确定可写入光存储介质的检测写入参数的方法和装置的制作方法

文档序号:6748755阅读:202来源:国知局
专利名称:确定可写入光存储介质的检测写入参数的方法和装置的制作方法
技术领域
本发明涉及一种用于可写入光存储介质的记录/重放装置,并且尤其涉及的是基于根据其制造商实验确定的用于可写入光存储介质的最佳检测写入参数来优化用于可写入光存储介质的写入的写入参数(例如,写入光功率、写入光束轮廓(或写入的策略)),通过联系代表可写入光存储介质的制造商的数据和对应于介质制造商的最佳检测写入参数,并且在把输入信号写入到可写入光存储介质中之前,判断对应于可写入光存储介质的制造商,设定对应于其的最佳检测写入参数,并基于执行应用这样设定的最佳检测写入参数的优化过程而得到的结果相应地来确定对于这种介质的最佳写入参数。


图1表示常规可写入光存储介质记录/重放装置的结构,其中该装置包括将输入的模拟信号转换成数字信号的A/D转换器20;把来自A/D转换器20的数字信号进行编码成为MPEG格式信号的MPEG编码器30;通过增加误差纠错码(ECC)把编码的信号转换为可写入格式的数字写入信号处理单元70a;用来把转换为可写入格式的信号转换为位流的信道位编码器80;用来接收来自信道位编码器80的信号并输出光含量驱动信号的LD(激光二极管)驱动单元81;用来把输入信号写入到可写入光存储介质10中或根据光含量驱动信号探测被写入信号的拾取单元11;用来驱动拾取单元11和主轴电机91的驱动单元90;用来接收拾取单元11探测到的信号并输出滤波和整形信号的R/F单元100;伺服单元110,基于拾取单元11的寻道误差信号TE,聚焦误差信号FE,和可写入光存储介质10的旋转控制驱动单元90的驱动操作,并探测R/F单元100的输出信号的同步状态;数字重放信号处理单元70b,用来基于探测到的同步信号来接收来自滤波和整形信号的压缩写入数据;MPEG解码器120,对压缩数据进行解码、将其转换为视频和音频信号并将其输出;以及微型计算机60,控制记录/重放装置的操作。
可写入光存储介质记录/重放装置的操作将参考附图进行解释。
首先,当信号KEYSIG被输入到微型计算机60而要求加载到输入端的输入信号INPUT的写操作时,微型计算机60经伺服单元110和驱动单元90控制拾取单元11从而使得可写入光存储介质10上写入的写入光功率值Pind在输入信号INPUT被写入到可写入光存储介质之前被读出。在可写入光存储介质10是可重写介质如可重写致密盘(CD-RW)的情况下,如图2所示,写入光功率值Pind以可写入光存储介质10的引入区的预制槽绝对时间(Absolute Time In Pre-Groove)(ATIP)信号格式在专用信息字段的M1信息字节处以3位W1,W2和W3的数据形式被写入。
当写入光功率值Pind从数据W1,W2和W3被读出时,微型计算机60经数字写入信号处理单元70a把检测数字数据(例如,101010....)输出到信道位编码器80,并且信道位编码器80把从数字写入信号处理单元70a输出的数字位流转换为用于写入可写入光存储介质10的信号格式,然后把转换后的信号加载到LD驱动单元81。
如图3所示,微型计算机60可变地把调整信号加载到LD驱动单元81从而光功率的幅值基于写入光功率值Pind产生的参考写入光功率(例如Pref=8mW)在一定范围Pref+a,Pref-a内变化。LD驱动单元81基于对应于调整信号的光驱动电流输出检测数字数据,拾取单元11把检测数字数据写入可写入光存储介质10的检测写入区域。这里,在装载的可写入光存储介质10为可重写介质如CD-RW的情况下,如图4A所示,检测写入区形成在PCA(功率标定区)中。尤其,如图4B所示,微型计算机60使得检测数字数据被写入到可重写光存储介质的检测写入区并且把特定信息写入PCA区的计数区B,从而通过控制拾取单元11而识别检测数字数据的写入数。
随着LD驱动电流逐渐变化,在检测数字数据被写入检测区域A而区域A中数据的写入数被写入可写入光存储介质10的PCA的计数区B的情况下,微型计算机60控制拾取单元11,并且拾取单元11读出在PCA区的检测区写入的检测数据。微型计算机60使得R/F单元100对拾取单元11读出的重放信号进行滤波和整形,并连续探测经伺服单元110而与重放信号相位同步化的时钟信号的抖动量。微型计算机60探测最佳的写入光功率(图3中Pop),通过该最佳功率在时钟信号被探测到抖动最小时写入检测数字数据。
当最佳的写入光功率Pop被确定时,模拟信号如外部输入的视频或音频信号被输入到A/D转换器20以在可写入光存储介质10上进行写入操作。在这种状态下,A/D转换器20把输入的信号转换为数字信号,MPEG编码器30基于MPEG方法对数字信号进行编码。数字写入信号处理单元70a通过给编码的信号增加编码和纠错奇偶校验码产生误差纠错码(ECC)模块以在向可写入光存储介质10写入编码信号时增强可靠度,并把产生的代码输出给信道位编码器80。信道位编码器80把从数字写入信号处理单元70a输出的数字位流数据转换为脉冲宽度调制信号格式来写入到可写入光存储介质10。
因此,微型计算机60应用最佳光驱动电流控制LD驱动单元81使得脉冲宽度调制信号基于在上述操作期间探测到的最佳写入光功率被写入可写入光存储介质10。LD驱动单元81基于最佳光驱动电流把脉冲宽度调制信号加载到拾取单元11,并且脉冲宽度调制信号被写入可写入光存储介质10的用户数据记录区。
但是,在探测到最佳写入光功率并且输入信号被写入的情况下,会在可写入光存储介质制造装置和把输入信号写入到可写入光存储介质并从中重放信号的记录/重放装置之间产生光功率的某种偏差,这是由于系统的电路特性和可写入光存储介质的特性决定的。例如,可能会在对于可写入光存储介质制造装置适用于可写入光存储介质的参考光功率与对于各个记录/重放装置来确定可写入光存储介质的写入光功率的参考光功率之间发生某种偏差。在制造可写入光存储介质时在最佳写入状态下所采用的参考光功率可能由于上述偏差而与为用于记录/重放装置而提供最佳写入状态的参考光功率不对应。在制造某可写入介质时所测得的最佳写入状态可能是例如5mW的参考光功率。但是,对于记录/重放装置,对于上述介质的最佳写入状态可能是11mW的光功率值。在这种情况下,甚至在基于5mW的参考光功率值而改变光功率值来执行最佳写入光探测过程时,由于改变光功率值的步骤(例如增加0.3mW的15步骤)是有限的,对于记录/重放装置,不可能达到可写入光存储介质的最佳写入状态的11mW。
因此,当制造可写入光存储介质时,甚至在制造可写入光存储介质期间基于设定的参考光功率而执行最佳光写入功率探测过程时,记录/重放装置也不可能探测到最佳写入光功率。
相应地,本发明的一个目的是提供一种最佳光写入状态探测和存储方法及应用这种方法的光写入装置,其能判断制造商所制造的可写入光存储介质的最佳光写入状态,基于可写入光存储介质的制造商把最佳状态存储到某存储单元,当向某可写入光存储介质写入输入信号时判断可写入光存储介质的制造商,从存储单元读出对应于制造商的最佳写入状态,基于读出的最佳写入状态探测最佳写入光功率并基于最佳写入光功率写入输入信号。
本发明的另一目的是提供一种最佳写入状态探测和存储方法及应用它们的写入方法,其能通过可写入光存储介质的制造商的制造公司判断最佳光写入状态,基于可写入光存储介质的制造商把最佳状态存储到某存储单元,当向某可写入光存储介质写入输入信号时判断可写入光存储介质的制造商,从存储单元读出对应于制造商的最佳写入状态,并基于读出的最佳写入状态探测最佳写入光功率。
为实现上述目的,提供一种用于根据本发明的可写入光存储介质的最佳写入状态探测和存储方法,其包括第一步,用来在依据可写入光存储介质的制造商而不同的某可写入光存储介质处改变写入光束的能量含量并把特定数据写入该可写入光存储介质的特定区域;第二步,用来重放写入的数据并基于重放信号的特性来探测对于制造商而言的最佳光能含量;和第三步,当在第二步探测到最佳写入光能含量时用来基于各个制造商的特定数据来存储最佳写入光能含量。
为实现上述目的,提供一种用于根据本发明的可写入光存储介质的写入光功率调整装置,其包括存储单元,用来基于可写入光存储介质的制造商而相对于某可写入光存储介质存储最佳写入光能含量;判断单元,用来判断可写入介质的制造商;光写入单元,用来把输入信号写入到该可写入光存储介质;和光写入单元,用来读出对应于从最佳写入光能含量判断得到的制造商的光写入能量含量并基于最佳写入光能含量应用光写入单元来写入输入信号。
本发明另外的优点、目的和特征从如下的描述将更加明显。
本发明从下面给出的具体描述和附图将更能得到全面理解,附图只是图示本发明,并不构成对发明的限制,其中图1是表示常规可写入光存储介质记录/重放装置的结构的方块简图;图2是表示在现有技术中被写入可写入光存储介质的光功率值的数据格式的视图;图3是表示基于参考写入光功率值在写入检测数字数据来探测最佳写入光功率时光功率变化过程的曲线图;图4A表示用于最佳写入光功率探测的形成在盘片上的写入信号检测区的视图;图4B是表示PCA区的视图5是表示根据本发明的可写入光存储介质记录/重放装置的结构的方块简图;图6是表示用于根据本发明的可写入光存储介质的最佳写入状态探测和存储方法的流程图;图7是表示用于基于根据本发明的最佳写入状态的可写入光存储介质的写入光功率调整方法的流程图;图8A和8B是分别表示写在可写入光存储介质上的引入和引出开始时间数据的视图。
下面说明用于根据可写入光存储介质的制造商对其进行的最佳写入状态探测和存储方法及应用根据本发明的最佳写入状态的最佳写入光功率探测调整装置。
图5表示根据本发明的可写入光存储介质记录/重放装置,其除了具有与存储器601连接的微型计算机600之外,与图1中的常规记录/重放装置具有相同的结构,该存储器存储大量的可写入光存储介质的制造公司的信息和与可写入光存储介质的制造商一致的最佳写入状态的信息。
根据本发明的可写入光存储介质记录/重放装置从某可写入介质的特定区域读出该可写入光存储介质的特定信息,判断可写入介质的制造商,确定对应于来自存储器601的这样判断得到的制造商的最佳写入状态,并且基于这样判断得到的最佳写入状态搜索最佳写入光功率。
根据本发明的可写入光存储介质记录/重放装置的操作将参考附图进行描述。
图6是表示最佳写入状态探测的步骤和把该最佳写入状态存储到某存储器601中的流程图。当可写入光存储介质10在步骤S01被插入光存储介质记录/重放装置中时,在步骤S02微型计算机600从在拾取单元11通过控制伺服单元110和驱动单元90访问可写入光存储介质10时探测到的聚焦误差信号FE判断可写入光存储介质(例如,CD-R或CD-RW)的类型。
接着,在步骤S03依据可写入光存储介质10的制造商不同而不同的特定信息数据从可写入光存储介质10读出。依据制造商不同而不同的信息数据在可写入光存储介质10为CD-R情况下通过从可写入光存储介质10读出预先记录的引入时间而进行判断,在可写入光存储介质为CD-RW情况下通过读出预先记录的引出时间而进行判断。这里信息数据以分钟、秒和帧的时间数据格式被存储在可写入光存储介质10的引入区或引出区的sub-Q信息字段,此时,可写入光存储介质10是可记录介质(例如,CD-RW,CD-R等),如图8A和8B所示。
当拾取单元11读出写入的时间数据并把高频信号输出给数字重放信号处理单元70b时,数字重放信号处理单元70b把高频信号转换为数字数据并执行8到14调制(EFM)和ECC解码操作而且把EFM调制和ECC解码操作结果传送到微型计算机600。在步骤S04微型计算机600从解码处理期间获得的时间数据探测标识码(例如,表示介质制造商的代码等)并在步骤S05将标识字符暂时存储起来。
接着,微型计算机600控制LD驱动单元81以使光能含量(写入功率电平和写入策略)逐渐变化并且检测数字数据被写入可写入光存储介质的特定区域。此后,微型计算机600探测具有良好重放特性的最佳光能含量(或最佳写入状态)并将探测到的最佳光能含量存储到存储器601。
上述操作对应于不同的介质制造商的可写入光存储介质而执行,并且最佳光能含量(或最佳写入状态)在步骤S06被探测。如下表1和2所示,探测到的最佳光能含量(或最佳写入状态)在步骤S07根据可写入介质的制造商而被存储在特定存储单元。
表1(在CD-R的情况下单倍速)<
>表2(在CD-RW的情况下2倍速)<
>这样存储的信息在制造用于可写入光存储介质的记录/重放装置时被用作相对于可写入光存储介质的最佳光能含量(或最佳写入状态)的信息并被存储在记录/重放装置的存储单元。
这里表1表示基于1倍速度的可写入光存储介质(CD-R)的制造商和与其对应的时间数据,表2表示基于2倍速度的可重写光存储介质(CD-RW)的制造商和与其对应的时间数据。在本发明中,表1和2的数据包括最佳光能含量,尤其是功率电平。
图7表示用于根据本发明的可写入光存储介质的最佳光能含量调整方法。微型计算机600接收来自拾取单元11的FE信号并在步骤S10判断可写入光存储介质是否被装载到可写入光存储介质记录/重放装置中。如果被装载上,微型计算机600接收R/F单元100输出的信号并在步骤S11确定可写入光存储介质的类型。
接着,微型计算机600控制伺服单元110和驱动单元81,拾取单元11读出对应于写在可写入光存储介质的特定区域中的可写入光存储介质的特定信息的时间数据,从而可能从数字重放信号处理单元70b恢复的信号来识别制造商的时间数据。微型计算机600搜索以基于图6的处理过程所产生的表1或2中所示的格式存储在存储器601中的可写入光存储介质的制造商的时间数据,并在步骤S13判断可写入光存储介质的制造商。
在被插入的可写入光存储介质10的制造商被判断出来后,最佳光能含量(或最佳写入状态)在步骤S14从存储单元601读出。
微型计算机600在步骤S15根据基于作为参考开始点的最佳光能含量(或最佳写入状态)的能量含量增加通过变化写入光功率执行最佳写入光功率探测过程,并探测可写入光存储介质的最佳写入光功率。
不考虑与可写入光存储介质的制造商一致的可写入光存储介质的特性偏差而得到最佳写入光功率后,微型计算机600把对应于最佳写入光功率的控制信号加载到LD驱动单元81并且在步骤S16把对应于该控制信号的驱动电流经LD驱动单元81加载到拾取单元11。
由A/D转换器20转换的输入信号由MPEG编码器30编码为MPEG格式并被数字信号处理单元70a和信道位编码器80改变为相应的位流格式。此后,位流数据被拾取单元11写入可写入光存储介质10的用户数据记录区。
如上所述,在根据本发明的与可写入光存储介质的制造商一致的最佳写入状态探测和存储方法和应用其的写入光功率探测调整装置及方法中,可写入的介质的制造商和对应于制造商的可写入介质的最佳写入状态被探测到并存储在可写入光介质记录/重放装置的存储器中。当把输入信号写入可写入光存储介质时,被插入在可写入光存储介质记录/重放装置的可写入光存储介质的制造商由微型计算机判断。最佳写入状态基于可写入光存储介质的制造商来探测,并且最佳写入光功率基于最佳写入状态得到,并且输入信号基于最佳写入光功率被记录在可写入光存储介质的程序区。因此,在本发明中,无论可写入光存储介质的制造商是谁都可能通过防止根据可写入光存储介质的制造商的可写入光存储介质的特性偏差而引起的最佳写入光的非探测现象而把输入信号写入可写入光存储介质,并且可能从可写入光存储介质的用户数据记录区重放记录的信号而不出现误差。
尽管本发明的优选实施例的揭示只是为了说明的需要,本领域的专业人员可以理解在不脱离后附权利要求所列举的范围和精神的情况下可对其进行各种修改、增加和替代。
权利要求
1.一种确定用于可写入光存储介质的写入的制造商指定的检测写入参数的方法,包括探测包含在可写入光存储介质中的唯一指定可写入光存储介质的各自的制造商的信息;和通过应用对应于探测到的信息的预定制造商指定的最佳检测写入参数来检测向可写入光存储介质的写入操作,执行可写入光存储介质上的写入参数的优化,从而确定用于向可写入光存储介质进行写入的优化的写入参数。
2.如权利要求1的方法,还包括确定用于多个不同制造商制造的可写入光存储介质的最佳检测写入参数,以确定对应于各个制造商的可写入光存储介质的制造商指定最佳检测写入参数。
3.如权利要求2的方法,包括把所确定的对应于各个制造商的可写入光存储介质的制造商指定最佳检测写入参数与可写入到可写入光存储介质并可从那里探测的唯一指定其各自的制造商的信息相联系。
4.如权利要求1的方法,其中包含在可写入光存储介质中的唯一指定其各自的制造商的信息是时间代码。
5.一种确定用于可写入光存储介质的写入的制造商指定的检测写入参数的方法,包括探测包含在可写入光存储介质中的唯一指定可写入光存储介质的各自的制造商的信息;和设定对应于探测到的信息的预定制造商指定的最佳检测写入参数。
6.如权利要求5的方法,还包括通过应用设定的最佳检测写入参数来检测向可写入光存储介质的写入操作,以执行可写入光存储介质上的写入参数的优化,从而确定用于向可写入光存储介质进行写入的优化的写入参数。
7.如权利要求5的方法,还包括确定用于多个不同制造商制造的可写入光存储介质的最佳检测写入参数,以确定对应于各个制造商的可写入光存储介质的制造商指定最佳检测写入参数。
8.如权利要求7的方法,还包括把所确定的对应于各个制造商的可写入光存储介质的制造商指定最佳检测写入参数与包含在可写入光存储介质中的唯一指定其各自的制造商的信息相联系。
9.如权利要求5的方法,其中包含在可写入光存储介质中的唯一指定其各自的制造商的信息是时间代码。
10.一种确定用于可写入光存储介质的写入的制造商指定的检测写入参数的方法,包括探测写入在可写入光存储介质中的指定可写入光存储介质的各自的制造商的信息;和设定对应于探测到的信息的预先确定的制造商指定的最佳检测写入参数,用于检测可写入光存储介质的写入操作;应用预先确定的制造商指定的检测写入参数,执行可写入光存储介质上的写入参数的优化,来确定用于向可写入光存储介质进行写入的最佳写入参数。
11.如权利要求10的方法,还包括确定用于多个不同制造商制造的可写入光存储介质的的最佳检测写入参数,以确定对应于各个制造商的制造商指定最佳检测写入参数。
12.如权利要求11的方法,其中写入在可写入光存储介质中的指定其各自的制造商的信息是时间代码。
13.一种确定用于可写入光存储介质的写入的制造商指定的检测写入参数的装置,包括光存储介质读出器,能够探测包含在可写入光存储介质中的唯一指定可写入光存储介质的各自的制造商的信息;存储器,存储对应于由多个不同制造商制造的可写入光存储介质的预定制造商指定最佳检测写入参数,并且将其与唯一指定对应于这种最佳检测写入参数的各个可写入光存储介质的制造商的信息相联系;和控制器,与光存储介质读出器、存储器和光存储介质写入器的每一个耦合操作,控制光存储介质读出器以从可写入光存储介质探测包含在其中的唯一指定该可写入光存储介质的制造商的信息,并通过应用存储的预先确定的对应于探测到的信息的制造商指定的最佳检测写入参数来检测向可写入光存储介质的写入操作,来控制光存储介质写入器执行可写入光存储介质上的写入参数的优化,从而确定用于向光存储介质进行写入的最佳写入参数。
14.如权利要求13的装置,其中包含在可写入光存储介质中的唯一指定其各自的制造商的信息是时间代码。
15.一种确定用于可写入光存储介质的写入的制造商指定的检测写入参数的装置,包括存储装置,用于存储分别对应于由多个不同制造商制造的可写入光存储介质的预定制造商指定最佳检测写入参数,用于各个可写入光存储介质的预定最佳检测写入参数与唯一标识其对应制造商的相关标识信息一起被存储;探测装置,用于探测包含在可写入光存储介质中的唯一指定可写入光存储介质的各自的制造商的信息;装置,通过应用存储的对应于探测到的信息的预定制造商指定的最佳检测写入参数来检测向可写入光存储介质的写入操作,以执行可写入光存储介质上的写入参数的优化。
16.如权利要求15的装置,其中包含在可写入光存储介质中的唯一指定其各自的制造商的信息是时间代码。
全文摘要
本发明涉及一种确定制造商指定检测写入参数来向与介质制造商一致的可写入光存储介质进行写入的方法和装置,该参数由实验确定并被存储在特定存储单元中,基于确定的最佳检测写入参数来确定最佳写入光功率并把输入信号写入光盘的用户数据区。
文档编号G11B7/125GK1248765SQ99119480
公开日2000年3月29日 申请日期1999年9月20日 优先权日1998年9月18日
发明者金正祐 申请人:Lg电子株式会社
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