技术特征：
技术总结
本发明提供一种半导体存储装置及输入数据的验证方法，能够对从外部端子导入内部的数据进行验证。本发明的半导体存储装置具备输入或输出数据的外部输入/输出端子、存储器阵列(110)以及页面缓冲器/读出电路(170)。页面缓冲器/读出电路(170)存储从外部输入/输出端子输入的输入数据，所存储的输入数据可编程至存储器阵列(110)中。进而，半导体存储装置具备比较电路(132)，该比较电路(132)对存储于页面缓冲器/读出电路(170)中的输入数据与从页面缓冲器/读出电路(170)读出的输入数据进行比较。据此，本发明技术方案能够验证输入数据是否被正确存储于数据存储部件中。
技术研发人员：小嶋英充
受保护的技术使用者：华邦电子股份有限公司
技术研发日：2016.07.08
技术公布日：2017.09.12