一种老化测试装置的制作方法

本实用新型涉及芯片测试领域，尤其涉及一种存储器的老化测试装置。

背景技术：

现如今国内还没有专门的存储器老化测试设备，无法满足存储器的批量老化测试，要做老化测试也只能放在低速通用集成电路老化设备上测试，集成电路老化设备一般采用较小规模的fpga芯片作为数字信号的产生，由于高速数字信号传输没有得到有效地解决，最高频率也只能做到1mhz以下，并随着频率的增加，驱动电流也会大幅下降，导致无法满足大批量高速存储器的老化测试实验。

技术实现要素：

为了克服现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种老化测试装置，其能解决存储器老化测试装置的测试频率不高，而不能满足高速存储器老化测试的问题。

本实用新型的目的采用以下技术方案实现：

一种老化测试装置，包括用于配置老化测试信息的上位机控制组件、通信组件、电源系统、用于接收和驱动测试信息的信息驱动组件，以及用于装载待测存储器的老化组件，所述上位机控制组件通过所述通信组件与所述信息驱动组件电性连接，所述通信组件和所述信息驱动组件分别与所述电源系统电性连接；所述老化组件包括烘箱和多个间隔设置的老化板，所述老化板设置在所述烘箱内，所述信息驱动组件包括多个用于驱动测试信息的驱动板和用于连接多根信号线的高频连接器，所述驱动板通过所述高频连接器与所述老化板电性连接。

优选的，所述高频连接器为seam连接器。

优选的，所述驱动板为高频基板sh260，所述驱动板设置有256路i/o信号通道。

优选的，所述信息驱动组件还包括嵌入式控制单元，所述嵌入式控制单元包括接收老化测试信息的arm9tdmi芯片，所述arm9tdmi芯片与所述i/o信号通道电性连接。

优选的，所述信息驱动组件还包括多个用于生成图形测试信号并检测图形测试信号的图形发生与检测单元，所述图形发生与检测单元包括fpga主控模块，所述fpga主控模块与所述嵌入式控制单元信号连接。

优选的，所述上位机控制组件包括数据库模块、代码编辑模块、网络通信模块、老化控制模块和参数编辑模块，所述代码编辑模块、所述网络通信模块、所述老化控制模块和所述参数编辑模块分别与所述数据库模块信号连接，所述通信组件、所述参数编辑模块和所述老化控制模块分别与所述网络通信模块信号连接。

优选的，所述上位机控制组件还包括人机交互界面，所述数据库模块、所述代码编辑模块和所述参数编辑模块分别与所述人机交互界面信号连接。

优选的，所述通信组件包括64口的交换式1000m集线器。

优选的，所述老化测试装置还包括第一柜体，所述上位机控制组件和所述电源系统均设置在所述第一柜体内。

优选的，所述老化测试装置还包括第二柜体，所述第二柜体与所述烘箱连接，所述信息驱动组件设置在所述第二柜体内。

相比现有技术，本实用新型的有益效果在于：

本实用新型设置有高频连接器，该高频连接器能将多根信号线连接在一起，保证了所述高频连接器的驱动电流量大，而能实现驱动板与老化板之间传输的测试信息高速传输，从而能满足高速存储器的老化测试要求。

附图说明

图1为本实用新型的整体架构图；

图2为本实用新型的老化测试装置的立体结构示意图；

图3为本实用新型的老化测试装置的另一角度的立体结构示意图；

图4为本实用新型的老化测试装置的爆炸结构示意图；

图5为本实用新型的老化测试装置的平面结构示意图；

图6为本实用新型的上位机控制组件的整体架构图。

图中：1、老化测试装置；10、上位机控制组件；11、人机交互界面；20、通信组件；30、信息驱动组件；31、第二柜体；32、驱动板；33、通风孔；40、电源系统；50、老化组件；51、老化板；52、烘箱；53、老化架；60、第一柜体；61、底座；62、万向轮。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本实用新型的具体技术方案、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型进行进一步的详细描述。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“横向”、“纵向”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

实施例一

如图1-5所示，本实用新型公开了一种老化测试装置1，包括用于配置老化测试信息的上位机控制组件10、通信组件20、电源系统40、用于接收和驱动测试信息的信息驱动组件30，以及用于装载待测存储器的老化组件50，所述上位机控制组件10通过所述通信组件20与所述信息驱动组件30电性连接，所述通信组件20和所述信息驱动组件30分别与所述电源系统40电性连接；所述老化组件50包括烘箱52和多个间隔设置的老化板53，所述老化板53设置在所述烘箱52内，所述信息驱动组件30包括多个用于驱动测试信息的驱动板32和用于连接多根信号线的高频连接器，所述驱动板32通过所述高频连接器与所述老化板51电性连接。

在上述实施例中，用户通过所述上位机控制组件10配置老化测试信息，该老化测试信息可以为编程代码如c++或汇编等代码语言，编辑好的测试信息通过通信组件20传输到信息驱动组件30，所述信息驱动组件30接收到上位机发送的老化测试信息后，经过驱动板驱动后，再通过高频连接器传输给所述老化板51，对老化板上设置的待测试的器件(存储器)进行测试，一般老化板上设置有多块待测试的存储器，在测试过程中，信息驱动组件30还可以检测老化板51上的测试信息，以保证测试信息的有效性，同时所述信息驱动组件30还可以回传测试的结果信息给所述上位机控制组件10。另外，多根信号线最优为pin线，所述高频连接器能将多根pin线连接在一起，多根pin线的另一端可与所述老化板51电性连接，保证了所述高频连接器的驱动电流量(也可理解为“驱动信息量”)大，而能实现驱动板32与老化板51之间传输的测试信息高速传输，而能满足高速存储器的老化测试；所述烘箱52能给所述老化组件50提供适宜的高温(一般为70-90度)使所述老化板53上的待测器件老化，老化板53间隔设置可避免老化板51之间的信号干扰。

其中，经过大量实验和测试所述高频连接器优选为seam连接器，最优为高频高密度贴片bga连接器seam-50-6-s-re。

其中，所述驱动板为高频基板sh260，所述驱动板可采用插接的方式与所述高频连接器进行连接，所述驱动板上设计有专门的电源层和地层而减小地线的噪声；所述驱动板上设置有256路i/o信号通道，信号屏蔽线，可以避免各路信号的干扰，而完整的传输测试信息，且可以实现多路测试信号的传输，满足大容量或大批量存储器的测试；所述驱动板的设计层数为14-16层，多层板设计可以在数字信号线之间加屏蔽线，减小信号线之间的串扰问题。为方便驱动板与所述高频连接器连接，在驱动板的顶部设计了定位销，所述驱动板边框采用精密铝件进行固定，保证与所述高频连接器紧密地连接起来；驱动板采用模块化设计思想，功能模块全部采用母板子板方式进行连接固定，通过预留接口可以对设备进行后续升级。

实施例二

在该实施例中，其与上述实施例的不同之处在于，所述信息驱动组件30还包括多个嵌入式控制单元和用于生成图形测试信号并检测图形测试信号的图形发生与检测单元，所述嵌入式控制单元包括接收老化测试信息的arm9tdmi芯片，所述arm9tdmi芯片与驱动板上的i/o信号通道电性连接，所述图形发生与检测单元包括fpga主控模块，所述fpga主控模块与所述嵌入式控制单元信号连接。

在上述实施例中，该arm9tdmi芯片具有可移植性、可扩展性和实时性等特点，能完成对驱动板256路i/o信号通道的三态控制(开关或高阻态的控制)，也能很好地接收上位机控制组件10的信号，且能回传arm9tdmi芯片的自检信息和存储器的老化测试结果。该arm9tdmi芯片可以通过gpio控制线与所述驱动板电性连接。

所述图形发生与检测单元通过数据总线与所述arm9tdmi芯片信号连接，所述fpga主控模块用于完成被老化器件(存储器)的配置任务，也能接收各种测试信号或指令代码，并把测试信号或指令代码生成便于测试存储器测试图形信号，并把该测试图形信号传输至所述驱动板。所述图形发生与检测单元还能完成被测试器件的管脚信号的定义，也能在测试存储器的时，定时检测测试信号，保证测试信号的有效性，同时能检测老化测试装置1的功能，向所述嵌入式控制单元回传各种数据和老化测试装置1的工作状态。

实施例三

在该实施例中，其与上述实施例的不同之处在于，如图6所示，所述上位机控制组件包括人机交互界面11、数据库模块、代码编辑模块、网络通信模块、老化控制模块和参数编辑模块，所述代码编辑模块、所述网络通信模块、所述老化控制模块和所述参数编辑模块分别与所述数据库模块信号连接，所述通信组件、所述参数编辑模块和所述老化控制模块分别与所述网络通信模块信号连接。所述数据库模块、所述代码编辑模块和所述参数编辑模块分别与所述人机交互界面信号连接。

在上述实施例中，所述人机交互界面11是本化测试装置1的主要人机交互界面11，用于本化测试装置1的开启、设定、器件定义、老化方案及代码选择、测试图形信息生成、老化监控等等，使操作更简单。所述数据库模块用于存放针对各类不同器件的管件定义、老化测试指令程序、对应的机器代码及所需的老化图形信息等。所述代码编辑模块用于将老化测试方案制定的老化测试汇编代码翻译成为dsp芯片可执行的机器码或指令代码，并存储在数据库模块中。所述老化控制模块用于实时监测本老化测试装置1的运行状态，当被老化器件出现短路、开路和测试异常时，所述老化控制模块可发出报警信息；遇到老化电流突变时，可自动关闭本通道的实验，以保护被老化器件及本老化测试装置1。所述网络通信模块可实现上位机控制组件与通信组件间的高速通信，用于将老化代码、图形信息、控制数据信息送到信息驱动组件，并同时读取信息驱动组件及被测器件的各类运行状态。所述参数编辑模块通过所述人机交互界面11来设定或编辑各种测试参数，例如测试温度、测试时间和测试规格等等。

另外，本老化测试装置1在测试过程中，所述数据库模块可以实时记录老化测试过程中被老化器件的各项参数，为后期的测试提供数据支撑。本老化测试装置1也可模拟被测器件在实际工作时的工作状态，而进行老化测试，从而使老化测试效果更好。

实施例四

在该实施例中，其与上述实施例的不同之处在于，所述通信组件包括64口的交换式1000m集线器。所述电源系统40包括一级老化程控电源和二级老化程控电源。所述一级老化程控电源主要给所述上位机控制组件10和所述通信组件20供电，所述二级老化程控电源主要给所述信息驱动组件供电。

在上述实施例中，鉴于老化测试装置1设置有多个(一般为48个)用于老化测试的嵌入式控制单元，而需要传输大量的测试信息，这些嵌入式控制单元与所述上位机控制组件通过本通信组件连接成一片局域网，实现数据高速传送，而能满足高速存储器的测试。采用此通信组件后，所述上位机控制组件10可以放在局域网上，甚至广域网上完成对测试装置的操作。同时，所述上位机控制组件10也可以对任意多个信息驱动组件进行操作。所述一级老化程控电源采用高可靠的液晶显示数码电源，该一级老化程控电源精确度高、性能稳定，且具有gpib总线接口，可实现在线通信检测功能，确保电源系统的可靠性。所述二级老化程控电源采用高效率小型模块化设计思路，提高了集成度和维护的方便性。所述电源系统40采用数字可编程控制方式，通过上位机控制组件10发送指令，使用十分简便。

实施例五

在该实施例中，其与上述实施例的不同之处在于，如图2-5所示，所述老化测试装置1还包括第一柜体60和第二柜体31，所述上位机控制组件10和所述电源系统40均设置在所述第一柜体60内。所述第二柜体31与所述烘箱52连接，所述信息驱动组件30设置在所述第二柜体31内。

在上述实施例中，如图2所示，所述上位机控制组件10和所述电源系统40均设置在所述第一柜体60内，所述信息驱动组件30设置在所述第二柜体31内，均可避免烘箱52的高温。所述第一柜体60、所述第二柜体31和所述烘箱52可拆卸连接，而利于搬运和组装；为了便于移动本老化测试装置1，所述第一柜体60、所述第二柜体31和所述烘箱52的下端均设置有万向轮62。其中，所述第一柜体60还包括底座61，该底座61利于安装所述上位机控制组件10和所述电源系统40。所述烘箱52可通过加热空气或电阻产热进行加热，所述烘箱52设置有安全门，加热时要关上安全门。如图4所示，所述老化组件50包括老化架53和老化板51，所述老化板51间隔地设置在所述老化架53上。所述信息驱动组件30上设置有多个用于散热的通风孔33。

综述，本老化测试装置1采用上位机控制组件10、通信组件20和信息驱动组件30对老化组件50上的待测器件进行老化测试，所述驱动板通过所述高频连接器与所述老化板51电性连接，且所述高频连接器能将多根pin线连接在一起，保证了所述高频连接器的驱动电流量足。另外，所述驱动板具有256路i/o信号，可以满足市面上大多数存储器件的老化测试。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中的描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。