存储器件的快速测试电路及方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电子电路技术领域，具体涉及一种存储器件的快速测试电路及方法。
【背景技术】
[0002]目前在各种集成电路内部都存在有存储器件，在生产阶段对存储器件的读写测试是一项重要的质量验证手段，但在没有存储器自测试电路的情况下，只能对存储的空间做全空间遍历读写操作，这样的验证过程是十分浪费时间的，对每个存储单元都包括，写入，读取，比对的操作过程，导致测试效率较低，产品成本提高。
【发明内容】
[0003]本发明一种存储器件的快速测试电路及方法，目的是减少存储器件通过读写方式验证的时间成本。本发明的目的由以下技术方案实现:
[0004]一种存储器件的快速测试电路，包括:
[0005]CRC校验码生成模块，对数据总线控制模块送入的数据进行CRC校验码的计算；CRC校验码生成模块内设置写入数据CRC校验码寄存器和读取数据CRC校验码寄存器；
[0006]总线接口模块，当对存储器做读操作时，该模块负责将总线上的数据采样下来，送入CRC校验码生成模块；当外部测试设备需要读取CRC校验码生成模块内部存储的CRC校验数据时，将CRC校验码送到总线，供外部测试设备读取；
[0007]控制模块，负责接受测试设备的指令，开始对存储器内容进行检查，同时包括对总线接口模块及CRC校验生成模块进行控制。
[0008]一种基于上述存储器件的快速测试电路的相应测试方法，包括如下步骤:
[0009]SlOl，电路复位；
[0010]S102，复位后，控制模块等待测试设备发送测试命令字；
[0011]S103，接收到测试命令字后，判断是否需要自动产生存储器地址，如果需要自动产生存储器地址则进入步骤sl04，如果不需要自动产生存储器地址则进入步骤sl03a ;
[0012]S103a，如果不需要自动生成地址，那么从总线上采样存储器地址信息并进入步骤sl05 ；
[0013]S104，按命令字的要求生成存储器地址；
[0014]S105，对数据总线上的数据进行采样；
[0015]S106，对采样到的数据进行CRC校验码的计算；
[0016]S107，判断是否已经覆盖了要求测试的存储器空间，如果没有覆盖全，则继续进行S103、S103a、S104、S105、S106的流程，如果已经全面覆盖则进入S108 ；
[0017]S108，判断当前进行的是写入过程还是读取过程，写入过程则进入步骤sl09，读取过程则进入sllO;
[0018]S109，将CRC校验码存入写入数据CRC校验码寄存器；
[0019]S110，将CRC校验码存入读取数据CRC校验码寄存器；
[0020]Sill,判断是否要求对写入数据CRC校验码和读取数据CRC校验码进行比较，如果不需要比较则进入S112，如果需要比较则进入S113;
[0021]SI 12，等待测试设备读取CRC校验码；
[0022]S113，比较写入数据CRC校验码和读取数据CRC校验码是否一致，如果一致，则进入SI 14，如果不一致则进入SI 15 ；
[0023]SI 14，存储器测试通过；
[0024]SI 15，存储器测试不通过。
[0025]本发明提供的存储器件的快速测试电路及方法，能够在较短时间内对存储器存储数据的正确性做出判断，减少存储器件通过读写方式验证的时间成本，同时提高了测试效率。
【附图说明】
[0026]图1为本发明实施例提供的存储器件的快速测试电路。
[0027]图2是本发明实施例提供的存储器件的快速测试电路的测试方法的流程图。
【具体实施方式】
[0028]以下结合附图对本发明的实施例进行详细说明。
[0029]如图1所示，本实施例提供的存储器件的快速测试电路包括控制模块1，总线数据采样模块2以及CRC校验码生成模块3。其中，控制模块I负责从总线接受测试命令，对命令解析后产生对应的控制信号控制总线接口模块2和CRC校验码生成模块3，如果需要自动产生地址，地址的产生及存储器的控制信号也都是由该模块产生；总线接口模块2，接收到数据采样信号后，对总线数据进行采样，并将采样数据送给CRC校验码生成模块；CRC校验码生成模块3，对总线接口模块2送入的数据做CRC校验码计算。其中，CRC校验码生成模块3内设置有两个寄存器，即写入数据CRC校验码寄存器和读取数据CRC校验码寄存器。
[0030]请参阅图2，基于上述存储器件的快速测试电路的相应测试方法，具体包括如下步骤:
[0031]SlOl，电路复位；
[0032]S102，复位后，控制模块等待测试设备发送测试命令字；
[0033]S103，接收到测试命令字后，判断是否需要自动产生存储器地址，如果需要自动产生存储器地址则进入步骤sl04，如果不需要自动产生存储器地址则进入步骤sl03a ;
[0034]S103a，如果不需要自动生成地址，那么从总线上采样存储器地址信息并进入步骤sl05 ；
[0035]S104，按命令字的要求生成存储器地址；
[0036]S105，对数据总线上的数据进行采样；
[0037]S106，对采样到的数据进行CRC校验码的计算；
[0038]S107，判断是否已经覆盖了要求测试的存储器空间，如果没有覆盖全，则继续进行S103、S103a、S104、S105、S106的流程，如果已经全面覆盖则进入S108 ；
[0039]S108，判断当前进行的是写入过程还是读取过程，写入过程则进入步骤sl09，读取过程则进入sllO;
[0040]S109，将CRC校验码存入写入数据CRC校验码寄存器；
[0041 ] SI 10，将CRC校验码存入读取数据CRC校验码寄存器；
[0042]SI 11，判断是否要求对写入数据CRC校验码和读取数据CRC校验码进行比较，如果不需要比较则进入S112，如果需要比较则进入S113;
[0043]SI 12，等待测试设备读取CRC校验码；
[0044]S113，比较写入数据CRC校验码和读取数据CRC校验码是否一致，如果一致，则进入SI 14，如果不一致则进入SI 15 ；
[0045]SI 14，存储器测试通过；
[0046]SI 15，存储器测试不通过。
[0047]其中，步骤S102中，测试指令可以包含各种测试命令字，如写入数据计算命令字，读取数据计算命令字，覆盖地址范围命令字，是否需要自动比较命令字，地址产生方式命令字等；当接收到非写入数据计算命令字或读取数据计算命令字时，只做相关的配置工作，然后继续等待开始测试命令字，包括写入数据计算命令字，读取数据计算命令字。步骤S104中，地址自动产生时候，可以按照命令字的要求产生地址，如可以隔行，连续等等，该模块主要是在对存储器内部数据读取并计算CRC校验码时工作。步骤SI 13中，对写入数据CRC校验码和读取数据CRC校验码需要进行比较，如果两个数据一致，则说明写入数据和读取数据一致，存储器测试通过；如果两个数据不一致，则说明写入数据和读取数据不一致，存储器测试不通过。
[0048]上述实施例仅为充分公开而非限制本发明，凡是依据本发明创新主旨且未经创造性劳动即可获得的等效技术特征替换及增减，均应属于本发明涵盖范围。
【主权项】
1.一种存储器件的快速测试电路，其特征在于，包括: CRC校验码生成模块，对数据总线控制模块送入的数据进行CRC校验码的计算；CRC校验码生成模块内设置有写入数据CRC校验码寄存器和读取数据CRC校验码寄存器； 总线接口模块，当对存储器做读操作时，该模块负责将总线上的数据采样下来，送入CRC校验码生成模块；当外部测试设备需要读取CRC校验码生成模块内部存储的CRC校验数据时，将CRC校验码送到总线，供外部测试设备读取； 控制模块，负责接受测试设备的指令，开始对存储器内容进行检查，同时包括对总线接口模块及CRC校验生成模块进行控制。2.—种基于权利要求1所述存储器件的快速测试电路的测试方法，其特征在于，包括如下步骤: SlOl，电路复位； S102，复位后，控制模块等待测试设备发送测试命令字； S103，接收到测试命令字后，判断是否需要自动产生存储器地址，如果需要自动产生存储器地址则进入步骤sl04，如果不需要自动产生存储器地址则进入步骤sl03a ; S103a，如果不需要自动生成地址，那么从总线上采样存储器地址信息并进入步骤sl05 ； S104，按命令字的要求生成存储器地址； S105，对数据总线上的数据进行采样； S106，对采样到的数据进行CRC校验码的计算； S107，判断是否已经覆盖了要求测试的存储器空间，如果没有覆盖全，则继续进行S103、S103a、S104、S105、S106的流程，如果已经全面覆盖则进入S108 ； S108，判断当前进行的是写入过程还是读取过程，写入过程则进入步骤sl09，读取过程则进入sllO ； S109，将CRC校验码存入写入数据CRC校验码寄存器； SI 10，将CRC校验码存入读取数据CRC校验码寄存器； S111，判断是否要求对写入数据CRC校验码和读取数据CRC校验码进行比较，如果不需要比较则进入S112，如果需要比较则进入S113; SI 12，等待测试设备读取CRC校验码； S113，比较写入数据CRC校验码和读取数据CRC校验码是否一致，如果一致，则进入SI 14，如果不一致则进入SI 15 ； SI 14，存储器测试通过； S115，存储器测试不通过。
【专利摘要】本发明公开一种存储器件的快速测试电路及方法，其中测试电路包括：CRC校验码生成模块，对数据总线控制模块送入的数据进行CRC校验码的计算；CRC校验码生成模块内设置有写入数据CRC校验码寄存器和读取数据CRC校验码寄存器；总线接口模块，当对存储器做读操作时，该模块负责将总线上的数据采样下来，送入CRC校验码生成模块；当外部测试设备需要读取CRC校验码生成模块内部存储的CRC校验数据时，将CRC校验码送到总线，供外部测试设备读取；控制模块，负责接受测试设备的指令，开始对存储器内容进行检查，同时包括对总线接口模块及CRC校验生成模块进行控制。本发明够在较短时间内对存储器存储数据的正确性做出判断，同时提高了测试效率。
【IPC分类】G11C29/56
【公开号】CN105070321
【申请号】CN201510508378
【发明人】常子奇, 许登科
【申请人】珠海市一微半导体有限公司
【公开日】2015年11月18日
【申请日】2015年8月18日