存储器模块的测试方法
【技术领域】
[0001] 本发明描述了 一种存储器模块的测试方法，尤指一种使用单位元错误型样 (Single-Bit Error Pattern，SBE Pattern)以及多位元错误型样（Multi-Bit Error Pattern，MBE Pattern)测试存储器模块的方法。
【背景技术】
[0002] 随着科技日新月异，各种存储器也以不同形式应用于日常生活中，以使各种电子 设备具备更多功能和操作性。例如个人计算机（PC)内常用的随机存取存储器（Random Access Memory，RAM)，具备随时读写及高速度的特性，故常被作为操作系统或其他正在执 行中的程序的临时资料的储存媒介。又可细分为，动态随机存取存储器(Dynamic Random Access Memory，DRAM)以及静态随机存取存储器(Static Random Access Memory，SRAM)。 动态随机存取存储器其优势在于结构简单，每一个位元的资料都只需一个电容跟一个晶体 管来处理，故DRAM拥有非常高的密度及容量，且成本较低的优点。静态随机存取存储器其特 性为只要保持通电，里面储存的资料就可以恒常保持，且不需要如DRAM-样要做周期性的 更新。然而，因存储器为利用电容充放电的机制储存资料，因此视为消耗品。当存储器内部 元件发生异常时，存储器将无法再存储资料，甚至会导致输出资料的异常。因此，定期测试 存储器的效能以及判断其是否能正常运作已成为维护电子系统的可靠度的重要手段。
[0003] 现有的存储器测试方法需要利用非常昂贵的外接设备，在主机板上连接一个测试 连接端子，并需要利用手动的方式一个一个去测试存储器，例如手动测试每个双线存储器 模块(Dual In-line Memory Module，DIMM)的接脚。此种手动测试的方式将非常耗时耗力， 且常常因人为疏失而无法完整的分析检测结果，甚至导致检测结果不精准。
【发明内容】
[0004] 为了解决现有技术存在的问题，本发明提供一种存储器模块的测试方法，包含：
[0005] -用户端机台与一测试机台建立一连结；
[0006] 验证所述用户端机台与所述测试机台间的所述连结的合法性；
[0007] 产生一错误型样至所述测试机台的一存储器模块中；
[0008] 检查所述存储器模块的一错误状态;及
[0009] 依据所述存储器模块的所述错误状态，所述用户端机台产生一测试分析资料。
[0010] 可选的，其中验证所述用户端机台与所述测试机台间的所述连结的合法性，包含：
[0011] 所述测试机台传送一连结资料至用户端机台；及
[0012] 所述用户端机台检查所述连结资料是否合法。
[0013] 可选的，所述的测试方法另包含：
[0014]侦测一未被测试的存储器模块；
[0015] 其中产生所述错误型样至所述测试机台的所述存储器模块中，包含：
[0016] 产生并注入一多位元错误型样至所述未被测试的存储器模块。
[0017] 可选的，其中检查所述存储器模块的所述错误状态，包含：
[0018] 检查注入所述多位元错误型样后的所述存储器模块对应的一操作系统是否失败； 及
[0019] 若所述操作系统失败，重新启动所述测试机台。
[0020] 可选的，其中依据所述存储器模块的所述错误状态，所述用户端机台产生所述测 试分析资料，包含：
[0021] 重新启动所述测试机台后，检查所述测试机台对应于所述存储器模块的所述操作 系统的一状态；
[0022] 若所述操作系统为一执行失败状态，产生并记录一错误资料;及
[0023] 依据所述错误资料，产生所述测试分析资料。
[0024] 可选的，其中依据所述存储器模块的所述错误状态，所述用户端机台产生所述测 试分析资料，包含：
[0025] 检查所述对应于所述存储器模块的一远端服务器回报资料的一状态；
[0026] 若所述远端服务器回报资料为一资料异常状态，产生并记录一错误资料;及
[0027] 依据所述错误资料，产生所述测试分析资料。
[0028] 可选的，其中依据所述存储器模块的所述错误状态，所述用户端机台产生所述测 试分析资料，包含：
[0029] 检查所述测试机台对应于所述存储器模块的一系统回报资料的一状态；
[0030] 若所述系统回报资料为一资料异常状态，产生并记录一错误资料;及 [0031 ]依据所述错误资料，产生所述测试分析资料。
[0032]可选的，所述的测试方法另包含：
[0033]侦测一未被测试的存储器模块；
[0034] 其中产生所述错误型样至所述测试机台的所述存储器模块中，包含：
[0035] 产生并注入一单位元错误型样至所述未被测试的存储器模块。
[0036] 可选的，其中检查所述存储器模块的所述错误状态，包含：
[0037] 检查所述存储器模块的一单位元的所述错误状态;及
[0038] 检查所述存储器模块是否被执行一错误位元回复机制。
[0039]可选的，其中检查所述存储器模块的所述错误状态，另包含：
[0040]若所述存储器模块未被执行所述错误位元回复机制，重新将所述单位元错误型样 注入至所述存储器模块中；及 [0041]所述方法另包含：
[0042]产生并记录一错误资料。
[0043]本发明一实施例提出一种存储器模块的测试方法。存储器模块的测试方法包含用 户端机台与测试机台建立连结，验证用户端机台与测试机台间的连结的合法性，产生错误 型样至测试机台的存储器模块中，检查存储器模块的错误状态，及依据存储器模块的错误 状态，用户端机台产生测试分析资料。本发明所述的测试方法相较于传统手动的测试流程， 测试时间亦可大幅缩短，且所花的人力成本以及人为失误造成的错误亦可大幅降低。
【附图说明】
[0044] 图1为本发明存储器模块的测试系统的实施例的架构图。
[0045] 图2为图1实施例的存储器模块的测试方法的流程图。
[0046] 图3为图2的存储器模块的测试方法的第一阶段的流程图。
[0047] 图4为图2的存储器模块的测试方法，使用多位元错误型样的第二阶段的流程图。 [0048]图5为图2的存储器模块的测试方法，使用多位元错误型样的第三阶段的流程图。
[0049] 图6为图2的存储器模块的测试方法，使用单位元错误型样的第二阶段的流程图。
[0050] 图7为图2的存储器模块的测试方法，使用单位元错误型样的第三阶段的流程图。 [0051 ] 符号说明
[0052]
【具体实施方式】
[0053]以下结合附图和具体实施例对本发明作进一步详细说明。根据下面说明和权利要 求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非 精准的比率，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
[0054]图1为本发明存储器模块的测试系统100的实施例的架构图。如图1所示，测试系统 100包含用户端机台（Client Terminal Device)10以及测试机台（System Under Test DeviceHl。用户端机台10可为任何具备程序编译能力的装置，例如工作平台、服务器、个人 计算机、平板计算机等装置。测试机台11可为乘载测试装置的任何硬件。在本实施例中，测 试机台11乘载着复数个存储器模块12,例如复数个双线存储器模块(Dual In-line Memory Module，DIMM)。用户端机台10与测试机台11以无线或有线的方式连结。用户端机台10具有 执行存储器模块12测试所用的测试软件13的能力。而测试软件13中具有测试软件工具14。 举例来说，测试软件13可使用Inte_开发的Rastool测试工具为核心。在测试系统100中， 用户端机台10会根据测试机台11中存储器模块12的状态(例如错误状态），而产生测试分析 资料或是回报资料(Summary Report)。而本发明的测试系统100对存储器模块12进行测试 的流程将描述于后文。
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