硬盘信号转接测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及硬盘信号转接测试装置，特别涉及C-Stack系列硬盘信号转接测试装置，属于辅助工装技术领域。
【背景技术】
[0002]现有的硬盘卡测试方式多通过人工将硬盘卡安装到服务器主板测试机台上，将螺丝固定好硬盘卡后进行测试，测试完毕后，再用手工拆卸螺丝，将硬盘卡取下。传统的测试方法存在如下缺点:(I)手工作业模式，导致测试结果因人而异，待测板的稳定性不能得到保证，测试效率低；(2)测试动作反复单一，造成工人大脑疲倦，费时费力，安全性差；(3)螺丝的反复固定和拆卸造成服务器主板的损伤。
【发明内容】
[0003]为了克服现有技术的缺点，本发明提供了硬盘信号转接测试装置，代替传统的手工测试方式，方便自动化生产线的导入，大大提高了生产效率，稳定性高，安全性好。
[0004]本发明技术方案如下:
硬盘信号转接测试装置，由上而下依次包括盖板、第一固定块、第二固定块、第三固定块、第四固定块和第五固定块，所述第一固定块上表面设有载区，用于放置硬盘卡，所述盖板与第一固定块通过螺栓固定连接，所述第二固定块、第三固定块、第四固定块、和第五固定块均通过对位销钉进行对位安装，所述第一固定块与第二固定块之间通过紧固件相连接，所述第一固定块、第三固定块和第五固定块上均设有探针孔，用于安装双头探针。
[0005]作为优选的，所述对位销钉下端呈锥状，所述对位销钉凸出于第五固定块。
[0006]作为优选的，所述第五固定块和第四固定块之间设有弹簧，使得第五固定块可沿对位销钉上下伸缩，所述双头探针的底端凹于第五固定块上的探针孔。
[0007]作为优选的，每一个探针孔对应于一个双头探针测试位，所述探针孔的孔径大小与双头探针的规格相适配。
[0008]本发明有益效果在于:1)测试前，将硬盘卡放置到第一固定块对应的载区处，利用机械臂将其运至服务器测试主板，对位销钉起到定位固定作用，通过双头探针连接硬盘卡上的测试点与主板端口，即可进行测试，免去了人工安装拆卸式的动作，提高了测试效率，有利于集成化的测试，对测试主板的损坏降到最低；2)所述探针孔的孔径大小与双头探针的规格相适配，大小可做成39mil，因此对探针孔的加工要求极高，采用多块固定块的方式进行拼接，有利于降低生产难度，亦能满足测试要求；3)所述第五固定块和第四固定块之间设有弹簧，使得第五固定块可沿对位销钉上下伸缩，所述双头探针的底端凹于第五固定块上的探针孔，这样有利于保护探针，当时使用时，压下第五固定块，探针即可露出并于服务器主板测试端口相接触；4)每一个探针孔对应于一个双头探针测试位，所述探针孔的孔径大小与双头探针的规格相适配，并根据需要选择所需的硬盘卡测试点，安装相应数量的双头探针。
【附图说明】
[0009]下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
[0010]图1是本发明结构示意图。
[0011 ] 图2是本发明结构分解图。
[0012]图3是图2中A处的局部放大图。
[0013]其中:1、硬盘卡；2、螺栓；3、第一固定块；4、盖板；5、对位销钉；6、双头探针；7、第二固定块；8、第三固定块；9、第四固定块；10、第五固定块；11、探针孔。
【具体实施方式】
[0014]下面结合附图对本发明作进一步详细的说明。
[0015]参阅图1至图3。
[0016]硬盘信号转接测试装置，由上而下依次包括盖板4、第一固定块3、第二固定块7、第三固定块8、第四固定块9和第五固定块10，所述第一固定块3上表面设有载区，用于放置硬盘卡1，所述盖板4与第一固定块3通过螺栓2固定连接，所述第二固定块7、第三固定块8、第四固定块9、和第五固定块10均通过对位销钉5进行对位安装，所述第一固定块3与第二固定块7之间通过紧固件相连接，所述第一固定块3、第三固定块8和第五固定块10上均设有探针孔11，用于安装双头探针6。
[0017]所述对位销钉5下端呈锥状，所述对位销钉5凸出于第五固定块10。
[0018]所述第五固定块10和第四固定块9之间设有弹簧，使得第五固定块10可沿对位销钉5上下伸缩，所述双头探针6的底端凹于第五固定块10上的探针孔11。
[0019]每一个探针孔11对应于一个双头探针6测试位，所述探针孔11的孔径大小与双头探针6的规格相适配。
[0020]本发明原理是:测试前，将硬盘卡I放置到第一固定块3对应的载区处，通过螺栓2将盖板4与第一固定块3相连接，硬盘卡I上设有若干待测点，对应于第一固定块3、第三固定块8和第五固定块10上均设有探针孔11，利用机械臂将测试装置运至服务器测试主板处，其中对位销钉5起到定位固定作用，所述第五固定块10和第四固定块9之间设有弹簧，使得第五固定块10可沿对位销钉5上下伸缩，所述双头探针6的底端凹于第五固定块10上的探针孔11，这样有利于保护双头探针6，当时使用时，压下第五固定块10，双头探针6即可露出并与服务器主板测试端口相接触，进行测试，测试完毕后机械臂将装置拔出，快捷方便，免去了人工安装拆卸式的动作，提高了测试效率，有利于集成化的测试，对测试主板的损坏大大降到最低。
[0021]上述附图及实施例仅用于说明本发明，任何所属技术领域普通技术人员对其所做的适当变化或修饰，或改用其他花型做此技术上的改变，都皆应视为不脱离本发明专利范畴。
【主权项】
1.硬盘信号转接测试装置，其特征在于:由上而下依次包括盖板(4)、第一固定块(3)、第二固定块(7)、第三固定块(8)、第四固定块(9)和第五固定块(10)，所述第一固定块(3)上表面设有载区，用于放置硬盘卡(I)，所述盖板(4 )与第一固定块(3 )通过螺栓(2 )固定连接，所述第二固定块(7)、第三固定块(8)、第四固定块(9)、和第五固定块(10)均通过对位销钉(5)进行对位安装，所述第一固定块(3)与第二固定块(7)之间通过紧固件相连接，所述第一固定块(3)、第三固定块(8)和第五固定块(10)上均设有探针孔(11)，用于安装双头探针(6)。2.根据权利要求1所述的硬盘信号转接测试装置，其特征在于:所述对位销钉(5)下端呈锥状，所述对位销钉(5)凸出于第五固定块(10)。3.根据权利要求2所述的硬盘信号转接测试装置，其特征在于:所述第五固定块(10)和第四固定块(9)之间设有弹簧，使得第五固定块(10)可沿对位销钉(5)上下伸缩，所述双头探针(6 )的底端凹于第五固定块(1 )上的探针孔(11)。4.根据权利要求3所述的硬盘信号转接测试装置，其特征在于:每一个探针孔(11)对应于一个双头探针(6)测试位，所述探针孔(11)的孔径大小与双头探针(6)的规格相适配。
【专利摘要】本发明涉及硬盘信号转接测试装置，特别涉及C-stack系列硬盘信号转接测试装置，属于辅助工装技术领域。由上而下依次包括盖板、第一固定块、第二固定块、第三固定块、第四固定块和第五固定块，所述第一固定块上表面设有载区，所述盖板与第一固定块通过螺栓固定连接，所述第二固定块、第三固定块、第四固定块、和第五固定块均通过对位销钉进行对位安装，所述第一固定块与第二固定块之间通过紧固件相连接，所述第一固定块、第三固定块和第五固定块上均设有探针孔。本发明提供了硬盘信号转接测试装置，代替传统的手工测试方式，方便自动化生产线的导入，大大提高了生产效率，稳定性高，安全性好。
【IPC分类】G11C29/56
【公开号】CN105206308
【申请号】CN201510740072
【发明人】刘海波
【申请人】苏州工业园区特创电子有限公司
【公开日】2015年12月30日
【申请日】2015年11月4日