一种用于测试带个性化存储区MCU的个性化存储区的测试方法。它属于测试技术领域。
背景技术：
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现阶段针对个性化MCU个性化存储区的测试方法，一般采用默认该存储区功能没有问题，把trim值写入该存储区。后续通过使能这些trim值，测试被trim模块功能的方式，来保证trim值正确。此种测试方法，不能区分被trim模块功能失效是有模块本身引起还是存储区自身问题引起。同时，因为个性化存储区没有做过详细筛选，后续使用的可靠性亦不能得到保证。
基于此，该发明介绍了一种用于测试个性化MCU个性化存储区的测试方法：在trim完成后，把trim值读取到trim寄存器中，此后对个性化存储区进行详细筛选；筛选完成后，读取Trim寄存器复写个性化存储区。通过此方法既可保证个性化存储区的测试覆盖率，又保证trim数据不丢失。
本发明文主要阐述介绍了一种用于测试个性化MCU个性化存储区的测试方法，与传统测试方法相比，既可保证个性化存储区的测试覆盖率，又保证trim数据不丢失。
技术实现要素：
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本发明要解决的技术问题是提供一种个性化MCU个性化存储区的测试方法，能够保证个性化存储区被覆盖并节省测试时间。本发明主要包括以下步骤：
1)第一次上电，完成所有需要做trim的IP的trim操作，把trim值记录到个性化存储单元中去；
2)第二次上电，此上电过程中，CPU中引导程序会把trim装载到trim寄存器，同时使其生效；在完成以上操作之后，进行个性化存储区的功能测试；该功能测试会对个性化存储区进行擦写，导致内部所存储的trim值丢失；
3)完成个性化存储区测试之后，在保证不下电的情况下，通过读trim寄存器指令把寄存器中所保存trim值读取出来，用写指令，复写至个性化存储区。
4)通过读取trim寄存器来复写个性化存储区来保证trim数据不丢失；
芯片上电后，把trim数据能够自动装载到trim寄存器。测试过程中芯片不下电，以此保
证寄存器内数据不丢失。完成个性化存储区测试之后，把trim数据复写进个性化存储区。
采用本发明的方法，可在保证trim数据完整性的情况下，保证个性化存储区的测试覆盖率，以保证芯片后续使用可靠性。
附图说明：
图1、trim流程图
图2、测试&复写流程图
具体实施方式：
下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细的说明：
芯片上电后，因工艺差异，所选电源IP不能保证存储单元及其他模块正常工作，需预先进行trim操作；同时，存储区IP亦需完成不同厂商要求的trim操作；以上trim操作生成的trim值存储在个性化存储区。
结合附图1所示，所述个性化MCU上电trim过程如下：
步骤一，上电，判断trim值所在个性化存储区数据有效性。此时该区无数据，故装载设计默认值。
步骤二，根据设计要求，进行各IP的trim。
步骤三，进行存储区trim。
步骤四，把上述trim值写入个性化存储区。
步骤五，下电。
大部分公司在完成trim测试并写入后，不再针对个性化存储区进行功能筛选。但此区域存储数据对芯片使用至关重要，后期使用过程中丢失则会直接造成芯片失效。故采用该方法，实现个性化存储区的筛选，保证后续使用中的可靠性。
结合附图2所示，测试&复写流程如下：
步骤一，上电，判断trim值所在个性化存储区数据有效性。
步骤二，此时该区数据有效，装载到trim寄存器。
步骤三，进行个性化存储区功能测试，包括擦写测试等。
步骤四，读取寄存器中trim值，复写进个性化存储区。
步骤五，下电。