非易失性半导体存储装置的制作方法

文档序号:13448117阅读:来源:国知局
技术总结
本发明的非易失性半导体存储装置(10)包括:存储器阵列(20),包含多个存储元件;选择部件,基于地址数据来选择所述存储器阵列的存储元件;模式选择部(30),选择RAM模式与快闪模式中的任一个,所述RAM模式是根据写入数据而使存储元件的数据能够覆写的模式,所述快闪模式是当写入数据为第1值时使存储元件的数据能够覆写,而为第2值时禁止重写的模式;以及写入控制部件,根据由动作模式选择部(30)所选择的RAM模式或快闪模式来对选择存储元件进行写入数据的写入。因此能够对其他种类的半导体存储装置的规格或写入获得兼容性。

技术研发人员:妹尾真言;林小峰
受保护的技术使用者:华邦电子股份有限公司
文档号码:201710454452
技术研发日:2017.06.15
技术公布日:2018.01.12

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