专利名称：光记录方法和光记录装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及用于对光盘进行信息记录的光记录方法和光记录装置，特别涉及在记录时使用的写策略(在记录中使用的激光器的发光控制设定值)或在记录功率的最佳控制 (OPC =Optimum Power Control)中使用的OPC用设定值等记录参数的决定方法。
背景技术：
为了对光盘进行信息记录，需要结合光盘的特性适当地调整作为在记录时使用的记录参数的写策略和OPC(记录功率的最佳控制)用的设定值。通常，在光盘中记录有由盘生产商确定的记录参数的推荐值，但是，用于决定所述推荐值的光记录装置的光拾取器与一般的光记录装置的光拾取器的规格不同的情况占绝大多数，所以在这种情况下，即使使用记录参数的推荐值也无法正常记录的情况较多。因此，一般地，光记录装置按照每个光盘的ID (识别信息)保持最佳的记录参数(写策略和OPC用设定值)并用于记录。但是，这样，为了使光记录装置针对光盘保持固有的最佳记录参数，需要按照每个光盘预先求出最佳的记录参数，例如存在如下问题在光记录装置出厂后，针对新发售的光盘，不能具有最佳的记录参数。作为其对应策略，存在如下技术读取由于试写而形成的坑(标记)部分，对读取出的坑部分的信号的偏差进行评价，反复调整写策略的修正使得所述偏差处于规定范围内 (例如参照专利文献1 5)。并且，存在如下技术读出在光盘中记录的写策略的推荐值， 根据写策略的开头脉冲宽度的推荐值，通过计算而求出在记录中使用的开头脉冲宽度(例如专利文献6)。现有技术文献专利文献专利文献1 日本特开2006-004601号公报(第1-14页、第1-16图)专利文献2 日本特开2006-031915号公报(第1-13页、第1-10图)专利文献3 日本特开2006-048907号公报(第1-16页、第1-19图)专利文献4 日本特开2006-164486号公报(第1-13页、第1-17图)专利文献5 日本特开2007-018582号公报(第1-11页、第1-11图)专利文献6 日本特许第3907630号公报(第1-15页、第1-11图)
发明内容
发明要解决的课题在上述现有的光记录装置中，在反复调整写策略的修正的情况下，到记录开始之前需要时间，大量消耗了有限的光盘的测试记录区域。并且，由于写策略的发光规则，需要调整的写策略的参数较多，仅变更各个参数，有时无法进行适当地调整。并且，在通过计算而求出写策略的情况下，根据在光盘中记录的写策略的推荐值的开头脉冲宽度的推荐值，通过计算而求出在记录中使用的开头脉冲宽度，存在只能够对应特定的发光规则而无法对应不同的发光规则的问题。本发明是为了解决上述问题而完成的，其目的在于，得到如下的光记录方法和光记录装置针对预先未判明最佳的记录参数的光盘，也能够求出可进行适当记录的记录参数，而不会在记录开始之前花费较长时间。并且，其目的在于，得到如下的光记录方法和光记录装置与写策略的发光规则或记录倍速无关，能够求出可进行适当记录的记录参数。用于解决课题的手段本发明的光记录方法按照由与记录数据长度对应的多个参数构成的记录参数，在光记录介质上照射激光，从而在光记录介质中记录信息，其特征在于，该光记录方法具有以下步骤记录条件推荐值读取步骤，从记录有记录参数的推荐值的光记录介质中读取所述记录参数的推荐值；记录参数决定步骤，使用在所述记录参数推荐值读取步骤中读取出的所述记录参数推荐值、预先求出的矢量信息和近似系数，求出在记录中应该使用的记录参数；以及写入步骤，使用所求出的记录参数，通过所述记录方法进行针对所述光记录介质的写入，所述矢量信息是按照使参数相互间的相关较强的方式对针对多个光记录介质的记录参数最佳值与所述记录参数推荐值之间的各个参数差分值统计求出的各参数的矢量成分，所述近似系数是通过对转换信息与表示各光记录介质的特征的特征信息之间的关系进行近似而求出的近似系数，该转换信息表示所述矢量信息与所述参数差分值之间的关系，该特征信息是根据所述记录参数推荐值和所述矢量信息求出的。发明效果根据本发明，在与光盘对应的最佳的记录参数不明的情况下，也能够迅速地求出最佳的记录参数。
图1是示出在本发明的实施方式的光记录方法和装置中使用的光盘的结构的一例的图。图2是示出本发明的实施方式的光记录装置的框图。图3(a) (c)是示出在图2的再现特性测定部150中测定的再现信号的不对称的例子的图。图4是示出在图2的再现特性测定部150中测定的再现信号的调制度的例子的图。图5(a) (e)是示出在本发明的实施方式的光记录装置中、在针对光盘的记录为 EFM+(8-16)调制的情况(DVD的情况)下生成的写策略的一例的图。图6是示出本发明的实施方式1的光记录装置中的记录顺序的一例的流程图。图7是示出实施方式1的记录参数决定的处理(图6的步骤S14)的顺序的流程图。
图8是示出实施方式1的光记录装置中的光盘500为DVD-R时的特征参数D与转换参数X之间的关系(实测结果)的图。图9是示出实施方式1的光记录装置中的光盘500为BD-R时的特征参数D与转换参数X之间的关系(实测结果)的图。图10是示出现有的记录参数的列表的图。图11是示出本发明的实施方式2的包含特征参数D和针对该特征参数D的记录参数的偏置量的列表的图。图12是示出本发明的实施方式2的记录参数决定的处理(图6的步骤S14)的顺序的流程图。图13是示出本发明的实施方式3的记录参数决定(图6的步骤S14)的处理的顺序的流程图。图14是示出本发明的实施方式4的光记录装置中的记录顺序的流程图。
具体实施例方式本发明的光记录方法和光记录装置针对预先记录有记录参数推荐值的光盘进行记录。通过该光盘的制造生产商，将记录参数推荐值作为适于在记录中使用的记录参数记录在光盘的规定区域、例如图1的导入区域中。并且，根据光盘的种类来决定用于决定记录参数推荐值的条件、例如光记录装置的光拾取器的规格(例如物镜的数值孔径NA或激光器的波长等)。这里，光盘的种类具有Blu-ray Disc (BD)、DVD、⑶等，还分别被分类为改写型和补记型。光盘所记录的记录参数推荐值包含写策略(脉冲宽度或边缘位置的设定值、记录功率和消去功率的比率等用于决定激光器的发光模式的记录参数的设定值)的推荐值和用于通过OPC对记录功率进行优化的推荐设定值(例如不对称值等)。进而，按照针对光盘进行记录时的记录速度或写策略的发光规则(例如呈多脉冲状发光的规则、呈非多脉冲状发光的规则等)，将记录参数推荐值记录在光盘中。所述记录参数推荐值假设在规定条件下进行记录。因此，如果记录条件不同，则优选利用与记录参数推荐值不同的记录参数进行记录。在本发明中，利用基于从光盘中读取出的记录参数推荐值和由在记录中使用的光记录装置的光拾取器求出的最佳记录参数之间的关系的系数，根据记录参数推荐值，决定在记录中使用的记录参数并进行记录。实施方式1以下说明的实施方式中的光记录方法进行标记边缘记录(PWM记录)。而且，根据要在光盘上记录的数据，按照写策略(在记录中使用的激光器发光波形规则)使半导体激光器发光，形成记录标记，由此进行信息记录。图2是示出本发明的实施方式1的光记录装置100的基本结构例的图。这里，图2 的光记录装置100示出向光盘500记录进行了 EFM+(8-16)调制后的记录数据的情况(例如光盘500是DVD的情况)。伺服控制部180对用于使光盘500旋转的主轴电动机181、用于使光头300的位置移动的螺旋电动机182、以及光头300的致动器(未图示)进行控制。来自光头300的再现信号利用前置放大电路110放大，被输入到中央控制部200。
9所输入的信号利用中央控制部200进行地址信息的解码，得到光头300的当前位置(表示光头300的当前位置的地址信息)。通过对伺服控制部180赋予表示当前位置的地址信息与应该存取的位置(存取对象位置)的地址信息之间的差分，伺服控制部180控制螺旋电动机182，使光头300向存取对象位置移动。进而，伺服控制部180根据来自前置放大器110的伺服错误信号，进行对焦控制、循轨控制。在数据再现时，从激光器驱动部320所驱动的半导体激光器310出射的具有数据再现所需要的输出值(再现功率)的激光经由准直透镜330、光束分离器340和物镜350聚光照射到光盘500。来自光盘500的反射光通过物镜350后，由光束分离器340使其与入射光分离，经由检测透镜360被受光元件370接受。利用上述的半导体激光器310、准直透镜330、光束分离器340、物镜350和检测透镜360构成光学系统，利用该光学系统、受光元件370、激光器驱动部320和致动器(未图示)构成光拾取器300。受光元件370将光信号转换为电信号。关于在受光元件370中转换的电信号，除了如上所述经由前置放大器110输入到中央控制部200以外，还输入到再现信号处理部120。再现信号处理部120对来自前置放大器110的电信号进行均衡化处理(波形整形)，将其输入到记录质量测定部130和数据解码器140。并且，再现信号处理部120将均衡化处理之前的信号输入到再现特性测定部150。再现特性测定部150求出不对称值或调制度值等的再现特性，用于调整记录时所需要的记录功率。并且，记录质量测定部130测定再现信号的抖动值和错误率等信号质量。数据解码器140对所输入的再现信号进行二值化，进行解调和纠错等处理，由此， 生成(再现)记录在光盘500中的数据。光记录装置100与上位控制器400连接，中央控制部200将所生成的数据存储在缓存器190中后，发送到上位控制器400。在再现特性测定部150求解不对称值的情况下，再现特性测定部150对所输入的电信号(从前置放大器110输出的信号)进行AC(交流)耦合，根据AC耦合后的电信号来计算不对称值β。图3(a) (c)示出上述AC耦合后的电信号的例子。再现特性测定部 150检测图3(a) (c)所例示的信号的峰值电平Al和谷值电平Α2。根据检测到的峰值电平Al和谷值电平Α2，使用下式(1)计算不对称值β。β = (A1+A2)/(A1-A2) · · · (1)其中，在最长间隔(space)和最长标记(mark)交替出现的部分产生峰值电平Al 和谷值电平A2，这些值将最短间隔和最短标记交替出现的部分的峰值电平和谷值电平的平均值表示为零电平。如上所述，图3(a) (c)示出在再现特性测定部150中检测到的再现信号(从前置放大器110输出的信号)的不对称的检测例，其中，图3(a)示出β值< 0的情况，图 3 (b)示出β值=0的情况，图3 (c)示出β值> 0的情况。并且，在再现特性测定部150求解调制度值的情况下，再现特性测定部150检测所输入的电信号的峰值电平1 和谷值电平BT。该情况下，与求解不对称的情况不同，不进行 AC耦合，直接检测(通过DC耦合)得到的信号的峰值电平1 和谷值电平BT，根据该峰值电平1 和谷值电平BT，使用下式⑵计算调制度。
调制度=(PK-BT)/PK. . . (2)图4示出这种通过DC耦合得到的信号的一例。如图所示，峰值PK、谷值BT以零电平(没有针对受光元件370的输入(没有来自光盘的反射光输入)时的输出偏置值)为基准。峰值Hi、谷值BT分别对应于最长间隔、最长标记的电平。在数据记录时，中央控制部200将来自所述上位控制器400的数据存储在缓存器 190中后，利用数据编码器160附加纠错码，按照调制规则进行调制，按照光盘500的格式生成记录数据。写策略控制部170根据记录数据生成写策略信号。即，在从中央控制部200设定了写策略后，当从数据编码器160赋予用于指定表示标记长度的周期数η的记录数据时，写策略控制部170输出与这种记录数据对应的写策略信号(按照写策略生成的、具有与发光脉冲串的波形大致相同的波形的信号)。激光器驱动部320通过与所生成的写策略信号对应的驱动电流，驱动半导体激光器310。从半导体激光器310出射的具有数据记录所需要的输出值(记录功率)的激光经由准直透镜330、光束分离器340和物镜350聚光照射到光盘500。由此，形成标记，形成由标记和位于标记相互间的间隔构成的记录部。图5 (a) (e)示出在图2所示的光记录装置100中由写策略控制部170生成的写策略信号的例子。图5(a)示出由标记部MA和间隔部SA构成的记录数据的例子。图5 (b) 示出在向光盘500记录图5(a)的记录数据时形成的光盘上的标记MK和位于标记MK相互间的间隔SP。进行EFM+(8-16)调制后的记录数据从与用于记录最短标记的周期数η = 3 即3Τ对应的长度起，具有与周期数η = 11即IlT对应的长度、以及与用于记录最长标记的周期数η = 14即14Τ对应的长度。图5(a) (e)假设了如下情况记录最短标记、即3T的标记，接着记录第2短的标记、即4T的标记，接着记录第4短的标记、即6T的标记。图5 (c)示出在光盘500向可改写的记录介质(例如DVD-RW)记录数据的情况下由写策略控制部170生成的写策略信号的例子。并且，图5(d)和图5(e)示出在光盘500 向可补记的记录介质(例如DVD-R)记录数据的情况下由写策略控制部170生成的写策略信号的例子，图5 (d)的写策略信号用于低倍速(例如1倍速 4倍速)的记录，图5 (e)的写策略信号用于高倍速(例如4倍速以上)的记录。为了由写策略控制部170生成图5(c) (e)这种写策略信号，中央控制部200需要设定多个写策略参数，写策略信号的形式越复杂，其种类越增加。中央控制部200在光记录装置100进行针对光盘500的写入或读出时控制装置全体，接受来自记录质量测定部130的抖动等记录质量、来自再现特性测定部150的不对称值或调制度值、来自数据解码器140的再现数据，另一方面，对数据编码器160、写策略控制部 170、激光器驱动部320、伺服控制部180赋予控制信号。中央控制部200还进行以下参照图6 图9说明的记录参数的决定、特别是记录参数的设定值的计算、使用计算出的记录参数进行的试写的控制等。中央控制部200例如具有CPU 210、存储该CPU 210的动作用的程序的非易失性存储器例如ROM 220、以及存储数据的数据存储器例如RAM 230。存储在ROM 220中的程序包含以下参照图6说明的记录参数的运算、以及定义了运算或记录功率调整所需要的设定值等的部分。并且，如后所述，ROM 220还用于存储预先确定的系数等，优选为可改写型的存储器。一般地，通过在记录信息之前进行试写，进行记录功率的优化。下面说明该顺序。最初，例如使用随机的记录数据模式，改变记录功率来进行针对光盘500的试写， 接着，再现光盘500上的记录了该测试模式的区域，通过再现特性测定部150检测不对称值，在中央控制部200中对检测到的不对称值与作为目标的不对称值进行比较，求出最佳的记录功率。一般地，如果增大记录功率，则不对称值变大，如果减小记录功率，则不对称值变小。这里，不对称值大多用于在补记型光盘(DVD-R或BD-R等)中对记录功率进行优化的情况，与此相对，在改写型盘(DVD-RW或BD-RE等)中，多使用调制度。一般地，如果增大记录功率，则调制度的值也变大，如果减小记录功率，则调制度的值也变小。在中央控制部200中，对与彼此不同的多个记录功率对应的不对称值的检测值与目标值进行比较，将生成最接近目标值的检测值的记录功率设定为最佳的记录功率。另外，也可以取而代之利用一个记录功率进行针对光盘500的试写，然后进行再现，根据再现结果检测不对称值，将检测到的不对称值与作为目标的不对称值进行比较，根据比较结果来增减记录功率，求出最佳值。并且，在改写型盘的情况下，有时使用如下方法不是将作为最佳记录功率的调制度作为目标值，而是针对记录功率，将调制度的变化大的记录功率的区域(记录功率小于最佳记录功率的区域)中的调制度作为目标值，对所求出的记录功率乘以预先设定的系数，从而计算最佳记录功率。下面，参照图6说明本实施方式的光记录方法的顺序。最初，当将光盘500插入光再现装置100中时，通过未图示的传感器检测该情况 (步骤S10)，传递到中央控制部200，中央控制部200借助伺服控制部180驱动光头300，判别插入光再现装置100中的光盘500的种类(⑶、DVD、BD等种类)以及光盘500是几层盘等(步骤Sll)。接着，在步骤S12中，调整与光盘500之间的倾斜角度、伺服条件等后，在步骤S13 中，从光盘500中读出由盘生产商预先记录的记录参数推荐值。并且，在步骤S13中，还同时读出要读出的记录参数推荐值的发光规则和记录速度的信息。在光盘500中记录有与多个发光规则和记录速度对应的记录参数推荐值的情况下，选择针对光盘500进行记录时实际使用的发光规则和记录速度，从光盘500中读出记录参数推荐值。所读出的记录参数推荐值WR例如保持在中央控制部200的RAM 230中。接着，在步骤S14中，使用所读出的记录参数推荐值和预先存储在中央控制部200 内(例如ROM 220)的记录参数计算用的系数，计算并设定在记录中使用的记录参数。之后参照图7对其进行详细说明。然后，当通过未图示的单元赋予记录的指示时(步骤S15)，在步骤S16中，使用在步骤S14中设定的记录参数，进行针对所述光盘500的试写。S卩，在步骤S14中，在写策略控制部170中设定在中央控制部200内设定的记录参数的写策略，由此，在写策略控制部 170中生成基于测试模式的写策略，使用光头300进行针对光盘500的试写。然后，利用光头300再现光盘500上的记录了测试模式的区域，在中央控制部200中对由再现特性测定部150检测到的再现特性(不对称值或调制度)与在步骤S14中设定的记录参数的OPC设定值(不对称值或调制度)进行比较，并进行控制以使两者一致，由此，决定最佳的记录功率。最后，在步骤S17中，根据在步骤S14中设定的记录参数的写策略和在步骤S16中决定的记录功率，开始针对光盘500的真正的数据写入(正式写入)。上述的步骤SlO的处理通过中央控制部200和未图示的对光盘的插入进行检测的传感器进行，步骤Sll和步骤S12的处理通过光头300、前置放大器110、伺服控制部180和中央控制部200进行，步骤S13的处理通过光头300、伺服控制部180、前置放大器110、再现信号处理部120、数据解码器140和中央控制部200进行，步骤S14的处理通过中央控制部 200进行，步骤S15的处理通过中央控制部200和未图示的接受记录的指示的单元(接口) 进行，步骤S16的处理通过伺服控制部180、前置放大器110、再现信号处理部120、再现特性测定部150、中央控制部200、写策略控制部170和光头300进行，步骤S17以后的数据记录处理通过中央控制部200、数据编码器160、写策略控制部170、伺服控制部180和光头300 进行。图7详细示出图6的步骤S14的记录参数决定用的处理。在步骤S20中，从中央控制部200的ROM 220中读出与在步骤S13中从光盘中读出的记录参数推荐值的发光规则和记录速度对应的记录参数计算系数。并且，还读出在步骤S13中读出并保持在RAM 230中的记录参数推荐值WR。作为记录参数计算系数，读出主成分矢量PC和系数Ca、Cb。系数Ca、Cb也被称为近似系数。主成分矢量PC是通过对记录参数推荐值与记录参数最佳值的差分量应用主成分分析而得到的主成分矢量，如下表示。PCl = [PC11, PC12, —, PCln]PC2 = [PC21, PC22,…，PC2n] PCm = [PCml，PCm2，—, PCmn]... (3)其中，m与进行了主成分分析的记录参数的数量η相同，m越小，作用率越大(作用率越大，相关越强)。主成分分析是针对多个变量统计求出无偏方差最大的新变量(主成分)的分析。 针对残差同样求出无偏方差最大的主成分，按照作用率(影响度)的顺序求出第1主成分、
第2主成分、第3主成分......的主成分(求出数量与参数相同的主成分)。该主成分作
为由原来的变量的合成变量表示的主成分矢量示出，由于是以变量的无偏方差最大的方式求出的，因此，作为原来变量相互间的相关较强的矢量成分求出。这里，关于针对记录参数推荐值与记录参数最佳值的各个参数的差分量进行主成分分析，所以，按照各个参数相互间的相关从强到弱的顺序求出主成分矢量。并且，系数Ca和Cb是求解记录参数推荐值与记录参数最佳值的差分时使用的系数，分别按照记录参数的数量存储在中央控制部200的ROM 220中。具体而言如下表示(m 是主成分矢量的数量)。
CaCb
权利要求
1.一种光记录方法，该光记录方法按照由与记录数据长度对应的多个参数构成的记录参数，在光记录介质上照射激光，从而在光记录介质中记录信息，其特征在于，该光记录方法具有以下步骤记录条件推荐值读取步骤，从记录有记录参数的推荐值的光记录介质中读取所述记录参数的推荐值；记录参数决定步骤，使用在所述记录参数推荐值读取步骤中读取出的所述记录参数推荐值、预先求出的矢量信息和近似系数，求出在记录中应该使用的记录参数；以及写入步骤，使用所求出的记录参数，通过所述记录方法进行针对所述光记录介质的写入，所述矢量信息是按照使参数相互间的相关较强的方式对针对多个光记录介质的记录参数最佳值与所述记录参数推荐值之间的各个参数差分值统计求出的各参数的矢量成分， 所述近似系数是通过对转换信息与表示各光记录介质的特征的特征信息之间的关系进行近似而求出的近似系数，该转换信息表示所述矢量信息与所述参数差分值之间的关系，该特征信息是根据所述记录参数推荐值和所述矢量信息而求出的。
2.根据权利要求1所述的光记录方法，其特征在于，所述转换信息是将所述矢量信息作为线性方程式的系数、将所述参数差分值作为所述线性方程式的常数时的线性方程式的解，所述特征信息是通过对所述记录参数推荐值的各参数进行基于所述矢量信息的加权而求出的、表示各光记录介质的特征的特征信息，所述近似系数是针对多个光记录介质求出的、通过对所述转换信息与所述特征信息之间的关系进行近似而求出的近似系数。
3.—种光记录方法，该光记录方法按照由与记录数据长度对应的多个参数构成的记录参数，在光记录介质上照射激光，从而在光记录介质中记录信息，其特征在于，该光记录方法具有以下步骤记录条件推荐值读取步骤，从记录有记录参数的推荐值的光记录介质中读取所述记录参数的推荐值；特征信息计算步骤，根据在所述记录参数推荐值读取步骤中读取出的记录参数推荐值与预先求出的矢量信息之积，计算表示各光记录介质的特征的特征信息；差分值提取步骤，从存储单元中提取对应于在所述特征信息计算步骤中计算出的所述特征信息而预先确定并存储在所述存储单元中的、光记录介质的所述记录参数推荐值与在记录中应该使用的记录参数最佳值之间的差分值；记录参数决定步骤，通过对在所述差分值提取步骤中提取出的所述差分值加上所述记录参数推荐值，决定在记录中使用的记录参数；以及写入步骤，使用所求出的记录参数，通过所述记录方法进行针对所述光记录介质的写入，所述矢量信息是按照加强参数相互间的相关性的方式对针对多个光记录介质的记录参数最佳值与所述记录参数推荐值之间的各个参数差分值统计求出的各参数的矢量成分。
4.根据权利要求1、2或3所述的光记录方法，其特征在于，所述矢量信息是通过对多个光记录介质预先调查光记录介质的所述记录参数最佳值与所述记录参数推荐值之间的各个参数差分值并对所述差分值进行主成分分析而求出的主成分矢量。
5.根据权利要求4所述的光记录方法，其特征在于，用于决定所述矢量信息的所述记录参数最佳值是以如下方式进行了优化的值使记录功率的变动在可容许的范围内，并且能够以低记录功率得到良好的记录性能。
6.根据权利要求4所述的光记录方法，其特征在于，用于决定所述矢量信息的所述记录参数最佳值是以如下方式进行了优化的值使记录功率或由写策略规定的脉冲宽度的参数在多个光记录介质相互间为彼此接近的值。
7.根据权利要求1或2所述的光记录方法，其特征在于，事先在多个光记录介质中求出转换信息与表示各光记录介质的特征的特征信息之间的关系，该转换信息表示所述矢量信息与所述参数差分值之间的关系，该特征信息是根据所述记录参数推荐值和所述矢量信息而求出的，所述近似系数是通过对所述特征信息与所述转换信息之间的关系进行线性近似而求出的斜率和偏置。
8.—种光记录方法，该光记录方法按照由与记录数据长度对应的多个参数构成的记录参数，在光记录介质上照射激光，从而在光记录介质中记录信息，其特征在于，该光记录方法具有以下步骤记录条件推荐值读取步骤，从记录有所述记录参数的推荐值的光记录介质中读取所述记录参数的推荐值；记录参数决定步骤，使用在所述记录参数推荐值读取步骤中读取出的所述记录参数推荐值和近似系数，求出在记录中应该使用的记录参数；以及写入步骤，使用所求出的记录参数，通过所述记录方法进行针对所述光记录介质的写入，所述近似系数是通过对如下差分量与记录参数的推荐值之间的关系进行近似而求出的，该差分量是多个光记录介质的记录参数的推荐值与在记录中应该使用的记录参数的最佳值之间的差分量。
9.根据权利要求8所述的光记录方法，其特征在于，所述近似系数是通过对所述差分量与所述记录参数的推荐值之间的关系进行线性近似而求出的斜率和偏置。
10.根据权利要求1或8所述的光记录方法，其特征在于，该光记录方法还具有以下步骤记录性能判断步骤，通过使用在所述记录参数决定步骤中决定的记录参数进行试写， 确认记录性能，判断该记录性能优于预先确定的基准记录性能还是差于预先确定的基准记录性能；以及记录参数修正步骤，当在所述记录性能判断步骤中判断为差于基准记录性能的情况下，修正所述记录参数，当在所述记录性能判断步骤中判断为优于基准记录性能的情况下，在所述写入步骤中使用在该试写中使用的记录参数进行针对所述光记录介质的写入，在求出所述近似系数时，事先求出针对各个记录参数的近似精度，在所述记录参数修正步骤中，优先从所述近似精度差的记录参数开始进行记录参数的修正。
11.一种光记录装置，该光记录装置按照由与记录数据长度对应的多个参数构成的记录参数，在光记录介质上照射激光，从而在光记录介质中记录信息，其特征在于，该光记录装置具有记录条件推荐值读取单元，其从记录有记录参数的推荐值的光记录介质中读取所述记录参数的推荐值；记录参数决定单元，其使用由所述记录参数推荐值读取单元读取出的所述记录参数推荐值、预先求出的矢量信息和近似系数，求出在记录中应该使用的记录参数；以及写入单元，其使用所求出的记录参数，通过所述记录装置进行针对所述光记录介质的写入，所述矢量信息是按照使参数相互间的相关较强的方式对针对多个光记录介质的记录参数最佳值与所述记录参数推荐值之间的各个参数差分值统计求出的各参数的矢量成分， 所述近似系数是通过对转换信息与表示各光记录介质的特征的特征信息之间的关系进行近似而求出的近似系数，该转换信息表示所述矢量信息与所述参数差分值之间的关系，该特征信息是根据所述记录参数推荐值和所述矢量信息求出的。
12.根据权利要求11所述的光记录装置，其特征在于，所述转换信息是将所述矢量信息作为线性方程式的系数、将所述参数差分值作为所述线性方程式的常数时的线性方程式的解，所述特征信息是通过对所述记录参数推荐值的各参数进行基于所述矢量信息的加权而求出的、表示各光记录介质的特征的特征信息，所述近似系数是针对多个光记录介质求出的、通过对所述转换信息与所述特征信息之间的关系进行近似而求出的近似系数。
13.—种光记录装置，该光记录装置按照由与记录数据长度对应的多个参数构成的记录参数，在光记录介质上照射激光，从而在光记录介质中记录信息，其特征在于，该光记录装置具有记录条件推荐值读取单元，其从记录有记录参数的推荐值的光记录介质中读取所述记录参数的推荐值；特征信息计算单元，其根据由所述记录参数推荐值读取单元读取出的记录参数推荐值与预先求出的矢量信息之积，计算表示各光记录介质的特征的特征信息；差分值提取单元，其从存储单元中提取对应于由所述特征信息计算单元计算出的所述特征信息而预先确定并存储在所述存储单元中的、光记录介质的所述记录参数推荐值与在记录中应该使用的记录参数最佳值之间的差分值；记录参数决定单元，其通过对由所述差分值提取单元提取出的所述差分值加上所述记录参数推荐值，决定在记录中使用的记录参数；以及写入单元，其使用所求出的记录参数，通过所述记录装置进行针对所述光记录介质的写入，所述矢量信息是按照加强参数相互间的相关性的方式对针对多个光记录介质的记录参数最佳值与所述记录参数推荐值之间的各个参数差分值统计求出的各参数的矢量成分。
14.根据权利要求11、12或13所述的光记录装置，其特征在于，所述矢量信息是通过对多个光记录介质预先调查光记录介质的所述记录参数最佳值与所述记录参数推荐值之间的各个参数差分值并对所述差分值进行主成分分析而求出的主成分矢量。
15.根据权利要求14所述的光记录装置，其特征在于，用于决定所述矢量信息的所述记录参数最佳值是以如下方式进行了优化的值使记录功率的变动在可容许的范围内，并且能够以低记录功率得到良好的记录性能。
16.根据权利要求14所述的光记录装置，其特征在于，用于决定所述矢量信息的所述记录参数最佳值是以如下方式进行了优化的值使记录功率或由写策略规定的脉冲宽度的参数在多个光记录介质相互间为彼此接近的值。
17.根据权利要求11或12所述的光记录装置，其特征在于，事先在多个光记录介质中求出转换信息与表示各光记录介质的特征的特征信息之间的关系，该转换信息表示所述矢量信息与所述参数差分值之间的关系，该特征信息是根据所述记录参数推荐值和所述矢量信息求出的，所述近似系数是通过对所述特征信息与所述转换信息之间的关系进行线性近似而求出的斜率和偏置。
18.—种光记录装置，该光记录装置按照由与记录数据长度对应的多个参数构成的记录参数，在光记录介质上照射激光，从而在光记录介质中记录信息，其特征在于，该光记录装置具有记录条件推荐值读取单元，其从记录有所述记录参数的推荐值的光记录介质中读取所述记录参数的推荐值；记录参数决定单元，其使用由所述记录参数推荐值读取单元读取出的所述记录参数推荐值和预先求出的近似系数，求出在记录中应该使用的记录参数；以及写入单元，其使用所求出的记录参数，通过所述记录装置进行针对所述光记录介质的写入，所述近似系数是通过对如下差分量与记录参数的推荐值之间的关系进行近似而求出的，该差分量是多个光记录介质的记录参数的推荐值与在记录中应该使用的记录参数的最佳值之间的差分量。
19.根据权利要求18所述的光记录装置，其特征在于，所述近似系数是通过对所述差分量与所述记录参数的推荐值之间的关系进行线性近似而求出的斜率和偏置。
20.根据权利要求11或18所述的光记录装置，其特征在于，该光记录装置还具有记录性能判断单元，其通过使用由所述记录参数决定单元决定的记录参数进行试写， 确认记录性能，判断该记录性能优于预先确定的基准记录性能还是差于预先确定的基准记录性能；以及记录参数修正单元，其在由所述记录性能判断单元判断为差于基准记录性能的情况下，修正所述记录参数，所述写入单元在由所述记录性能判断单元判断为优于基准记录性能的情况下，使用在该试写中使用的记录参数进行针对所述光记录介质的写入，在求出所述近似系数时，事先求出针对各个记录参数的近似精度， 在所述记录参数修正单元中，优先从所述近似精度差的记录参数开始进行记录参数的修正。
全文摘要
使用从光记录介质中读取出的记录参数推荐值(WR)、预先求出的矢量信息(PC)和近似系数(Ca、Cb)，求出在记录中应该使用的记录参数(WU)(S24)，使用所求出的记录参数，进行针对光记录介质的写入(S17)。矢量信息(PC)是按照使参数相互间的相关较强的方式对针对多个光记录介质的记录参数最佳值(WO)与记录参数推荐值(WR)之间的各个参数差分值(DF)统计求出的各参数的矢量成分，近似系数(Ca、Cb)是通过对转换信息(X)与表示各光记录介质的特征的特征信息(D)之间的关系进行近似而求出的，该转换信息(X)表示矢量信息(PC)与参数差分值(DF)之间的关系，该特征信息(D)是根据记录参数推荐值(WR)和矢量信息(PC)求出的。
文档编号G11B7/125GK102428516SQ20108002168
公开日2012年4月25日 申请日期2010年4月23日 优先权日2009年5月18日
发明者岸上智, 竹下伸夫 申请人:三菱电机株式会社