一种硬盘检测装置和方法与流程

本发明涉及存储硬盘管理技术，尤指一种硬盘检测装置和方法。

背景技术：

随着服务器行业的高速发展，对硬盘存储的要求也越来越高，所以sata硬盘开始广泛应用在服务器行业。根据客户的需求，当使用sata硬盘时，需要获取硬盘的在位状态，即判断硬盘是否物理在位。

目前，已有的sata硬盘在位检测方案是通过硬盘的gndpin实现的。如图1所示，在其中一个gndpin通过电阻上拉到3.3vpower，并给到controller芯片。当硬盘不在位时，该信号为高电平，当接入硬盘时，该信号被硬盘的gnd拉到低电平，controller芯片由此来判断硬盘是否在位。

但是，已有方案存在一定的弊端，如果硬盘连接器内部所有的gndpin全部连在一起，则该方案就无法判断硬盘是否在位。

技术实现要素：

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种硬盘检测装置和方法。通过添加比较器和作为参考的第二电压采样点，进行准确的硬盘在位情况检测，解决了无法判断硬盘是否在位的问题。

为了达到本发明目的，本发明提供了一种硬盘检测装置，包括第一电压采样点、第二电压采样点和比较器，所述比较器以所述第一电压采样点及所述第二电压采样点作为输入；

所述第一电压采样点连接至硬盘位的硬盘预充电引脚(prechargepin)；

所述第一电压采样点还连接有第一标准分压电压，所述第二电压采样点连接有第二标准分压电压，所述第二标准分压电压大于所述第一标准分压电压；

在所述prechargepin有硬盘连接时，所述第一电压采样点的电压值为在位电压，所述第二标准分压电压小于所述在位电压。

优选的，该装置还包括第一分压电路；

所述第一分压电路包含串联的第一电阻、第二电阻和第三电阻，所述第一分压电路第一电阻侧接入标准电压，所述第三电阻两侧加有在位电压；

所述第二电阻为预充电电阻；

所述第一电压采样点接入至所述第一电阻和所述第二电阻的中间点。

优选的，该装置还包括第二分压电路；

所述第二分压电路包含串联的第四电阻和第五电阻，所述第二分压电路接入标准电压；

所述第二电压采样点接入至所述第四电阻和所述第五电阻的中间点。

优选的，所述第一电压采样点输出至所述比较器的正级，所述第二电压采样点输出至所述比较器的负级。

本发明还提供了一种使用上述硬盘检测装置的硬盘检测方法，包括：

获取第一电压采样点的电压值；

获取第二电压采样点的电压值；

通过所述比较器比较所述第一电压采样点及所述第二电压采样点的电压值；

在所述第一电压采样点的电压值大于所述第二电压采样点时，判定所述硬盘位上硬盘在位。

优选的，在所述第一电压采样点的电压值大于所述第二电压采样点时，判定所述硬盘位上硬盘在位的步骤包括：

在所述第一电压采样点的电压值大于所述第二电压采样点时，所述比较器输出高电平；

控制器在检测到所述比较器输出高电平时，判定硬盘在位。

本发明提供了一种硬盘检测装置和方法，添加以第一电压采样点和第二电压采样点为输入的比较器。第一电压采样点连接至硬盘位的prechargepin，还连接有第一标准分压电压；所述第二电压采样点连接有第二标准分压电压，所述第二标准分压电压大于所述第一标准分压电压。在所述prechargepin有硬盘连接时，所述第一电压采样点的电压值为在位电压，所述第二标准分压电压小于所述在位电压。实现了无需prsnt信号的硬盘在位检测，解决了无法检测硬盘在位情况的问题。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

附图用来提供对本发明技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本发明的技术方案，并不构成对本发明技术方案的限制。

图1为现有的sata硬盘在位检测方案的示意图；

图2为本发明的一实施例提供的一种硬盘检测装置的结构示意图；

图3为本发明的一实施例提供的一种硬盘检测方法的流程示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本发明的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。

在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

如果硬盘连接器内部所有的gndpin全部连在一起，现有的stat硬盘在位检测方案就无法判断硬盘是否在位。

为了解决上述问题，本发明的实施例提供了一种硬盘检测装置和方法。通过添加比较器和作为参考的第二电压采样点，进行准确的硬盘在位情况检测，解决了无法判断硬盘是否在位的问题。

本发明的一实施例提供了一种硬盘检测装置，如图2所示，包括第一电压采样点a、第二电压采样点b和比较器，所述比较器以所述第一电压采样点及所述第二电压采样点作为输入；

所述第一电压采样点a连接至硬盘位的prechargepin；

所述第一电压采样点a还连接有第一标准分压电压，所述第二电压采样点b连接有第二标准分压电压，所述第二标准分压电压大于所述第一标准分压电压；

在所述prechargepin有硬盘连接时，所述第一电压采样点的电压值为在位电压，所述第二标准分压电压小于所述在位电压。

优选的，该装置还包括第一分压电路；

所述第一分压电路包含串联的第一电阻r1、第二电阻r2和第三电阻r3，所述第一分压电路第一电阻r1侧接入标准电压(如，12v)，所述第三电阻r3两侧加有在位电压(如，5v)。

所述第二电阻r2为预充电电阻，阻值一般选择20欧姆，当硬盘不在位时，a点电压是通过12v分压得到，并且连接到比较器的+极，b点电压同样是12v分压得到，连接到比较器的-极。

所述第一电压采样点接入至所述第一电阻r1和所述第二电阻r2的中间点。

优选的，该装置还包括第二分压电路；

所述第二分压电路包含串联的第四电阻r4和第五电阻r5，所述第二分压电路接入标准电压(如，12v)；

所述第二电压采样点b接入至所述第四电阻r4和所述第五电阻r5的中间点。

优选的，所述第一电压采样点a输出至所述比较器的正级，所述第二电压采样点b输出至所述比较器的负级。

当硬盘在位以后，a点电压变为c点电压，即5v，通过设置电阻阻值，使b点电压介于a点电压两极值之间。根据比较器的工作原理，当a点电压大于b点时，output输出为高电平，当a点电压小于b点时，output输出为低电平。

本发明的一实施例还提供了一种硬盘检测方法，使用本发明的实施例提供的硬盘检测装置，进行硬盘在位情况检测的流程如图3所示，包括：

步骤301、获取第一电压采样点的电压值；

步骤302、获取第二电压采样点的电压值；

步骤303、通过所述比较器比较所述第一电压采样点及所述第二电压采样点的电压值；

步骤304、在所述第一电压采样点的电压值大于所述第二电压采样点时，判定所述硬盘位上硬盘在位。

在所述第一电压采样点的电压值大于所述第二电压采样点时，所述比较器输出高电平，控制器(controller)在检测到所述比较器输出高电平时，判定硬盘在位。

本发明的实施例提供了一种硬盘检测装置和方法，添加以第一电压采样点和第二电压采样点为输入的比较器。第一电压采样点连接至硬盘位的prechargepin，还连接有第一标准分压电压；所述第二电压采样点连接有第二标准分压电压，所述第二标准分压电压大于所述第一标准分压电压。在所述prechargepin有硬盘连接时，所述第一电压采样点的电压值为在位电压，所述第二标准分压电压小于所述在位电压。实现了无需prsnt信号的硬盘在位检测，解决了无法检测硬盘在位情况的问题。既节省了成本，又满足了客户的需求。

本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、装置中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。在硬件实施方式中，在以上描述中提及的功能模块/单元之间的划分不一定对应于物理组件的划分；例如，一个物理组件可以具有多个功能，或者一个功能或步骤可以由若干物理组件合作执行。某些组件或所有组件可以被实施为由处理器，如数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于ram、rom、eeprom、闪存或其他存储器技术、cd-rom、数字多功能盘(dvd)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。