半导体存储器件的操作方法与流程

技术总结
一种操作半导体存储器件的方法，该方法包括：接收刷新命令；检测半导体存储器件内部的温度；响应于刷新命令和检测到的温度来生成刷新地址，所述刷新地址对应于在一个刷新周期期间刷新的半导体存储器件的存储单元；以及根据刷新地址执行刷新操作，其中，在每个刷新操作中刷新的存储单元的数量是可变的。

技术研发人员：郑仁喆
受保护的技术使用者：三星电子株式会社
文档号码：201710915750
技术研发日：2013.05.17
技术公布日：2018.01.12