一种存储器模拟测试方法与流程

文档序号:14446203阅读:597来源:国知局
一种存储器模拟测试方法与流程

本发明涉及数据测试技术领域,

尤其是,本发明涉及一种存储器模拟测试方法。



背景技术:

数据记录技术,一直是国内、外在航空、航天、航海等领域研究的关键技术之一。实际应用中,需要将采集到的高速实时数据(比如高分辨率图像数据)实时地记录下来以便事后处理。随着采集数据精度的提高以及记录参数的增多,需要记录的数据量急剧增加、数据传输速率也越来越高。这使记录设备在实时、超大容量、可靠性等方面的研究成为了热点,这就需要采用各类存储器。

但是存储器使用时间久之后会出现无法读取之前写入的数据,但是通常存储器没有损坏,仅仅是其中某个区域写入的数据无法进行读取,只需要找出该区域,进行无效标记,使存储器使用时数据不在写入至此区域内即可再次顺利使用存储器。

但是这种存储器损坏区域寻找没有成熟的对应的模拟测试方法,往往存储器数据异常没有相应的解决方案。



技术实现要素:

本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种可以有效测试存储器是否依然可用,损坏区域寻找准确的存储器模拟测试方法。

本发明的目的是通过以下技术方案实现:

一种存储器模拟测试方法,包括以下步骤:

s1:选择存储器上至少一个区域为测试区域;

s2:将此区域进行无效标记;

s3:烧录嵌入式软件至所述存储器;

s4:判断嵌入式软件是否正常运行;如果嵌入式软件可以正常运行,则存储器可用,将此区域进行永久无效标记。

优选地,执行步骤s1之前,将存储器上数据全部擦除。

优选地,执行步骤s2时,将标记区域的数据写为空值。

优选地,执行步骤s3时,烧录嵌入式软件的过程中,跳过标记区域进行烧录。

优选地,执行步骤s4时,如果嵌入式软件不可以正常运行,则换一个区域选择为测试区域,重复进行步骤s1至步骤s4。

优选地,如果所有区域均进行选择标记,嵌入式软件依旧不可以正常运行,则存储器彻底损坏。

优选地,执行步骤s1时,选择区域为一个或多个存储块。

优选地,执行步骤s4时,如果嵌入式软件可以正常运行,且选择测试区域为多个存储块,则返回步骤s1,依次将此区域每个块依次选择标记,执行步骤s1至步骤s4。

优选地,执行步骤s1时,选择区域为一个存储块。

优选地,执行步骤s4时,如果嵌入式软件可以正常运行,则存储器可用,将此存储块进行永久无效标记。

本发明一种存储器模拟测试方法有益效果在于:简单实用,测试准确,可以有效寻找损坏区域,并可以有效判断测试存储器是否依然可用。

附图说明

图1为本发明一个实施例的流程示意图;

图2为本发明一个实施例的另一个流程示意图。

具体实施方式

以下是本发明的具体实施例,对本发明的技术方案作进一步的描述,但本发明并不限于这些实施例。

现在将参照附图来详细描述本发明的各种示例性实施例。应注意到:除非另外具体说明,否则在这些实施例中阐述的模块和步骤的相对布置和步骤不限制本发明的范围。

同时,应当明白,为了便于描述,附图中的流程并不仅仅是单独进行,而是多个步骤相互交叉进行。

实施例一:

如图1、2所示,仅为本发明的其中一个实施例,为了更好地对无法正常工作的存储器进行测试,并迅速寻找损坏区域,依此判断测试存储器是否依然可用,本发明提出一种存储器模拟测试方法,包括以下步骤:

s1:选择存储器上至少一个区域为测试区域;

存储器是以块(block)为单位,块(block)上只要有一个页(page)无法读写,那么整个块(block)都会无法读写,一个不可正常工作的存储器,可能是质量损坏,可能是某一个块损坏,那么选择存储器上至少一个区域,可以有效包含出错的损坏块。

当然,可以一次选择一个块,也可以一次选择多个块组成的区域,根据存储器上的空间大小,做出相应的选择和变化。

s2:将此区域进行无效标记;

为了消除这个损坏的坏的影响,将标记的区域进行无效化,使其不再进行读写,也即是权当存储器中没有此区域。

s3:烧录嵌入式软件至所述存储器;

为了测试存储器是否可以有效进行数据写入和读取,需要在存储器上写入可以清晰测试是否可以读取的数据,嵌入式软件写入到存储器,运行嵌入式软件即为读取过程,方便简单。

s4:判断嵌入式软件是否正常运行;如果嵌入式软件可以正常运行,则存储器可用,将此区域进行永久无效标记。

运行嵌入式软件,也就是对存储器进行数据读取,如果嵌入式软件可以正常运行,说明存储器依旧可以正常读取数据,说明存储器没有质量或者硬件损坏,仅仅是选择标记的区域内某一个块上无法进行正常的数据读写而已,将此区域进行永久无效标记,存储器即可再次恢复可正常工作状态。

当然还有另一种情况,也就是在执行步骤s4时,如果嵌入式软件不可以正常运行,那么这个时候应该换一个区域选择为测试区域,重复进行步骤s1至步骤s4。

这个情况下又有两种可能:

第一种可能,更换一次或几次区域作为测试区域,嵌入式软件可以正常运行,那么依然说明存储器可用。

第二种可能,如果所有区域均进行选择标记,嵌入式软件依旧不可以正常运行,则说明不是存储器内区块无法进行数据读写的因素,而是这个存储器已经彻底损坏。

需要注意的是,一般存储器的损坏不需要进行太多次的模拟测试,仅仅重复步骤s1至步骤s4几次就可以判断存储器是否可用。

本发明一种存储器模拟测试方法可以有效且快速的判断存储器是否可用,而且操作简单方便,适合对新老存储器进行合格检测。

实施例二:

仅为本发明的其中一个实施例,上述方法可以有效的寻找存储器损坏区域,并判断存储器是否依旧可用,但是部分存储器测试时,嵌入式软件写入或其他步骤实施过程不够规范,导致嵌入式软件无法顺利进行测试,造成检测的不便,甚至检测出错。

使用上述方法测试存储器,执行步骤s1之前,需要将存储器上数据全部擦除。防止存储器中原有的数据和烧录的嵌入式软件数据产生干扰,造成测试结果不准的后果。

上述方法中,执行步骤s2时,将标记区域的数据写为空值。将标记的区域中的数据全部写成0x00,完成一个无效标记的制作,标记的区域中无法写入数据,也无法读取数据。

上述方法中,执行步骤s3时,烧录嵌入式软件的过程中,跳过标记区域进行烧录。跳过标记的区域进行烧录,也就是跳过该区域将该区域的数据写入到该区域的下一个区域中。

为了准确的更快速的进行损坏区块查找,可以在执行步骤s1时,选择区域为一个或多个存储块。

那样,在执行步骤s4时,如果嵌入式软件可以正常运行,且选择测试区域为多个存储块,则返回步骤s1,依次将此区域每个块依次选择标记,执行步骤s1至步骤s4。

这样,损坏区块的查找速度可以加快,一次无效标记多块存储块进行测试,如果找到损坏区块在此区域之间,那么再慢慢缩小范围,直到查找到准确的那个损坏的区块即可。将此损坏的存储块进行永久无效标记,存储器即可再次恢复可正常工作状态。

当然,也有比较慢,但是比较方便操作的测试方式

就是执行步骤s1时,选择区域为一个存储块。然后重复步骤s1至步骤s4,依次标记一个存储块为无效块。

这样在执行步骤s4时,如果嵌入式软件可以正常运行,则存储器可用,将此存储块进行永久无效标记。

本发明一种存储器模拟测试方法简单实用,测试准确,可以有效寻找损坏区域,并可以有效判断测试存储器是否依然可用。

本发明不局限于上述具体的实施方式,本发明可以有各种更改和变化。凡是依据本发明的技术实质对以上实施方式所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围。

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