具有非易失性存储器的集成电路及其写入保护方法

文档序号:6784009阅读:106来源:国知局
专利名称:具有非易失性存储器的集成电路及其写入保护方法
技术领域
本发明大体而言涉及具有非易失性存储器的数字集成电路装置,且更具体而言,涉及在具有双信号协议的装置中对非易失性存储器的写入保护。
背景技术
出于成本及空间两种考虑因素,集成电路装置变得越来越小且信号引线越来越少。通常,一集成电路装置可位于一具有五至八个引脚的集成电路封装中。这些引脚中的至少两个必须分别用于电源及接地,例如VDD及VSS。这就使得只剩下三至六个引脚可用于有用的信号及控制目的。当单个集成电路小片上或多个小片上的复数个集成电路装置位于一集成电路封装中时,可使用更多的引脚,但由于装置功能的数量,这些引脚仍然有限。
其参数值会增大及减小的典型集成电路装置为(例如)数字变阻器、数字电位计、数字计数器、可编程增益放大器、模数N分频器及数字-模拟转换器(DAC)。这些与递增/递减相关的装置通常需要某种方式来控制对这些装置所用参数值的递增及递减。这些装置的另一所希望的特征是在在一非易失性存储器中存储在移除所述装置的电源前所使用的最后参数值或防止出现例如静电放电或射频干扰(RPI)等破坏性事件。非易失性存储器可为(例如)一次性可编程(OTP)电可编程只读存储器(EPROM)、电可擦可编程只读存储器(EEPROM)、FLASH存储器及类似存储器。
低引脚数装置必须使集成电路封装中每一引脚的功能最大化。同样地,一双(2)导线上/下协议可使用(例如)递增/递减(U/D)及芯片选择(CS)信号控制引脚。然而,当在此一装置中使用非易失性存储器时,需要进行写入保护,以便U/D及/或CS信号上可能出现的噪声将不会使存储于非易失性存储器中的所期望值意外地递增或递减。存储于非易失性存储器中的所期望值的意外改变可导致出现灾难性的应用故障。另外,写入保护可确保即使当U/D及/或CS信号不为静态(有意地或意外地)时对非易失性存储器中的值的工厂校准也仍将保持原样。通常,写入保护功能将需要一额外的信号引脚,例如WR或WP引脚。因此,写入保护功能会在低引脚数集成电路封装中占用一宝贵的信号引脚。
需要对一具有可存储于非易失性存储器中的递增和递减参数值的集成电路装置进行写入保护,使包括对非易失性存储器进行写入保护在内的所有这些功能只需要两个信号节点或引脚。

发明内容
本发明通过下述方式克服了上述问题以及现有技术的其它缺陷及不足为一具有可存储于一非易失性存储器中并可受到写入保护的参数值的集成电路装置提供硬件及软件方法、系统及设备,以使包括对所述非易失性存储器进行写入保护在内的所有功能只需要两个信号节点或引脚。所述集成电路装置可为(例如,但不限于)一数字变阻器、数字电位计、数字计数器、可编程增益放大器、模数N分频器、数字-模拟转换器(DAC)及类似装置。本发明适用于任何具有一(或多个)变化(例如递增和递减)的参数的电子电路,所述参数随后被保存于一非易失性存储器中以便在移除所述集成电路装置的电源时保持所述参数的值。
根据本发明的一具体实例性实施例,可将一上/下或递增/递减(以下称为“U/D”)控制信号与一芯片选择(下文称为“CS”)控制信号相结合用于递增和递减一集成电路装置的参数并用于有选择地将所述参数保存于非易失性存储器中。也可实施对所述集成电路装置参数的递增和递减而不将所述参数保存于非易失性存储器中,或在实施对所述参数的递增或递减后可保存所述参数。所述U/D及CS控制信号可彼此独立地处于一第一逻辑电平或一第二逻辑电平。所述U/D及CS控制信号也可为“低态现用”(当处于逻辑低时允许)、“高态现用”(当处于逻辑高时允许)或其任一组合且彼此独立。另外,所述第一及第二逻辑电平将分别大致处于第一及第二电压,或反之。所述第一电压将小于所述第二电压,例如所述第一电压可(例如)介于约零(0)伏特至约0.7伏特之间而所述第二电压可(例如)介于约2.7伏特至约5.5伏特之间。
本发明各具体实例性实施例提供对所述非易失性存储器的写入保护锁定功能,所述写入保护锁定功能可用于在所述U/D及CS控制信号将影响对所述非易失性存储器的写入时有效地锁闭(忽略)所述U/D及CS控制信号的跃迁,直至所述两个控制信号中的至少一个(例如所述CS控制信号)被驱动至一大致处于一第三电压的第三逻辑电平为止。所述第三电压大于所述第二电压,例如所述第三电压可(例如)大于约7伏特。使所述第三电压使用一高于所述第二及第一电压的阀电压电平还有利于防止因噪声或因所述U/D及CS信号的有意的低电压(第一及第二逻辑电平)跃迁而使存储于所述非易失性存储器中的所述递增/递减值出现意外变化。
可将所述写入保护锁定功能构建成一写入保护(WP)位,所述写入保护(WP)位可由所述两个U/D及CS信号中至少一个的逻辑电平及其跃迁的组合来加以设定或清除。例如,U/D及CS上的较低电压(分别处于所述第一及第三电压下的第一及第二逻辑电平)递增/递减命令基本上类似于U/D及CS上的高电压递增/递减命令,只是CS现在处于所述第三逻辑电平(第三电压)。如本文中所更全面阐述,当所述CS控制信号处于所述第三逻辑电平并跃迁回所述第二逻辑电平时,可分别设定或清除所述WP位来对所述非易失性存储器进行写入保护或写入允许。
为了便于下文中解释各具体实例性实施例是如何工作来改变参数值(例如递增和递减)、将参数值存储于非易失性存储器中、及对所述非易失性存储器进行写入保护或写入允许,将从所述第一逻辑电平至所述第二逻辑电平的跃迁称作“上升沿”而将从所述第二逻辑电平至所述第一逻辑电平的跃迁称作“下降沿”。同样地,将从所述第二逻辑电平至所述第三逻辑电平的跃迁称作“正的上升沿”而将从所述第三逻辑电平至所述第二逻辑电平的跃迁称作一“正的下降沿”。
所述CS控制信号在其从所述第二逻辑电平变成所述第一逻辑电平(下降沿)时选择一具体集成电路装置。所述U/D控制信号在一CS控制信号下降沿上所处的逻辑电平决定了所述集成电路装置将在所述U/D控制信号逻辑电平跃迁的每一随后上升沿上递增(U/D控制信号在一CS控制信号下降沿上处于所述第二逻辑电平)还是递减(U/D控制信号在一CS控制信号下降沿上处于所述第一逻辑电平)。可通过任何两线式串行总线协议(例如I2C等等)来实现其它参数变化形式。
如果U/D逻辑电平在所述CS控制信号的下降沿处与下一上升沿处为不同的逻辑电平,则将出现向非易失性存储器的最新参数值写入。如果所述U/D逻辑电平在所述CS控制信号的下降沿及下一上升沿二者上相同,则不会出现向非易失性存储器的写入。此使本发明能够无需每当所述CS控制信号取消选择所述集成电路装置时均实施一向非易失性存储器的长持续时间的写入便可控制所述装置参数。因此,可与在所述CS控制信号选择所述装置期间所作的任何参数变化无关地实施最新装置参数向所述非易失性存储器的写入。通过只在适当时写入至所述非易失性存储器,可节约大量功率及装置等待时间。减少向一非易失性存储器进行写入的次数将会增加其可用工作寿命。
例如,如果所述第一逻辑电平由“0”表示,则所述第二逻辑电平由“1”表示,上升沿跃迁由“↑”表示且下降沿跃迁由“↓”表示。对于递减模式-U/C=0及↓CS;此后CS=0,且对于每一↑U/D,所述参数均将递减一个单位。如果在↑CS时U/D=1,则将向非易失性存储器中写入所述装置参数的最后递减量。然而,如果在↑CS时U/D=0,则将不向非易失性存储器中进行写入。同样地,对于递增模式-U/D=1及↓CS;此后CS=0,且对于每一↑U/D,所述参数均将递增一个单位。如果在↑CS时U/D=0,则将向非易失性存储器写入所述装置参数的最后增量。然而,如果在↑CS时U/D=1,则将不向非易失性存储器中进行写入。
在根据本发明实施前述控制作业时可使用CS与U/D控制信号逻辑电平沿跃迁方向与逻辑电平的任一组合,此仍涵盖并归属于本发明的范围内,例如可用所述第一逻辑电平代替所述第二逻辑电平,反之亦然。另外,上升沿跃迁“↑”与下降沿跃迁“↓”可互换,此并不影响本发明的运作。
作为另一用于解释对所述非易失性存储器的写入保护的允许及禁止的实例,当所述CS控制信号自所述第二逻辑电平跃迁至所述第三逻辑电平时,该正的上升沿跃迁将由“+↑CS”表示,而当所述CS控制信号自所述第三逻辑电平跃迁回所述第二逻辑电平时,该正的下降沿跃迁将由“+↓CS”表示。
在要允许写入保护(写入锁定)时,使所述CS控制信号自所述第二逻辑电平跃迁至所述第三逻辑电平(+↑CS),并随后使所述CS控制信号自所述第三逻辑电平跃迁回所述第二逻辑电平(+↓CS)。如果在+↑CS与+↓CS跃迁期间的U/D控制信号逻辑电平不同,例如在+↑CS时U/D=1且在+↓CS时U/D=0,或在+↑CS时U/D=0且在+↓CS时U/D=1,则将允许所述写入保护锁定功能(将写入保护“WP”位设定(例如)成逻辑1)。
在要禁止写入保护(写入锁定)时,使所述CS控制信号自所述第二逻辑电平跃迁至所述第三逻辑电平(+↑CS),并随后使所述CS控制信号自所述第三逻辑电平跃迁回所述第二逻辑电平(+↓CS)。如果在+↑CS及+↓CS跃迁期间的U/D控制信号逻辑电平相同,例如在+↑CS时U/D=1且在+↓CS时U/D=1,或在+↑CS时U/D=0且在+↓CS时U/D=0,则将禁止所述写入保护锁定功能(将写入保护“WP”位清除(例如)成逻辑0)。
可利用任两个或更多个信号串行总线协议来改变一(或多个)参数值、将所述参数值写入至非易失性存储器中、及通过在所述两个或更多个信号串行总线中的至少一个上利用三个不同逻辑电平的任一组合来允许和禁止对所述非易失性存储器的写入保护,此仍涵盖并归属于本发明范围内。
所述集成电路装置可封装于一低引脚数封装(例如(举例而言)SOT-23-5、SOT-23-6、MSOP-8、SOIC-8及类似封装)中。
数字电位计及变阻器的实例更全面地阐述于由Brunolli等人的共同拥有的第6,201,491号美国专利中,该美国专利是在2001年3月13日所颁予并出于各种目的以引用方式并入本文中。
本发明的一技术优势是只使用两个信号节点来改变一装置参数、将所述装置参数写入至或不写入至非易失性存储器中、对所述非易失性存储器进行写入保护允许及禁止、及对所述集成电路装置进行装置选择。
另一技术优势是通过使用一更高的电压逻辑电平来允许及禁止对所述非易失性存储器的写入保护而使噪声容限更佳并使误触发减少。
另一技术优势是使对低引脚数封装中控制信号引脚的需要量最小化。
本发明的一技术特征是多功能控制信号,其以最少数量的不同控制信号以各种组合方式用于复数个控制功能。
结合附图阅读下文对出于揭示本发明的目的而给出的各实施例的说明将易知本发明的特征及优点。


结合附图阅读下文说明可更全面地理解本发明揭示内容及其优点,在图式中图1图解说明一根据本发明一实例性具体实施例的集成电路装置的示意性方块图;图2图解说明一数字变阻器的示意图,所述数字变阻器具有一个连接至电源VSS的端部及可供用于连接至一外部电路的滑动片;图3图解说明一数字变阻器的示意图,所述数字变阻器具有一个端部及可供用于连接至一外部电路的滑动片;图4图解说明一数字电位计的示意图,所述数字电位计具有一连接至电源VSS的第一端部、一第二端部及可供用于连接至一外部电路的滑动片;图5图解说明一数字电位计的示意图,所述数字电位计具有第一及第二端部及可供用于连接至一外部电路的滑动片;图6图解说明一根据本发明一实例性具体实施例用于递减一装置参数并将所述参数写入或不写入至非易失性存储器中的控制信号序列的示意信号图;图7图解说明一根据本发明另一实例性具体实施例用于递增一装置参数并将所述参数写入或不写入至非易失性存储器中的控制信号序列的示意信号图;图8a-8c图解说明用于允许对所述非易失性存储器的写入保护的控制信号序列的示意信号图;及图9a-9c图解说明用于禁止对所述非易失性存储器的写入保护的控制信号序列的示意信号图。
虽然本发明易于得出各种修改及替代形式,但在图式中以举例方式显示并在文中详细说明其特定的实例性实施例。然而,应了解,本文对特定实施例的说明并非意欲将本发明限定于所揭示的特定形式,而是相反,本文意欲涵盖仍归属于由随附权利要求书所界定的本发明精神及范畴内的所有修改、等效及替代形式。
具体实施例方式
本发明涉及一种通过使用一种只需要使用集成电路装置的两个信号节点的控制协议而使一集成电路装置递增及递减其参数并有选择地将所述参数保存于非易失性存储器中的方法、系统及设备。
现在参见图式,图中示意性地图解说明本发明各实例性实施例的细节。各图式中相同的元件将由相同的编号表示,且相似的元件将由带有一不同的小写字母后缀的相同的编号表示。
现在参见图1,图中描绘一根据本发明一实例性具体实施例的集成电路装置的示意性方块图。所述集成电路装置-其总体上由编号100表示-可包括加电及电压降低控制102、两线式接口及控制逻辑104、滑动片控制(递增/递减)寄存器106、非易失性存储器(例如OTP EPROM、EEPROM或FLASH)108、及一装置参数110(例如数字变阻器、数字电位计、数字计数器、可编程增益放大器、模数N分频器、及数字-模拟转换器(DAC)及类似装置)。
加电及电压降低控制102确保装置在一已知条件下加电且在电源电压过低时将不实施逻辑及控制功能。
两线式接口及控制逻辑104适于接收控制信号,其中每一控制信号均可处于两个逻辑电平(例如一可处于与电源VSS基本相同的电压的第一逻辑电平(“0”)及一可处于与电源电压VDD基本相同的电压的第二逻辑电平(“1”))之一。两线式接口及控制逻辑104检测所接收到的逻辑电平并且还可确定所述输入控制信号何时自第一逻辑电平跃迁至第二逻辑电平(上升沿跃迁“↑”)及自第二逻辑电平跃迁至第一逻辑电平(下降沿跃迁“↓”)。可对由两线式接口及控制逻辑104所接收到的逻辑电平与信号跃迁方向的组合进行解码,以用于选择装置、控制装置参数及有选择地将参数写入至非易失性存储器108中。可通过以两线式接口及控制逻辑104递减及递增寄存器106来控制所述装置参数。一芯片选择(“CS”)输入112可用于选择或允许装置100。一上-下(递增/递减)(“U/D”)输入114可用于递增及递减装置参数110。
现在参见图2-5,图中绘示根据本发明各实例性实施例的特定可变电阻装置的各种配置的示意图。一变阻器通常具有两个节点A及W,在这两个节点之间为一可调电阻。一电位计通常具有三个节点A、B及W。A为一顶部节点,B为一底部节点而W为一耦接至电位计电阻的可调部分。图2中所描绘的变阻器110a的B节点连接至封装引脚2(VSS)、W节点连接至装置100的封装引脚5。图3中所描绘的变阻器110b的A节点连接至封装引脚6、W节点连接至装置100的封装引脚5。图4中所描绘的电位计110c的A节点连接至封装引脚6、W节点连接至封装引脚5且B节点连接至装置100的封装引脚2(VSS)。图5中所描绘的电位计110d的A节点连接至封装引脚3、W节点连接至封装引脚4且B节点连接至装置100的封装引脚6。VDD及VSS分别为每一装置100的电源及接地。
通过将CS输入112及U/D输入114上的逻辑电平与其跃迁方向相结合来确定装置参数110的装置100控制协议。现在参见图6,图中描绘一控制信号序列的示意性信号图,所述控制信号序列用于递减一装置参数110并将参数110的值写入或不写入至非易失性(NV)存储器108中。在602时刻,U/D输入114处于第一逻辑电平而CS输入112处于一从第二逻辑电平到第一逻辑电平的下降沿跃迁中。此向控制逻辑104表明只要CS输入112处于第一逻辑电平,参数110就将在U/D输入114进行后续上升沿跃迁时递减。在604、606及608时刻,U/D输入114具有一上升沿跃迁且参数110因此递减三个单位。然而,存储于非易失性存储器108中的参数值仍保持为原始启始值(X)。在610时刻,CS输入112变回第二逻辑电平而U/D输入114处于第二逻辑电平。此使参数110的最后值(X-3)被写入至非易失性存储器108中。
在612时刻,U/D输入114处于第一逻辑电平而CS输入112处于一从第二逻辑电平到第一逻辑电平的下降沿跃迁中。此向控制逻辑104表明只要CS输入112处于第一逻辑电平,参数110就将在U/D输入114后续上升沿跃迁时递减。在614、616及618时刻,U/D输入114具有一上升沿跃迁且参数110因此递减三个单位。在620时刻,CS输入112变回第二逻辑电平而U/D输入114处于第一逻辑电平。此使得不向非易失性存储器108写入参数110。因此,非易失性存储器108将保持最后所写入(在610处)的值(X-3)。
现在参见图7,图中描绘一控制信号序列的示意性信号图,所述控制信号序列用于递增一装置参数110并将参数110的值写入或不写入至非易失性存储器108中。在702时刻,U/D输入114处于第二逻辑电平而CS输入112处于一从第二逻辑电平到第一逻辑电平的下降沿跃迁中。此向控制逻辑104表明只要CS输入112处于第一逻辑电平,参数110就将在U/D输入114进行后续上升沿跃迁时递增。在704、706及708时刻,U/D输入114具有一上升沿跃迁且参数110因此递增三个单位(X+3)。在710时刻,CS输入112变回第二逻辑电平而U/D输入114处于第一逻辑电平。此使参数110的最后值(X+3)被写入至非易失性存储器108中。
在712时刻,U/D输入114处于第二逻辑电平而CS输入112处于一从第二逻辑电平到第一逻辑电平的下降沿跃迁中。此向控制逻辑104表明只要CS输入112处于第一逻辑电平,参数110就将在U/D输入114进行后续上升沿跃迁时递增。在714、716及718时刻,U/D输入114具有一上升沿跃迁且参数110因此递增三个单位。在720时刻,CS输入112变回第二逻辑电平而U/D输入114处于第二逻辑电平。此使得不向非易失性存储器108中写入参数110。因此,非易失性存储器108将保持最后所写入(在710处)的值(X+3)。
芯片选择、对装置参数110的递增及递减及对向一非易失性存储器108中写入参数110的值的独立控制是仅使用两个输入信号CS输入112及U/D输入114来实施的。本具体实例性实施例是当在CS输入112从第二逻辑电平变成第一逻辑电平(下降跃迁)并随后变回第二逻辑电平(上升跃迁)时U/D输入114处于不同逻辑电平时决定向非易失性存储器108进行写入,然而,本发明涵盖且其范围内包括可在CS输入112从第二逻辑电平变成第一逻辑电平并随后变回第一逻辑电平时U/D输入114处于相同逻辑电平时实施写入。此外,U/D输入的下降跃迁可用于递增及递减参数110的值。
现在参见图8a-8c,图中描绘用于允许对非易失性存储器的写入保护的控制信号序列的示意性信号图。在图8a中,CS输入112及U/S输入114二者均处于第二逻辑电平。在802a时刻,CS输入112处于一从第二逻辑电平到一第三逻辑电平(第三逻辑电平处于一高于第二逻辑电平的电压)的上升沿跃迁中。在804a时刻,CS输入112处于一从第三逻辑电平至第二逻辑电平的下降沿跃迁中而U/D输入114处于第一逻辑电平。因U/D输入114的逻辑电平在802a时刻与804a时刻有所不同,故允许对非易失性存储器的写入保护。因装置参数110在802a时刻与804a时刻之间尚未发生变化,故非易失性存储器108的内容保持不变。
在图8b中,CS输入112及U/D输入114二者均处于第二逻辑电平。在802b时刻,CS输入112处于一从第二逻辑电平至第三逻辑电平的上升沿跃迁中。在804b时刻,CS输入112处于一从第三逻辑电平到第二逻辑电平的下降沿跃迁中而U/D输入114处于第一逻辑电平。因U/D输入114的逻辑电平在802b时刻与804b时刻有所不同,故允许对非易失性存储器的写入保护。因在802b时刻与804b时刻之间装置参数110已增大(例如递增)了N个单位,故将非易失性存储器108的内容更新为新参数值。
在图8c中,CS输入112处于第二逻辑电平而U/D输入114处于第一逻辑电平。在802c时刻,CS输入112处于一从第二逻辑电平到第三逻辑电平的上升沿跃迁中。在804c时刻,CS输入112处于一从第三逻辑电平到第二逻辑电平的下降沿跃迁中而U/D输入114处于第二逻辑电平。因U/D输入114的逻辑电平在802c时刻与804c时刻有所不同,故允许对非易失性存储器的写入保护。因在802c时刻与804c时刻之间装置参数110已减小(例如递减)了N个单位,故将非易失性存储器108的内容更新为所述新参数值。
现在参见图9a-9c,图中描绘用于禁止对非易失性存储器的写入保护的控制信号序列的示意性信号图。在图9a中,CS输入112及U/D输入114二者均处于第二逻辑电平。在902a时刻,CS输入112处于一从第二逻辑电平到第三逻辑电平的上升沿跃迁中。在904a时刻,CS输入112处于一从第三逻辑电平到第二逻辑电平的下降沿跃迁中而U/D输入114保持处于第二逻辑电平。因U/D输入114的逻辑电平在902a时刻与904a时刻相同,故禁止对非易失性存储器的写入保护。因装置参数110在902a时刻与904a时刻之间未发生变化,故非易失性存储器108的内容保持不变。
在图9b中,CS输入112及U/D输入114二者均处于第二逻辑电平。在902b时刻,CS输入112处于一从第二逻辑电平到第三逻辑电平的上升沿跃迁中。在904b时刻,CS输入112处于一从第三逻辑电平到第二逻辑电平的下降沿跃迁中而U/D输入114保持处于第二逻辑电平。因U/D输入114的逻辑电平在902b时刻与904b时刻相同,故禁止对非易失性存储器的写入保护。因装置参数110在902b时刻与904b时刻之间已增大(例如递增)了N个单位,故将非易失性存储器108的内容更新为所述新参数值。
在图9c中,CS输入112处于第二逻辑电平而U/D输入114处于第一逻辑电平。在902c时刻,CS输入112处于一从第二逻辑电平到第三逻辑电平的上升沿跃迁中。在904c时刻,CS输入112处于一从第三逻辑电平到第二逻辑电平的下降沿跃迁中而U/D输入114保持处于第一逻辑电平。因U/D输入114的逻辑电平在902c时刻与904c时刻相同,故禁止对非易失性存储器的写入保护。因装置参数110在902c时刻与904c时刻之间已减小(例如递减)了N个单位,故将非易失性存储器108的内容更新为所述新参数值。
可利用任两个或更多个信号串行总线协议来改变一(或多个)参数值、将所述参数值写入至非易失性存储器中、及通过在所述两个或更多个信号串行总线中的至少一个上利用三个不同逻辑电平的任一组合来允许和禁止对所述非易失性存储器的写入保护,此仍涵盖及归属于本发明的范畴内。
因此,本发明很适于实现所述目的及达成所述目标及优点以及其中所固有的其它目标及优点。虽然是参照本发明的实例性实施例来描绘、说明及界定本发明,但此种参照并不意味着限定本发明,且不应推断出存在此种限定。本发明能够在形式及功能上具有大量修改、替代及等效形式,相关领域的技术人员根据本揭示内容将会联想到这些修改、替代及等效形式。所示及所述的本发明各实施例仅作为实例性实施例,而并非是对本发明范围的穷尽性说明。因此,本发明旨在仅受随附权利要求书的精神及范围限定,从而对各个方面的等效形式予以充分认知。
权利要求
1.一种集成电路,其具有一具一可调参数的装置及一用于存储所述可调参数的一当前值的非易失性存储器,其包括控制逻辑,其具有一第一输入、一第二输入、一存储器控制输出、一参数控制输出及一写入保护控制输出,其中所述第一输入适于在第一、第二及第三逻辑电平下运行且所述第二输入适于在所述第一及第二逻辑电平下运行;一具有一可调参数的装置,所述可调参数具有一值范围,其中所述参数控制输出使所述可调参数在所述值范围内改变至一当前值;及一用于存储所述当前值的非易失性存储器,其中所述存储器控制输出使所述当前值写入至所述非易失性存储器中且所述写入保护控制输出允许及禁止向所述非易失性存储器的写入。
2.如权利要求1所述的集成电路,其中所述第三逻辑电平处于一高于所述第二逻辑电平的电压且所述第二逻辑电平处于一高于所述第一逻辑电平的电压。
3.如权利要求2所述的集成电路,其中所述第三逻辑电平大于或等于约7伏特,所述第二逻辑电平自约2.7伏特至约5.5伏特,且所述第一逻辑电平自约0伏特至约0.7伏特。
4.如权利要求1所述的集成电路,其中所述第一输入选择所述装置且所述第二输入改变所述可调参数。
5.如权利要求1所述的集成电路,其中所述第一及第二输入选择是否将所述当前值写入至所述非易失性存储器中。
6.如权利要求1所述的集成电路,其中如果在所述第一输入从所述第二逻辑电平变成所述第三逻辑电平时与在所述第一输入从所述第三逻辑电平变成所述第二逻辑电平时之间所述可调参数的所述值发生变化,则将所述当前值写入至所述非易失性存储器中。
7.如权利要求1所述的集成电路,其中所述第一及第二输入决定是允许还是禁止向所述非易失性存储器进行写入。
8.如权利要求7所述的集成电路,其中如果在所述第一输入从所述第二逻辑电平变成所述第三逻辑电平时所述第二输入处于所述第二逻辑电平且在所述第一输入从所述第三逻辑电平变成所述第二逻辑电平时所述第二输入处于所述第一逻辑电平,则禁止向所述非易失性存储器的写入。
9.如权利要求7所述的集成电路,其中如果在所述第一输入从所述第二逻辑电平变成所述第三逻辑电平时所述第二输入处于所述第一逻辑电平且在所述第一输入从所述第三逻辑电平变成所述第二逻辑电平时所述第二输入处于所述第二逻辑电平,则禁止向所述非易失性存储器进行写入。
10.如权利要求7所述的集成电路,其中如果在所述第一输入从所述第二逻辑电平变成所述第三逻辑电平时及在所述第一输入从第三逻辑电平变成所述第二逻辑电平时,所述第二输入分别处于不同的逻辑电平,则禁止向所述非易失性存储器进行写入。
11.如权利要求7所述的集成电路,其中如果在所述第一输入从所述第二逻辑电平变成所述第三逻辑电平并随后变回所述第二逻辑电平时所述第二输入处于所述第一逻辑电平,则允许向所述非易失性存储器进行写入。
12.如权利要求7所述的集成电路,其中如果在所述第一输入从所述第二逻辑电平变成所述第三逻辑电平并随后变回所述第二逻辑电平时所述第二输入处于所述第二逻辑电平,则允许向所述非易失性存储器进行写入。
13.如权利要求7所述的集成电路,其中如果在所述第一输入从所述第二逻辑电平变成所述第三逻辑电平并随后变回所述第二逻辑电平时所述第二输入处于相同的逻辑电平,则允许向所述非易失性存储器进行写入。
14.如权利要求7所述的集成电路,其中分别通过清除或设定一写入保护位来允许或禁止使用所述非易失性存储器。
15.如权利要求7所述的集成电路,其中分别通过设定或清除一写入保护位来允许或禁止使用所述非易失性存储器。
16.如权利要求1所述的集成电路,其中所述第一及第二输入决定所述参数的所述值是增大还是减小。
17.如权利要求1所述的集成电路,其中在所述装置掉电或所述装置电压偏低时,所述非易失性存储器保持所述当前值。
18.如权利要求1所述的集成电路,其中所述装置选自由一数字变阻器、一数字电位计、一数字计数器、一可编程增益放大器、一模数N分频器、及一数字-模拟转换器(DAC)组成的群组。
19.如权利要求1所述的集成电路,其进一步包括一囊封所述控制逻辑、所述装置及所述非易失性存储器的集成电路封装。
20.如权利要求19所述的集成电路,其中所述集成电路封装选自由SOT-23-5、SOT-23-6、MSOP-8、及SOIC-8组成的群组。
21.如权利要求1所述的集成电路,其中所述非易失性存储器为一次性可编程(OTP)电可编程只读存储器(EPROM)。
22.如权利要求1所述的集成电路,其中所述非易失性存储器为电可擦可编程只读存储器(EEPROM)。
23.如权利要求1所述的集成电路,其中所述非易失性存储器为FLASH存储器。
24.如权利要求1所述的集成电路,其中当所述第一输入从所述第二逻辑电平变成所述第三逻辑电平且所述第二输入处于所述第一逻辑电平时,则每当所述第二输入从所述第一逻辑电平变成所述第二逻辑电平时,所述可调参数的所述值均减小。
25.如权利要求1所述的集成电路,其中当所述第一输入从所述第二逻辑电平变成所述第三逻辑电平且所述第二输入处于所述第二逻辑电平时,则每当所述第二输入从所述第一逻辑电平变成所述第二逻辑电平时,所述可调参数的所述值均增大。
26.如权利要求1所述的集成电路,其中当所述第一输入从所述第二逻辑电平变成所述第三逻辑电平且所述第二输入处于所述第一逻辑电平时,则每当所述第二输入从所述第二逻辑电平变成所述第一逻辑电平时,所述可调参数的所述值均减小。
27.如权利要求1所述的集成电路,其中当所述第一输入从所述第二逻辑电平变成所述第三逻辑电平且所述第二输入处于所述第二逻辑电平时,则每当所述第二输入从所述第二逻辑电平变成所述第一逻辑电平时,所述可调参数的所述值均增大。
28.一种使用两个控制输入来允许及禁止对一具有一可调参数的集成电路装置中的一非易失性存储器进行写入保护、改变所述可调参数的一值并将所述可调参数的一当前值存储于所述非易失性存储器中的方法,所述方法包括下列步骤判定在一第一控制输入从一第二逻辑电平变成一第三逻辑电平时一第二控制输入是处于一第一逻辑电平还是所述第二逻辑电平;及判定在所述第一控制输入从所述第三逻辑电平变回所述第二逻辑电平时所述第二控制输入是处于所述第一逻辑电平还是所述第二逻辑电平;其中如果在所述第一输入从所述第二逻辑电平变成一第三逻辑电平时所述第二输入处于所述第一逻辑电平,且在所述第一输入从所述第三逻辑电平变回所述第二逻辑电平时所述第二输入处于所述第二逻辑电平,则允许对一非易失性存储器进行写入保护;及如果在所述第一输入从所述第二逻辑电平变成一第三逻辑电平并随后从所述第三逻辑电平变回所述第二逻辑电平时所述第二输入处于所述第一逻辑电平,则禁止对所述非易失性存储器进行写入保护。
29.一种使用两个控制输入来允许及禁止对一具有一可调参数的集成电路装置中的一非易失性存储器进行写入保护、改变所述可调参数的一值并将所述可调参数的一当前值存储于所述非易失性存储器中的方法,所述方法包括下列步骤判定在一第一控制输入从一第二逻辑电平变成一第三逻辑电平时一第二控制输入是处于一第一逻辑电平还是所述第二逻辑电平;及判定在所述第一控制输入从所述第三逻辑电平变回所述第二逻辑电平时所述第二控制输入是处于所述第一逻辑电平还是所述第二逻辑电平;其中如果在所述第一输入从所述第二逻辑电平变成一第三逻辑电平时所述第二输入处于所述第二逻辑电平,且在第一输入从所述第三逻辑电平变回所述第二逻辑电平时所述第二输入处于所述第一逻辑电平,则允许对一非易失性存储器进行写入保护;及如果在所述第一输入从所述第二逻辑电平变成一第三逻辑电平并随后从所述第三逻辑电平变回所述第二逻辑电平时所述第二输入处于所述第二逻辑电平,则禁止对所述非易失性存储器进行写入保护。
30.一种使用两个控制输入来允许及禁止对一具有一可调参数的集成电路装置中的一非易失性存储器进行写入保护、改变所述可调参数的一值并将所述可调参数的一当前值存储于所述非易失性存储器中的方法,所述方法包括下列步骤判定在一第一控制输入从一第二逻辑电平变成一第三逻辑电平时一第二控制输入是处于一第一逻辑电平还是所述第二逻辑电平;及判定在所述第一控制输入从所述第三逻辑电平变回所述第二逻辑电平时所述第二控制输入是处于所述第一逻辑电平还是所述第二逻辑电平;其中如果在所述第一输入从所述第二逻辑电平变成一第三逻辑电平、并随后从所述第三逻辑电平变回所述第二逻辑电平时所述第二输入分别处于不同的逻辑电平,则允许对一非易失性存储器进行写入保护;及如果在所述第一输入从所述第二逻辑电平变成一第三逻辑电平并随后从所述第三逻辑电平变回所述第二逻辑电平时所述第二输入处于相同的逻辑电平,则禁止对所述非易失性存储器进行写入保护。
31.如权利要求30所述的方法,其中所述可调参数选自由电阻、电压、电流、频率、分频及放大增益组成的群组。
32.如权利要求30所述的方法,其中所述第三逻辑电平处于一高于所述第二逻辑电平的电压且所述第二逻辑电平处于一高于所述第一逻辑电平的电压。
33.如权利要求31所述的方法,其中所述第三逻辑电平大于或等于约7伏特,所述第二逻辑电平自约2.7伏特至约5.5伏特,且所述第一逻辑电平自约0伏特至约0.7伏特。
34.如权利要求30所述的方法,其进一步包括在所述第一输入从所述第三逻辑电平变回所述第二逻辑电平时将所述可调参数的所述当前值写入至所述非易失性存储器中的步骤。
35.如权利要求30所述的方法,其进一步包括下列步骤判定所述第一输入何时从所述第二逻辑电平变成所述第三逻辑电平;及判定在所述第一输入从所述第二逻辑电平变成所述第三逻辑电平时所述第二输入是处于所述第一逻辑电平还是所述第二逻辑电平;其中如果在所述第一输入从所述第二逻辑电平变成所述第三逻辑电平时所述第二输入处于所述第一逻辑电平,则每当所述第二输入从所述第一逻辑电平变成所述第二逻辑电平时均减小所述可调参数的所述值;及如果在所述第一输入从所述第二逻辑电平变成所述第三逻辑电平时所述第二输入处于所述第二逻辑电平,则每当所述第二输入从所述第一逻辑电平变成所述第二逻辑电平时均增大所述可调参数的所述值。
全文摘要
本发明揭示一种具有一具一可调参数的装置的集成电路,其利用一双信号控制协议来选择所述装置、改变所述参数值且将所述参数值保存或不保存于一非易失性存储器中、并对所述非易失性存储器中的所述参数值进行写入保护。
文档编号G11C7/24GK1926636SQ200580006896
公开日2007年3月7日 申请日期2005年9月1日 优先权日2004年9月30日
发明者詹姆斯·西蒙斯 申请人:密克罗奇普技术公司
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