专利名称：光驱限制开关检测方法
技术领域：
本发明涉及一种光驱，特别是涉及光驱的限制开关，利用检查限制开关中高低电压的变化，检测限制开关动作的方法。
背景技术：
光驱是利用高速转动光碟片，读写光碟片的数据，必需正确判断光碟片达到定位， 才能转动光碟片，以避免损伤光碟片。同时为了确保使用安全，光驱亦需在确认可以退片的状态，才能打开光驱进行退片。请同时参考图1及图2，图1为现有的光驱1的侧剖面示意图，图2(a)及(b)为现有的光驱1中限制开关的电压变化。现有的光驱1在中空的壳体2内设一托盘3，托盘3 前端设一面板4遮敝壳体2的出入口，面板4上设一退片键5。托盘3上承载一光碟片6， 可由壳体2的出入口滑进或滑出光驱1。托盘3中央设主轴马达7夹箝且转动光碟片6，另设一读取头8沿着光碟片6的径向来回滑动，读写光碟片4的数据。托盘3的后端连接一排线9，排线9的另一端连接至设于壳体2内部后端的主机板10，主机板10设有限制开关 11。托盘3的后端设一弹送机构12，而前端下缘则设一锁固装置13，由电动阀14连动锁固装置13，勾扣或释放设于壳体2的卡榫15。当进片时，由托盘3承载光碟片6进入机壳2，托盘3后端压挤弹送机构12，让锁固装置13勾扣卡榫15，将托盘3锁固在机壳2。同时托盘3的底部触压限制开关11，动作限制开关11。如图2(a)所示，限制开关11的电压由原释放状态的高电压改变为动作的低电压状态，光驱1 一旦检测到限制开关11低电压，即确认光碟片6已到达播放定位，接着执行完成进片的程序。当退片时，由使用者按压退片键5或由完成读写命令的光驱控制，使限制开关11线路中的电压，由低电压状态改变至高电压状态。光驱1检测到限制开关11的高电压，确认需要进行退片，即执行完成退片的程序。同时操作电动阀14连动锁固装置13 脱离卡榫15，让弹送机构12将托盘3弹出壳体2，令移出的托盘3底部释放限制开关11，让限制开关11的电压维持在高电压的状态。然而，现有的光驱1的限制开关11极容易受到空气中悬浮粒子的沾染或氧化，导致限制开关11的电压产生如图2(b)所示不正常的电压跳动(Voltage Bouncing)的现象， 尤其是光驱在高温或高湿或车行激烈振动的环境，更易产生电压跳动现象。电压跳动时，一旦完成进片的光驱检测到限制开关的电压改变至高电压状态，将误判需退片，而立即停止读写进行退片程序，以致光驱频繁进退片，进而影响光驱读写的稳定性及效率。因此，现有的光驱在限制开关动作或释放电压状态的检测上仍有问题，亟待解决。
发明内容
本发明的目的是提供一种光驱限制开关检测方法，检测到限制开关动作时，不立即执行退片，而藉由对限制开关预定多次的电压取样，检测全为高电压时，作为确认限制开关已动作，减少误判退片，以提高光驱的稳定性。
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本发明另一目的在提供一种光驱限制开关检测方法，利用对限制开关连续预定多次的电压取样，让连续取样的时间，超过电压跳动最长的时间，以避免误判退片。本发明再一目的是提供一种光驱限制开关检测方法，依次检测限制开关的电压取样，一检测到低电压，即停止退片及停止继续取样，以提高光驱的效率。为了达到前述发明的目的，本发明的光驱限制开关检测方法，在光驱的限制开关为高电压时进片；检测限制开关改变至低电压则完成进片程序；再检测限制开关改变回高电压，对限制开关进行预定多次的电压取样，且检测电压取样不全为高电压，维持在完成进片的状态，检测全为高电压则完成退片程序。本发明预定多次电压取样的间隔时间可为固定或不固定，亦可为无间隔时间的连续预定多次的电压取样，且连续电压取样时间总和，需超过一次最长持续电压跳动时间。利用电压取样检测不是全为高电压，判断为限制开关不正常电压跳动，而检测全为高电压，则判断为限制开关动作。另外对电压取样可采用整体或依次进行检测电压，每次检测电压，只要检测到非高压，就判断预定多次的电压取样不是全为高电压，并停止后续的电压取样，且维持在完成进片的状态。
图1为现有的光驱的侧剖面示意图。图2(a)及(b)为现有的光驱中限制开关的电压变化图。图3为本发明第一实施例的光驱限制开关的电压示意图。图4为本发明第一实施例的光驱限制开关检测方法的流程图。图5为本发明第二实施例的光驱限制开关的电压示意图。图6为本发明第二实施例的光驱限制开关检测方法的流程图。附图符号说明1 光马区2 壳体3 托盘4 面板5 退片键6 光碟片7 主轴马达8 读取头9 排线10 主机板11 限制开关12弹送机构13锁固装置14 电动阀15 卡榫
具体实施例方式有关本发明为实现上述目的，所采用的技术手段及其功效，兹举较佳实施例，并结合
如下。请参考图3，为本发明第一实施例的光驱限制开关检测电压的示意图。光驱限制开关的电压由释放限制开关的高电压状态，经触压动作限制开关完成进片后，电压产生改变而维持在低电压状态。完成进片的光驱再检测到限制开关的电压改变回到高电压，如图 3中虚线V’所示，有可能是正常退片指令产生的电压改变，也有可能是不正常的电压跳动P 产生的电压改变。为了避免将不正常的电压跳动P，误判为正常退片指令产生的高电压，本发明对完成进片的光驱检测到限制开关的高电压后，并不立即执行退片程序，再对限制开关的电压进行取样检测，以判别正常退片指令。经实际量测，当限制开关产生不正常的电压跳动现象时，电压跳动的时间ΔΤ维持在0至30ms(毫秒)之间，而对限制开关进行电压取样检测的一次取样时间At需要 20ms。由于一次的电压取样时间At小于较长的电压跳动时间ΔΤ，如果单次的对限制开关的电压取样检测，可能仍然在电压跳动时间ΔΤ内而造成取样到不正常的电压。为了避免单次电压取样的不正确，本发明对限制开关采取预定多次的电压取样。图3中虽以电压取样m及N2两次取样作为举例说明，但不限于两次，两次以上的预定多次的电压取样，以及预定多次取样间隔时间t的固定或不固定间隔时间长短的调整，以避免在电压跳动时间 ΔΤ内电压取样的技术，均属本发明的技术范畴。本发明光驱限制开关检测方法，在光驱进片触压动作限制开关，完成进片且维持在低电压状态后。当光驱检测到限制开关的电压回到高电压时，并不立即执行退片程序， 而是对限制开关再进行预定多次的电压取样检测，在检测预定多次取样的电压全为高电压时，作为确认释放限制开关已动作，才执行退片程序。而只要检测预定多次取样的电压中有一次为低电压，则确认是限制开关跳动电压的杂讯，即不执行退片程序，而维持在完成进片的状态，以减少误判退片。如图4所示，为本发明第一实施例的光驱限制开关检测方法的流程图。本发明利用预定多次的电压取样确认释放限制开关动作的步骤，详细说明如下首先步骤Rl在光驱的限制开关在高电压，将光碟片推入光驱进行进片；在步骤R2利用检测限制开关改变至低电压，检查限制开关是否动作？如果检测限制开关的高电压未变，限制开关未动作，回至步骤Rl继续进片，如果检测限制开关改变至低电压，限制开关已动作，则至步骤R3完成进片程序；进入步骤R4，检测限制开关是否改变回高电压？如果未检测到限制开关为高电压，回至步骤R3继续维持在完成进片的状态，如果检测到限制开关改变至高电压，则至步骤R5，对限制开关进行预定多次的电压取样；接着进入步骤R6检测电压取样是否全为高电压？如果检测电压取样不是全为高电压，为不正常电压跳动，判断限制开关未动作，而回至步骤R3继续维持在完成进片的状态，如果检测电压取样全为高电压，判断限制开关已动作，则至步骤R7，执行完成退片程序。因此，本发明第一实施例光驱限制开关的检测方法，即可利用对完成进片的光驱， 不论托盘式(Tray type)或吸入式(Slot-in type)光驱，检测到限制开关的电压回到高电压时，不立即执行退片程序，而对限制开关的电压再进行预定多次的取样检测，检测取样全为高电压时，作为确认限制开关已动作，达到减少误判退片，提高光驱的稳定性的目的。
如图5所示，为本发明第二实施例光驱限制开关的电压检测示意图。本发明第二实施例基本上与前述第一实施例利用预定多次的电压取样确认释放限制开关动作的步骤相同。但第一实施例电压取样越多次，虽然可提高检测退片的正确性，但越多次取样，也会增加检测时间，而降低光驱效率。为了提高检测效率，根据实际上量测光驱限制开关发生不间断的电压跳动时间ΔΤ1最长持续为30ms，因此本发明第二实施例将第一实施例预定多次电压取样的间格时间取消为无间格时间，即t = 0，利用连续预定多次的电压取样，例如 20ms的取样m连续20ms的取样N2，让连续预定多次的电压取样时间总和，超过一次最长持续电压跳动时间30ms，即2 Δ t > Δ Tl，就可以较少次的电压取样，快速检测到不正常的电压跳动，以正确判断限制开关的动作。此外，本发明第一实施例在检测预定多次的电压取样全为高电压时，才确认限制开关的动作，所需检测时间较长，本实施例利用每次电压取样，依次检测高电压的方式，只要在检测预定多次的电压取样中，检测到一次非高压，就为第一实施例不全为高电压状态， 立即判断限制开关为不正常的电压跳动，维持在完成进片的状态，并停止后续的电压取样， 可加快判断限制开关的动作。如图6所示，为本发明第二实施例的光驱限制开关检测方法的流程图。本发明利用连续预定多次的电压取样确认限制开关动作的步骤，详细说明如下本发明第二实施例的步骤Sl至步骤S4,与本发明第一实施例的步骤Rl至步骤R4相同，不予赘述。当步骤 S4如果检测到限制开关改变至高电压，则至步骤S5对限制开关进行单次的电压取样；接着进入步骤S6检测该次电压取样是否为高电压？如果检测该次电压取样不是高电压，判断限制开关未动作，而回至步骤S3继续维持在完成进片的状态，如果检测该次电压取样为高电压，则至步骤S7将电压取样次数加一，累计电压取样的次数，接着进入步骤S8，检查累计电压取样的次数是否大于预定多次？如果累计电压取样的次数不大于预定多次，到步骤S9 连续前次电压取样，单次连续电压取样后，再回到步骤S6继续检测，如果累计电压取样的次数大于预定多次，则到步骤SlO执行完成退片程序。因此，本发明第二实施例的光驱限制开关检测方法，即可藉由对限制开关的电压连续预定多次的取样，让连续取样的时间，超过电压跳动最长的时间，以较少次的电压取样，快速检测到不正常的电压跳动。另外，利用依次检测限制开关中的电压取样，一检测到低电压，即停止退片及继续取样，达到高光驱检测效率。以上所述，仅用以方便说明本发明的较佳实施例，本发明的范围不限于所述的较佳实施例，凡依本发明所做的任何变更，于不脱离本发明的精神下，皆属本发明的权利要求的范围。
权利要求
1.一种光驱限制开关检测方法，其步骤包含(1)在光驱的限制开关为高电压时进片；(2)检测限制开关是否改变至低电压？如果检测限制开关的高电压未变，回至步骤 (1)继续进片，如果检测限制开关改变至低电压，则至步骤(3)；(3)完成进片程序；(4)检测限制开关是否改变回高电压？如果未检测到限制开关为高电压，回至步骤 (3)维持在完成进片的状态，如果检测到限制开关为高电压，则至步骤(5)；(5)对限制开关进行预定多次的电压取样，且检测电压取样的电压是否全为高电压？ 如果检测不是全为高电压，回至步骤C3)维持在完成进片的状态，如果检测全为高电压则至步骤(6)；及(6)完成退片程序。
2.如权利要求1所述的光驱限制开关检测方法，其中该检测限制开关是否改变电压， 作为确认限制开关动作。
3.如权利要求1所述的光驱限制开关检测方法，其中该步骤(5)预定多次的电压取样为固定或不固定的间隔时间。
4.如权利要求1所述的光驱限制开关检测方法，其中该步骤(5)电压取样为无间隔时间的连续预定多次的电压取样。
5.如权利要求4所述的光驱限制开关检测方法，其中该连续预定多次的电压取样时间总和，超过一次最长持续电压跳动时间。
6.如权利要求4所述的光驱限制开关检测方法，其中该电压取样的连续预定多次为两次。
7.如权利要求1所述的光驱限制开关检测方法，其中该步骤(5)电压取样检测不是全为高电压，判断为限制开关不正常电压跳动，而检测全为高电压，则判断为限制开关动作。
8.如权利要求1所述的光驱限制开关检测方法，其中该步骤(5)针对每次电压取样，依次进行检测电压。
9.如权利要求8所述的光驱限制开关检测方法，其中该每次的检测电压，只要检测到非高压，就判断预定多次的电压取样不是全为高电压。
10.如权利要求9所述的光驱限制开关检测方法，其中该每次的检测电压，只要检测到非高压，即停止后续的电压取样，而回至步骤C3)维持在完成进片的状态。
全文摘要
一种光驱限制开关检测方法，在限制开关为高电压时进片；检测限制开关改变至低电压则完成进片程序；再检测限制开关改变回高电压，对限制开关进行预定多次的电压取样，且检测电压取样全为高电压时，完成退片程序，而检测不全为高电压时，为电压跳动杂讯，并维持在完成进片的状态，以免误判限制开关动作。
文档编号G11B17/022GK102467933SQ20101054570
公开日2012年5月23日 申请日期2010年11月9日 优先权日2010年11月9日
发明者吴仁琛, 王友圣 申请人:广明光电股份有限公司