技术总结
本发明涉及SRAM芯片故障检测，为解决现有技术中不能对SRAM芯片地址引脚线短路故障进行快速精确检测定位的问题；提供一种SRAM芯片地址引脚线短路检测方法，包括以下步骤，根据芯片地址引脚的排列特性，列出地址引脚间可能短路的待检引脚组；获得SRAM芯片的起始地址，并确定所有与待检引脚组相对应的相关地址；依次向所有相关地址中写入与起始地址中数据不同的校验数据，比较校验数据写入前后起始地址中的数据，若起始地址中的数据发生变化则与该对应相关地址的待检引脚组中引脚间具有短路故障。本发明可以检测地址线引脚线是否短路，检测速度较快且精确，提高了SRAM的检测效率。
技术研发人员：李璘;孙金泉;蔡登胜
受保护的技术使用者：广西柳工机械股份有限公司
文档号码：201710676150
技术研发日：2017.08.09
技术公布日：2018.01.12