存储设备测试系统、调节温度的方法和测试槽冷却系统的制作方法

存储设备测试系统、调节温度的方法和测试槽冷却系统的制作方法
【专利摘要】本发明涉及存储设备测试系统、调节温度的方法和测试槽冷却系统。一种存储设备测试系统(100)，包括：至少一个支架(300)；每个支架容纳的至少一个测试槽(330、330')，每个测试槽包括具有入口(346)和出口(348)的测试槽壳体(340)，所述入口被构造为接纳存储设备；以及至少一个与所述至少一个测试槽气动连通的鼓风机(900)；其中所述至少一个鼓风机被构造为将所述至少一个支架外部的空气移入每个测试槽壳体的所述入口、使空气在所述所接纳存储设备的上方移动、然后移出每个测试槽壳体的所述出口。
【专利说明】存储设备测试系统、调节温度的方法和测试槽冷却系统
[0001] 本申请是 申请人:为泰拉丁公司、国际申请日为2010年7月13日、国际申请号为 PCT/US2010/041831、国家申请号为201080031734. 6、发明名称为"存储设备测试系统冷却" 的中国专利申请的分案申请。

【技术领域】
[0002] 本公开涉及存储设备测试系统中的冷却。

【背景技术】
[0003] 存储设备制造商通常会测试所制造的存储设备是否符合一系列要求。存在串行或 并行测试大量存储设备的测试设备和技术。制造商倾向于同时测试大量存储设备。存储设 备测试系统通常包括一个或多个支架，一个或多个支架具有接纳存储设备进行测试的多个 测试槽。
[0004] 在制造磁盘驱动器或其他存储设备期间，通常会控制存储设备的温度，例如，以确 保存储设备在预定温度范围内功能正常。鉴于此原因，紧邻存储设备的测试环境可随程序 控制而变化。在一些已知的测试系统中，有时称为"批量测试仪"，使用冷却或加热所有存储 设备公用的空气调节多个存储设备的温度。
[0005] 批量测试仪通常要求在基本上同一温度下测试所有存储设备，并且要求将所有存 储设备基本上同时插入测试系统或基本上同时从测试系统中移除。通常，存储设备基本上 随测试所需时间和每个需要特定环境温度的测试时间长短而有所不同。因为这些变动情 况，批量测试仪往往不能有效利用可用的测试容量。也存在已知的测试系统，其允许单独控 制每台存储设备的插入、移除和温度。这些测试系统趋于更有效地利用可用的测试容量，但 需要在每个测试槽上均布置温度控制部件，或几个测试槽共用那些温度控制部件。
[0006] -些存储设备测试系统使用热空气或冷空气来加热或冷却存储设备。为了对每台 存储设备进行单独热控制，有时会通过空气流中设置的加热器或冷却器来使用单独的闭环 空气流。在一些例子中，允许存储设备自加热，因此仅使用冷却器。还可以通过减少或以其 他方式控制空气流来增强加热，并且还可以通过增加空气流来增强冷却。在一些对每台存 储设备进行单独热控制的例子中，空气取自测试仪外部的环境空气，而不是通过从闭环空 气流中汲取热量的冷却器。
[0007] 对每个测试槽进行单独热控制的系统的缺点包括每个测试槽需要许多单独的热 控制部件（例如，加热器、冷却器、风扇和/或可控制的导流板）。此外，能量的有效使用通 常要求每个测试槽在至少部分运行时间内具有闭环空气流系统。闭环空气流系统通常需要 使空气在两个方向上同时流动的管道，从而形成完整的环，其中空气返回路径需要另外的 空间。此外，在低于空气露点的温度下操作时冷却器可能会形成冷凝。可以通过牺牲冷却 性能来避免冷凝形成，方法是限制冷却剂温度。作为另外一种选择，可以通过控制和/或清 除空气中的含水量来避免冷凝形成。


【发明内容】

[0008] 本发明提供存储设备测试系统，其可减少通常所需的温度控制部件数目，同时仍 允许单独控制每个测试槽的温度，从而实现较大的测试槽密度和较低的成本。该存储设备 测试系统为每个存储设备测试槽提供单独的热控制，其具有相对较少的热控制部件，并且 没有用于每个测试槽的单独的闭环空气流路径。存储设备测试系统的这种热控制使得测试 槽中或附近基本上不会形成冷凝，因此不必控制空气中的含水量。该存储设备测试系统使 用公用的冷空气贮存器，由相对较少的热交换器对此贮存器进行冷却。热交换器上形成的 冷凝集中在相对较少的位置，可以通过例如蒸发器或排出装置等常规方法去除。作为另外 一种选择，可以控制热交换器在高于露点的温度下工作。为每个测试槽使用单独的可控鼓 风机，通过每个测试槽汲取公用贮存器中的空气。可以通过鼓风机的速度控制冷却量。若 要加热测试槽中接纳的存储设备，可以在空气进入测试槽的路径上放置加热器，可以在所 接纳的存储设备上放置直接接触式加热器，也可以通过减少或切断穿过测试槽的空气流来 允许存储设备自加热。在一些具体实施中，按存储设备测试系统的外形而不是按单独的机 罩来形成冷空气贮存器。冷却空气也可以用来冷却设置在存储设备测试系统中的其他电子 器件。
[0009] 本公开的一方面提供了包括输送器主体的存储设备输送器，其输送器主体具有第 一主体部分和第二主体部分。第一主体部分被构造为接合自动化机械来操纵存储设备输送 器。第二主体部分被构造为接纳和支承存储设备。第一主体部分被构造为接纳空气流并将 空气流导向至第二主体部分中支承的存储设备的一个或多个表面上方。
[0010] 本公开的具体实施可以包括下列一个或多个特征。
[0011] 在一些具体实施中，第一主体部分包括空气导流器，其具有一个或多个空气入口， 这些空气入口用于将空气接纳到第一主体部分中以及将空气导入第二主体部分。该一个或 多个空气入口可被构造为接合自动化机械来操纵存储设备输送器。
[0012] 在一些例子中，第二主体部分包括第一侧壁和第二侧壁，两个侧壁被布置为接纳 两者间的存储设备。
[0013] 在一些情况下，第一主体部分可包括一个或多个视觉基准。
[0014] 存储设备输送器可包括夹紧机构，可操作该夹紧机构将存储设备夹在第二主体部 分内。
[0015] 在一些具体实施中，第一主体部分被构造为将空气导向至第二主体部分中支承的 存储设备的上表面和下表面上方。
[0016] 在某些具体实施中，第一主体部分可包括空气导流器，其具有一个或多个空气入 口，这些空气入口用于将空气接纳到第一主体部分中以及将空气导入第二主体部分。该一 个或多个空气入口可被布置为当存储设备输送器接合自动化机械时在X、Y以及旋转方向 配准存储设备输送器。
[0017] 在一些例子中，第二主体部分限定了大致U形的开口，此开口允许空气在存储设 备输送器中支承的存储设备的下表面上方流动。
[0018] 本公开的另一方面提供了包括存储设备输送器和测试槽的测试槽组件。存储设备 输送器包括具有第一主体部分和第二主体部分的输送器主体。第一主体部分被构造为接合 自动化机械来操纵存储设备输送器，第二主体部分被构造为接纳和支承存储设备。第一主 体部分被构造为接纳空气流并将空气流导向至第二主体部分中支承的存储设备的一个或 多个表面上方。测试槽包括壳体。壳体限定了测试隔室和开口端，测试隔室用于接纳和支 承存储设备输送器，开口端提供进入测试隔室的入口以插入和移除磁盘驱动器输送器。
[0019] 本公开的具体实施可以包括下列一个或多个特征。在一些具体实施中，存储设备 输送器可从测试隔室完全移除。
[0020] 在某些具体实施中，存储设备输送器以形成用于接纳存储设备的抽屉形式连接到 测试槽。
[0021] 本公开的另一方面提供了包括自动化机械和存储设备输送器的存储设备测试系 统。存储设备输送器包括具有第一主体部分和第二主体部分的输送器主体。第一主体部分 被构造为接合自动化机械来操纵存储设备输送器。第二主体部分被构造为接纳和支承存储 设备。第一主体部分被构造为接纳空气流并将空气流导向至第二主体部分中支承的存储设 备的一个或多个表面上方。
[0022] 本公开的具体实施可以包括下列一个或多个特征。
[0023] 在一些具体实施中，第一主体部分包括空气导流器，其具有一个或多个空气入口， 这些空气入口用于将空气接纳到第一主体部分中以及将空气导入第二主体部分，并且该一 个或多个空气入口被构造为接合自动化机械来操纵存储设备输送器。
[0024] 在某些具体实施中，自动化机械包括适于接合一个或多个空气入口的机械致动 器。
[0025] 在一些具体实施中，第一主体部分包括一个或多个视觉基准，自动化机械包括用 于检测视觉基准的光学系统。
[0026] 在某些具体实施中，自动化机械包括柱子，第一主体部分包括一个或多个用于将 空气接纳到第一主体部分中以及将空气导入第二主体部分的空气入口。空气入口被布置成 当存储设备输送器接合自动化机械时接合柱子，从而在X、Y以及旋转方向配准存储设备输 送器。
[0027] 在一些具体实施中，第一主体部分包括一对槽，自动化机械包括一对可操作用于 接合槽的爪钳。
[0028] 在某些具体实施中，存储设备测试系统包括夹紧机构，可操作该夹紧机构将存储 设备夹在第二主体部分内。可操作自动化机械来致动夹紧机构。
[0029] 在一些具体实施中，自动化机械包括机械臂和附接到该机械臂的机械手。机械手 被构造为接合存储设备输送器。
[0030] 本公开的另一方面提供了存储设备测试系统，其包括至少一个支架、每个支架容 纳的至少一个测试槽、以及至少一个与测试槽气动连通的鼓风机。每个测试槽包括具有入 口和出口的测试槽壳体，其中入口被构造为接纳存储设备。该至少一个鼓风机被构造为将 至少一个支架外部的空气移入每个测试槽壳体的入口、使空气在所接纳存储设备的上方移 动、然后移出每个测试槽壳体的出口。
[0031] 本公开的具体实施可以包括下列一个或多个特征。在一些具体实施中，每个支架 包括将支架的测试槽气动连通到至少一个鼓风机的空气导管。该至少一个鼓风机将空气经 由空气导管移出每个测试槽壳体的出口，然后移至支架外面的环境（如，经由支架的空气 出口）。在一些例子中，每个支架的每个测试槽壳体的出口与至少一个鼓风机气动连通。在 其他例子中，该至少一个鼓风机设置在与每个支架的测试槽气动连通的各自支架上。在一 些具体实施中，每个测试槽壳体具有第一部分和第二部分。测试槽壳体的第一部分限定了 入口，并且被构造为接纳存储设备。该至少一个鼓风机专用于其分配的测试槽，以控制穿过 该测试槽的空气流。在一些例子中，该至少一个鼓风机与测试槽壳体的第二部分气动连通， 而在其他例子中，鼓风机设置在测试槽壳体外部或与测试槽壳体相邻。在一些例子中，鼓风 机包括空气入口和空气出口。鼓风机沿第一方向经由其空气入口接纳空气，沿与第一方向 基本垂直的第二方向将空气传送出其空气出口。
[0032] 测试槽壳体入口可以被构造为接纳具有第一部分和第二部分的存储设备输送器。 存储设备输送器的第一部分包括空气导流器，存储设备输送器的第二部分被构造为接纳存 储设备。空气导流器将空气几乎同时导向至存储设备输送器中接纳的存储设备的至少上表 面和下表面上方。支架外部的空气在所接纳存储设备上方被至少一个鼓风机移入各自测试 槽的所接纳存储设备输送器的空气导流器，然后移出各自测试槽的出口。所接纳存储设备 输送器的空气导流器限定了至少一个空气入口，存储设备具有上、下、前、后、右、左表面。存 储设备前表面具有电气连接器。存储设备以其后表面基本上面向存储设备输送器第一部分 的方式被接纳，并且至少一个空气入口将空气导向至所接纳存储设备的至少上表面和下表 面上方。
[0033] 本公开的另一方面提供了存储设备测试系统，其包括至少一个支架、与至少一个 支架气动连通的空气热交换器、以及每个支架容纳的测试槽。每个测试槽包括限定了入口 和出口的测试槽壳体。入口被构造为接纳存储设备，出口与空气热交换器气动连通。测试 槽鼓风机设置为与测试槽壳体气动连通，并且被构造为将空气移入测试槽壳体入口、使空 气在所接纳存储设备的上方移动、然后移出测试槽壳体出口。支架外部的空气被各自的测 试槽鼓风机移入测试槽壳体入口、在所接纳存储设备的上方移动，然后移出各自测试槽壳 体的出口并移出各自的支架。空气在所接纳存储设备上方流动之前和/或之后移动穿过空 气热交换器。
[0034] 本公开的具体实施可以包括下列一个或多个特征。在一些具体实施中，每个支架 包括空气导管，此空气导管提供每个测试槽壳体出口与空气热交换器之间的气动连通。空 气热交换器可以距测试槽较远，或与测试槽相邻。空气热交换器包括空气热交换器壳体，其 限定了入口、出口和这两者间的空气流动路径。空气热交换器包括设置在空气流动路径中 的冷却元件，并且可以包括将从空气热交换器累积的冷凝（如果在露点温度下操作）排出 空气热交换器的泵或排出装置，例如，排出到蒸发器或排出装置。蒸发器可以设置在与至少 一个泵和排出装置流体连通的空气热交换器的各自支架上。在一些例子中，空气热交换器 包括空气热交换器鼓风机，此鼓风机用于将空气移入冷却兀件上方的空气热交换器壳体入 口然后移出空气热交换器壳体出口。
[0035] 在一些具体实施中，测试槽壳体入口被构造为接纳存储设备输送器。存储设备输 送器具有第一部分和第二部分。存储设备输送器的第一部分包括空气导流器，存储设备输 送器的第二部分被构造为接纳存储设备。空气导流器将空气几乎同时导向至存储设备输送 器中接纳的存储设备的至少上表面和下表面上方。支架外部的空气被各自的测试槽鼓风机 移入所接纳存储设备上方各自测试槽的所接纳存储设备输送器的空气导流器，然后经由空 气热交换器移出各自的测试槽出口并移出各自的支架。在一些例子中，所接纳存储设备输 送器的空气导流器限定了至少一个空气入口。存储设备具有上、下、前、后、右、左表面，其中 存储设备前表面具有电气连接器。存储设备以其后表面基本上面向存储设备输送器第一部 分的方式被接纳。该至少一个空气入口将空气导向至所接纳存储设备的至少上表面和下表 面上方。在一些具体实施中，存储设备输送器的第二部分包括第一臂和第二臂，它们被构造 为接纳存储设备。
[0036] 在一些具体实施中，鼓风机包括空气入口和空气出口。鼓风机沿第一方向经由其 空气入口接纳空气，沿与第一方向基本垂直的第二方向将空气传送出其空气出口。鼓风机 可以包括宽度为约45mm、长度为约45mm、高度为约10mm的鼓风机主体。鼓风机可被构造为 产生0至约0. 122m3/分钟（4. 308CFM)的空气流量以及0至约20. 88mmH20(0. 822英寸H20) 的气压。
[0037] 在一些具体实施中，存储设备测试系统包括至少一个机械臂，其限定了基本垂直 于地面的第一轴线。可操作机械臂来通过围绕第一轴线的预定弧线旋转，以及从第一轴线 径向延伸。支架围绕机械臂布置，以便由机械臂提供服务。在一些例子中，支架被配置成离 机械臂的第一轴线径向等距分布。
[0038] 本公开的另一方面提供了调节存储设备测试系统中所接纳存储设备温度的方法。 该方法包括将空气流移入支架所接纳测试槽的测试槽壳体的空气入口、使空气流在测试槽 中所接纳存储设备的上方移动、将空气移出测试槽的测试槽壳体的空气出口、然后在支架 外部将空气释放。
[0039] 本公开的具体实施可以包括下列一个或多个特征。在一些具体实施中，该方法包 括使空气流几乎同时在测试槽中所接纳存储设备的至少上表面和下表面上方移动。该方法 包括将支架外部的空气移入测试槽壳体入口、使空气在所接纳存储设备的上方移动，然后 将空气经由空气导管移出测试槽壳体出口并移出支架。空气导管与支架上每个测试槽壳体 的出口气动连通。在一些例子中，利用气动连接到空气导管的鼓风机将空气移动穿过测试 槽和该空气导管。利用测试槽鼓风机可以使空气移动穿过测试槽，然后进入空气导管以在 支架外释放。
[0040] 该方法包括用测试槽的测试槽鼓风机将支架外部的空气移入测试槽壳体入口、使 空气在所接纳存储设备的上方移动，然后经由空气热交换器将空气移出测试槽壳体出口。 将从测试槽壳体出口出来的空气移至空气热交换器可以包括使空气移动穿过与支架每个 测试槽的测试槽壳体出口和空气热交换器气动连通的空气导管。
[0041] 在一些具体实施中，该方法包括利用空气热交换器鼓风机使空气移动穿过空气热 交换器。空气热交换器鼓风机将空气从空气导管移入空气热交换器的入口、使空气在空气 热交换器的冷却元件上方移动、然后移出空气热交换器的出口。该方法可以包括将冷凝 (如，空气热交换器的冷凝）以抽吸或其他方式移出支架（如，移至蒸发器或排出装置）。 [0042] 在一些具体实施中，该方法包括沿第一方向将空气流从所接纳存储设备的上方接 纳到鼓风机中，以及沿与第一方向基本垂直的第二方向将空气流从鼓风机传送至测试槽壳 体出口。该方法可以包括将空气流移入测试槽壳体入口中所接纳的存储设备输送器的空气 入口。存储设备输送器支承与存储设备输送器的空气入口气动连通的所接纳存储设备。在 一些例子中，该方法包括使空气流移动穿过存储设备输送器的空气导流器。空气导流器将 空气流导向至所接纳存储设备的至少上表面和下表面上方。在一些具体实施中，存储设备 输送器具有第一部分和第二部分。第一部分包括空气导流器，第二部分被构造为接纳存储 设备。存储设备具有上、下、前、后、右、左表面，其中存储设备前表面具有电气连接器。该方 法可以包括以存储设备的后表面基本上面向存储设备输送器第一部分的方式接纳存储设 备。
[0043] 根据本公开的另一方面，用于存储设备测试系统的测试槽冷却系统包括具有第一 部分和第二部分的存储设备输送器。存储设备输送器的第一部分包括空气导流器，存储设 备输送器的第二部分被构造为接纳存储设备。测试槽冷却系统包括测试槽壳体，其限定了 空气入口和用于接纳存储设备输送器的输送器开口。空气入口与所接纳存储设备输送器的 空气导流器气动连通。测试槽冷却系统还包括鼓风机，此鼓风机与测试槽壳体的空气入口 气动连通以将空气传送到空气导流器。空气导流器将空气几乎同时导向至存储设备输送器 中接纳的存储设备的至少上表面和下表面上方。
[0044] 本公开的具体实施可以包括下列一个或多个特征。在一些具体实施中，空气导流 器包括一个空气入口以及第一空气出口和第二空气出口。空气导流器将经由其空气入口接 纳的空气导出第一空气出口和第二空气出口。存储设备具有上、下、前、后、右、左表面，并且 以其后表面基本上面向存储设备输送器第一部分的方式被接纳。第一空气出口将空气导向 至所接纳存储设备的至少下表面上方，第二空气出口将空气导向至所接纳存储设备的至少 上表面上方。在一些具体实施中，空气导流器限定了与空气导流器的空气入口和空气出口 气动连通的腔体。空气导流器包括设置在腔体中的充气室，以用于将腔体中所接纳空气的 至少一部分导出第一空气出口。在一些例子中，充气室包含重量可减少存储设备输送器在 测试槽壳体中的移动的配重。
[0045] 在一些具体实施中，存储设备输送器的第二部分包括第一臂和第二臂，它们被构 造为接纳存储设备。存储设备输送器的第二部分可以包括以可脱开的方式接合所接纳存储 设备的夹紧系统。
[0046] 在一些具体实施中，测试槽冷却系统包括与测试槽壳体相邻设置的冷却系统壳 体。冷却系统壳体具有与测试槽壳体的空气出口气动连通的空气入口和与测试槽壳体的空 气入口气动连通的空气出口。鼓风机设置在冷却系统壳体中，并且使经由冷却系统壳体的 空气入口接纳的空气循环排出冷却系统壳体的空气出口。空气沿经由测试槽壳体和冷却系 统壳体的闭环路径移动。在一些例子中，鼓风机包括空气入口和空气出口，并且与冷却系 统壳体的空气出口气动连通。鼓风机沿第一方向经由其空气入口接纳空气，沿与第一方向 基本垂直的第二方向将空气传送出其空气出口。鼓风机可以具有宽度为约45_、长度为约 45_、高度为约10mm的鼓风机主体。在一些例子中，鼓风机被构造为产生最大约0. 122m3/ 分钟（4. 308CFM)的空气流量和最大约20. 88mmH20(0. 822英寸H20)的气压。
[0047] 在一些具体实施中，测试槽冷却系统包括与鼓风机气动连通的空气冷却器。空气 冷却器包括空气冷却器主体和至少一个设置在空气冷却器主体上的翅片。该至少一个翅片 使流经其上方的空气冷却。空气冷却器可设置在鼓风机上游的冷却系统壳体中，鼓风机使 空气以闭环路径在测试槽壳体与冷却系统壳体之间移动。
[0048] 本公开的另一方面是用于存储设备测试系统的测试槽冷却系统，其包括测试槽壳 体，该壳体限定了空气入口和用于接纳存储设备的设备开口。测试槽冷却系统包括鼓风机， 该鼓风机设置在测试槽壳体外部，并且与测试槽壳体的空气入口气动连通以将空气传送到 所接纳的存储设备。鼓风机包括空气入口和空气出口，并且与测试槽的空气入口气动连通。 鼓风机沿第一方向经由其空气入口接纳空气，沿与第一方向基本垂直的第二方向将空气传 送出其空气出口。
[0049] 本公开的具体实施可以包括下列一个或多个特征。在一些具体实施中，槽冷却系 统包括与测试槽壳体相邻设置的冷却系统壳体。冷却系统壳体具有与测试槽壳体的空气出 口气动连通的空气入口和与测试槽壳体的空气入口气动连通的空气出口。鼓风机设置在冷 却系统壳体中，并且使经由冷却系统壳体的空气入口接纳的空气循环排出冷却系统壳体的 空气出口。空气沿经由测试槽壳体和冷却系统壳体的闭环路径移动。在一些例子中，鼓风 机包括宽度为约45mm、长度为约45mm、高度为约10mm的鼓风机主体。鼓风机可被构造为产 生最大约〇. 122m3/分钟（4. 308CFM)的空气流量和最大约20. 88mmH20(0. 822英寸H20)的 气压。在一些例子中，测试槽冷却系统包括与鼓风机气动连通的空气冷却器。空气冷却器 包括空气冷却器主体和至少一个设置在空气冷却器主体上的翅片，该至少一个翅片流使经 其上方的空气冷却。
[0050] 本公开的又一方面是用于存储设备测试系统的存储设备输送器，其包括具有第一 部分和第二部分的主体。第一主体部分包括空气导流器，第二主体部分被构造为接纳具有 上、下、前、后、右、左表面的存储设备。存储设备以其后表面基本上面向第一主体部分的方 式被接纳。空气导流器接纳空气流，并将空气流几乎同时导向至所接纳存储设备的至少上 表面和下表面上方。
[0051] 本公开的具体实施可以包括下列一个或多个特征。在一些具体实施中，空气导流 器包括一个空气入口以及第一空气出口和第二空气出口。空气导流器将经由空气入口接纳 的空气导出第一空气出口和第二空气出口。第一空气出口将空气导向至所接纳存储设备的 至少下表面上方，第二空气出口将空气导向至所接纳存储设备的至少上表面上方。在一些 例子中，空气导流器限定了与空气入口和空气出口气动连通的腔体。空气导流器包括设置 在腔体中的充气室，以用于将腔体中所接纳空气的至少一部分导出第一空气出口。充气室 可以为或可以包括可在存储设备输送器被存储设备测试系统接纳时减少存储设备输送器 移动的配重。在一些具体实施中，存储设备输送器的第二主体部分包括以可脱开的方式接 合所接纳存储设备的夹紧系统。
[0052] 本公开的另一方面是调节存储设备测试系统中接纳的存储设备温度的方法。该方 法包括将空气流传送到测试槽壳体的空气入口，以及将空气流几乎同时导向至存储设备的 至少上表面和下表面上方。
[0053] 本公开的具体实施可以包括下列一个或多个特征。在一些具体实施中，该方法包 括将空气流传送到空气导流器中，此空气导流器将空气流导向至存储设备的至少上表面和 下表面上方。该方法可以包括支承测试槽壳体所接纳存储设备输送器中的存储设备。存储 设备输送器具有第一部分和第二部分。存储设备输送器的第一部分包括空气导流器，存储 设备输送器的第二部分被构造为接纳存储设备。存储设备具有上、下、前、后、右、左表面，并 且以其后表面基本上面向第一主体部分的方式被接纳在存储设备输送器中。
[0054] 在一些具体实施中，该方法包括配重空气导流器以在存储设备输送器被存储设备 测试系统接纳（如，接纳在存储设备测试系统的测试槽中）时减少存储设备输送器的移动。 该方法可以包括将空气流传送到空气导流器的空气入口中。空气导流器将经由空气入口接 纳的空气导出空气导流器的第一空气出口和第二空气出口。第一空气出口将空气导向至所 接纳存储设备的至少下表面上方，第二空气出口将空气导向至所接纳存储设备的至少上表 面上方。在一些例子中，空气导流器限定了与空气导流器的空气入口和空气出口气动连通 的腔体。空气导流器包括设置在腔体中的充气室，以用于将腔体中所接纳空气的至少一部 分导出第一空气出口。该方法可以包括配重充气室以在存储设备输送器被存储设备测试系 统接纳时减少存储设备输送器的移动。
[0055] 在一些具体实施中，该方法包括将空气流导向到与测试槽壳体的空气入口气动连 通的鼓风机。鼓风机将空气流传送到测试槽壳体的空气入口中。空气流沿闭环路径移动。 该方法可以包括沿第一方向将空气流接纳到鼓风机，然后沿与第一方向基本垂直的第二方 向将空气传送到测试槽壳体的空气入口。在一些例子中，该方法包括将空气流导向至设置 在鼓风机上游的空气流动路径中的空气冷却器上方。在一些具体实施中，该方法包括以最 大约0. 122m3/分钟（4. 308CFM)的空气流量和最大约20. 88mmH20(0. 822英寸H20)的气压 将空气流传送到测试槽壳体的空气入口中。
[0056] 附图和如下实施方式示出了本公开一个或多个具体实施的详细信息。通过所述实 施方式和附图以及通过权利要求书，其他特征、对象和优点将显而易见。

【专利附图】

【附图说明】
[0057] 图1为存储设备测试系统的透视图，该测试系统具有以大致环形构型布置的支 架。
[0058] 图2为图1所示存储设备测试系统的俯视图。
[0059] 图3为存储设备测试系统和转运站的透视图。
[0060] 图4为机械手的透视图。
[0061] 图5A为存储设备输送器的侧面透视图。
[0062] 图5B为图4A所示存储设备输送器的前透视图。
[0063] 图5C为携带存储设备的存储设备输送器的底部透视图。
[0064] 图为接纳存储设备的存储设备输送器的侧面透视图。
[0065] 图5E为存储设备输送器的前面板的透视图。
[0066] 图6A和6B为支架的透视图，此支架正接纳装有测试槽的测试槽托架。
[0067] 图7A为装有测试槽的测试槽托架的透视图，其中一个测试槽正在接纳携带有存 储设备的存储设备输送器。
[0068] 图7B为图7A中测试槽托架的后部透视图。
[0069] 图7C为测试槽托架沿图6A中线6C-6C的剖视图。
[0070] 图8A和8B为测试槽的透视图，此测试槽正接纳携带有存储设备的存储设备输送 器。
[0071] 图8C为测试槽的后部透视图。
[0072] 图9为鼓风机的透视图。
[0073] 图10A和10B为存储设备测试系统的支架的透视图，其展示了经由支架和支架所 容纳的测试槽的空气流动路径。
[0074] 图11A为包括存储设备输送器的测试槽组件的分解透视图。
[0075] 图11B为图11A的测试槽组件的透视图，该测试槽组件包括与测试槽一起组装的 抽屉形式的存储设备输送器。
[0076] 图12A和12B为携带存储设备的存储设备输送器的透视图，该存储设备以插入存 储设备测试系统的测试槽中的方式被接纳。
[0077] 图13为测试槽沿图12A中线13-13的剖视图。
[0078] 图14为存储设备输送器的侧面透视图。
[0079] 图15为存储设备输送器的前透视图。
[0080] 图16为存储设备输送器的底部透视图。
[0081] 图17为接纳存储设备的存储设备输送器的透视图。
[0082] 图18为存储设备测试系统的支架中测试槽和测试槽冷却系统的透视图。
[0083] 图19为空气冷却器的透视图。
[0084] 图20为鼓风机的透视图。
[0085] 图21为存储设备测试系统的支架中测试槽和测试槽冷却系统的俯视图，其展示 了经由测试槽和测试槽冷却系统的空气流动路径。
[0086] 图22为测试槽的侧面剖视图，其展示了测试槽中所接纳存储设备的上表面和下 表面上方的空气流动路径。
[0087] 不同附图中类似的参考符号表示类似的元件。

【具体实施方式】
[0088] 存储设备的温度调节可为存储设备测试（如，验证、质检、功能测试等）期间的重 要因素。一种进行温度调节的方法包括在测试期间移动存储设备上方和/或周围的空气。 正如将详细讨论的那样，测试期间相对于存储设备所移动空气的体积、温度和流动路径中 的每一项都是为存储设备提供可靠、有效和高效的温度控制的要素。
[0089] 如本文所用的存储设备包括磁盘驱动器、固态驱动器、存储器设备以及受益于异 步验证测试的任何设备。磁盘驱动器通常为非易失性存储设备，其将数字编码数据存储在 具有磁性表面的快速旋转圆盘上。固态驱动器（SSD)为使用固态存储器存储永久性数据的 数据存储设备。使用SRAM或DRAM (而非闪存）的SSD通常称为RAM驱动器。一般来讲，术 语"固态"将固态电子器件与机电设备区分开来。
[0090] 参见图1-3,在一些具体实施中，存储设备测试系统100包括至少一个自动输送器 200(如，自动控制装置、机械臂、龙门系统或多轴线性致动器），该输送器限定了基本垂直 于地面10的第一轴线205 (参见图3)。在所示例子中，自动输送器200包括机械臂200,可 操作该臂旋转通过围绕第一轴线205的预定弧线以及从第一轴线205径向延伸。可操作机 械臂200,使其围绕第一轴线205旋转约360°，并且该机械臂包括设置在机械臂200的远 端202的机械手210,以控制一个或多个存储设备500和/或携带存储设备500的存储设 备输送器800 (参见如图5A-5E)。多个支架300围绕机械臂200布置，以便由机械臂200 提供服务。每个支架300容纳多个测试槽330,这些测试槽被构造为接纳要测试的存储设 备500。机械臂200限定了大致圆柱形的工作包封空间220,支架300布置在工作包封220 内以使每个测试槽330可接近，以便由机械臂200提供服务。大致圆柱形的工作包封空间 220提供紧凑的占有面积，并且通常仅在由高度约束的容量方面有所限制。在一些例子中， 机械臂200被地面10上的基座或隆起250抬高并由其支承。基座或隆起250增大了工作 包封空间220的尺寸，方式是允许机械臂200不仅向上伸出，而且向下伸出，以便为测试槽 330提供服务。可通过为基座或隆起250添加垂直致动器进一步增大工作包封空间220的 尺寸。控制器400(如，计算机设备）与每个自动输送器200和支架300通信。控制器400 通过自动输送器200协调测试槽330的服务。
[0091] 机械臂200被构造为独立地服务于每个测试槽330,以提供经过测试系统100的存 储设备500连续流。单个存储设备500组成的经过测试系统100的连续流允许每个存储设 备500的开始时间和结束时间有所不同，而对于其他要求一次运行一批存储设备500作为 整个测试负载的系统，必须全部具有相同的开始时间和结束时间。因此，形成连续的流时， 不同容量的存储设备500可根据需要同时运行并接受服务（装载/卸载）。
[0092] 参见图1-3,存储设备测试系统100包括转运站600,其被构造用于将存储设备500 批量送入机械臂200。机械臂200通过在转运站600与测试槽330之间输送存储设备500， 独立地为每个测试槽330提供服务。转运站600可容纳一个或多个装载箱700,该装载箱运 送多个存储设备500以便由机械臂200提供服务。转运站600是用于将存储设备500传送 到存储设备测试系统1〇〇和将存储设备从该存储设备测试系统取回的服务点。装载箱700 允许操作者将一组存储设备500传送到转运站600和从该转运站取回这组存储设备。在图 3所示的例子中，可从递送位置处的各自装载箱递送支承系统720接近每个装载箱700,每 个装载箱可以指定为源装载箱700以提供一组用于测试的存储设备500,或指定为目的地 装载箱700以接纳所测试的存储设备500 (或同时指定为两者）。目的地装载箱700可以分 类为"通过的回程装载箱"或"失败的回程装载箱"，用于分别接纳功能测试通过或失败的存 储设备500。
[0093] 在使用存储设备输送器800 (图5A-5E)来操纵存储设备500的具体实施中，机械 臂200被构造为使用机械手210从其中一个测试槽330中移除存储设备输送器800,然后使 用存储设备输送器800从转运站600或其他递送系统（如，传送带、装载/卸载工作站等） 递送的其中一个装载箱700中拾取存储设备500,然后使存储设备输送器800及其中的存储 设备500返回测试槽330,以测试存储设备500。测试完成后，机械臂200从测试槽330中 取回已测试的存储设备500,方式是从测试槽330中移除携带有所测试存储设备500的存储 设备输送器800 (即，使用机械手210)，将存储设备输送器800中的所测试存储设备500携 带到转运站600,然后操纵存储设备输送器800以使所测试的存储设备500返回转运站600 或其他系统（如，传送带、装载/卸载工作站等）的其中一个装载箱700。
[0094] 参见图4,机械手210可以包括光学系统212和机械致动器240。光学系统212可 以包括相机220和光源230。存储设备500可以由存储设备输送器800携带（图5A-5E)， 其中存储设备输送器通过机械致动器240被机械手210握持。
[0095] 如图5A-5E所示，存储设备输送器800包括具有第一部分802和第二部分804的 输送器主体810。输送器主体810的第一部分802包括被构造为接纳或以其他方式接合机 械手210来进行输送的操纵结构812 (如，凹陷、凸出、孔洞等）。输送器主体810的第二部 分804被构造为接纳存储设备500。在一些例子中，输送器主体的第二部分804限定了由 输送器主体810的第一侧壁822、第二侧壁824和底板826形成的大致U形开口 820。存储 设备500接纳在U形开口 820中。图5C-?示出了示例性存储设备500,其包括具有上表 面512、下表面514、前表面516、后表面518、左表面520和右表面522的壳体510。U形开 口 820使得移动穿过测试槽330的空气在存储设备500的下表面514上方流动。存储设备 500通常以其后表面518基本上面向存储设备输送器主体810的第一部分802的方式被接 纳。输送器主体810的第一部分802包括空气导流器830 (前面板），空气导流器接纳空气 并将空气几乎同时（如，平行）导向至存储设备输送器800中接纳的存储设备500的至少 上表面512和下表面514上方。空气导流器830限定了一个或多个空气入口 832a-c (如孔 洞、槽等），空气入口用于将空气接纳到输送器主体810的第一部分802以及将空气导出到 输送器主体800的第二部分804,使得空气可在所接纳存储设备500的至少上表面512和下 表面514上方移动。在一些具体实施中，空气导流器830包括用于对所接纳存储设备500 上方的空气进行引导的导向装置（如，转向器、翅片、充气室等）。
[0096] 参见图5A，似乎没有剩余的空间可设置额外的机械式凸起或腔体以供机械致动器 240的抓具242 (图4)进行接合。但是，通过设计抓具242,例如图4中所示的抓具，使得其 利用腔体而不是凸起，则可以综合空气入口和机械致动器240的抓具242的功能。在本例 中（图5E中所示为特写），抓具242可与中心矩形切口 832a和两个圆孔832b接合，从而使 得空气入口也起到接合结构的作用。
[0097] 由于将多个孔用于配准，所以圆孔832a允许抓具242上的柱子244在X和Y维度 以及旋转地配准存储设备输送器800。矩形切口 832a包含内部槽834,其用于抓具242的 爪钳246a和246b接合存储设备输送器800并将其拉到抓具242表面上以Z维度表示的配 准点。
[0098] 如图5A和5C所示，考虑到机械刚度和放置用于光学系统212检测的两个基准标 记836 (图3)，留出了足够的区域。作为另外一种选择或除此之外，空气入口 832a-c本身可 以用作视觉基准。
[0099] 在一些例子中，存储设备输送器800包括加热器860,加热器可通过直接接触所接 纳的存储设备500提供传导式加热，或通过加热进入存储设备输送器800和所接纳存储设 备500和/或在它们上方的空气流提供对流式加热。加热器860的【具体实施方式】以及可与 本文所述内容组合的细节和特征可以在下文的美国专利申请12/503,593中找到，该专利 申请提交于2009年7月15日，其全文以引用方式并入本文。
[0100] 一些存储设备500可对振动敏感。不良振动源可能是在单个测试支架330中放置 多个存储设备500和运行存储设备500 (如，在测试期间），以及在测试支架300的不同测试 槽330中插入和从中移除存储设备输送器800 (每个输送器中可选地携带有存储设备500)。 在一些情况下，例如，其中一个存储设备500可以在其中一个测试槽330内于测试条件下操 作，而其他存储设备仍在同一支架300中的相邻测试槽330中移除和插入。在存储设备输 送器800完全插入测试槽330中之后再将存储设备输送器800夹到测试槽330中有助于减 少或限制振动，方式是在插入和移除存储设备输送器800期间限制存储设备输送器800与 测试槽330之间的接触和刮擦。
[0101] 在一些具体实施中，机械手210被构造为引发设置在存储设备输送器800中的夹 紧机构840的致动。这样便可在存储设备输送器800移动到测试槽330中或从中移出之前 致动夹紧机构840,以抑制移动期间存储设备500相对于存储设备输送器800的移动。在插 入到测试槽330之前，机械手210可再次致动夹紧机构840以在输送器主体800内释放存 储设备500。这样便可将存储设备输送器800插入其中一个测试槽330,直至存储设备500 处于接合了测试槽330的测试位置（如，存储设备500的存储设备连接器532 (如，电气连 接器）（图7C)与测试槽330的测试槽连接器392 (图7C)(如，电气连接器）接合）。夹紧 机构840也可以被构造为接合测试槽330, 一旦接纳在其中，就可抑制存储设备输送器800 相对于测试槽330的移动。在此类具体实施中，一旦存储设备500处于测试位置，夹紧机构 840即再次接合（如，通过机械手210)，以抑制存储设备输送器800相对于测试槽330的移 动。存储设备输送器800以这种方式的夹紧有助于减少测试期间的振动。在一些例子中， 插入之后，存储设备输送器800和其中携带的存储设备500均在测试槽330内共同或单独 地被夹紧或固定。存储设备输送器800的【具体实施方式】以及可与本文所述内容组合的其他 细节和特征可以在提交于2009年7月15日的美国专利申请序列号12/503, 687和提交于 2009年7月15日的美国专利申请序列号12/503, 567中找到。这些专利申请的全文均以引 用方式并入本文。
[0102] 在图6A和6B所示的例子中，每个支架300包括一个或多个托架容器310,每个托 架容器都被构造为接纳可携带一个或多个测试槽330的测试槽托架320。测试槽托架320 提供一组测试槽330,允许将测试槽330批量装载到支架300中。支架300可迅速提供服务 以更换不同类型的测试槽330,方式是将具有一种类型测试槽330的一个测试槽托架320从 各自的托架容器310上移除，然后装载具有不同类型或类别测试槽330的另一个托架320， 而无需修改支架300来适应每个类型测试槽330的具体安装间距。一些托架容器310可以 具有通用的标准尺寸来接纳互补的标准尺寸测试槽托架320。任意特定测试槽托架320携 带的测试槽容器324的数量可以根据其中所接纳的测试槽330的类型变化。例如，与用于 相对较小存储设备500的相对较小（较薄）测试槽300相比，测试槽托架320将容纳较少 的相对较大测试槽330来接纳相对较大的存储设备500。
[0103] 每个支架300包括空气导管304 (也在图10A和10B中示出），此空气导管提供各 自支架300的每个测试槽330与支架300的出口 353之间的气动连通。在一些具体实施中， 空气导管304由测试槽330与支架300的后壁303之间的空间形成。空气导管304也可附 接到支架300的外部，例如图6B中所示的楔形导管304。在一些具体实施中，如图3所示， 空气导管304与系统鼓风机190气动连通（如，经由公用系统空气导管345)，和/或与支架 300的外部气动连通，以便移动支架300与支架300周围环境之间的空气。在这种情况下， 系统鼓风机190可气动连接到存储设备测试系统100中的每条空气导管304 (如，经由公用 系统空气导管345,其可以包括测试槽330下方支架300的底部），以使空气移动穿过每条 空气导管。系统鼓风机190使支架300外部的空气移动穿过测试槽330,进入空气导管304 并从支架300移出返回。
[0104] 在图6B所示的例子中，空气导管304(也在图10A和10B中示出）提供各自支架 300的每个测试槽330与空气热交换器350之间的气动连通。空气热交换器350设置在远 离所接纳测试槽330的托架容器310的下方。空气热交换器350包括限定了入口 351、出 口 353和两者间空气流动路径305的空气热交换器壳体352。在一些具体实施中，冷却元 件354设置在空气流动路径305中的壳体352上，泵356用于将从空气热交换器350累积 的冷凝传送到蒸发器360 (蒸发器可以设置在空气热交换器350的各自支架300上，如，在 托架容器310的上方）或传送到排出装置。空气热交换器350可以包括鼓风机358,此鼓风 机使空气从空气导管304进入冷却元件354(如果有）上方的空气热交换器壳体352的入 口 351，然后将空气移出空气热交换器壳体出口 353并移出支架300。
[0105] 参见图7A-7C，每个测试槽托架320包括主体322,此主体具有测试槽容器324,这 些测试槽容器每个都被构造为接纳测试槽330。每个测试槽330被构造为接纳存储设备输 送器800,此存储设备输送器被构造为接纳存储设备500并由机械臂200的机械手210操 作。在应用中，机械臂200将其中一个存储设备输送器800从其中一个测试槽330中移除或 传送到其中。每个测试槽容器324可以包括一个或多个隔离器326(如，橡胶索环）以减小 或隔离托架主体322与所接纳存储设备500之间的振动。测试槽托架320的【具体实施方式】 以及可与本文所述内容组合的其他细节和特征可以在提交于2010年2月2日、名称为"测 试槽托架"的美国专利申请中找到，该专利申请的代理人档案号为18523-0102001，发明人 为Brian Merrow等人，分配的序列号为12/698, 605,并且其全文以引用方式并入本文。
[0106] 参见图7C和8A-8C，每个测试槽330包括测试槽壳体340,此壳体用于被支架300 或测试槽托架320的测试槽容器324接纳。测试槽壳体340具有第一部分342和第二部分 344。测试槽壳体340的第一部分342限定了设备开口 346,此开口的尺寸适于接纳存储设 备500和/或携带存储设备500的存储设备输送器800。测试槽壳体340的第二部分344 包括空气出口 348、电子器件390 (如，电路板）和可选的鼓风机900。电子器件390与测试 槽连接器392连通，该连接器被构造为接纳存储设备500的存储设备连接器532并与其建 立电气连通。电子器件390还包括用于建立与支架300的电气连通的槽支架连接器394。 可将移动穿过测试槽300的空气导向至电子器件390上方。
[0107] 图9示出了示例性鼓风机900,其具有用于沿第一方向904接纳空气的空气入口 902和沿基本垂直于第一方向的第二方向908传送空气的空气出口 906。更改鼓风机900 内的空气移动方向可消除更改导管内空气流方向的效率损失，从而增大存储设备测试系统 100的冷却效率。在一些具体实施中，鼓风机900包括叶轮910,此叶轮以约7100转/分钟 (rpm)的转速旋转以产生最大约0· 122m3/分钟（4. 308CFM)(零静压）的空气流量和最大约 20. 88mmH20 (0. 822英寸H20)(零气流）的气压。在某些情况下，鼓风机900是测试槽330的 冷却系统的最大部件。鼓风机900大致水平布置在存储设备测试系统100内，以得到相对 较低的测试槽330的整体高度（从而在支架300和/或测试槽托架320中得到更大的测试 槽密度）。
[0108] 图7C和10A-10B示出了空气经由测试槽330和支架300的流动路径305,该路径 用于调节存储设备测试系统100中接纳的存储设备500的温度。支架300中容纳的每个测 试槽330的鼓风机900将空气流从支架300的外部空间移入测试槽330中所接纳存储设备 输送器800的空气导流器830的至少一个入口 832。空气流几乎同时被导向至存储设备输 送器800中接纳的存储设备500的至少上表面512和下表面514上方。图7C提供了测试 槽330的侧面剖视图和所接纳存储设备500的上表面512和下表面514上方的空气流动路 径305。空气也可以在存储设备500的其他表面（如前表面516、后表面518、左表面520、右 表面522)上方流动。如果测试槽330中未接纳任何存储设备500或存储设备输送器800， 则空气可直接经由测试槽壳体340的第一部分342流动到鼓风机900。鼓风机900使空气 移动穿过测试槽壳体340的第二部分344并从测试槽330的空气出口 348 (图7B)移出进 入空气导管304。空气经由空气导管304移动至空气热交换器350或支架300外部的环境。 空气穿过空气热交换器350之后，被释放回到支架300的外部空间。
[0109] 在一些例子中，鼓风机900将空气吸入存储设备输送器800的空气导流器830,此 导向器将空气流305导向至存储设备500的至少上表面512和下表面514上方。鼓风机900 沿第一方向接纳来自所接纳存储设备500上方的空气流，并沿与第一方向基本垂直的第二 方向将空气流从鼓风机900传送到测试槽330的出口 348。
[0110] 在所示例子中，存储设备输送器800接纳在测试槽壳体340中后，为测试槽壳体 340的设备开口 346提供封闭。鼓风机900移动空气以沿空气路径305循环时，空气沿公用 方向从测试槽壳体340的第一部分342移动到测试槽壳体340的第二部分344,同时横穿所 接纳存储设备500的整个长度。由于空气几乎同时沿存储设备500的至少上表面512和下 表面514移动，因此空气可大致均匀地冷却存储设备500。如果空气路径首先沿存储设备的 一面（例如上表面512)，然后顺序沿另一面（例如下表面514)导向，则空气将在流经存储 设备500的第一面上方之后变为预热，然后流经存储设备的任何其他面，从而导致冷却效 率与空气先在存储设备500的两个或多个面上方几乎同时流动和/或存储设备500上方无 再循环然后流经空气热交换器350的情况相比较低。
[0111] 执行存储设备测试的一种方法包括将一个或多个存储设备500递送到存储设备 测试系统100,以便在源位置（如，装载/卸载工位600、存储设备装载箱700、测试槽330 等）测试，以及致动自动输送器200 (如，机械臂）以从源位置取回一个或多个存储设备500 并将取回的存储设备500传送到设置在存储设备测试系统100的支架300上的对应测试 槽330。该方法包括致动自动输送器200以将每个取回的存储设备500插入其各自的测试 槽330中，以及对测试槽330所接纳的存储设备500执行测试（如，功能、电源、连接性测试 等）。该方法还包括致动自动输送器200以从测试槽330取回已测试的存储设备500,以及 将已测试的存储设备500传送到目的地位置（如，另一个测试槽330、存储设备装载箱700、 装载/卸载工位600等）。
[0112] 调节存储设备测试系统100中接纳的存储设备500温度的一种方法包括将空气流 移入支架300的测试槽330的测试槽壳体340的空气入口 346、使空气流在测试槽330中所 接纳存储设备500上方移动、将空气移出测试槽330的测试槽壳体340的空气出口 348,然 后释放空气至支架300外部。该方法可以对存储设备测试系统100执行，以减少通常所需 的温度控制部件的相对数目，同时仍然可以单独控制每个测试槽330的温度。该方法允许 存储设备测试系统100对每个存储设备测试槽330提供单独的热控制，其使用相对较少的 热控制部件，并且每个测试槽330没有单独的闭环空气流路径。在一些例子中，该方法导致 测试槽330中或附近几乎不形成冷凝，因此不需要控制空气的含水量。
[0113] 在一些具体实施中，该方法包括使用公用的冷空气贮存器，可以利用一个或多个 空气热交换器350冷却此贮存器。空气热交换器350上形成的冷凝集中在相对较少的位置， 可以通过蒸发器或排出装置等常规方法排出。或者，可以控制热交换器350在高于露点的 温度下工作。通过为每个测试槽330使用单独可控的鼓风机900,使来自公用贮存器的空气 被拉动穿过每个测试槽330。可以通过鼓风机900的速度控制冷却量。若要加热测试槽330 中接纳的存储设备500,可以设置加热器860来直接或间接加热所接纳的存储设备500。例 如，加热器860可能放置在测试槽330的入口空气路径346中，和/或直接接触所接纳的存 储设备。在一些例子中，该方法包括允许所接纳的存储设备500通过减少或切断穿过测试 槽300的空气流来自加热。在一些具体实施中，按存储设备测试系统100的外形而不是按 单独的机罩来形成冷空气贮存器。冷却空气也可以用来冷却设置在存储设备测试系统100 中的其他电子器件。
[0114] 在一些例子中，空气被移动以几乎同时在测试槽330中所接纳存储设备500的至 少上表面512和下表面514上方流动。在一些具体实施中，该方法包括利用设置在测试槽 壳体340中的鼓风机900将支架300外部的空气拉入测试槽壳体340的第一部分342,然后 使空气在设置在测试槽壳体340的第二部分344中的电子器件350上方移动穿过第二部分 344并排出测试槽壳体340的空气出口 348。该方法可以包括将空气流沿第一方向904接 纳进入鼓风机900以及将空气流沿与第一方向904基本垂直的第二方向908移动到鼓风机 900的空气出口 906。在一些例子中，该方法包括以最大约0. 122m3/分钟（4. 308CFM)的空 气流量和最大约20. 88mmH20(0. 822英寸H20)的气压将空气流排出鼓风机900。
[0115] 该方法可以包括使空气流移动穿过容纳存储设备500以及接纳在测试槽330中的 存储设备输送器800的空气导流器830。空气导流器830限定了一个或多个空气入口 832， 这些入口接纳空气流并将空气流导向至存储设备500的至少上表面512和下表面514上 方。存储设备输送器800包括具有第一部分802和第二部分804的主体800。在一些例子 中，该方法包括将存储设备500 (具有上表面512、下表面514、前表面516、后表面518、右表 面520和左表面522)接纳在存储设备输送器800中，使得后表面518基本上面向存储设备 输送器主体800的第一主体部分802。
[0116] 在一些具体实施中，该方法包括将空气流经由空气导管304从测试槽330移入空 气热交换器350,其中空气导管提供测试槽与热交换器之间的气动连通。在一些例子中，空 气热交换器350包括鼓风机358,此鼓风机将空气在冷却兀件354上方从空气导管304拉入 空气热交换器壳体352的入口 351，然后将空气移出空气热交换器壳体出口 353并移出支 架300。该方法还可以包括将空气热交换器350的冷凝抽吸到设置在支架300上的蒸发器 360或抽吸到排出装置，或者允许冷凝通过重力排出。
[0117] 其他具体实施
[0118] 已经描述了多个具体实施。然而，应当理解，可以在不脱离本公开精神和范围的前 提下进行多种修改。例如，空气可以在与示例性实施例中给定的方向相反的方向上流动。空 气也可以只在存储设备一面的上方流动，而不是同时在上表面和下表面的上方流动。在每 个测试槽具有一个鼓风机的系统中，测试槽鼓风机可以设置在多个位置，其中一些位置未 物理连接到槽。测试槽的热控制可以包括通过在测试槽的入口流上增添加热器来加热空气 的方式。
[0119] 虽然上述具体实施包括可从测试槽整体移除的可移除托架形式的存储设备输送 器，但在一些具体实施中，存储设备输送器不可从测试槽整体移除，而是以抽屉的形式保持 连接到测试槽。例如，图11A和11B示出了测试槽组件的具体实施，在该组件中，存储设备 输送器800'包括在测试槽330'的壁上的凹槽335内滑动的凸起805。凹槽335的末端位 置会阻碍（如，阻止）存储设备输送器800'的向前移动和完整移除。因此，在本例中，存储 设备输送器800'像抽屉一样工作，S卩，可相对于测试槽330'滑动，从而允许将存储设备插 入测试槽330'或从其中移除。
[0120] 图12A-22示出了可以在存储设备测试系统（例如上述系统）中采用的测试槽的 另一个具体实施。在图12A-13所示的例子中，每个测试槽1330都被构造为接纳存储设备 输送器1800。存储设备输送器1800被构造为接纳存储设备500和由机械臂200 (图1)的 机械手210 (图4)操作。在应用中，机械臂200将其中一个存储设备输送器1800从其中一 个测试槽1330中移除或传送到其中。每个测试槽1330都包括由支架300接纳并且具有第 一部分1342和第二部分1344的测试槽壳体1340。测试槽壳体1340的第一部分1342限定 了设备开口 1346和第一空气开口 1326 ( S卩，空气入口），其中设备开口的尺寸适于接纳存储 设备500和/或携带有存储设备500的存储设备输送器1800。测试槽壳体1340的第二部 分1344限定了第二空气开口 1348( S卩，空气出口）并容纳了电子器件1390。
[0121] 如图14-17所示，存储设备输送器1800包括具有第一部分1802和第二部分1804 的输送器主体1810。输送器主体1810的第一部分1802包括被构造为接纳或以其他方式 接合机械手210来进行输送的操纵结构1812(如，凹陷、凸出、孔洞等）。输送器主体1810 的第二部分1804被构造为接纳存储设备500。在一些例子中，输送器主体的第二部分1804 限定了由输送器主体1810的第一侧壁1822、第二侧壁1824和底板1826形成的大致U形 开口 1820。存储设备1500接纳在U形开口 1820中，并且由至少底板1826支承。图17示 出了示例性存储设备500,其包括具有上表面512、下表面514、前表面516、后表面518、左 表面520和右表面522的壳体510。存储设备500通常以其后表面518基本上面向存储设 备输送器主体1800的第一部分802的方式被接纳。输送器主体1810的第一部分1802包 括空气导流器1830,此空气导流器用于接纳空气并将空气几乎同时（如，平行）导向至存 储设备输送器1800中所接纳存储设备500的至少上表面512和下表面514上方。空气导 流器1830限定了具有空气入口 1832以及第一空气出口 1834和第二空气出口 1835的空气 腔体1831。空气导流器1830将经由空气入口 1832接纳的空气导出第一空气出口 1834和 第二空气出口 1835。第一空气出口 1834将空气导向至所接纳存储设备1800的上表面512 上方，第二空气出口 1835将空气导向至所接纳存储设备500的下表面514上方。
[0122] 在一些具体实施中，空气导流器1830包括设置在腔体1831中的充气室1836,用于 将经由空气入口 1832接纳的空气的至少一部分导出第一空气出口 1834并导向至所接纳存 储设备500的至少下表面514上方。在一些具体实施中，空气导流器1830被配重以稳定存 储设备输送器1800以避免振动。例如，充气室1836可为配重或由重量合适的材料加工而 成。进入空气腔体1831的空气可在隔室1838 (其上为第二空气出口 1835)上方流动，以便 在存储设备500的至少上表面512上方流动。当存储设备500接纳在输送器主体1810内 时，存储设备输送器1810和存储设备500可一起被自动输送器200 (图1)移动，以放置在 其中一个测试槽310内。
[0123] 一些存储设备500可对振动敏感。不良振动源可能是在单个测试支架300中放置 多个存储设备500和运行存储设备500 (如，在测试期间），以及在测试支架300的不同测 试槽1330中插入和从中移除存储设备输送器550 (每个输送器中可选地携带有存储设备 500)。在一些情况下，例如，其中一个存储设备500可以在其中一个测试槽1330内于测试 条件下操作，而其他存储设备仍在同一支架300中的相邻测试槽1330中移除和插入。在存 储设备输送器550完全插入测试槽1330中之后再将存储设备输送器1800夹到测试槽1330 中有助于减少或限制振动，方式是在插入和移除存储设备输送器1800期间限制存储设备 输送器1800与测试槽1330之间的接触和刮擦。
[0124] 在一些具体实施中，机械手210(参见，如，图2和图4)被构造为引发设置在存储 设备输送器1800中的夹紧机构1840的致动。这样便可在存储设备输送器1800移动到测 试槽1330中或从中移除之前致动夹紧机构1840,以抑制移动期间存储设备500相对于存 储设备输送器1800的移动。在插入到测试槽1330之前，机械手210可再次致动夹紧机构 1840以在输送器主体1810内释放存储设备500。这样便可将存储设备输送器1800插入其 中一个测试槽1330,直至存储设备500处于接合了测试槽1330的测试位置（如，存储设备 500的存储设备连接器532 (图17)与测试槽1330的测试槽连接器1392 (图18)接合）。夹 紧机构1840也可以被构造为接合测试槽1330,一旦接纳在其中，就可抑制存储设备输送器 1800相对于测试槽1330的移动。在此类具体实施中，一旦存储设备500处于测试位置，夹 紧机构1840即再次接合（如，通过机械手210)，以抑制存储设备输送器1800相对于测试槽 1330的移动。存储设备输送器1800以这种方式的夹紧有助于减少测试期间的振动。在一 些例子中，插入之后，存储设备输送器1800和其中携带的存储设备500均在测试槽1330内 共同或单独地被夹紧或固定。
[0125] 再次参见图12A-13以及图18,支架300包括与每个测试槽1330相邻设置的测 试槽冷却系统1900。测试槽冷却系统1900包括具有第一空气开口 1912和第二空气开口 1914(即空气出口和空气入口）的壳体1910。壳体1910用于经由第二空气开口 1914接纳 来自测试槽1330的空气，以及经由空气冷却器1920将空气导向至鼓风机1930(如鼓风机、 风扇等）。在图19所示的例子中，空气冷却器1920包括其上设置有一个或多个翅片或板 1924的空气冷却器主体1922。空气冷却器1920连接或附接到冷却管1926,冷冻液体（如， 水）流经此冷却管。冷冻的冷却管1926会传导来自空气冷却器1920的热量，冷却器用于接 纳来自翅片1924上方的流动空气的对流热量。鼓风机1930将空气经由第一空气开口 1912 移回到测试槽1330中（经由测试槽的第一空气开口 1326)。测试槽壳体1340的第一空气 开口 1326与测试槽冷却系统壳体1900的第一空气开口 1912基本对齐，测试槽壳体1340 的第二空气开口 1348与测试槽冷却系统壳体1900的第二空气开口 1914基本对齐。在使 用了存储设备输送器1800的例子中，测试槽壳体1340的第一空气开口 1326与输送器主体 1810的空气入口 1832基本对齐，用于将温度受控的空气传送至存储设备输送器1800携带 的存储设备500上方。
[0126] 图20示出了示例性鼓风机1930,其具有用于沿第一方向1934接纳空气的空气入 口 1932和沿基本垂直于第一方向的第二方向1938传送空气的空气出口 1936。更改鼓风机 1930内的空气移动方向可消除更改导管内空气流方向的效率损失，从而增大测试槽冷却系 统1900的冷却效率。在一些具体实施中，鼓风机1930包括叶轮1935,此叶轮以约7100转/ 分钟（rpm)的转速旋转以产生最大约0. 122m3/分钟（4. 308CFM)(零静压）的空气流量和最 大约20. 88mmH20(0. 822英寸H20)(零气流）的气压。在某些情况下，鼓风机1930是测试槽 冷却系统1900的最大部件，因此控制着测试槽冷却系统1900的尺寸。在一些具体实施中， 鼓风机1930的长度L为约45mm，宽度W为约45mm，高度Η为约10mm，例如由台达电子公司 (Delta Electronics, Inc.，台湾桃园县龟山工业区山莺路252号桃园工厂）生产的直流鼓 风机BFB04512HHA-8A60。在测试槽冷却系统1900内基本水平放置鼓风机1930可以得到相 对较低的测试槽冷却系统1900整体高度，因此得到相对较低的关联测试槽1330整体高度 (允许支架300内具有较大的测试槽密度）。鼓风机1930重新导向空气流动路径1950 (图 21)的能力减小了空气流动路径1950中的空气阻力，因此降低了鼓风机1930用来保持阈值 空气流量的功耗。
[0127] 图21提供了支架300的俯视图，并且示出了经由测试槽冷却系统1900和测试槽 1330的空气流动路径1950。图22提供了测试槽1330的侧面剖视图和所接纳存储设备500 的上表面512和下表面514上方的空气流动路径1950。空气也可以在存储设备500的其他 表面（如前表面516、后表面518、左表面520、右表面522)上方流动。鼓风机1930将空气 经由测试槽冷却系统壳体1900的第一空气开口 1912(即，空气入口）和测试槽壳体1340 的第一空气开口 1326(8卩，空气入口）传送到存储设备输送器主体1810的空气导流器1830 中。空气经由空气导流器1830的空气入口 1832流进空气腔体1831。空气从空气导流器 1830的第一空气出口 1834(如，由充气室1836导向）流出，并且在存储设备500的至少下 表面514上方流动。空气也流动穿过第二空气出口 1835(如，在隔室1838的上方），并且在 存储设备500的至少上表面512上方流动。空气从测试槽壳体1340的第一部分1342移到 测试槽壳体1340的第二部分1344。空气可以在测试槽壳体1340的第二部分1344中的电 子器件1390上方移动。空气经由测试槽壳体1340的第二空气开口 1348(即，空气出口） 离开测试槽壳体，进入测试槽冷却系统壳体1900的第二空气开口 1914( S卩，空气入口）。空 气在设置在空气流动路径1950中或与其相邻的空气冷却器1920的上方（如，在空气冷却 器翅片1924的上方）流动，然后返回进入鼓风机1930的空气入口 1932。
[0128] 在所示例子中，存储设备输送器1800接纳在测试槽壳体1340中后，为测试槽壳体 的设备开口 1346提供封闭。存储设备输送器1800的空气导流器1830和鼓风机1930设 置在测试槽壳体1340的设备开口 1346的入口附近。鼓风机1930移动空气以沿空气路径 1950循环时，空气沿公用方向从测试槽壳体1340的第一部分1342移动到测试槽壳体1340 的第二部分1344,同时横穿所接纳存储设备500的整个长度。由于空气几乎同时沿存储 设备500的至少上表面512和下表面514移动，因此空气可大致均匀地冷却存储设备500。 如果空气路径首先沿存储设备的一面（例如上表面512)，然后顺序沿另一面（例如下表面 514)导向，则空气将在流经存储设备500的第一面上方之后变为预热，然后流经存储设备 的任何其他面，从而导致冷却效率与空气先在存储设备500的两个或多个面上方几乎同时 流动和/或存储设备500上方无再循环然后流经空气冷却器1920的情况相比较低。
[0129] 执行存储设备测试的一种方法包括将一个或多个存储设备500递送到存储设备 测试系统100,以便在源位置（如，装载/卸载工位600、存储设备装载箱700、测试槽310 等）测试，以及致动自动输送器200 (如，机械臂）以从源位置取回一个或多个存储设备500 并将取回的存储设备500传送到设置在存储设备测试系统100的支架300上的对应测试槽 1330。该方法包括致动自动输送器200以将每个取回的存储设备500插入其各自测试槽 1330中，以及对测试槽1330所接纳的存储设备500执行测试（如，功能、电源、连接性测试 等）。该方法还包括致动自动输送器200以从测试槽310取回已测试的存储设备500,以及 将已测试的存储设备500传送到目的地位置（如，另一个测试槽310、存储设备装载箱700、 装载/卸载工位600等）。
[0130] 调节存储设备测试系统100中所接纳存储设备500的温度的方法包括将空气流传 送到测试槽壳体1340的空气入口 1346中，以及将空气流几乎同时导向至存储设备500的 至少上表面512和下表面514上方。该方法可以包括将空气流传送到空气导流器1830,此 导向器用于将空气流导向至存储设备500的至少上表面512和下表面514上方。在一些具 体实施中，该方法包括支承测试槽壳体1340中所接纳存储设备输送器1800中的存储设备 500。存储设备输送器1800包括具有第一部分1802和第二部分1804的主体1810。存储 设备输送器的第一主体部分1802包括空气导流器1830,存储设备输送器的第二主体部分 1804被构造为接纳存储设备500。存储设备500具有上表面512、下表面514、前表面516、 后表面518、右表面520、左表面522,并且以其后表面518基本上面向存储设备输送器主体 1810的第一主体部分1802的方式被接纳。该方法可以包括配重空气导流器1830(在一些 例子中为充气室1836)，以在存储设备输送器被存储设备测试系统接纳时减少存储设备输 送器的移动。
[0131] 在一些具体实施中，该方法包括将空气流传送到空气导流器1830的空气入口 1832中。空气导流器1830将经由空气入口 1832接纳的空气导出空气导流器1830的第一 空气出口 1834和第二空气出口 1835。第一空气出口 1834将空气导向至所接纳存储设备 500的至少下表面514上方，第二空气出口 1835将空气导向至所接纳存储设备500的至少 上表面512上方。空气导流器1830可以限定与空气导流器1830的空气入口 1832和空气 出口 1834、1835气动连通的腔体1831。空气导流器1830包括设置在腔体1831中的充气 室1836,以用于将腔体1831中所接纳空气的至少一部分导出第一空气出口 1834。在一些 例子中，该方法包括配重充气室1836,以在存储设备输送器1800被存储设备测试系统100 接纳（如，接纳在测试槽1330中）时减少存储设备输送器的移动。
[0132] 在一些具体实施中，该方法包括将空气流导向到与测试槽壳体1340的空气入口 1325气动连通的鼓风机1930。鼓风机1930将空气流传送到测试槽壳体320的空气入口 1326中，其中空气流沿闭环路径950 (图15)移动。该方法可以包括将空气流沿第一方向 1934接纳到鼓风机1930中，然后将空气流沿与第一方向1934基本垂直的第二方向1938传 送到测试槽壳体1340的空气入口 1326。该方法包括将空气流导向至设置在鼓风机1930上 游的空气流动路径1950中的空气冷却器1920上方。在一些例子中，该方法包括以最大约 0. 122m3/分钟（4. 308CFM)的空气流量和最大约20. 88mmH20(0. 822英寸H20)的气压将空气 流传送到测试槽壳体1340的空气入口 1326中（如，经由鼓风机1930)。
[0133] 因此，其他具体实施在以下权利要求书的范围内。
【权利要求】
1. 一种存储设备测试系统（1〇〇)，包括： 至少一个支架（300); 每个支架容纳的至少一个测试槽（330、330'），每个测试槽包括具有入口（346)和出口 (348)的测试槽壳体（340)，所述入口被构造为接纳存储设备；以及 至少一个与所述至少一个测试槽气动连通的鼓风机（900); 其中所述至少一个鼓风机被构造为将所述至少一个支架外部的空气移入每个测试槽 壳体的所述入口、使空气在所述所接纳存储设备的上方移动、然后移出每个测试槽壳体的 所述出口。
2. 根据权利要求1所述的存储设备测试系统，其中每个支架（300)包括将所述支架的 所述测试槽气动连接到所述至少一个鼓风机的空气导管（304)，所述至少一个鼓风机使空 气经由所述空气导管移出每个测试槽壳体的所述出口并移到所述支架外部的环境。
3. 根据权利要求2所述的存储设备测试系统，其中每个支架的每个测试槽壳体的所述 出口与所述至少一个鼓风机气动连通。
4. 根据权利要求2所述的存储设备测试系统，其中所述至少一个鼓风机（900)设置在 与每个支架（300)的所述测试槽（330)气动连通的所述各自支架上。
5. 根据权利要求1所述的存储设备测试系统,其中每个测试槽壳体（340)具有第一部 分（342)和第二部分（344)，所述测试槽壳体的所述第一部分（342)限定了所述入口（346) 并且被构造为接纳存储设备，所述至少一个鼓风机（900)与所述测试槽壳体的所述第二部 分（344)气动连通。
6. 根据权利要求5所述的存储设备测试系统，其中所述鼓风机（900)包括空气入口 (902)和空气出口（906)，所述鼓风机沿第一方向（904)经由其空气入口接纳空气并且沿与 所述第一方向基本垂直的第二方向（908)将空气传送出其空气出口。
7. 根据权利要求1所述的存储设备测试系统，其中所述测试槽壳体入口（346)被构造 为接纳存储设备输送器（800、800'），所述存储设备输送器（800、800'）具有第一部分和第 二部分，所述存储设备输送器的所述第一部分（802)包括空气导流器（830)，所述存储设备 输送器的所述第二部分（804)被构造为接纳所述存储设备，所述空气导流器将空气几乎同 时导向至所述存储设备输送器中接纳的所述存储设备的至少上表面和下表面上方。
8. 根据权利要求7所述的存储设备测试系统，其中所述支架外部的空气被所述至少一 个鼓风机在所述所接纳存储设备上方移入所述各自测试槽的所述所接纳存储设备输送器 的所述空气导流器，然后移出所述各自测试槽的出口。
9. 根据权利要求7所述的存储设备测试系统，其中所述所接纳存储设备输送器（800、 800'）的所述空气导流器（830)限定了至少一个空气入口（832a-c)，所述存储设备具有上、 下、前、后、右、左表面，所述存储设备前表面具有电气连接器，所述存储设备以其后表面基 本上面向所述存储设备输送器的所述第一部分的方式被接纳，其中所述至少一个空气入口 (832a-c)将空气导向至所述所接纳存储设备的至少所述上表面和下表面上方。
10. -种存储设备测试系统（1〇〇)，包括： 至少一个支架（300); 与至少一个支架气动连通的空气热交换器（350);以及 由每个支架容纳的测试槽（330、330'），每个测试槽包括： 测试槽壳体（340)，其限定了入口（346)和出口（348)，所述入口被构造为接纳存储设 备，至少一个所述入口和所述出口与所述空气热交换器气动连通；以及 测试槽鼓风机（900)，其设置为与所述测试槽壳体气动连通，并且被构造为使空气移 入所述测试槽壳体入口、在所述所接纳存储设备的上方移动、然后移出所述测试槽壳体出 Π ； 其中所述支架外部的空气被所述各自测试槽鼓风机移入所述测试槽壳体入口、在所述 所接纳的存储设备上方移动，然后移出所述各自测试槽壳体出口并移出所述各自支架，所 述空气在流经所述所接纳的存储设备上方之前及之后的至少一种情况下移动穿过所述空 气热交换器。
11. 根据权利要求10所述的存储设备测试系统，其中每个支架（300)包括空气导管 (304)，所述空气导管提供每个测试槽壳体（340)出口与所述空气热交换器（350)之间的气 动连通。
12. 根据权利要求10所述的存储设备测试系统，其中所述空气热交换器（350)包括： 空气热交换器壳体（352)，其限定了入口（351)、出口（353)以及两者间的空气流动路 径（304); 设置在所述空气流动路径中的冷却元件（354);以及 至少一个泵（356)和排出装置，其用于将从所述空气热交换器累积的冷凝传送出所述 空气热交换器。
13. 根据权利要求12所述的存储设备测试系统，其中所述空气热交换器（350)还包括 空气热交换器鼓风机（358)，所述鼓风机用于将空气移入所述空气热交换器壳体入口，在所 述冷却兀件上方移动，并移出所述空气热交换器壳体出口。
14. 根据权利要求12所述的存储设备测试系统，其中所述空气热交换器（350)还包括 蒸发器（360)，所述蒸发器设置在所述空气热交换器的所述各自支架上并且与所述至少一 个泵（356)和排出装置流体连通。
15. 根据权利要求10所述的存储设备测试系统，其中所述测试槽壳体入口（346)被构 造为接纳存储设备输送器（800、800'），所述存储设备输送器具有第一部分（802)和第二部 分（804)，所述存储设备输送器的所述第一部分（802)包括空气导流器（830)，所述存储设 备输送器的所述第二部分（804)被构造为接纳所述存储设备，所述空气导流器将空气几乎 同时导向至所述存储设备输送器中接纳的所述存储设备的至少上表面和下表面上方。
16. 根据权利要求15所述的存储设备测试系统，其中所述支架（300)外部的空气被所 述各自测试槽鼓风机（900)在所述所接纳存储设备上方移入所述各自测试槽（330、300'） 的所述所接纳存储设备输送器（800、800'）的所述空气导流器（830)，然后经由所述空气热 交换器（350)移出所述各自测试槽出口（348)并移出所述各自支架。
17. 根据权利要求15所述的存储设备测试系统，其中所述所接纳存储设备输送器 (800、800'）的所述空气导流器（830)限定了至少一个空气入口（832a-c)，所述存储设备具 有上、下、前、后、右、左表面，所述存储设备前表面具有电气连接器，所述存储设备以其后表 面基本上面向所述存储设备输送器的所述第一部分的方式被接纳，其中所述至少一个空气 入口将空气导向至所述所接纳存储设备的至少所述上表面和下表面上方。
18. 根据权利要求10所述的存储设备测试系统，其中所述鼓风机（900)包括空气入口 (902)和空气出口（906)，所述鼓风机沿第一方向（904)经由其空气入口接纳空气并且沿与 所述第一方向基本垂直的第二方向（908)将空气传送出其空气出口。
19. 根据权利要求18所述的存储设备测试系统，其中所述鼓风机（900)包括宽度为约 45mm、长度为约45mm、高度为约10mm的鼓风机主体。
20. 根据权利要求10所述的存储设备测试系统，还包括至少一个限定了基本上垂直于 地面的第一轴线（205)的机械臂（200)，可操作所述机械臂围绕所述第一轴线旋转预定弧 度并且从所述第一轴线径向延伸，所述支架被布置为围绕所述机械臂以便由所述机械臂提 供服务。
21. -种调节存储设备测试系统中所接纳存储设备温度的方法，所述方法包括： 将空气流（305)移入支架（300)中接纳的测试槽（330、330'）的测试槽壳体（340)的 空气入口（346); 使所述空气流（305)在所述测试槽中接纳的存储设备（500)上方移动； 将所述空气移出所述测试槽的所述测试槽壳体的所述空气出口（348);以及 将所述空气释放到所述支架外部。
22. 根据权利要求21所述的方法，还包括使所述空气流（305)几乎同时在所述测试槽 (330、330'）中接纳的存储设备的至少上表面（512)和下表面（514)上方移动。
23. 根据权利要求21所述的方法，还包括： 将所述支架（300)外部的空气移入所述测试槽壳体入口（346)、使所述空气在所述接 纳的存储设备上方移动；以及 将所述空气经由空气导管（304)移出所述测试槽壳体出口（348)并移出所述支架 (300)； 其中所述空气导管（304)与所述支架的每个测试槽壳体的所述出口（348)气动连通。
24. 根据权利要求23所述的方法，还包括利用与所述空气导管（304)气动连通的鼓风 机使所述空气移动穿过所述测试槽（330、330'）和所述空气导管（304)。
25. 根据权利要求23所述的方法，还包括利用测试槽鼓风机（900)使所述空气移动穿 过所述测试槽（330、330'）并进入所述空气导管（304)以便传送出所述支架（300)。
26. 根据权利要求21所述的方法，还包括利用所述测试槽的测试槽鼓风机（900)将 所述支架（300)外部的空气移入所述测试槽壳体入口（346)、使所述空气在所述所接纳存 储设备的上方移动，以及将所述空气移出所述测试槽壳体出口（348)通过空气热交换器 (350)。
27. 根据权利要求26所述的方法，其中将所述空气移出所述测试槽壳体出口（348)到 所述空气热交换器（350)包括使所述空气移动穿过与所述支架的每个测试槽（330、330'） 的所述测试槽壳体出口（348)和所述空气热交换器（350)气动连通的空气导管（304)。
28. 根据权利要求26所述的方法，还包括利用空气热交换器鼓风机（358)使所述空气 移动穿过所述空气热交换器（350)，所述空气热交换器鼓风机将来自所述空气导管的空气 移入所述空气热交换器的入口（351)、使所述空气在所述空气热交换器的冷却元件（354) 上方移动，并将所述空气移出所述空气热交换器（350)的出口（353)。
29. 根据权利要求21所述的方法，还包括将冷凝抽吸出所述支架。
30. 根据权利要求21所述的方法，还包括沿第一方向（904)将所述空气流（305)从所 述所接纳存储设备（500)上方接纳到鼓风机（900)中，以及沿与所述第一方向基本垂直的 第二方向（908)将所述空气流从所述鼓风机传送到所述测试槽壳体出口（348)。
31. 根据权利要求21所述的方法，还包括将所述空气流（305)移入所述测试槽壳体 (340)的所述入口（346)中接纳的存储设备输送器（800、800'）的空气入口（832a-c)，所述 存储设备输送器（800、800'）支承与所述存储设备输送器（800、800'）的所述空气入口气动 连通的所述所接纳的存储设备。
32. 根据权利要求31所述的方法，还包括使所述空气流（305)移动穿过所述存储设备 输送器（800、800'）的空气导流器（830)，所述空气导流器将所述空气流导向至所接纳存储 设备（500)的至少所述上表面（512)和下表面（514)上方。
33. 根据权利要求31所述的方法，其中所述存储设备输送器（800、800'）具有第一部分 (802)和第二部分（804)，所述第一部分（802)包括空气导流器（830)，所述第二部分（804) 被构造为接纳所述存储设备（500)，所述存储设备具有上表面（512)、下表面（514)、前表面 (516)、后表面（518)、右表面（520)和左表面（522)，所述存储设备前表面（516)具有电气 连接器（532)，所述方法还包括以所述存储设备后表面（518)基本上面向所述存储设备输 送器的所述第一部分（802)的方式接纳所述存储设备。
34. -种用于存储设备测试系统的测试槽冷却系统，所述测试槽冷却系统包括： 存储设备输送器（800、800'、1800)，其具有第一部分（802、1802)和第二部分（804、 1804)，所述存储设备输送器（800、800'、1800)的所述第一部分（802、1802)包括空气导流 器（830、1830)，所述存储设备输送器的所述第二部分（804、1804)被构造为接纳存储设备； 测试槽壳体（340、1340)，其限定了空气入口（1326)和用于接纳所述存储设备输送器 的输送器开口（346、1346)，所述空气入口与所述所接纳的存储设备输送器的所述空气导流 器（830、1830)气动连通； 与所述测试槽壳体的所述空气入口气动连通的鼓风机（930、1930)，其用于将空气传送 到所述空气导流器； 其中所述空气导流器将空气几乎同时导向至所述存储设备输送器中接纳的所述存储 设备的至少上表面和下表面上方。
35. 根据权利要求34所述的测试槽冷却系统，其中所述空气导流器（1830)包括空气入 口（1832)以及第一空气出口（1834)和第二空气出口（1835)，所述空气导流器将经由其空 气入口接纳的空气导出所述第一空气出口和第二空气出口，所述存储设备具有上、下、前、 后、右、左表面，所述存储设备以其后表面基本上面向所述存储设备输送器的所述第一部分 (1802)的方式被接纳，其中所述第一空气出口（1834)将空气导向至所述所接纳存储设备 的至少所述下表面上方，所述第二空气出口（1835)将空气导向至所述所接纳存储设备的 至少所述上表面上方。
36. 根据权利要求35所述的测试槽冷却系统，其中所述空气导流器（1830)限定了与 所述空气导流器的所述空气入口（1832)和所述空气出口（1834U835)气动连通的腔体 (1831)，所述空气导流器包括设置在所述腔体中的充气室（1836)，所述充气室将所述腔体 中接纳的所述空气的至少一部分导出所述第一空气出口（1834)。
37. 根据权利要求36所述的测试槽冷却系统，其中所述充气室（1836)包括以减少所述 存储设备输送器（1800)在所述测试槽壳体（1340)中的移动的配重。
38. 根据权利要求34所述的测试槽冷却系统，其中所述存储设备输送器（800、800'、 1800)的所述第二部分（804、1804)包括被构造为接纳存储设备的第一臂（822、1822)和第 二臂（824、1824)。
39. 根据权利要求34所述的测试槽冷却系统，其中所述存储设备输送器（800、800'、 1800)的所述第二部分（804U804)包括用于以可脱开的方式接合所接纳存储设备的夹紧 系统（840、1840)。
40. 根据权利要求34所述的测试槽冷却系统，还包括与所述测试槽壳体（1340)相邻 设置的冷却系统壳体（1910)，所述冷却系统壳体（1910)具有与所述测试槽壳体（1340)的 所述空气出口（1348)气动连通的空气入口（1914)和与所述测试槽壳体（1340)的所述空 气入口（1326)气动连通的空气出口（1912)，所述鼓风机（1930)设置在所述冷却系统壳体 (1910)中并且使经由所述冷却系统壳体空气入口（1914)接纳的空气循环排出所述冷却 系统壳体空气出口（1912)，所述空气沿经由所述测试槽壳体（1340)和所述冷却系统壳体 (1910)的闭环路径（1950)移动。
41. 根据权利要求40所述的测试槽冷却系统，其中所述鼓风机（1930)包括空气入口 (1932)和空气出口（1936)，所述空气出口与所述冷却系统壳体空气出口（1912)气动连通， 所述鼓风机沿第一方向（1934)经由其空气入口接纳空气并且沿与所述第一方向基本垂直 的第二方向（1938)将空气传送出其空气出口。
42. 根据权利要求41所述的测试槽冷却系统，其中所述鼓风机（1930)包括宽度为约 45mm、长度为约45mm、高度为约10mm的鼓风机主体。
43. 根据权利要求41所述的测试槽冷却系统，其中所述鼓风机（1930)被构造为产生最 大约0. 122m3/分钟（4. 308CFM)的空气流量和最大约20. 88mmH20(0. 822英寸H20)的气压。
44. 根据权利要求34所述的测试槽冷却系统，还包括与所述鼓风机（1930)气动连通的 空气冷却器（1920)，所述空气冷却器包括空气冷却器主体（1922)和至少一个设置在所述 空气冷却器主体上的翅片（1924)，所述至少一个翅片用于冷却流经其上方的空气。
45. 根据权利要求44所述的测试槽冷却系统，其中所述空气冷却器（1920)设置在所述 鼓风机（1930)上游的所述冷却系统壳体中，所述鼓风机使所述空气在所述测试槽壳体与 所述冷却系统壳体之间以闭环路径移动。
46. -种用于存储设备测试系统的测试槽冷却系统，所述测试槽冷却系统包括： 测试槽壳体（1340)，其限定了空气入口（1326)和用于接纳存储设备的设备开口 (1346)； 鼓风机（1930)，其设置在所述测试槽壳体（1340)的外部并且与所述测试槽壳体 (1340)的所述空气入口（1326)气动连通以将空气传送到所述所接纳的存储设备； 其中所述鼓风机（1930)包括空气入口（1932)和空气出口（1936)，所述空气出口 (1936)与所述测试槽壳体（1340)的所述空气入口（1326)气动连通，所述鼓风机沿第一方 向（1934)经由其空气入口（1932)接纳空气并且沿与所述第一方向基本垂直的第二方向 (1938)将空气传送出其空气出口（1936)。
47. 根据权利要求46所述的测试槽冷却系统，还包括与所述测试槽壳体（1340)相邻 设置的冷却系统壳体（1900)，所述冷却系统壳体（1900)具有与所述测试槽壳体（1340)的 所述空气出口（1348)气动连通的空气入口（1914)和与所述测试槽壳体的所述空气入口 (1326)气动连通的空气出口（1912)，所述鼓风机（1930)设置在所述冷却系统壳体（1900) 中并且使经由所述冷却系统壳体空气入口（1914)接纳的空气循环排出所述冷却系统壳体 空气出口（1912)，所述空气沿经由所述测试槽壳体（1340)和所述冷却系统壳体（1900)的 闭环路径移动。
48. 根据权利要求46所述的测试槽冷却系统，其中所述鼓风机（1930)包括宽度为约 45mm、长度为约45mm、高度为约10mm的鼓风机主体。
49. 根据权利要求46所述的测试槽冷却系统，其中所述鼓风机（1930)被构造为产生最 大约0. 122m3/分钟（4. 308CFM)的空气流量和最大约20. 88mmH20(0. 822英寸H20)的气压。
50. 根据权利要求46所述的测试槽冷却系统，还包括与所述鼓风机气动连通的空气冷 却器（1920)，所述空气冷却器包括空气冷却器主体（1922)和至少一个设置在所述空气冷 却器主体上的翅片（1924)，所述至少一个翅片用于冷却流经其上方的空气。
51. -种调节存储设备测试系统（100)中所接纳存储设备（500)温度的方法，所述方法 包括： 将空气流（305、1950)传送到测试槽壳体（340、1340)的空气入口（346、1326)中；以及 将所述空气流（305U950)几乎同时导向至所述存储设备（500)的至少上表面（512) 和下表面（514)上方。
52. 根据权利要求51所述的方法，还包括将所述空气流（305U950)传送至空气导流 器（830、1830)，所述空气导流器将所述空气流导向至所述存储设备（500)的至少所述上表 面（512)和所述下表面（514)上方。
53. 根据权利要求52所述的方法，还包括支承所述测试槽壳体（340U340)中接纳的 存储设备输送器（800、800'、1800)中的所述存储设备（500)，所述存储设备输送器（800、 800'、1800)具有第一部分（802、1802)和第二部分（804、1804)，所述第一部分（802、1802) 包括空气导流器（830、1830)，所述第二部分（804U804)被构造为接纳所述存储设备 (500)，所述存储设备具有上表面（512)、下表面（514)、前表面（516)、后表面（518)、右表面 (520)和左表面（522)并且以其后表面（518)基本上面向所述第一主体部分（802、1802)的 方式被接纳。
54. 根据权利要求53所述的方法，还包括配重所述空气导流器（1830)以在所述存储设 备输送器（1800)被所述存储设备测试系统接纳时减少所述存储设备输送器的移动。
55. 根据权利要求52所述的方法，还包括将所述空气流（1950)传送到所述空气导流器 (1830) 的空气入口（1832)中，所述空气导流器（1830)将经由所述空气入口（1832)接纳 的所述空气导出所述空气导流器（1830)的第一空气出口（1834)和第二空气出口（1835)， 所述第一空气出口（1834)将空气导向至所述所接纳存储设备（500)的至少所述下表面 (514)上方，所述第二空气出口（1835)将空气导向至所述所接纳存储设备的至少所述上表 面（512)上方。
56. 根据权利要求55所述的方法，其中所述空气导流器（1830)限定了与所述空气 导流器（1830)的所述空气入口（1832)和所述空气出口（1834U835)气动连通的腔体 (1831) ，所述空气导流器（1830)包括设置在所述腔体（1831)中的充气室（1836)，所述充 气室（1836)将所述腔体（1831)中接纳的所述空气的至少一部分导出所述第一空气出口 (1834)。
57. 根据权利要求51所述的方法，还包括配重所述充气室（1836)以在所述存储设备输 送器（1800)被所述存储设备测试系统接纳时减少所述存储设备输送器的移动。
58. 根据权利要求51所述的方法，还包括将所述空气流（1950)导向至与测试槽壳体 (1340)的所述空气入口（1326)气动连通的鼓风机（1930)，所述鼓风机（1930)将所述空气 流（1950)传送到测试槽壳体（1340)的所述空气入口（1326)中，所述空气流沿闭环路径移 动。
59. 根据权利要求58所述的方法，还包括沿第一方向（1934)将所述空气流（1950)接 纳到所述鼓风机（1930)中，以及沿与所述第一方向（1934)基本垂直的第二方向（1938)将 所述空气流（1950)传送到所述测试槽壳体（1340)的所述空气入口（1326)。
60. 根据权利要求58所述的方法，还包括将所述空气流（1950)导向至设置在所述鼓风 机（1930)上游的所述空气流动路径（1950)中的空气冷却器（1920)的上方。
61. 根据权利要求51所述的方法，还包括以最大约0. 122m3/分钟（4. 308CFM)的空气 流量和最大约20. 88mmH20(0. 822英寸H20)的气压将所述空气流（1950)传送到所述测试槽 壳体（1340)的所述空气入口（1326)中。
【文档编号】G11B33/12GK104112465SQ201410265850
【公开日】2014年10月22日 申请日期:2010年7月13日 优先权日:2009年7月15日
【发明者】布莱恩·S·梅洛, 尼古拉斯·C·克里科里安 申请人:泰拉丁公司