束10、11经DBS 33传播。监控用光检测元件9置于DBS 33的附近和上方,该监控用光检测元件9的受光面9a(参照图1)基本上平行于激光束10、11的光轴12和13。该激光束10的光轴12与激光束11的光轴13既不平行又不正交。上述DBS 33使得光轴12和光轴13在DBS 33的输出端基本上一致。
虽未图示,但与图1和图2所示的光学拾音装置类似,上述光学拾音装置包括准直透镜4、引上反射镜5、四分之一波长板6和物镜7。
在具有上述结构的光学拾音装置中,监控用光检测元件9置于DBS 33附近和上方,受光面9a基本上平行于光轴12和13。因此,监控用光检测元件9能有效地接收第一和第二受光/发光一体型元件1和2发射出的处于有效区外的激光束。
如本第三实施例的光学拾音装置,本技术方案的光学拾音装置可以具有非立方形、构型复杂的DBS。即本技术方案的光学拾音装置具有呈多面体形状的DBS,其中接收激光束10的表面和接收激光束11的表面非正交而倾斜。该DBS可使得非正交的两根光轴相互在输出端基本一致。
很明显,第三实施例的光学拾音装置与上述第一实施例的效果类似。
在上述第三实施例中,监控用光检测元件9置于DBS 33附近和上方。然而,监控用光检测元件9还可置于DBS 33附近和下方。在此情况下,上述监控用光检测元件9的受光面9a也基本上平行于光轴12和13。此外,反射镜74或75被设置在DBS 33的附近和上方。
(第四实施例)图7以俯视图形式,表示本技术方案第四实施例的光学拾音装置的结构。图7所示的与图1、图2和图3所示的相同部件,采用如图1、图2和图3所示的相同标号,省略说明。
上述光学拾音装置包括第三受光/发光一体型元件41,作为第三光源的一例。该第三受光/发光一体型元件41向光盘(未图示)发射出的激光束42,其波长不同于第一和第二受光/发光一体型元件1和2发射出的激光束10和11的波长。该光学拾音装置具有长方体的DBS43,作为光学元件的一例,设置得使第一、第二和第三受光/发光一体型元件1、2和41发射的激光束10、11和42,经DBS 43传播。
上述激光束10的光轴12与第二、第三受光/发光一体型元件2、41的激光束11、42的光轴13、44不平行。上述光轴13与光轴44基本平行。上述光轴12与光轴13和44在DBS 43处基本正交。上述DBS43使得光轴12、13和44在其输出端基本一致。
上述监控用光检测元件9的受光面9a(参照图1)基本上平行于光轴12、13和44。将上述监控用光检测元件9设置得使第一受光/发光一体型元件1发射出的处于有效区外的激光束入射到受光面9a,并且使第二受光/发光一体型元件2发射出的处于有效区外的向上方的激光束14入射到受光面9a。具体的说,将上述监控用光检测元件9置于光轴12和13相交位置的上方并且在DBS 43附近。此外,图7中未示出,在DBS 43的附近和下方设置反射镜74或75,使得向下方的处于有效区外的激光束16入射至受光面9a。
图中虽未示出,但将发光元件和接收光盘反射的反射光束的受光元件设置在上述第三受光/发光一体型元件41内。上述发光元件和受光元件一体化。
在上述构成的光学拾音装置中,第三受光/发光一体型元件41发射出的激光束42的波长,不同于第一和第二受光/发光一体型元件1和2发射出的激光束10和11的波长。因而,对于第一和第二受光/发光一体型元件不能处理的光盘,能够由第三受光/发光一体型元件41进行信息重放、抹除和记录操作中的至少一种操作。
显然,第四实施例的光学拾音装置与上述第一实施例具有同样的效果。
图7中虽未示出,但在引上反射镜5和物镜7之间设置四分之一波长板6(参照图1)。
在上述第四实施例中,监控用光检测元件9置于DBS 43附近和上方,然而也可置于DBS 43附近和下方。在此情况下,上述监控用光检测元件9的受光面9a与光轴12和13基本平行。此外,在DBS 43的附近和上方设置反射镜74或75。
(第五实施例)图8以侧视图形式,表示本技术方案第五实施例的光学拾音装置的结构。图8所示的与图1和图2所示的相同部件,采用如图1和图2所示的相同标号,省略说明。
上述光学拾音装置有DBS 53,作为光学元件的一例。该DBS 53的上部被割掉,以便不影响第一受光/发光一体型元件1发射出的处于有效区的激光束10。即减小上述DBS 53的厚度,使得DBS 53的上表面53a不影响第一受光/发光一体型元件1发射出的激光束10。上述DBS 53的上表面(位于监控用光检测元件9处的DBS 53的表面)53a与包含激光束10和11的光轴12和13(参照图2)的平面呈一个倾斜角。
在上述第五实施例中,使DBS 53的厚度减小到其上表面53a不影响第一受光/发光一体型元件1发射出的处于有效区内的激光束10,而也可以使DBS 53的厚度减小到其上表面53a不影响第二受光/发光一体型元件2发射出的处于有效区内的激光束11。还可以使DBS 53的厚度减小到其上表面53a不影响上述第一受光/发光一体型元件1发射出的处于有效区内的激光束10、第二受光/发光一体型元件发射出的处于有效区内的激光束11。
也可以将上述监控用光检测元件9置于DBS 53的附近和下方。在此情况下,上述DBS 53的下表面应与包含激光束10和11的光轴12和13的平面呈一个倾角。此外,反射镜74被设置在DBS 53的附近和上方。
(第六实施例)图9以侧视图形式,表示本技术方案第六实施例的光学拾音装置的结构。图9所示的与图1和图2所示的相同部件,采用如图1和图2所示的相同标号,省略说明。该实施例中,DBS 3自身具备反射镜这点与实施例1不同。
图9中,DBS 3的准直透镜4一侧的端表面的一部分形成作为第二反射镜的反射镜3a。该反射镜3a反射第一受光/发光一体型元件1发射出的处于有效区外的激光束15,并引导到监控用光检测元件9。此时,由于不被反射镜3a反射,直接入射至监控用光检测元件9的激光束的光量以及经反射镜74反射而入射至监控用光检测元件9的激光束的光量不会减小。因此,从上述第一受光/发光一体型元件1入射至监控用光检测元件9的激光束的光量增加,能够稳定地APC控制第一受光/发光一体型元件1的输出。
如图10所示的变形例中,在上述DBS 3的内部深处设置作为第二反射镜的反射镜3b。即,上述反射镜3b嵌入DBS 3内部,不暴露在外面。上述反射镜3b反射第一受光/发光一体型元件1发射出的处于有效区外的激光束15,并引导其至监控用光检测元件9。此时,由于不被反射镜65b反射,直接入射到监控用光检测元件9的激光束的光量不会减小。因此,从上述第一受光/发光一体型元件1入射到监控用光检测元件9的激光束的光量增加,能够稳定地APC控制第一受光/发光一体型元件1的输出。
如果将固定上述DBS 3用的粘结剂涂覆到反射镜的附近,粘结剂可能腐蚀反射镜的反射表面。然而,由于上述反射镜3b深置于DBS 3内,所以反射镜3b的反射表面不暴露在外面,不会在反射镜3b的反射面产生由于固定用的粘结剂等引起的腐蚀或性能变坏。
图9和图10所示的反射镜3a和3b是凹面镜,但也可以是平面镜。也就是说,反射镜3a和3b可以呈任何形状,只要能反射第一受光/发光一体型元件1发射出的处于有效区外的激光束15并将其引导至监控用光检测元件9即可。
虽未图示,上述反射镜3a和3b的反射面可以呈曲面形状,将来自两个不同方向的激光束引导到监控用光检测元件9。具体的说,上述反射镜3a和3b的反射面可以是曲面,以便反射第一和第二受光/发光一体型元件1和2发射出的处于有效区外的激光束,并将其引导到监控用光检测元件9。这种情况下,上述第一和第二受光/发光一体型元件1和2发射出的、并入射到监控用光检测元件9的激光束的光量增加,所以能够稳定地APC控制第一和第二受光/发光一体型元件1和2的输出。
上述反射镜74和75的反射面可以是曲面,以便将来自两个不同方向的激光束引导到监控用光检测元件9。
以上叙述的本技术方案,显然可以作多种改进。这些改进不被认为是脱离了本技术方案的精神和范围,对于本领域的技术人员来说,所有这些改进显然都包括在权利要求的范围之内。
权利要求1.一种光学拾音装置,对信息记录介质进行信息的重放、抹除和记录中的至少一种操作,其特征在于,包括第一光源,向上述信息记录介质发射激光束;第二光源,向上述信息记录介质发射激光束,该激光束的波长不同于上述第一光源的激光束的波长,并且该激光束的光轴不平行于上述第一光源的激光束的光轴;光学元件,设置得使上述第一和第二光源发射出的激光束经由该光学元件传播,该光学元件使上述第一光源的激光束的光轴和上述第二光源的激光束的光轴在输出侧基本一致;以及监控用光检测元件,接收上述第一和第二光源发射出的上述激光束的一部分,上述监控用光检测元件的受光面与上述第一和第二光源的激光束的光轴基本平行,在上述光学元件的附近设置第一反射镜,该第一反射镜用于增加入射到上述监控用光检测元件的上述受光面的激光束。
2.根据权利要求1所述的光学拾音装置,其特征在于上述第一反射镜采用框体的一部分而形成,该框体内放置有上述第一光源、第二光源、上述光学元件和上述监控用光检测元件。
3.根据权利要求1或2所述的光学拾音装置,其特征在于上述第一光源和上述第二光源中至少有一个是受光/发光一体型元件,该受光/发光一体型元件所具有的发光元件,与接收由上述信息记录介质反射的反射光束的受光元件一体化。
4.根据权利要求1或2所述的光学拾音装置,其特征在于上述第一光源和上述第二光源中至少有一个是发光元件,该发光元件与接收由上述信息记录介质反射的反射光束的受光元件分离。
5.根据权利要求1或2所述的光学拾音装置,其特征在于上述第一光源的激光束的光轴与上述第二光源的激光束的光轴非正交;并且,上述光学元件是多面体,接收上述第一光源的激光束的表面与接收上述第二光源的激光束的表面非正交而倾斜。
6.根据权利要求1或2所述的光学拾音装置,其特征在于具备第三光源,该第三光源向上述信息记录介质发射与上述第一和第二光源的激光束的波长不同波长的激光束,上述光学元件使上述第一光源的激光束的光轴、上述第二光源的激光束的光轴、上述第三光源的激光束的光轴在其输出侧基本一致。
7.根据权利要求1或2所述的光学拾音装置,其特征在于上述监控用光检测元件一侧的上述光学元件的表面倾斜于包括上述第一和第二光源的激光束的光轴的平面。
8.根据权利要求1或2所述的光学拾音装置,其特征在于上述光学元件和上述监控用光检测元件一体化。
9.根据权利要求1或2所述的光学拾音装置,其特征在于在上述光学元件的端面设置第二反射镜,该第二反射镜用于增加入射到上述监控用光检测元件的上述受光面的激光束。
10.根据权利要求1或2所述的光学拾音装置,其特征在于在上述光学元件的内部嵌入第二反射镜,该第二反射镜用于增加入射到上述监控用光检测元件的上述受光面的激光束,上述第二反射镜不暴露在外面。
11.根据权利要求9所述的光学拾音装置,其特征在于上述第二反射镜的反射面弯曲,以便将来自互不相同的两个方向的激光束引导到上述监控用光检测元件的上述受光面。
12.根据权利要求10所述的光学拾音装置,其特征在于上述第二反射镜的反射面弯曲,以便将来自互不相同的两个方向的激光束引导到上述监控用光检测元件的上述受光面。
专利摘要一种光学拾音装置,具有向光盘发射激光束(10)的第一受光/发光一体型元件(1),向光盘发射激光束(11)的第二受光/发光一体型元件(2),激光束(11)的波长不同于激光束(10)的波长。DBS(3)设置在上述激光束的光路中,使激光束的光轴(12,13)在输出侧基本一致。监控用光检测元件(9)设置在上述DBS附近和上方,这样,监控用光检测元件(9)的受光面基本上平行于激光束(10,11)的光轴(12,13)。在DBS(3)的附近和下方设置反射镜(74)。监控用光检测元件(9)接收第一和第二受光/发光一体型元件(1,2)发射出的处于有效区外的激光束(14,16)。
文档编号G11B7/135GK2791806SQ20052000267
公开日2006年6月28日 申请日期2005年1月28日 优先权日2005年1月28日
发明者片山忠则 申请人:夏普株式会社
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