光盘记录方法、光盘装置和集成电路与流程

本公开涉及用于在光盘上记录信息的光盘记录方法、光盘装置、以及执行与信息记录有关的处理的集成电路。

背景技术：

作为现有技术，存在作为光盘的记录介质的bd-r、bd-re、dvd-ram、dvd-r、dvd-rw、cd-rw等的标准，并且存在将激光束照射到符合这些标准的光盘上以通过追加写入或重写来记录信息的技术。近来，已研究了以比bd(blu-ray(注册商标)盘)高的密度在光盘上执行记录的技术。

bd是一种高密度光盘，单面单层的记录容量约为25gb，并且单面双层的记录容量约为50gb。此外，bdxl(注册商标)已投入了实际使用，其中，bd的信道比特长度(即标记长度)被缩短以增加线密度方向上的密度，从而实现了3层为100gb且四层为128gb的较大容量。为了进一步增加记录容量，已提出了一种使用光盘来执行信息记录的光盘装置，该光盘采用了在凹槽轨道和岸地轨道两者上都记录数据的方法(被称为“岸地和凹槽记录方法”)(例如，参见专利文献1)。

在提高记录密度的情况下，由于用于记录信息的标记变得比照射在光盘上的光束光点的直径小，因此需要一种用于充分减小在读取微小标记时的错误率的技术。作为示例，在使用诸如prml(部分响应最大似然)之类的最大似然解码来执行记录或再现的光盘装置中，为了减少在记录或再现期间发生的光学符号间干扰或热干扰，提出了一种技术，其中根据记录标记的标记长度和间隔长度来调整记录脉冲串等的条件，以在最优记录条件下执行写入(例如，参见专利文献2)。专利文献2是自适应记录补偿技术的示例，该自适应记录补偿技术用于计算再现信号波形的二进制比特阵列中的关注边缘的偏移评价值，并调整记录脉冲的脉冲串中的末脉冲的开始位置以使偏移评价值最小化。该现有技术示例公开了一种自适应记录补偿，其中通过根据记录标记长度和后间隔长度分类成多个模式来计算边缘偏移评价值，针对每种分类计算调整值，并且调整末脉冲开始位置。

引文列表

专利文献

专利文献1：wo2016/208104

专利文献2：wo2011/089735

技术实现要素：

技术问题

在进一步增加光盘的记录密度(例如，实现超过支持上述bdxl(注册商标)的光盘装置的记录密度)的情况下，现有技术的问题在于无法充分减少在记录或再现时产生的光学符号间干扰和热干扰。

鉴于现有技术的上述情况做出了本公开，并且本公开旨在提供可以针对光盘密度的进一步增加而减少光学符号间干扰和热干扰的光盘记录方法、光盘装置和集成电路。

问题的解决方案

本公开提供了一种光盘记录方法，用光束来照射光盘以在介质上形成多个标记，并且使用每个标记和两个相邻标记之间的间隔的边缘位置来记录信息，该光盘记录方法包括：根据调制码对记录数据进行编码，以生成与标记和间隔相对应的二进制编码数据；关于所述编码数据中的所述标记和所述间隔的游程长度，如果关注标记是目标标记，则根据所述目标标记的标记长度、所述目标标记的前侧的前间隔的间隔长度、所述目标标记的前侧的前标记的标记长度、以及所述目标标记的后侧的后间隔的间隔长度中的至少两个游程长度的组合，对所述编码数据进行分类；对于所述编码数据的所述游程长度的每种分类，基于解码结果的评价指标来设置用于调整用于形成所述标记的记录脉冲的开始边缘和结束边缘的位置的各个校正量，所述解码结果是通过prml方式的最大似然解码对通过再现与所述编码数据相对应的标记和间隔而获得的再现信号进行解码而获得的；使用根据编码数据的游程长度的分类的校正量，来生成根据编码数据的记录脉冲；以及通过用记录脉冲以多个级改变光束的功率并用该光束来照射所述光盘，在光盘的介质上形成根据记录数据的标记；其中，编码数据是通过最大码长为11t以上的调制码而生成的，并且包括最小游程长度为2t且最大游程长度为11t以上的代码阵列，其中，作为prml方式的最大似然解码的类别的约束长度为11以上；其中，所述解码结果的评价指标是通过扩展l-seat运算得到的评价指标，在所述扩展l-seat运算中，使用通过所述约束长度为11以上的最大似然解码得到的再现信号的解码结果的二进制比特阵列，并使用通过将所述二进制比特阵列分别向右和向左偏移单个比特而获得的右偏移比特阵列和左偏移比特阵列中的至少一个，来计算l-seat值，所述l-seat值表示关注记录标记的预定范围内的模式的向前方向或向后方向上的偏移量；并且其中，在编码数据的分类中，根据目标标记的标记长度分别针对游程长度2t、3t、4t、5t、6t、7t、以及8t以上执行分类，并且针对每种分类设置校正量。

本公开提供了一种光盘装置，该光盘装置用光束来照射光盘以在介质上形成多个标记，并且使用每个标记的边缘位置和两个相邻标记之间的间隔来记录信息，该光盘装置包括：编码单元，被配置为根据调制码对记录数据进行编码，以生成与标记和间隔相对应的二进制编码数据；分类单元，被配置为关于编码数据中的标记和间隔的游程长度，如果关注标记是目标标记，则根据目标标记的标记长度、目标标记的前侧的前间隔的间隔长度、目标标记的前侧的前标记的标记长度、以及目标标记的后侧的后间隔的间隔长度中的至少两个游程长度的组合，对编码数据进行分类；校正量设置单元，被配置为对于所述编码数据的游程长度的每种分类，基于解码结果的评价指标来设置用于调整用于形成所述标记的记录脉冲的开始边缘和结束边缘的位置的各个校正量，所述解码结果是通过prml方式的最大似然解码对通过再现与所述编码数据相对应的标记和间隔而获得的再现信号进行解码而获得的；记录波形生成单元，被配置为使用根据所述编码数据的游程长度的分类的所述校正量，来生成根据所述编码数据的记录脉冲；以及记录光输出单元，被配置为通过用记录脉冲以多个级改变光束的功率并用光束来照射光盘，在光盘的介质上形成根据记录数据的标记，其中，编码数据是通过最大码长为11t以上的调制码而生成的，并且包括最小游程长度为2t且最大游程长度为11t以上的代码阵列，其中，作为prml方式的最大似然解码的类别的约束长度为11以上；其中，所述解码结果的评价指标是通过扩展l-seat运算得到的评价指标，在所述扩展l-seat运算中，使用通过所述约束长度为11以上的最大似然解码得到的再现信号的解码结果的二进制比特阵列，并使用通过将所述二进制比特阵列分别向右和向左偏移单个比特而获得的右偏移比特阵列和左偏移比特阵列中的至少一个，来计算l-seat值，所述l-seat值表示关注记录标记的预定范围内的模式的向前方向或向后方向上的偏移量；其中，分类单元在编码数据的分类中根据目标标记的标记长度分别针对游程长度2t、3t、4t、5t、6t、7t、以及8t以上执行分类，并且所述校正量设置单元针对每种分类设置校正量。

本公开提供了一种集成电路，该集成电路执行光盘记录方法中的各个处理，该光盘记录方法用光束来照射光盘以在介质上形成多个标记，并且使用每个标记和两个相邻标记之间的间隔的边缘位置来记录信息，所述处理包括：根据调制码对记录数据进行编码，以生成与标记和间隔相对应的二进制编码数据；关于所述编码数据中的所述标记和所述间隔的游程长度，如果关注标记是目标标记，则根据所述目标标记的标记长度、所述目标标记的前侧的前间隔的间隔长度、所述目标标记的前侧的前标记的标记长度、以及所述目标标记的后侧的后间隔的间隔长度中的至少两个游程长度的组合，对所述编码数据进行分类；对于所述编码数据的所述游程长度的每种分类，基于解码结果的评价指标来设置用于调整用于形成所述标记的记录脉冲的开始边缘和结束边缘的位置的各个校正量，所述解码结果是通过prml方式的最大似然解码对通过再现与所述编码数据相对应的标记和间隔而获得的再现信号进行解码而获得的；使用根据编码数据的游程长度的分类的校正量，来生成根据编码数据的记录脉冲；以及通过用记录脉冲以多个级改变光束的功率并用该光束来照射所述光盘，在光盘的介质上形成根据记录数据的标记；其中，编码数据是通过最大码长为11t以上的调制码而生成的，并且包括最小游程长度为2t且最大游程长度为11t以上的代码阵列，其中，作为prml方式的最大似然解码的类别的约束长度为11以上；其中，所述解码结果的评价指标是通过扩展l-seat运算得到的评价指标，在所述扩展l-seat运算中，使用通过所述约束长度为11以上的最大似然解码得到的再现信号的解码结果的二进制比特阵列，并使用通过将所述二进制比特阵列分别向右和向左偏移单个比特而获得的右偏移比特阵列和左偏移比特阵列中的至少一个，来计算l-seat值，所述l-seat值表示关注记录标记的预定范围内的模式的向前方向或向后方向上的偏移量；并且其中，在编码数据的分类中，根据目标标记的标记长度分别针对游程长度2t、3t、4t、5t、6t、7t、以及8t以上执行分类，并且针对每种分类设置校正量。

发明的有益效果

根据本公开，能够针对光盘密度的进一步增加而减少光学符号间干扰和热干扰。

附图说明

图1是示出了根据实施例的光盘装置的配置的示例的框图。

图2是用于说明用在实施例中的光盘的结构的示意图。

图3是示出了用在实施例中的光盘的轨道结构的示例的示意图。

图4是示出了与实施例的光盘装置中的记录数据相对应的记录代码串、标记、间隔和记录脉冲的示例的图。

图5是示出了要记录在实施例中的光盘上的标记长度与记录脉冲波形之间的关系的图。

图6是示出了光盘装置的光学系统中的otf与空间频率之间的关系的图。

图7是示出了实施例的光盘装置中的有效光点直径与记录标记的物理尺寸之间的关系的示意图，并且是示出了4t标记-4t间隔连续的比特模式的图。

图8是示出了比较例的光盘装置中的有效光点直径与记录标记的物理尺寸之间的关系的示意图，并且是示出了3t标记-3t间隔连续的比特模式的图。

图9是示出了实施例的光盘装置中的有效光点直径与记录标记的物理尺寸之间的关系的示意图，并且是示出了包含最短的标记长度和间隔长度的2t标记-2t间隔的比特模式的图。

图10是示出了通过实施例的自适应记录补偿来执行记录处理的处理过程的流程图。

图11是示出了实施例的自适应记录补偿中的记录脉冲条件的调整处理的过程的流程图。

图12a是示出了用在实施例的自适应记录补偿中的检测比特模式的分类的第一示例的图。

图12b是示出了用在实施例的自适应记录补偿中的检测比特模式的分类的第一示例的图。

图12c是示出了用在实施例的自适应记录补偿中的检测比特模式的分类的第一示例的图。

图12d是示出了用在实施例的自适应记录补偿中的检测比特模式的分类的第一示例的图。

图13a是示出了用在实施例的自适应记录补偿中的检测比特模式的分类的第二示例的图。

图13b是示出了用在实施例的自适应记录补偿中的检测比特模式的分类的第二示例的图。

图13c是示出了用在实施例的自适应记录补偿中的检测比特模式的分类的第二示例的图。

图13d是示出了用在实施例的自适应记录补偿中的检测比特模式的分类的第二示例的图。

图14是示出了用于实施例中的扩展l-seat运算的比特阵列的类型的图。

图15是用于说明实施例中的扩展l-seat运算处理的示例的图。

图16是示出了实施例中的扩展l-seat运算的处理结果的示例的图。

图17是示出了通过扩展l-seat运算而获得的模式偏移量的直方图的示例的图。

图18是示出了实施例的示例中的光盘装置中的错误率检测结果的图。

图19是示出了比较例的光盘装置中的错误率检测结果的图。

具体实施方式

在下文中，将适当地参考附图详细地描述具体公开根据本公开的光盘记录方法和光盘装置的每个实施例。然而，可以省略不必要的过于详细的描述。例如，可以省略对已经众所周知的事项的详细说明和对基本上相同的配置的重复说明。这是为了避免以下说明变得不必要地冗余，并且便于本领域技术人员理解。提供附图和以下描述以使得本领域技术人员能够充分理解本公开，并且无意于限制所要求保护的主题。

本公开例示了涉及使用诸如prml之类的最大似然解码的光盘记录方法、光盘装置、光盘再现方法以及集成电路的实施例。本公开例示了一种技术，该技术至少根据关注标记的前后侧的间隔的间隔长度来执行自适应记录补偿，并且在最优记录条件下执行写入，以便在记录或再现与光束光点直径相比充分小的标记时减少光学符号间干扰或热干扰。此外，本公开例示了一种技术，除了关注标记的前后侧的间隔的间隔长度之外，该技术还通过根据该间隔的前后侧的标记的标记长度来执行自适应记录补偿，从而在最优记录条件下执行写入。

在本说明书中，从特定位置开始，光束光点通过作为光学信息记录介质的光盘的旋转在光盘上行进的方向被称为该位置之“后”，并且从该特定位置开始的相反方向被称为“前”。

(本公开的每个实施例的内容的背景)

当在光盘上记录微小的标记或间隔时，具有预定脉冲形状的用于记录的激光束(适当时被称为“记录脉冲”)被照射到光盘的记录面上以引起记录面上的标记的物理状态的变化，从而记录信息。然后，通过将用于再现的激光束照射到光盘的记录面上并检测该记录面的反射率的变化来读出并再现信息。

为了提高记录密度，通常可以想到缩短要记录的标记或间隔的长度(以增加线密度)。然而，特别是当记录标记的紧靠的前侧的间隔的长度减小时，会发生热干扰，其中记录标记的结束部分的热量通过间隔传导并影响下一标记的开始部分的温度升高，相反，记录标记的开始部分的热量影响前侧的标记的结束部分的冷却过程。即使在轨道上形成了具有正确长度的标记和间隔，也会产生如下问题：由于由光束光点的尺寸确定的再现光学系统的频率特性，在再现期间检测到的短标记和间隔的边缘位置与各个理想值不同地被再现。检测到的边缘与理想值之间的偏移通常被称为符号间干扰。当标记的尺寸和间隔的尺寸小于光点的尺寸时，符号间干扰变得显著，从而引起如下问题：再现时的抖动增加，并且错误比特率增加。

例如，在如bd中那样的记录密度下，要记录的标记的尺寸和标记之间的间隔的距离很小。结果是，为了形成标记而施加的激光束的热量不仅到达目标标记，而且还经由间隔到达前后侧的标记，并且目标标记和前后侧的标记的形状可能会发生变形。为了避免这种情况，已知以下两种技术。一种技术是，根据目标标记的长度与目标标记的紧靠的前侧的间隔的长度之间的关系来改变用于形成标记的记录脉冲的开始脉冲位置。另一种技术是，根据目标标记的长度与目标标记的紧靠的后侧的间隔的长度之间的关系来改变用于形成标记的记录脉冲的末脉冲位置。该技术通过预先校正记录标记的热干扰来执行记录。该记录脉冲位置控制通常被称为自适应记录补偿。

将描述使用诸如prml之类的最大似然解码方法(适当时被称为“prml方式”)的自适应记录补偿的示例。例如，在光盘装置中，对于多个可能的组合(诸如光盘的标记的长度与标记的紧靠的前侧的间隔的长度的组合，或者标记的长度与标记的紧靠的后侧的间隔的长度的组合)，预先设置针对每个组合指定记录脉冲的位置信息的记录参数。使用所设置的记录参数，对光盘上的预定轨道执行测试写入，并且再现通过该测试写入所记录的信息。对于所获得的再现信号，根据再现信号波形初步地估计所记录的信息的信号模式，并且生成估计信号波形。接下来，在将再现信号波形与估计信号波形进行比较的同时，从再现信号中解码出具有最可能信号路径的解调数据。通过这样的prml方式，记录参数被优化为使得在解码再现信号时发生错误的概率最小。

随着光盘密度的增加，标记长度接近光学分辨率的极限，并且符号间干扰的增加和snr(信噪比)的劣化变得更加明显。在增加光盘的记录密度时，记录标记的尺寸变得小于光点的尺寸，并且所获得的再现信号的振幅也变小。光点的分辨率由激光束的波长λ和物镜的数值孔径na(numericalaperture)确定。当具有最短游程长度的记录标记的长度变为λ/4na以下时，重复信号的振幅变为零。这是通常被称为光学截止的现象。在bd中，波长λ＝405nm且物镜的数值孔径na＝0.85，因此λ/4na近似等于119nm。在bd中，当轨道间距恒定时，为了获得大约31gb以上的容量，具有最短游程长度2t的重复信号的振幅变为零。为了在这样的高密度条件下获得良好的再现性能，有必要使用prml方式。

在bd的情况下，单面单层的记录容量约为25gb。在这种记录密度下，可以通过采用pr(1，2，2，1)ml方式来确保必要的系统裕度。在高密度bdxl(注册商标)的情况下，单面单层的记录容量约为33.4gb，三层的记录容量约为100gb。在这样的高密度条件下，可以通过增加prml方式的约束长度并采用pr(1，2，2，2，1)ml方式来获得所需的再现性能。

近来，研究了超过支持bdxl(注册商标)的光盘装置的记录密度的超高密度光盘装置，以进一步提高记录密度。在本说明书中，作为示例，研究了使用单面单层具有约83.33gb、双面三层具有约500gb的光盘的光盘装置，其中，通过使记录标记和间隔微小化，光盘的线方向(轨道方向)上的记录密度增加到bdxl(注册商标)的记录密度的1.7倍，并且通过采用岸地和凹槽记录方式，径向方向上的记录密度增加到bdxl的记录密度的1.4倍。在该光盘装置中，需要记录并再现与由λ/na确定的光学衍射极限下的光点尺寸相比更小的记录标记和间隔。在执行这样的高密度记录/再现时，出现如下问题：记录标记的热干扰和再现期间的符号间干扰急剧增大，并且诸如ser(符号错误率)之类的再现信号质量劣化。

因此，实施例提供了一种光盘记录方法、光盘装置和集成电路，针对密度的进一步增加，减小了光学符号间干扰和热干扰，从而使得能够如上所述以超高密度进行记录和再现。

(实施例的概述)

在实施例中，只写一次式光盘介质被描述为光学信息记录介质的示例。然而，这并不特别限制记录介质的类型。记录介质的类型不受限制，只要记录介质通过将能量注入到记录介质中以形成与未记录部分具有不同物理特性的标记来记录信息即可。例如，该技术同样可以应用于可重写光盘介质。

例如，用在本实施例的记录方法中的主要光学条件和盘结构如下。在该实施例中，为了增加密度，增加了物镜的na，缩短了最短的标记长度和间隔长度，并且减小了轨道间距。然而，本发明的内容不限于这些数值。

激光束：在400nm至410nm的波长范围内，例如波长λ＝405nm

物镜：na在0.90到0.92的范围内，例如na＝0.91

轨道间距0.225μm，岸地和凹槽记录方式，单倍速(1x)信道比特率61.408mbps，单倍速(1x)线速度2.101m/s，光盘的最短标记长度(2t)68.432nm，最短间隔与之相同

用于记录数据的调制码：110pcwa(奇偶校验补码分配)，码长2t至11t

用于再现信号的最大似然解码的pr类别：pr(3，6，9，13，16，17，16，13，9，6，3)，约束长度＝11

在以最短标记长度为68.432nm的线密度进行记录时，直径为12cm的光盘的每一表面的记录容量约为83.33gb。当该表面粘合到两个表面并被层叠为三层时，记录容量为83.33×2×3＝约500gb。在实施例中，最短标记长度68.432nm是bdxl(注册商标)的最短标记长度111.74nm的约0.61倍。

(光盘装置的配置示例)

图1是示出了根据实施例的光盘装置的配置的示例的框图。光盘装置包括光照射单元102、前置放大器单元103、agc单元104、波形均衡单元105、a-d转换单元106、pll(锁相环)单元107和prml(部分响应最大似然)处理单元108。光盘装置还包括偏移检测单元109、记录脉冲条件计算单元110、记录模式生成单元111、记录补偿单元112和激光驱动单元113。将与稍后描述的光盘装置中的光盘101的再现处理和记录处理相关联地描述每个组成元件的功能。例如通过作为半导体电路集成电路的lsi来实现光盘装置的这些功能块。光盘装置的功能块可以通过包括集成电路和光学拾取器的硬件来构成，或者光盘装置的功能块可以被构成为通过软件程序来操作包括集成电路的计算机，并且通过软件来执行每个功能。

光照射单元102是光学拾取器，其包括例如发射激光束的诸如激光二极管(ld)之类的半导体激光器、以及收集从半导体激光器发射出的激光束的物镜，由此将激光束作为光束照射到光盘101的记录面上。

尽管图1示出了作为光学信息记录介质的光盘101，但是光盘101可以不是光盘装置的组成元件。光照射单元102可以是具有任何配置的光拾取器，只要其用光束照射光存储介质并输出与从光存储介质反射的光束相对应的信号即可。

图2是用于说明用在实施例中的光盘的结构的示意图。下面将使用示例来描述在实施例的光盘记录装置中用作记录介质的光盘101的结构。光盘101从外周朝内周具有数据区域1001、用于学习记录条件的记录条件学习区域1002、以及用于记录记录条件的初始值的初始值记录区域1003。记录条件学习区域1002设置在光盘101的内周侧，并且初始值记录区域1003设置在记录条件学习区域1002的内周侧的最内周部分上。

数据区域1001是用户用来实际将数据保存在光盘上的区域。记录条件学习区域1002是这样的区域，其用于在用户在数据区域中记录数据之前记录测试写入的数据，以便在启动时或当发生温度波动时调整记录功率和记录脉冲条件的波动。初始值记录区域1003是只读区域，其中记录了针对每个盘预定的诸如推荐记录功率值、记录脉冲条件的推荐值、记录线速度和盘id之类的信息。可以在轨道曲折方向等作为信息记录单位形成在盘基板上的状态下记录这些信息。备选地，可以通过使用被称为bca(冲切区)的方式将初始值信息记录在盘上，其中通过调制具有恒定宽度的条带之间的间隔来记录信息。尽管在图2中未明确示出，但是记录条件学习区域还可以设置在数据区域1001的外周部分上。通过将记录条件学习区域设置在外周部分上，可以校正盘的内周与外周之间的盘表面中的记录功率分布。

图3是示出了用在实施例中的光盘的轨道结构的示例的示意图。在光盘101的记录面上，以螺旋状形成了凹槽轨道(以下，也被简称为“凹槽”)1021。在夹在螺旋形成的凹槽1021之间的区域中，以螺旋状形成了岸地轨道(以下，也被简称为“岸地”)1022。光盘101可以将用户数据记录在凹槽1021和岸地1022中。也就是说，凹槽1021和岸地1022可以用作记录轨道。

在将数据记录在光盘101上或从光盘101上再现数据的情况下，当光拾取器用光束照射光盘101的记录面上的凹槽1021或岸地1022时，在轨道上形成了束斑1023。在数据记录时，根据基于记录数据的记录脉冲，用具有记录功率的光束来照射轨道，从而将具有预定标记长度和间隔长度的记录标记1024形成在轨道上。在数据再现时，通过用具有再现功率的光束来照射轨道并接收反射光，获得了振幅根据记录标记1024与标记间的间隔1025之间的反射率的差异而变化的再现信号，从而根据该再现信号来生成再现数据。

(实施例的记录/再现操作)

在此，将描述实施例的光盘装置中的数据再现处理。

在再现操作时，作为光照射单元102的光学拾取器将从激光二极管发射出的光束照射到光盘101的介质面上并接收反射光。接收到的光被光电检测器转换成电信号，并且变成模拟再现信号。模拟再现信号被前置放大器单元103、agc单元104、波形均衡单元105和a-d转换单元106从模拟信号转换为数字信号。数字信号被pll单元107以时钟间隔进行采样。数字信号被输入到prml处理单元108。在prml处理单元108内部，例如，提供维特比(viterbi)解码单元作为最大似然解码单元，其对数字信号执行最大似然解码，生成指示最大似然解码的结果的二进制信号并输出该二进制信号作为再现信号。光盘装置基于所获得的二进制信号形式的再现信号来恢复与光盘101上的记录标记相对应的再现数据。

反射光可以被hoe元件分成五束或六束，并且分开的光束可以分别被光电检测器的被划分而成的五个部分或六个部分接收。系统可以被配置为使得对与所划分的接收光束的各个光量相对应的输出信号执行波形均衡处理，并且执行从模拟信号到数字信号的转换处理。通过这样做，例如，在凹槽再现时，可以通过执行串扰消除处理来改善再现信号的质量，该串扰消除处理执行使来自相邻岸地轨道的串扰最小化的波形均衡处理。

接下来，将描述实施例的光盘装置中的数据记录处理。

在记录(写入)操作时，记录模式生成单元111将作为基于记录数据编码的二进制编码数据的任意代码串输出为nrzi(非归零反转)信号。记录补偿单元设置由记录脉冲条件计算单元110计算的记录脉冲条件，并且基于nrzi信号来生成记录脉冲，同时根据记录脉冲条件来执行记录补偿并调整脉冲长度。激光驱动单元113通过使用根据nrzi信号被记录脉冲替换的信号来驱动光照射单元102中的激光二极管，并且输出激光束的光束。激光驱动单元113将光束照射到光盘101的介质面上，从而根据光束的记录功率的强度在光盘101上的期望位置记录与记录数据相对应的标记。

此时，由prml处理单元108在再现期间获取的二进制信号被输入到偏移检测单元109。偏移检测单元109基于prml处理单元108中的最大似然解码的结果来检测光盘101上的记录标记的再现信号中的二进制比特阵列(比特模式)的偏移。偏移检测单元109例如根据二进制信号和pll时钟的相位信息，将再现信号的比特模式的偏移量和偏移方向检测为再现信号的比特模式的偏移。记录脉冲条件计算单元110基于偏移检测单元109检测到的诸如模式偏移之类的偏移量，来计算记录脉冲的校正量作为记录脉冲条件的示例，从而更新记录脉冲条件。记录脉冲条件计算单元110根据用于执行记录补偿的校正量的计算结果在记录补偿单元112中设置记录脉冲条件。

在以上配置中，记录模式生成单元111实现作为编码单元的示例的功能，记录脉冲条件计算单元110实现作为分类单元的示例的功能，并且prml处理单元108、偏移检测单元109和记录脉冲条件计算单元110实现作为校正量设置单元的示例的功能。记录补偿单元112实现作为记录波形生成单元的示例的功能，并且激光驱动单元113和光照射单元102实现作为记录光输出单元的示例的功能。

图4是示出了与实施例的光盘装置中的记录数据相对应的记录代码串、标记、间隔和记录脉冲的示例的图。图4的(a)示出了用作记录操作的时间参考的参考时间信号201的波形。参考时间信号201是具有周期tw的脉冲时钟。图4的(b)示出了由记录模式生成单元111生成的记录代码串的形式的nrzi信号202。在此，tw是检测窗口宽度，其是nrzi信号202中的标记长度和间隔长度的变化量的最小单位。该tw也被称为参考时间。注意，标记长度和间隔长度被表示为2tw、3tw等，但是在某些情况下，w被省略而被表示为2t、3t等。可以用诸如4ts这样的ts来表示间隔长度，并且可以用诸如2tm这样的tm来表示标记长度。

图4的(c)示出了标记阵列203，该标记阵列203表示实际记录在光盘上的标记和间隔的图像。光束的束斑从左到右扫描标记阵列203中的标记和间隔。例如，标记207以一对一的关系对应于nrzi信号202的“1”水平，并且被形成为具有与该水平的时段成比例的长度。标记207之间的间隔208对应于nrzi信号202的“0”水平，并且具有与该水平的时段成比例的长度。标记可以对应于nrzi信号202中的“0”而间隔可以对应于nrzi信号202中的“1”。

图4的(d)示出了计数信号204。计数信号204以tw为单位从预定位置测量标记207和间隔208的时间。

图4的(e)示出了与(b)的nrzi信号202相对应的记录脉冲信号205的波形。该波形是实际记录的光波形的示例。参考计数信号204、nrzi信号202和从记录脉冲条件计算单元110发出的记录补偿表数据来生成记录脉冲信号205。

接下来，将描述实施例的光盘装置中的记录补偿方法。图5是示出了要记录在实施例中的光盘上的标记长度与记录脉冲波形之间的关系的图。在图5中，在上部示出了具有2t、3t、……，9t的nrzi信号，2t、3t、……，9t表示以参考时间tw(适当时也被称为信道比特)为单位的标记长度。在nrzi信号下方，示出了分别具有2t、3t、……，9t的记录脉冲信号205的波形。

记录脉冲信号205被电平调制，并且激光束的记录功率有四种输出功率电平：写入功率pw、中间功率pm、间隔功率ps和冷却功率pc。写入功率pw是记录脉冲中的最大功率电平，并且是首脉冲和末脉冲的功率电平。该功率电平用于向记录膜施加能量以引起状态变化。中间功率pm是用在首脉冲与末脉冲之间或在首脉冲与冷却脉冲之间的中间功率电平。间隔功率ps是用于照射标记之间(间隔)的部分的功率电平，并且主要用于形成下一标记的预热。在可重写光盘中，间隔功率ps可以被称为擦除功率，用于用间隔部分中的功率来擦除记录标记。冷却功率pc是冷却脉冲的功率电平，并且主要用于中断热量向随后的标记记录部分的扩散并减少热干扰的目的。在上述每个功率电平中，使用统一的值而无论标记长度如何。

在所示出的示例中，示出了2t至9t，而10t以上的记录脉冲波形根据与9t等相同的规则来生成。在图5中，2t表示被称为单脉冲型的记录脉冲波形，3t和4t表示被称为l型的记录脉冲波形，并且5t至9t表示被称为城堡(castle)型的记录脉冲波形。在5t以上的情况下，每当标记长度增加1t时，中间功率pm的区间就增加1t。3t和4t可以如2t那样是具有一个脉冲的单脉冲类型。4t可以是具有末脉冲的城堡型。另外，不具有末脉冲的l型可以用于3t以上。

与根据记录脉冲条件来执行记录补偿的记录脉冲的定时有关的参数包括首脉冲的开始位置dttop、首脉冲的时间宽度ttop、末脉冲的时间宽度tlp、冷却脉冲的开始位置dtc和冷却脉冲的结束位置dts。在dttop、dtc和dts的情况下，如图5中所示，参考记录数据的nrzi信号的反转定时来定义时间变化量。这些参数的调整单位例如是信道比特周期的1/32。可以根据各种条件任意地设置记录脉冲的调整单位。

在上述记录脉冲的参数之中，dttop和ttop主要确定形成记录标记的开始位置(前边缘)的条件。dtc、tlp和dts主要确定形成记录标记的结束位置(后边缘)的条件。通过适当地设置这些参数并设置记录脉冲的校正量，在适当的位置形成记录标记，从而可以保持记录信息的质量良好。

因此，在实施例中，使用了自适应记录脉冲，其根据关注标记(目标标记)的长度、目标标记前的间隔(前间隔)的长度、目标标记前的标记(前标记)的长度、以及目标标记后的间隔(后间隔)的长度，自适应地更改记录脉冲的参数。使用这种自适应记录脉冲的记录补偿方法被称为自适应记录补偿。在下文中，将描述通过dttop和ttop来调整记录脉冲的开始位置(适当时被称为开始边缘)以及通过dtc、tlp和dts来调整记录脉冲的结束位置(适当时被称为结束边缘)的示例。

在本实施例中，考虑到光学符号间干扰和热干扰而更严格地控制标记的开始位置和结束位置，该光学符号间干扰和热干扰在超出由最短标记长度和光点直径确定的otf(光学传递函数)极限的高密度记录期间会成为问题。更具体地，基于记录数据的编码数据的游程长度(例如，最大游程长度为11t以上，在该示例中为2t至11t)，关于开始位置，例如，根据关注标记的标记长度(目标标记长度)，将目标标记长度细分为2t、3t、4t、5t、6t、7t、以及8t以上的多个分类，并且针对每个分类设置记录脉冲的校正量。例如，根据关注标记前的前间隔的间隔长度(前间隔长度)，将前间隔长度细分为2t、3t、4t、5t、6t、7t、以及8t以上的多个分类，并且针对每个分类设置记录脉冲的校正量。关于结束位置，例如，根据关注标记的目标标记长度，将目标标记长度细分为2t、3t、4t、5t、6t、7t、以及8t以上的多个分类，并且针对每个分类设置记录脉冲的校正量。例如，根据关注标记后的后间隔的间隔长度(后间隔长度)，将后间隔长度细分为2t、以及3t以上的多个分类，并且针对每个分类设置记录脉冲的校正量。

实施例的光盘装置使用光拾取器，该光拾取器具有波长λ为405nm的半导体激光器和na为0.91的物镜。如果将高斯束的峰值强度的1/e^2范围内的直径定义为有效光点直径rs，则有效光点直径rs用rs＝0.82×(λ/na)来表示，因此rs近似等于0.365μm。在这种光学系统中，具有68.532nm(近似等于0.068μm)的最短标记长度(2t)，并且0.103μm的3t标记长度的记录标记超出了可以通过光点来识别标记的光学分辨率极限。当记录标记被光束再现时，再现信号的信号振幅由于记录标记变短而减小，并且在光学分辨率的极限处变为零。信号振幅变为0的记录标记的标记长度的倒数是空间频率。

图6是示出了光盘装置的光学系统中的otf与空间频率之间的关系的图。空间频率与信号振幅之间的关系被称为otf。信号振幅随空间频率的增加而线性减小，并且信号振幅变为零的极限被称为otf截止频率。图6示出了上述光学系统中的otf截止频率。在上述光学系统的情况下，otf截止周期是根据波长λ和物镜的na而获得的，并且为λ/na×0.5。即，当λ＝405nm且na＝0.91时，截止周期为0.2225μm。可以光学分辨的最短标记长度为0.1113μm，是截止周期的一半。当记录标记的最短标记长度(2t)为0.068μm且3t标记长度为0.103μm时，处理具有比光学可再现的截止频率高的空间频率的记录标记，因此再现和记录变得困难。截止频率的极限由于光学拾取器等的变化、记录标记的变形、标记形状等而变化。作为最大光点尺寸的条件，除了本实施例的具体数值(λ＝405nm，na＝0.91)之外，例如，当考虑到410nm的激光波长、物镜na＝0.92、由上述变化等引起的5％的误差时，otf截止周期的一半为λ/na×0.26＝0.1159μm。因此，当记录或再现其最短标记长度约为0.1159μm以下的标记时，无法忽略光学符号间干扰。

图7是示出了实施例的光盘装置中的有效光点直径与记录标记的物理尺寸之间的关系的示意图，并且是示出了4t标记-4t间隔连续的比特模式的图。在图7中，用于比较物理尺寸的参考长度lx是lx＝100nm＝0.1μm。用虚线分隔的一个单位表示1t的游程长度(即，信道时钟周期、信道比特长度)34.2nm＝0.0342μm。

如图7中所示，在4t标记-4t间隔连续的比特模式的情况下，4t的标记长度和间隔长度为136.9nm，并且4t×3＝410.6nm大于有效光点直径rs＝365nm。本申请的发明人已从实验结果证实，在具有图7中所示的物理尺寸的记录标记中，因为使用频谱分析仪测量了诸如cnr之类的测量值，所以由4t以上的标记和间隔形成的简单重复信号是光学可读的，但是3t以下的标记和间隔难以光学分辨。如果将标记长度/有效光点直径rs定义为光学分辨率评价值or，则发现当or＝标记长度/rs≥1/3＝0.33时，可以进行光学读取，而当or＜0.33时，难以进行光学分辨。在图7的例子中，在4t的情况下，光学分辨率评价值or为or(4t)＝0.38，在4t以上的情况下，可以进行光学分辨。

图8是示出了比较例的光盘装置中的有效光点直径与记录标记的物理尺寸之间的关系的示意图，并且是示出了3t标记-3t间隔连续的比特模式的图。该比较例示出了bdxl(注册商标)的情况。在图8中，用于比较物理尺寸的参考长度lx如图7中一样为lx＝100nm＝0.1μm。用虚线分隔的一个单位表示1t的游程长度(即，信道时钟周期、信道比特长度)55.9nm＝0.0559μm。

在图8的示例中，3t的标记长度和间隔长度为167.6nm，接近于图7中所示实施例中的4t的值。在图8的比较例的记录标记中，3t以上的标记和间隔是光学可读的，但是难以光学分辨2t以下的标记和间隔。因此，在bdxl(注册商标)的情况下，可以通过采用pr(1，2，2，2，1)ml方式的最大似然解码来对2t的标记和间隔进行解码。

图9是示出了实施例的光盘装置中的有效光点直径与记录标记的物理尺寸之间的关系的示意图，并且是示出了包含最短的标记长度和间隔长度的2t标记-2t间隔的比特模式的图。在图9中，用于比较物理尺寸的参考长度lx如图7中一样为lx＝100nm＝0.1μm。用虚线分隔的一个单位表示1t的游程长度(即，信道时钟周期、信道比特长度)34.2nm＝0.0342μm。

在此，将描述用在该实施例的光盘装置中的记录数据的调制码。在该实施例中，例如将110pcwa(奇偶校验补码分配)用作调制码。110pcwa是调制码，其中调制之后的编码数据的“1”与“1”之间的“0”的最小数量为1(即，2t)，最大数量为10(即，11t)，并且是rll(1，10)调制码(游程长度受限的编码代码)的一种。因此，110pcwa的码长为2t至11t。同步信号的sync标记分配超过最大码长的12t。在此，pcwa表示奇偶校验补码分配。具有pcwa的rll调制码具有如下特性：除了两个dc控制比特值以外，生成具有相同数据比特阵列且具有相反奇偶校验的两个调制码串。在110pcwa中，最短游程长度2t的连续数被限制为2，以便抑制再现信号的振幅减小并提高读取性能。因此，在2t标记-2t间隔或2t间隔-2t标记之后，不会连续2t的标记或间隔，而会连续3t以上的标记或间隔。通过采用这样的调制码，可以有效地减少再现时的代码错误的发生。关于最大游程，光学分辨率评价值or超过约1.0的标记和间隔仅具有更高的冗余度，并且其编码效率和记录效率降低。因此，优选的是，标记和间隔的最大游程长度使得or约为1.0。因此，在本实施例中，由于在or＝1的情况下，相对于365nm的最大游程长度，11t为376.4nm且or(11t)为1.03，所以使用2t至11t的调制码。通过使用110pcwa调制记录数据，产生具有2t至12t的游程长度的编码数据的记录代码串。

如图9中所示，在包括最短游程长度的比特模式的情况下(诸如3t标记-2t间隔-2t标记-3t间隔-2t标记)，难以光学读取2t或3t的标记或间隔。在3t的情况下，or(3t)为0.28，并且在2t的情况下，or(2t)为0.19。在每种情况下，由于or＜0.33，因此很难光学分辨2t和3t。因此，在该实施例中，即使对于如图9中所示的包括3t以下的标记或间隔的比特模式，也使用例如约束长度为11的高阶prml方式来执行最大似然解码，因此可以获得满足实用上足够的错误率的再现信号的解码结果。在prml方式的最大似然解码中，为了使用前后时间点的状态来估计再现信号的比特模式，与游程长度为如实施例中一样的2t至12t的记录代码串相对应，将prml的约束长度增加到11。根据约束长度的长度，使pr类别多值化并细分化为例如pr(3，6，9，13，16，17，16，13，9，6，3)。在本实施例中，通过使用l-seat(自适应目标的游程长度受限序列错误)作为解码结果的评价指标来检测模式偏移(该l-seat是稍后描述的扩展评价指标)，并且针对标记长度和间隔长度的每种分类执行自适应记录补偿。因此，即使对于解码错误的概率较高的比特模式，也可以充分地降低再现时的错误率。

在本实施例中，采用具有诸如最大码长11t这样的较长码长的调制码作为用于生成记录数据的编码数据的调制码，从而提高记录标记的再现信号的snr。对于2t到12t的记录标记，通过将prml的约束长度增加到11t，可以再现or＜0.33且无法光学分离的2t或3t的较短标记或间隔，并且可以减少从2t到12t的每个游程长度的读取错误。结果是，提高了编码效率，提高了读取性能，并且降低了错误率。在本实施例中，将用于生成编码数据的调制码的码长假设为最大码长为11t以上的长调制码，因此可以应用于使用了最大码长为例如13t以上的调制码的情况。然而，如果最大码长增加，则存在诸如编码效率降低和需要增加记录线密度的缺点。

在本实施例中，根据标记长度和间隔长度对形成记录标记时的记录脉冲的开始位置和结束位置的校正量进行精细分类和设置，从而减少符号间干扰和热干扰。此时，根据诸如2t和3t之类的较短的标记和间隔对目标标记长度、前间隔长度和后间隔长度进行精细分类，并且针对每个游程长度对4t、5t、6t和7t进行分类。在该实施例中，在7t的情况下的or是or(7t)＝0.66。根据本申请的发明人的实验结果，发现了对于在or＜2/3＝0.66的情况下的7t以下的标记和间隔，通过对每个游程长度执行分类，可以充分降低再现期间的错误率。即，根据关注标记的标记长度和间隔长度，将这些长度细分为2t、3t、4t、5t、6t、7t、以及8t以上的多个分类，并且针对每个分类设置记录脉冲的校正量。由此，减少了符号间干扰和热干扰，并且降低了错误率。8t以上可以被进一步分类，并且较长的标记长度或间隔长度可以被单独分类为例如8t、9t、10t、以及11t以上。结果是，可以进一步降低错误率。

在实施例的光盘装置中，与使用具有11t的较长最大码长的110pcwa的调制码的编码数据相对应，将256kb扩展rspc(里德-所罗门产品码)用作纠错码。该纠错码对应于具有2t至12t的较长游程长度的解码数据。

(自适应记录补偿)

接下来，将描述实施例的光盘装置中的自适应记录补偿的处理过程。在此，示出了示例，其中计算机执行计算机程序，该计算机程序定义了与光盘装置的操作有关的处理过程。

图10是示出了通过实施例中的自适应记录补偿来执行记录处理的处理过程的流程图。光盘装置在激光驱动单元113中设置记录功率等，并且在记录补偿单元112中设置记录脉冲条件，以作为执行数据记录处理时的记录条件(s11)。在该实施例中，在自适应记录补偿中，针对记录数据的比特模式的每种分类，将优化的记录脉冲校正量设置为记录脉冲条件。

在光盘装置中，首先，记录模式生成单元111对记录数据进行编码以生成作为标记与间隔的组合的编码数据(s12)。图4的(b)中所示的nrzi信号202对应于编码数据。

接下来，在光盘装置中，记录补偿单元112根据标记长度和间隔长度对编码数据的比特模式进行分类(s13)。在该实施例中，根据目标标记长度、前间隔长度、后间隔长度、前标记长度等来对关注标记进行分类。

随后，在光盘装置中，记录补偿单元112根据比特模式的每种分类的记录脉冲条件来调整与编码数据相对应的记录脉冲的脉冲波形(s14)。在该实施例中，使用针对比特模式的每种分类设置的校正量来控制记录脉冲的开始位置和结束位置。

在光盘装置中，激光驱动单元113基于记录脉冲来驱动光照射单元102，并且将基于记录脉冲串的激光束照射到光盘101上以形成标记(s15)。通过以上处理，根据记录数据的比特模式自适应地校正记录在光盘上的记录标记的开始位置和结束位置。

图11是示出了实施例的自适应记录补偿中的记录脉冲条件的调整处理的过程的流程图。光盘装置使用记录在光盘101上的记录条件或存储在光盘装置的存储器中的记录条件，在记录补偿单元112中设置记录脉冲条件(s21)。光盘装置根据所设置的记录脉冲条件来控制激光驱动单元113和光照射单元102，并且对光盘101的预定轨道执行测试写入(s22)。

接下来，光盘装置再现已执行测试写入的轨道的记录标记，使prml处理单元108对二进制信号进行解码，并且使偏移检测单元109检测二进制信号中的关注比特模式的模式偏移的偏移量(模式偏移量)(s23)。随后，在光盘装置中，记录脉冲条件计算单元110确定模式偏移量是否被抑制到预定值以下(s24)。如果模式偏移量超过预定值(s24：否)，则记录脉冲条件计算单元110根据模式偏移量来调整记录脉冲条件(s25)。光盘装置根据调整后的记录脉冲条件执行测试写入(s22)和模式偏移检测(s23)，并且确定模式偏移量(s24)。如果模式偏移量等于或小于预定值(s24：是)，则记录脉冲条件计算单元110更新记录脉冲条件(s26)，并且结束记录脉冲条件调整处理。记录补偿单元112通过使用优化的记录脉冲条件来设置记录脉冲条件，并且执行自适应记录补偿。

在执行测试写入时，例如，首先，获得标记长度为4t以上的比特模式的记录脉冲的校正量，然后，在执行下一测试写入时，可以使用包括2t和3t的信号的比特模式来执行测试写入以计算和设置较短游程长度的校正量。在高密度的光盘中，具有较短的标记和间隔的再现信号的振幅非常小。在这样的光盘中，在无法精确地记录等于或小于3t的记录标记的位置时，可能难以将4t以上的标记与间隔的位置准确地对准。如上所述，当再现符号间干扰非常大的信号时，首先，记录码长为4t以上的标记，并且对标记和间隔为4t以上的边缘位置准确地执行记录补偿。此后，可以记录2t和3t的标记和间隔，并且可以精确地补偿2t和3t的标记和间隔的记录位置。结果是，可以更准确和有效地执行记录，并且可以提高再现信号的质量。

在记录测试写入时，对于每个记录条件，较短标记(诸如，2t或3t的标记)的记录标记的尺寸和偏移量都不同。当自适应等效滤波器的抽头系数针对每种记录条件而改变时，除了记录状态的改变之外，还添加由于再现状态的改变而引起的再现信号的模式偏移状态。因此，为了准确地执行由记录条件的差异而引起的模式偏移的调整，在执行记录调整时，优选的是针对测试记录或记录补偿调整预先固定再生均衡器的升压值或自适应均衡滤波器的抽头系数，或者限制波动范围。通过这样做，可以正确地调整每个比特模式的模式偏移量。

(编码数据的分类的示例)

接下来，将描述用在实施例的自适应记录补偿中的编码数据的比特模式的分类的一些示例。

关于记录标记中的热干扰，对目标标记的影响在目标标记的前侧的间隔和标记与目标标记的后侧的间隔和标记之间是不对称的。在某些盘和层中，位于前侧的间隔和标记具有很大的影响。在实施例中假设了这种盘，关于记录脉冲的开始边缘，对目标标记长度和前间隔长度进行精细分类以设置记录脉冲的校正量，从而有效地减小热干扰。关于记录脉冲的结束边缘，由于较长标记和较长间隔具有较小的对后方的热影响，因此对于对后方的热影响较大的较短的标记长度和间隔长度进行了精细分类，从而减少了热干扰。

关于当再现记录标记时发生的符号间干扰，对目标标记的影响在目标标记的前侧的间隔和标记与目标标记的后侧的间隔和标记之间基本对称。因此，在实施例中，关于记录脉冲的开始边缘和结束边缘，对目标标记长度、前间隔长度和后间隔长度进行精细分类以设置记录脉冲的校正量，从而有效减少符号间干扰。

(1)检测比特模式的分类模式的第一示例

图12a、图12b、图12c和图12d是示出了用在实施例的自适应记录补偿中的检测比特模式的分类的第一示例的图。参考图12a至图12d中所示的检测比特模式的分类来设置记录脉冲的校正量。在每个附图中，左侧的表格示出了每个分类的模式编号、每个模式编号的检测模式中的前标记长度、前间隔长度、目标标记长度和后间隔长度。右侧的表格以比特为单位显示了与每个模式编号的检测模式相对应的检测比特模式。对于各个检测比特模式，示出了用图14中所示的dba编号1至8进行表示的八种分类。dba(鉴别器比特阵列)(识别比特阵列)在执行稍后描述的l-seat运算时使用，并且指示以关注边缘为中心的前5t和后5t的总共10比特的比特阵列的类型。在图的左侧表格中以深色背景示出的每个检测模式是其中三个以上的2t的标记或间隔连续的模式，并且是在实施例中用作调制码的110pcwa中不出现的比特模式，因此在此被排除。

(1-1)记录脉冲的开始边缘调整

图12a和12b示出了用于调整记录脉冲的开始位置的比特模式的分类。图12a示出了当目标标记长度为2t、3t、4t、以及5t时的分类，以及图12b示出了当目标标记长度是6t、7t、8t、9t、10t、以及11t以上(11t和12t)时的分类。

(a)分别在目标标记长度2t、3t、4t、5t、6t、7t、8t、9t、10t、以及11t以上中，分别针对前间隔长度2t、3t、4t、5t、6t、7t、8t、9t、10t、以及11t以上执行分类。即，针对上述目标标记长度与前间隔长度的各个组合执行分类。

(b)分别在前间隔长度2t和3t的情况下，分别针对前标记长度2t、以及3t以上执行分类。

(c)分别在目标标记长度2t和3t的情况下，分别针对后间隔长度2t、以及3t以上执行分类。

(1-2)记录脉冲的结束边缘调整

图12c和图12d示出了用于调整记录脉冲的结束位置的比特模式的分类。图12c示出了当目标标记长度为2t、3t、以及4t时的分类，以及图12d示出了当目标标记长度是5t、6t、7t、8t、9t、以及10t以上(10t、11t和12t)时的分类。

(a)分别在目标标记长度2t、3t、4t、5t、6t、7t、8t、9t、以及10t以上的情况下，在目标标记长度2t的情况下，分别针对后间隔长度2t、3t、以及4t以上执行分类，并且在目标标记长度3t、……、9t、以及10t以上的情况下，分别针对后间隔长度2t、以及3t以上执行分类。即，针对上述目标标记长度和后间隔长度的各个组合执行分类。

(b)分别在目标标记长度2t、3t、4t、以及5t的情况下，分别针对前间隔长度2t、3t、4t、5t、6t、7t、以及8t以上执行分类。

(c)分别在前间隔长度2t和3t的情况下，分别针对前标记长度2t、以及3t以上执行分类。

第一示例是重视了与目标标记前侧的标记和间隔的热干扰的比特模式分类的示例。关于记录脉冲的开始边缘，可以通过对目标标记长度与前间隔长度的游程长度的各个组合执行精细分类来减少热干扰和符号间干扰。在分别在前间隔长度2t和3t的较短间隔长度中，分别针对前标记长度2t、以及3t以上执行分类时，可以更有效地减少与较短的标记和间隔的热干扰。在分别在目标标记长度2t和3t的较短标记长度中，分别针对后间隔长度2t、以及3t以上执行分类时，可以减少符号间干扰。关于记录脉冲的结束边缘，可以通过对目标标记长度与后间隔长度的游程长度的各个组合执行精细分类来减少热干扰和符号间干扰。在分别在目标标记长度2t至5t的较短标记长度中，根据前间隔长度来执行精细分类时，可以更有效地减小热干扰。在分别在前间隔长度2t和3t的较短间隔长度中，分别针对前标记长度2t、以及3t以上执行分类时，可以更有效地减少与较短的标记和间隔的热干扰。

(1)检测比特模式的分类模式的第二示例

图13a、图13b、图13c和图13d是示出了用在实施例的自适应记录补偿中的检测比特模式的分类的第二示例的图。参考图13a至图13d中所示的检测比特模式的分类来设置记录脉冲的校正量。在每个附图中，左侧的表格示出了每个分类的模式编号、每个模式编号的检测模式中的前标记长度、前间隔长度、目标标记长度和后间隔长度。右侧的表格以比特为单位显示了与每个模式编号的检测模式相对应的检测比特模式。对于各个检测比特模式，示出了用图14中所示的dba编号1至8进行表示的八种分类。dba(识别比特阵列)在执行稍后描述的l-seat运算时使用，并且表示以关注边缘为中心的前5t和后5t的总共10比特的比特阵列的类型。在图的左侧表格中以深色背景示出的每个检测模式是其中三个以上的2t的标记或间隔连续的模式，并且是在实施例中用作调制码的110pcwa中不出现的比特模式，因此在此被排除。

(2-1)记录脉冲的开始边缘调整

图13a和13b示出了用于调整记录脉冲的开始位置的比特模式的分类。图13a示出了当目标标记长度为2t和3t时的分类，图13b示出了当目标标记长度是4t、5t、6t、7t、8t、9t、10t、11t、以及12t时的分类。

(a)分别在目标标记长度2t、3t、4t、5t、6t、7t、8t、9t、10t、11t、以及12t中，分别针对前间隔长度2t、3t、4t、5t、以及6t以上执行分类。即，针对上述目标标记长度与前间隔长度的各个组合执行分类。

(b)分别在目标标记长度2t、3t、以及4t的情况下，分别针对后间隔长度2t、3t、4t、5t、以及6t以上执行分类。

(2-2)记录脉冲的结束边缘调整

图13c和图13d示出了用于调整记录脉冲的结束位置的比特模式的分类。图13c示出了当目标标记长度为2t、3t、以及4t时的分类，以及图13d示出了当目标标记长度是5t、6t、7t、8t、9t、10t、11t、以及12t时的分类。

(a)分别在目标标记长度2t、3t、4t、5t、6t、7t、8t、9t、10t、11t、以及12t中，分别针对后间隔长度2t、3t、4t、5t、以及6t以上执行分类。即，针对上述目标标记长度和后间隔长度的各个组合执行分类。

(b)分别在目标标记长度2t、3t、以及4t的情况下，分别针对前间隔长度2t、3t、4t、5t、以及6t以上执行分类。

第二示例是重视了与目标标记前后侧的标记和间隔的符号间干扰的比特模式分类的示例。关于记录脉冲的开始边缘，可以通过对目标标记长度与前间隔长度的游程长度的各个组合执行精细分类来减少热干扰和符号间干扰。在分别在目标长度2t至4t的较短目标长度中，根据后间隔长度来执行精细分类时，可以更有效地减小符号间干扰。关于记录脉冲的结束边缘，可以通过对目标标记长度与后间隔长度的游程长度的各个组合执行精细分类来减少热干扰和符号间干扰。在分别在目标标记长度2t至4t的较短标记长度中，根据前间隔长度来执行精细分类时，可以更有效地减小符号间干扰。

根据标记长度和间隔长度的编码数据的分类不限于以上示例，并且可以根据诸如光盘的特性和光学拾取器的光学条件之类的各种因素进行适当地设置。例如，还可以通过减少标记/间隔分类的数量来执行检测和记录调整，不对前后侧的间隔长度进行分类，而将用于调整记录脉冲的标记长度设置为2t、3t、4t、以及5t以上的4种类型。在这种情况下，可以减少通过测试记录来记录多个模式、检测偏移和调整记录脉冲设置的一系列记录调整(学习)所需的时间。

(模式偏移检测)

接下来，将描述实施例中的检测再现信号的模式偏移的方法。在该实施例中，prml处理单元108通过约束长度为11的高阶prml方式的最大似然解码处理来生成再现信号的二进制信号，并且偏移检测单元109通过l-seat运算来检测二进制比特阵列的模式偏移。

首先，将描述使用作为现有技术的评价指标(解码结果的评价指标)的l-seat的l-seat运算的概况。如上述专利文献2中所述，l-seat是在根据再现信号与目标信号之间的欧几里德距离的差的评价指标中，通过将与二进制比特阵列的关注边缘的偏移相对应的分量与取决于snr的分量分离来执行评价的评价指标。

w表示再现信号，t是从再现信号中获得的二进制比特阵列形式的目标信号，l是二进制比特阵列形式的目标信号，其中关注边缘向左偏移单个比特并满足游程长度的限制条件，并且r为二进制比特阵列的形式的目标信号，其中目标边缘向右偏移单个比特并满足游程长度的限制条件。在这种情况下，l是二进制比特阵列形式的目标信号，其相对于目标信号t的二进制比特阵列在最短的代码距离内向左偏移单个比特，并且r是二进制比特阵列形式的目标信号，其在最短的代码距离内向右偏移单个比特。用ed(w，t)、ed(w，r)等来表示w、t、r、l之间的欧几里得距离。用xl来表示当关注边缘向左偏移时引起的误差的评价值，并且用xr来表示当关注边缘向右偏移时引起的误差的评价值。这些评价值被称为等效边缘偏移，并由以下表达式(d1)和(d2)定义。

[表达式1]

关注边缘的边缘偏移量被称为边缘偏移d，并且由以下表达式(3)定义。

[表达式2]

与关注边缘的错误概率相对应的校正量被称为snr因子s，并且由以下表达式(4)定义。

[表达式3]

对于在关注边缘的标记长度等于标记前(或者，后)侧的间隔的间隔长度的条件下(即，在相同的记录条件下)记录的一组边缘，用以下表达式(5)定义用于记录调整的边缘偏移量，其被解释为边缘偏移d的统计平均值δ。

[表达式4]

其中n表示所测量的边缘总数，并且dn表示第n个边缘的扩展边缘偏移。

由以上表达式(1)至(5)定义的评价指标中的每一个被称为现有技术的评价指标l-seat，并且由表达式(5)定义的统计平均值δ被称为l-seat偏移。

在该实施例中，针对包括再现信号的二进制比特串的关注标记/间隔在内的模式，计算与l-seat偏移相对应的模式偏移量，计算使模式偏移量最小化的记录脉冲的校正量，并且设置记录脉冲条件。

接下来，将描述在实施例中用于从再现信号检测模式偏移以执行自适应记录补偿的处理过程。该实施例的扩展l-seat针对具有较长约束码长且包括多个标记/间隔的每个模式检测偏移，因此该偏移被称为模式偏移，而不是如现有技术中那样的边缘偏移。扩展l-seat是不仅如专利文献2中那样计算标记的开始/结束的边缘偏移量，而且还通过扩展到关注标记的前后侧的间隔和标记来计算偏移量的概念。当调整来自多个记录标记/间隔的布置中的再现信号的记录脉冲的开始位置和/或结束位置时，有必要针对标记与间隔的每个组合来检测模式偏移方向和模式偏移量，以作为模式偏移。

图14示出了用于实施例中的扩展l-seat运算的比特阵列的类型的图。在再现信号的二进制比特阵列中，在注意到以关注边缘为中心的比特模式时，前5t侧和后5t侧的总共10比特的比特阵列被分类为如图14中所示的dba编号1至8的八个模式。所示出的示例示出了用于记录与二进制比特阵列的“0”相对应的标记的标记极性的情况。在这种情况下，与二进制比特阵列的“1”相对应的部分是间隔。在图14中，左侧的表格示出了八种的dba(鉴别器比特阵列)的比特阵列，而右侧的表格示出了通过xor运算生成最短代码距离的比特阵列时的xor掩码比特阵列(xormaskbitarray)，其针对每种dba类型的比特阵列分别向左和向右偏移单个比特。l-target是在向左偏移单个比特时的xor掩码比特阵列(左偏移掩码比特阵列)，r-target是在向右偏移单个比特时的xor掩码比特阵列(右偏移掩码比特阵列)。空白部分是其中不存在最短代码距离的比特串的模式。在下文中，向左的比特偏移被称为“左偏移”，而向右的比特偏移被称为“右偏移”。将光点的行进方向的一侧定义为后侧，而将与行进方向相反的一侧定义为前侧。

当执行扩展l-seat的比较运算时，根据图14中所示的dba类型分类，确定了以关注模式为中心的10比特(10t)的检测比特模式是哪种dba类型，并且因此，确定了右偏移掩码比特阵列和左偏移掩码比特阵列。使用右偏移掩码比特阵列和左偏移掩码比特阵列对检测比特模式执行xor运算，从而计算右偏移比特阵列和左偏移比特阵列。右偏移比特阵列和左偏移比特阵列分别是相对于检测比特模式在左右比特方向上最有可能错误的模式的比特阵列。

图15是用于说明实施例中的扩展l-seat运算处理的示例的图。如图15中所示，本实施例中pr类别的各个系数d1为d1：3、6、9、13、16、17、16、13、9、6和3。也就是说，约束长度为11，并且有11个系数。假设时间点d2在预定信道比特的定时为0，并且每1t增加1。在此，示出了这样的情况：对于图中作为输入数据示出的输入波形d4的各个值，获得了通过维特比解码而获得的上部中所示的解码结果(维特比检测结果)d3。在图15的d3中，0指示标记，1指示间隔，并且1时间点指示1tw的单位。在图15的示例中，在时间点d2＝8至17的维特比检测结果d3是与图14中的dba编号7和图12a中的第一示例的检测比特模式的模式编号11相对应的比特模式。在包括前后时间点在内的时间点d2＝7至18时，比特模式为4t标记-2t间隔-2t标记-4t间隔。在这种情况下，关注边缘是2t标记在时间点d2＝13的开始边缘，并且在目标标记为2t标记且前间隔为2t间隔的情况下，计算目标标记的模式偏移。

通过将各个系数d1：3、6、9、13、16、17、16、13、9、6和3相加为d5＝∑(d1)＝111，可以得到pr类别的最大振幅d5。

如果将输入波形的最大振幅(峰值到峰值)d6设置为d6＝222，并且pr类别的每个系数d1通过d6/d5进行归一化，则归一化之后的pr类别的系数d7为d7＝d1×(d6/d5)＝6，12，18，26，32，34，32，26，18，12，6。维特比检测结果d3的值分别偏移，使得其以0为中心，因此从0校正到-0.5并从1校正到+0.5的值是d8。

接下来，在校正后的维特比检测结果d8中，将包括前后5t的总共11t的各个时间点的维特比检测结果d8的值各自乘以pr类别的系数d7并相加，从而计算出通过对维特比解码结果执行pr均衡处理而获得的理想波形d9。也就是说，在时间点t的维特比检测结果d8为d8(t)，理想波形d9为d9(t)，并且当前时间点为t＝13时，对于t＝8至18和n＝1至11，执行d9(t)＝{d8(t)×d7(n)}的计算，从而获得维特比解码结果的理想波形d9(t)。

随后，使用dba编号7的r-targetd10和l-targetd11对校正后的维特比检测结果d8执行xor运算，从而计算r-target乘积(右偏移比特阵列)d12和l-target乘积(左偏移比特阵列)d13。以与维特比检测结果d8相同的方式分别对r-target乘积d12和l-target乘积d13执行pr均衡处理，并且获得前偏移理想波形d14和后偏移理想波形d15。前偏移理想波形d14和后偏移理想波形d15是分别与向前方向和向后方向上最有可能错误的模式的r-target乘积d12和l-target乘积d13相对应的理想波形。

每个时间点的前偏移理想波形d14与理想波形d9之间的距离d16通过取得两个波形之差的平方d16＝(d14-d9)^2来计算。在此，符号^表示幂。还可以通过与前向偏移中相同的计算来获得每个时间点的后偏移理想波形d15与理想波形d9之间的距离。通过对各个时间点的距离d16进行积分来计算前偏移理想波形d14和理想波形d9之间的平方欧几里德距离d17。

接下来，通过将理想波形d9与输入波形d4之差乘以理想波形d9与前偏移理想波形d14之差，来获得每个时间点的前偏移运算值d18为d18＝(d9-d4)×(d9-d14)。对各个时间点的前偏移运算值d18进行积分以获得前偏移积分值d19。前偏移积分值d19是指示输入波形d4相对于理想波形d9和前偏移理想波形d14在向前方向上的偏移程度的值。通过将理想波形d9与输入波形d4之差乘以理想波形d9与后偏移理想波形d15之差，来获得每个时间点的后偏移运算值d20为d20＝(d9-d4)×(d9-d15)。对各个时间点的后偏移运算值d20进行积分以获得后偏移积分值d21。后偏移积分值d21是指示输入波形d4相对于理想波形d9和后偏移理想波形d15在向后方向上的偏移程度的值。

最后，将前偏移积分值d19与后偏移积分值d21之差除以2，以获得与上式(5)所定义的l-seat偏移δ相对应的l-seat值d22为d22＝(d19-d21)/2。l-seat值d22是指示输入波形d4相对于理想波形d9在向前或向后方向上偏移了多少的值，即指示包括关注记录标记前侧和后侧的标记/间隔在内的记录模式从理想位置在向前或向后方向上偏移了多少的值。l-seat值d22的符号和绝对值分别表示边缘偏移方向和边缘偏移量。当如上式中那样通过从前偏移积分值d19中减去后偏移积分值d21来计算l-seat值d22时，如果l-seat值d22为正，则指示输入波形d4相对于理想波形d9向右偏移，即包括关注记录标记前后侧的标记/间隔在内的记录模式从理想位置在向后方向上偏移。如果l-seat值d22为负，则指示输入波形d4相对于理想波形d9向左偏移，即包括关注记录标记前后侧的标记/间隔在内的记录模式从理想位置在向前方向上偏移。然后，通过前偏移理想波形d14和理想波形d9之间的平方欧几里德距离d17对l-seat值d22进行归一化，并且通过d23＝d22/d17来计算归一化的l-seat值d23。归一化的l-seat值d23可以被表示为百分比。通过这样的l-seat运算，计算输入波形d4和理想波形d9、前偏移理想波形d14、后偏移理想波形d15之差，并且可以检测输入波形d4相对于理想波形d9的模式偏移。

图16是示出实施例中的扩展l-seat运算的处理结果的示例的图。图16是示出了图15中所示的l-seat运算中的输入波形d4(图中的x和实线)、理想波形d9(图中的菱形和虚线)、前偏移理想波形d14(图中的正方形和断续线)、后偏移理想波形d15(图中的三角形和两点划线)的各个时间点的信号电平值的图。在图16中的曲线下方示出了与输入波形d4相对应的标记m1和与理想波形d9相对应的标记m0。通过上述扩展l-seat运算，计算出标记m1与标记m0的模式之差(模式偏移)作为表示模式偏移量的l-seat值d22(即，seat偏移δ)。所示示例示出了与输入波形d4相对应的标记m1相对于与理想波形d9相对应的标记m0在向后方向上偏移了模式偏移量δ的情况。在这种情况下，通过设置记录脉冲的校正量并校正记录模式的位置，使得包括标记m1的记录标记和间隔在向前方向上偏移模式偏移量δ，可以获得基本上与理想波形d9匹配的再现信号。

对于图12a至图12d的第一示例或图13a至图13d的第二示例中的检测比特模式的每种分类，以相同的过程执行如上所述的模式偏移检测，从而计算每种分类中的比特模式的模式偏移量。此时，针对检测比特模式的每种分类，对于关注记录标记与前后间隔长度的组合的每个模式编号，分别计算模式偏移量。基于针对每种分类获得的模式偏移量来计算每种分类的检测比特模式中的记录脉冲的校正量。作为记录脉冲的校正量，如参考图11所描述的，执行测试写入以检测模式偏移量，并且通过预定算法来获得使模式偏移量等于或小于预定值的校正量。关于记录脉冲的开始位置(开始边缘)，对于检测比特模式的每种分类，包括校正量而设置定义开始位置的参数dttop和ttop。关于记录脉冲的末端位置(末端边缘)，对于检测比特模式的每种分类，包括校正量而设置定义结束位置的参数dtc、tlp和dts。关于记录脉冲的校正量，可以设置每个参数的参考值，并且可以针对比特模式的每种分类来设置差的校正量。

(实施例的处理结果的示例)

接下来，将描述在使用实施例的自适应记录补偿时减小错误率的效果。在下文中，将示出扩展l-seat计算结果和错误率检测结果的示例，扩展l-seat计算结果和错误率检测结果是通过进行如下实验而获得的：使用配备有具有本发明实施例中所描述的参数的光学系统、信号处理系统和记录系统的光盘评价装置，以8倍速(时钟频率为491mhz)实际上对500gb密度的3层盘的l0层执行记录和再现。

图17是示出了通过扩展l-seat运算计算出的模式偏移量的分布的示例的图。图17的上部示出了当单独获得4t标记前侧的6t间隔(6ts)、7t间隔(7ts)、8t间隔(8ts)和9t间隔(9ts)中的每个间隔长度中的模式偏移量时的直方图分布。由直方图的xi(i＝6，7，8，9)指示的部分表示直方图的平均值相对于每个t的窗口中心(检测窗口中心)的偏移量。在所示示例中，在4t标记的前侧的6t间隔(x6)的情况下，检测到4t标记的开始位置具有负(向前方向)的模式偏移，在前侧的7t间隔(x7)的情况下，检测到4t标记的开始位置具有其代表值接近零的模式偏移，并且在前侧的8t间隔(x8)和9t间隔(x9)的情况下，检测到4t标记的开始位置具有正(向后方向)的模式偏移。图17的下部示出了在对4t标记的前侧的6t以上(≥6ts)的间隔进行间隔长度聚合并且获得模式偏移量的情况下的分布。当集中设置6t以上的间隔的间隔长度(x6m)时，通过累积间隔6ts至12ts的每个模式偏移的分布来获得分布，并且检测到代表值接近零的模式偏移。因此，对于6t以上的间隔长度，在不对间隔6ts、7ts、8ts、9ts、……的间隔长度进行分类的情况下，在通过将6t以上的间隔长度合在一起进行分类来执行模式偏移检测和记录脉冲条件设置时，前间隔6ts、8ts、9ts、10ts、……可能由于劣化而偏离理想位置，并且可能无法适当地执行记录补偿。

因此，在实施例中，即使对于6t以上的标记长度和间隔长度，也针对每个标记长度或间隔长度执行精细分类，并且针对每种分类执行模式偏移检测和记录脉冲条件设置。当记录游程长度为2t至12t的标记和间隔时，从本申请的发明人的实验结果中发现，特别是在包括间隔长度为6t以上的前间隔在内的比特模式中，每个间隔长度的模式偏移量逐渐增加，并且错误率增加。在这种情况下，在与8t至12t的间隔有关的比特模式中经常发生错误。因此，根据标记长度和间隔长度精细地执行分类，使得目标标记长度和前间隔长度被精细地分类为例如2t、3t、4t、5t、6t、7t、以及8t以上，并且更优选的是，将8t以上的标记和间隔长度进一步分类为8t、9t、10t、以及11t以上，并且针对每种分类设置记录脉冲条件。结果是，可以优化记录脉冲，并且可以实现适当的记录补偿。

图18是示出了实施例的示例中的光盘装置中的信道比特错误率检测结果的图。图19是示出了比较例的光盘装置中的信道比特错误率检测结果的图。在图18和图19中，垂直轴指示信道比特错误率(cber)，gr(iso)指示仅记录在凹槽上的孤立凹槽轨道的错误率，gr(g＞l)指示先在凹槽上记录之后，在已记录的凹槽之间的岸地轨道上记录(凹槽先记录)的状态下的凹槽轨道(相邻已记录凹槽)的错误率，la(iso)指示仅记录在岸地上的孤立的岸地轨道的错误率，并且la(g＞l)指示先在凹槽上记录之后，在已记录的凹槽之间的岸地轨道上记录(凹槽先记录)的状态下的岸地轨道(相邻已记录岸地)的错误率。图18和图19是其中以作为光盘的记录数据单元的rub(记录单元块)为单位对四个rub执行记录并检测错误率的示例。1rub至4rub指示各个块中的信道比特错误率。

图18中所示的实施例的示例是分别针对间隔长度2ts、3ts、……、11ts和12ts执行精细分类并针对每种分类执行模式偏移检测和记录脉冲条件设置的示例。在该示例中，获得了良好的结果，其中在岸地和凹槽记录状态下，凹槽轨道的4个rub的信道比特错误率的平均值为5.6×10^-4，并且在相同的记录状态下，岸地轨道的4个rub的信道比特错误率的平均值为4.9×10^-4。与此相对，图19中所示的比较例是分别对间隔长度2ts、3ts、4ts、5ts、以及6ts以上执行分类并针对每种分类执行模式偏移检测和记录脉冲条件设置的示例。在比较例中，存在无法如参考图17所述的那样执行适当的记录补偿的情况，因此在岸地和凹槽记录状态下，凹槽轨道的错误率为9.2×10^-4，并且在相同记录状态下，岸地轨道的错误率为7.2×10^-4。在该示例中，岸地和凹槽记录状态下的错误率是比较例的岸地和凹槽记录状态下的错误率的0.60至0.68倍，可以减小到约2/3。在仅记录凹槽和仅记录岸地的情况下，可以在几乎无错误的状态下降低错误率。

除了实施例的扩展l-seat运算之外，还可以使用作为扩展mlse(最大似然序列错误)的d-mlse作为解码数据的抖动的评价指标，并且根据d-mlse的计算结果，适当设置诸如记录脉冲的校正量等的记录脉冲条件。

如上所述，实施例涉及一种光盘记录方法和光盘装置，其中通过用光束照射光盘101来在介质上形成多个标记，并且使用每个标记和两个相邻标记之间的间隔的边缘位置来记录信息。在光盘记录方法中，通过记录模式生成单元111，通过根据调制码对记录数据进行编码来生成与标记和间隔相对应的二进制编码数据，并且通过记录脉冲条件计算单元110，关于编码数据中的标记和间隔的游程长度，如果关注标记是目标标记，则根据目标标记的标记长度、目标标记前侧的前间隔的间隔长度、目标标记前侧的前标记的标记长度、以及目标标记后侧的后间隔的间隔长度中的至少两个游程长度的组合，对编码数据进行分类。通过prml处理单元108，通过prml方式的最大似然解码对通过再现与编码数据相对应的标记和间隔而获得的再现信号进行解码，通过偏移检测单元109，基于prml方式的解码结果来计算指示用于形成标记的记录脉冲的开始边缘和结束边缘的偏移程度的评价指标。通过记录脉冲条件计算单元110，对于编码数据的游程长度的每种分类，基于计算出的解码结果的评价指标来设置用于调整记录脉冲的开始边缘和结束边缘的位置的各个校正量。通过记录补偿单元112，使用根据编码数据的游程长度的分类的校正量，来生成根据记录数据的编码数据的记录脉冲。通过激光驱动单元113，光束的功率随着记录脉冲而以多级改变，并且通过光照射单元102，通过用光束照射光盘101来在光盘101的介质上形成根据记录数据的标记。在这种情况下，通过最大码长为11t以上的调制码来生成编码数据，并且包括最小游程长度为2t且最大游程长度为11t以上的代码阵列，并且作为prml方式的最大似然解码的类别的约束长度为11以上。解码结果的评价指标是通过扩展l-seat运算得到的评价指标，在该扩展l-seat运算中，使用通过约束长度为11以上的最大似然解码得到的再现信号的解码结果的二进制比特阵列，并使用通过将所述二进制比特阵列分别向右和向左偏移单个比特而获得的右偏移比特阵列和左偏移比特阵列中的至少一个，来计算l-seat值，该l-seat值表示关注记录标记的预定范围内的模式的向前方向或向后方向上的偏移量。在编码数据的分类中，根据目标标记的标记长度分别针对游程长度2t、3t、4t、5t、6t、7t、以及8t以上执行分类，并且针对每种分类设置校正量。

为了通过上述结构进一步增加光盘密度，针对2t至8t的标记长度和间隔长度执行精细分类，设置在形成记录标记时的记录脉冲的开始位置和结束位置的校正量，从而可以减少符号间干扰和热干扰，并且可以充分减小再现期间的错误率。此外，使用最大码长为11t以上的调制码来生成编码数据，并且该编码数据包括最小游程长度为2t且最大游程长度为11t以上的代码串，因此可以改善记录标记的再现信号的snr。此外，prml方式的最大似然解码的约束长度增加到11以上，并且例如，在再现信号中，使用具有前5t和后5t的包括关注比特在内的比特阵列来执行prml方式的最大似然解码和评价指标的计算，从而可以从包含无法光学分离的2t、3t的较短标记和间隔的再现信号中读取数据，并且可以减小读取错误率。

在编码数据的分类中，可以根据目标标记的标记长度分别针对游程长度2t、3t、4t、5t、6t、7t、8t、9t、10t、以及11t以上执行分类，以针对每种分类设置校正量。因此，可以通过单独对较长的标记长度或间隔长度执行分类来进一步降低错误率。

关于通过prml方式的最大似然解码得到的解码结果的评价指标，例如，使用了通过下述扩展l-seat运算得到的评价指标。在扩展l-seat运算中，波形均衡单元105和a-d转换单元106获得再现信号的输入波形，并且prml处理单元108通过根据prml方式对再现信号进行解码来获得二进制比特阵列的解码结果。偏移检测单元109基于解码结果来获得再现信号的理想波形，获得通过将解码结果的二进制比特阵列左右偏移单个比特而分别获取到的右偏移比特阵列和左偏移比特阵列中的至少一个，并且获得与右偏移比特阵列相对应的前偏移理想波形和与左偏移比特阵列相对应的后偏移理想波形中的至少一个。在获取前偏移理想波形时，偏移检测单元109使用理想波形与输入波形之差以及理想波形与前偏移理想波形之差，对各个时间点的前偏移量进行积分，以获得前偏移积分值。在获取后偏移理想波形时，偏移检测单元109使用理想波形与输入波形之差以及理想波形与后偏移理想波形之差，对各个时间点的后偏移量进行积分，以获得后偏移积分值。偏移检测单元109计算与前偏移积分值与后偏移积分值之差成比例的l-seat值。如上所述，通过使用基于扩展l-seat运算得到的评价指标来计算记录脉冲的开始边缘和结束边缘的模式偏移量，可以适当地检测由于符号间干扰和热干扰而引起的偏移量。对于标记长度和间隔长度的每种分类，根据检测到的模式偏移量来获得并设置用于将l-seat值设置为预定值以下的记录脉冲的校正量，并且执行自适应记录补偿。结果是，即使对于解码错误的概率较高的比特模式，也可以充分降低再现时的错误率。

在编码数据中，将最短游程长度2t的连续数量设为2以下。这样，通过限制最短游程长度的连续数量，可以减少编码数据的比特模式中的2t的出现频率，从而可以抑制再现信号的振幅的减小。因此，可以减小包括各自具有较短游程长度的标记和间隔的信号的读取错误率，并且可以改善读取性能。

在实施例的描述中使用的每个功能块通常被实现为作为集成电路的lsi。这些功能块可以各自被制成一个芯片，或者可以被制成单个芯片从而包括部分或全部功能块。尽管在这种情况下集成电路是lsi，但是根据集成度，集成电路可以被称为ic、系统lsi、超级lsi或超lsi。

电路集成的方法不限于lsi，并且可以通过专用电路或通用处理器来实现电路集成。可以使用在制造lsi之后可以编程的现场可编程门阵列(fpga)或可以重新配置lsi内部的电路单元的连接和设置的可重新配置处理器。

如果由于半导体技术的进步或源自半导体技术的其他技术而出现了代替lsi的集成电路技术，则自然也可以使用该出现的集成电路技术来集成功能块。关于这样的集成电路技术，使用生物技术的技术等是可能的。

与编码数据的游程长度的分类有关的信息(诸如实施例的自适应记录补偿中的标记长度和间隔长度的分类数量)可以预先记录在光盘的预定区域中。可以预先将诸如针对每种分类设置的记录脉冲的校正量之类的记录脉冲条件记录在光盘的预定区域中。预定区域可以是光盘的内周上的导入区域的初始值记录区域1003(参见图2)或光盘装置中的存储器。这使得能够根据光盘的特性来校正记录脉冲条件，而无需执行不必要的调整步骤。当预先知道自适应记录补偿的分类和针对每种分类的记录脉冲的校正量时，可以减少调整时间，并且可以有效地改善记录标记的信号质量。

在光盘装置中，在针对特定光盘获得并学习了诸如每种分类的记录脉冲的校正量之类的记录脉冲条件之后，可以将这样设置的记录脉冲条件记录在预定区域中。预定区域可以是光盘内周上的导入区域的初始值记录区域1003，或者可以是以pc的驱动器中的固件的形式存储在光盘装置中的诸如eeprom之类的非易失性存储器中的区域。这使得能够根据光盘装置或光盘的特性来校正记录脉冲条件，而无需在下次启动时执行不必要的调整步骤。当以这种方式预先知道自适应记录补偿的分类和针对每种分类的记录脉冲的校正量时，可以减少调整时间，并且可以有效地改善记录标记的信号质量。

实施例的光盘装置包括将光束照射到光盘上以再现信息的再现单元以及再现步骤(光盘再现方法)。光盘装置还可以包括用于读取记录在光盘的预定区域(例如，初始值记录区域1003或bca)中的记录脉冲条件的读取单元以及读取步骤。诸如写入策略或功率之类的记录参数可以链接到被称为bca介质类型id的代码。在再现处理中，这也使得可以根据光盘的特性来校正记录脉冲条件，而无需在下次启动时执行不必要的调整步骤。当以这种方式预先知道自适应记录补偿的分类和针对每种分类的记录脉冲的校正量时，可以减少调整时间，并且可以有效地改善记录标记的信号质量。

在实施例中，已描述了pr(3，6，9，13，16，17，16，13，9，6，3)作为prml方式的最大似然解码中的pr类别的示例，但是不限于此。pr类别可以是能够实现本发明的prml方式的组合的选择。

在实施例中，实现了光盘记录方法，但是可以将包括记录/再现操作的方法实现为光学记录/再现方法。

尽管已参考附图描述了各种实施例，但是不言而喻的是，本公开不限于这样的实施例。显然，本领域技术人员可以在权利要求的范围内构思各种改变或修改，并且应理解的是，这样的各种改变等自然地属于本公开的技术范围。在不脱离本发明的精神的情况下，可以任意组合上述实施例中的各个组成元件。

本申请基于2018年3月9日递交的日本专利申请(第2018-043235号)，其内容通过引用并入本文中。

工业实用性

本公开用作可以针对光盘密度的进一步增加而减少光学符号间干扰和热干扰的光盘记录方法、光盘装置和集成电路。

附图标记列表

102光照射单元

103前置放大器单元

104agc单元

105波形均衡单元

106a-d转换单元

107pll单元

108prml处理单元

109偏移检测单元

110记录脉冲条件计算单元

111记录模式生成单元

112记录补偿单元

113激光驱动单元。